JP2012515347A5 - - Google Patents

Description

別の態様では、超短波より高い周波数での信号の位相および大きさを決定するためのベクトルネットワーク分析器は、位相シフトを伝送線上の定在波に適用するための位相制御信号を受信してこれに応答する、位相シフターを含む。伝送線は、被試験デバイスの一部に連結され、伝送線に連結される伝送線プローブが、複数の位相シフト値のそれぞれでの伝送線上の定在波の大きさをサンプリングする。プローブは、サンプリングした定在波の大きさに対応する検出器信号を発生させるように構成され、プロセッサは、伝送線プローブから検出器信号を受信してこれに応答し、サンプリングした伝送線上の定在波の大きさの関数として、デバイスを表す少なくとも１つの特性を決定する。加えて、プロセッサは、位相シフター制御信号を発生させるために構成される。

伝送線透過線上の信号に位相シフトを適用するための、伝送線に連結される位相シフターは、本発明のさらなる態様を実施する。位相シフターは、その中に複数のスロットが形成されている導波路を含む。スロットは、それぞれが信号の波長に関して副共振である寸法を有し、これは、超短波よりも高い周波数にあり、信号に適用される位相シフトを制御するようにスロットに装荷するための、それらに対応する能動素子を有する。

以下、図３を参照すると、本発明の態様を実施するネットワーク分析器（ＶＮＡ）２９８が、ブロック図の形態で示される。有利なことに、ＶＮＡ２９８は、被試験デバイス（ＤＵＴ）３１８の性能特性を分析するために、マイクロ波およびミリ波周波数信号を含む、超短波よりも高い周波数での信号の測定値を得ることが可能である。ＤＵＴ３１８は、例えば、レーダーアンテナ等であってもよい。

図３の実施形態をさらに参照すると、ＶＮＡ２９８は、制御位相シフター３０４と連結される伝送線３００を備え、その実施形態を以下に説明する。図３に示される例示的実施形態は、波源３０２が、超短波よりも高い信号を発生させることが可能であることを示す。波源３０２は、伝送線３００に連結される（図３のノード３１０参照）。例示の実施形態では、この要素の組み合わせは、信号源３０２からの伝送線の入力に適用される信号、およびＤＵＴ３１８のポート２９９から反射される信号のコヒーレント加算のため、伝送線３００の長さに沿った定在波の発生を可能にする。本発明の態様によれば、制御位相シフター３０４は、得られる定在波の位相特性の変化を可能にする。

動作中に、本発明の態様を実施するベクトルネットワーク分析器２９８は、被試験デバイス３１８について、超短波よりも高い周波数での信号の位相および大きさを決定する。ベクトルネットワーク分析器２９８は、伝送線３００上の定在波に位相シフトを適用するための位相制御信号３２６を受信してこれに応答する、位相シフター３０４を備え、該伝送線３００は、ＤＵＴ３１８のポート２９９に連結される、位相シフター３０４と、複数の位相シフト値のそれぞれでの伝送線３００上の定在波の大きさをサンプリングするための、伝送線３００に連結される、伝送線プローブ３０６を備え、伝送線プローブ３０６は、サンプリングした定在波の大きさに対応する検出器信号３２０を発生させるように構成される伝送線。この場合、ベクトルネットワーク分析器２９８はさらに、伝送線ＤＵＴ３１８を表す少なくとも１つの特性を、サンプリングした伝送線３００上の定在波の大きさの関数として決定するための、伝送線プローブ３０６からの検出器信号３２０を受信してこれに応答する、プロセッサ３０８を備え、プロセッサ３０８は、さらに、位相シフター制御信号を発生させるように構成される。

別の実施形態では、本発明は、伝送線上の信号に位相シフトを適用するための、伝送線と連結される位相シフターを備え、前記信号は、超短波より高い周波数にあり、位相シフターは、その中に複数のスロットを有する導波路を備え、スロットは、それぞれが伝送線上の信号の波長に関して副共振である寸法を有し、スロットは、それぞれが、信号に適用される位相シフトを制御するようにスロットを装荷するための、それらに対応する能動素子を有する。

Claims (16)

1. 被試験デバイスを分析する方法であって、
   前記被試験デバイスに連結される伝送線上に定在波を発生させることと、
   位相シフターによって前記定在波の位相を変化させることと、
   複数の位相シフトのそれぞれでの前記定在波の大きさをサンプリングすることと、
   前記被試験デバイスを表わす少なくとも１つの特性を、前記サンプリングした前記定在波の大きさおよび前記複数の位相シフトの関数として決定することと、
   を含み、
   前記定在波は、前記被試験デバイスに入射する信号と、前記被試験デバイスから反射される信号とを含み、
   超短波よりも高い信号源が前記被試験デバイスに入射する信号を供給する、方法。
2. 前記定在波はさらに、前記被試験デバイスを透過する信号を含む、請求項１に記載の方法。
3. 前記定在波の前記大きさをサンプリングすることは、前記複数の位相シフトのそれぞれでの前記定在波の電圧を測定することを含み、前記被試験デバイスを表す少なくとも１つの特性を決定することは、前記被試験デバイスの反射係数を前記複数の位相シフトのそれぞれでの前記測定した電圧の関数として、測定することを含む、請求項１に記載の方法。
4. 前記位相シフターは、前記伝送線に連結されて、１つ以上の副共振スロットを備え、前記スロットはそれぞれ、その中に配置された能動素子を有し、前記位相を変化させることは、前記伝送線上の信号の位相を変化させるために、前記能動素子が配置された前記スロットを装荷するように、前記能動素子を制御することを含む、請求項１に記載の方法。
5. 被試験デバイスを分析するためのシステムであって、
   信号源を前記被試験デバイスに連結するための伝送線であって、前記信号源は、超短波よりも高い周波数で前記被試験デバイスに入射する信号を提供し、前記被試験デバイスに入射する前記信号および前記被試験デバイスから反射される信号は、前記伝送線上の定在波を形成する、伝送線と、
   前記定在波の位相を変化させるための位相シフターと、
   複数の位相シフト値のそれぞれでの前記定在波の大きさをサンプリングするための、前記伝送線に連結される検出器プローブであって、前記被試験デバイスを表す少なくとも１つの特性が、前記サンプリングした前記伝送線上の前記定在波の大きさ、および前記複数の位相シフト値の関数として決定される、検出器プローブと、
   を備える、システム。
6. 前記定在波は、前記被試験デバイスに入射する前記信号と、前記被試験デバイスから反射される前記信号と、前記被試験デバイスを透過する信号とを含む、請求項５に記載のシステム。
7. 前記被試験デバイスを表す前記少なくとも１つの特性を決定するために構成される、プロセッサをさらに備える、請求項５に記載のシステム。
8. 前記検出器プローブは、前記複数の位相シフト値のそれぞれでの前記定在波の電圧を測定し、前記プロセッサによって決定される前記少なくとも１つの特性は、複数の位相シフト値のそれぞれでの前記測定した電圧の関数として、前記被試験デバイスの反射係数を含む、請求項７に記載のシステム。
9. 前記位相シフターは、前記伝送線に連結され、１つ以上の副共振スロットを備え、前記スロットはそれぞれ、その中に配置された能動素子を有し、前記位相シフターは、前記定在波の位相を変化させるために、前記能動素子が配置された前記スロットを装荷するように、前記能動要素を制御する、請求項５に記載のシステム。
10. 複数の位相シフトのそれぞれでの前記定在波の大きさをサンプリングするための、前記伝送線に連結される、別の検出器プローブさらに備える、請求項５に記載のシステム。
11. 被試験デバイス（ＤＵＴ）について、超短波よりも高い周波数での位相および信号の大きさを決定するための、ベクトルネットワーク分析器であって、
    位相シフトを伝送線上の定在波に適用するための位相制御信号を受信してこれに応答する、位相シフターであって、前記伝送線は、前記ＤＵＴの一部に連結される、位相シフターと、
    複数の位相シフト値のそれぞれでの前記伝送線上の前記定在波の大きさをサンプリングするための、前記伝送線に連結される、伝送線プローブであって、前記プローブは、前記サンプリングした前記定在波の大きさに対応する、検出信号を発生させるように構成される、伝送線プローブと、
    伝送線前記ＤＵＴを表す少なくとも１つの特性を、前記サンプリングした前記伝送線上の前記定在波の大きさの関数として決定するための、前記伝送線プローブから前記検出器信号を受信してこれに応答する、プロセッサであって、さらに前記位相シフター制御信号を発生させるために構成される、プロセッサと、
    を備える、ベクトルネットワーク分析器。
12. 前記伝送線プローブは、前記定在波の大きさに比例する信号を生成するための、少なくとも１つの能動素子を備える、請求項１１に記載のベクトルネットワーク分析器。
13. 前記伝送線プローブの前記能動素子は、ダイオードを備える、請求項１２に記載のベクトルネットワーク分析器。
14. 前記ＤＵＴに入射する信号を提供するための信号源をさらに備え、前記伝送線上の前記ＤＵＴに入射する前記信号および前記ＤＵＴから反射される信号は、前記伝送線上に前記定在波を形成し、前記信号源は、その出力を変化させるための源制御信号に応答する、請求項１１に記載のベクトルネットワーク分析器。
15. 前記伝送線上の前記定在波は、前記ＤＵＴに入射する前記信号と、前記ＤＵＴから反射される前記信号と、前記ＤＵＴに入射した前記信号と逆方向に前記ＤＵＴを透過する信号とを含む、請求項１４に記載のベクトルネットワーク分析器。
16. 前記ＤＵＴに入射する前記信号と逆方向に前記ＤＵＴを透過する前記信号が、前記ＤＵＴを通過することを可能にするための、一方向性隔離素子をさらに備える、請求項１５に記載のベクトルネットワーク分析器。