JP2012515347A - 被試験デバイスの高周波分析 - Google Patents
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Abstract
Description
米国政府は、この発明における支払済ライセンスを有し、かつ限定的な状況において、米国空軍によって与えられた契約第FA8103−07−C−0193号の条件によって規定されるような妥当な条件で、特許所有者に対して、他者にライセンスを供与するように要求する権利を有する。
C:検出器応答
β:伝播因子
L:伝送線上の検出器と位相シフターとの間の距離
S11:(DUTの)入力ポートの電圧反射係数
M:位相シフト設定の合計数。
Claims (25)
- 被試験デバイスを分析する方法であって、
前記被試験デバイスに連結される伝送線上に定在波を発生させることと、
位相シフターによって前記定在波の位相を変化させることと、
複数の位相シフトのそれぞれでの前記定在波の大きさをサンプリングすることと、
前記被試験デバイスを表わす少なくとも1つの特性を、前記サンプリングした前記定在波の大きさおよび前記複数の位相シフトの関数として決定することと、
を含む、方法。 - 超高周波よりも高い信号源が、信号を供給する、請求項1に記載の方法。
- 前記定在波は、前記被試験デバイスに入射する信号と、前記被試験デバイスから反射される信号とを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記定在波はさらに、前記被試験デバイスを透過する信号を含む、請求項1に記載の方法。
- 前記定在波の前記大きさをサンプリングすることは、前記複数の位相シフトのそれぞれでの前記定在波の電圧を測定することを含み、前記被試験デバイスを表す少なくとも1つの特性を決定することは、前記被試験デバイスの反射係数を前記複数の位相シフトのそれぞれでの前記測定した電圧の関数として、測定することを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記位相シフターは、前記伝送線に連結されて、1つ以上の副共振スロットを備え、前記スロットはそれぞれ、その中に配置された能動素子を有し、前記位相を変化させることは、前記伝送線上の信号の位相を変化させるために、前記能動素子が配置された前記スロットを装荷するように、前記能動素子を制御することを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記スロットは、導波路の壁の中に形成されている副共振寸法を有する、請求項6に記載の方法。
- 被試験デバイスを分析するためのシステムであって、
信号源を前記被試験デバイスに連結するための伝送線であって、前記信号源は、前記被試験デバイスに入射する信号を提供し、前記被試験デバイスに入射する前記信号および前記被試験デバイスから反射される信号は、前記伝送線上の定在波を形成する、伝送線と、
前記定在波の位相を変化させるための位相シフターと、
複数の位相シフト値のそれぞれでの前記定在波の大きさをサンプリングするための、前記伝送線に連結される検出器プローブであって、前記被試験デバイスを表す少なくとも1つの特性が、前記サンプリングした前記伝送線上の前記定在波の大きさ、および前記複数の位相シフト値の関数として決定される、検出器プローブと、
を備える、システム。 - 前記信号源は、前記被試験デバイスに入射する前記信号を、超高周波数よりも高い周波数で発生させる、請求項8に記載のシステム。
- 前記定在波は、前記被試験デバイスに入射する前記信号と、前記被試験デバイスから反射される前記信号と、前記被試験デバイスを透過する信号とを含む、請求項8に記載のシステム。
- 前記被試験デバイスを表す前記少なくとも1つの特性を決定するために構成される、プロセッサをさらに備える、請求項8に記載のシステム。
- 前記検出器プローブは、前記複数の位相シフト値のそれぞれでの前記定在波の電圧を測定し、前記プロセッサによって決定される前記少なくとも1つの特性は、複数の位相シフト値のそれぞれでの前記測定した電圧の関数として、前記被試験デバイスの反射係数を含む、請求項11に記載のシステム。
- 前記位相シフターは、前記伝送線に連結され、1つ以上の副共振スロットを備え、前記スロットはそれぞれ、その中に配置された能動素子を有し、前記位相シフターは、前記定在波の位相を変化させるために、前記能動素子が配置された前記スロットを装荷するように、前記能動要素を制御する、請求項8に記載のシステム。
- 前記位相シフターは、その中に形成される前記スロットを有する、導波路を備える、請求項13に記載のシステム。
- 前記信号源は、前記被試験デバイスに入射する前記信号を、超高周波数よりも高い周波数で提供する、請求項8に記載のシステム。
- 複数の位相シフトのそれぞれでの前記定在波の大きさをサンプリングするための、前記伝送線に連結される、別の検出器プローブさらに備える、請求項8に記載のシステム。
- 被試験デバイス(DUT)について、超高周波数よりも高い周波数での位相および信号の大きさを決定するための、ベクトルネットワーク分析器であって、
位相シフトを伝送線上の定在波に適用するための位相制御信号を受信してこれに応答する、位相シフターであって、前記伝送線は、前記DUTの一部に連結される、位相シフターと、
複数の位相シフト値のそれぞれでの前記伝送線上の前記定在波の大きさをサンプリングするための、前記伝送線に連結される、伝送線プローブであって、前記プローブは、前記サンプリングした前記定在波の大きさに対応する、検出信号を発生させるように構成される、伝送線プローブと、
伝送線前記DUTを表す少なくとも1つの特性を、前記サンプリングした前記伝送線上の前記定在波の大きさの関数として決定するための、前記伝送線プローブから前記検出器信号を受信してこれに応答する、プロセッサであって、さらに前記位相シフター制御信号を発生させるために構成される、プロセッサと、
を備える、ベクトルネットワーク分析器。 - 前記伝送線は、導波路、同軸線、およびマイクロストリップ線のうちの1つ以上を備える、請求項17に記載のベクトルネットワーク分析器。
- 前記伝送線プローブは、前記定在波の大きさに比例する信号を生成するための、少なくとも1つの能動素子を備える、請求項17に記載のベクトルネットワーク分析器。
- 前記伝送線プローブの前記能動素子は、ダイオードを備える、請求項19に記載のベクトルネットワーク分析器。
- 前記DUTに入射する信号を提供するための信号源をさらに備え、前記伝送線上の前記DUTに入射する前記信号および前記DUTから反射される信号は、前記伝送線上に前記定在波を形成し、前記信号源は、その出力を変化させるための源制御信号に応答する、請求項17に記載のベクトルネットワーク分析器。
- 前記伝送線上の前記定在波は、前記DUTに入射する前記信号と、前記DUTから反射される前記信号と、前記DUTに入射した前記信号と逆方向に前記DUTを透過する信号とを含む、請求項21に記載のベクトルネットワーク分析器。
- 前記DUTに入射する前記信号と逆方向に前記DUTを透過する前記信号が、前記DUTを通過することを可能にするための、一方向性隔離素子をさらに備える、請求項22に記載のベクトルネットワーク分析器。
- 前記方向性隔離素子は、スイッチと、信号隔離器とを備える、請求項23に記載のベクトルネットワーク分析器。
- 位相シフトを前記伝送線上の信号に適用するための、伝送線と連結される位相シフターであって、前記信号は、超高周波よりも高い周波数にあり、前記位相シフターは、その中に複数のスロットを有する導波路を備え、前記スロットは、それぞれが前記伝送線上の前記信号の波長に関して副共振である寸法を有し、前記スロットは、それぞれが、前記信号に適用される前記位相シフトを制御するように前記スロットを装荷するための、それらに対応する能動素子を有する、位相シフター。
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