JPS63115070A - テスト装置 - Google Patents
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- JPS63115070A JPS63115070A JP62263646A JP26364687A JPS63115070A JP S63115070 A JPS63115070 A JP S63115070A JP 62263646 A JP62263646 A JP 62263646A JP 26364687 A JP26364687 A JP 26364687A JP S63115070 A JPS63115070 A JP S63115070A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/28—Measuring attenuation, gain, phase shift or derived characteristics of electric four pole networks, i.e. two-port networks; Measuring transient response
- G01R27/32—Measuring attenuation, gain, phase shift or derived characteristics of electric four pole networks, i.e. two-port networks; Measuring transient response in circuits having distributed constants, e.g. having very long conductors or involving high frequencies
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
- G01R27/04—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant in circuits having distributed constants, e.g. having very long conductors or involving high frequencies
- G01R27/06—Measuring reflection coefficients; Measuring standing-wave ratio
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- Constitution Of High-Frequency Heating (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Debugging And Monitoring (AREA)
- Transition And Organic Metals Composition Catalysts For Addition Polymerization (AREA)
- Saccharide Compounds (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は高周波電気ａ器の電気測定を行なうのに適した
テスト装置に関する。本発明は無線周波数帯域またはマ
イクロ波帯域での作動を意図したものである。
テスト装置に関する。本発明は無線周波数帯域またはマ
イクロ波帯域での作動を意図したものである。
（従来の技術）
無線周波数（以下ＲＦと呼ぶ）成分とマイクロ周波数成
分を特徴づける為に用いられる最も有効な技術の一つは
散乱パラメータである。ＲＦ装置は様々な入力端子およ
び出力端子を持つ「ブランク・ボックス」として扱われ
ている。端子の各対を「ポート」と呼ぶ。この装置′の
性能は電波を一ポートへ与えこの電波によって生ずる各
ポートの新出の電波を記録することにより数量化される
。
分を特徴づける為に用いられる最も有効な技術の一つは
散乱パラメータである。ＲＦ装置は様々な入力端子およ
び出力端子を持つ「ブランク・ボックス」として扱われ
ている。端子の各対を「ポート」と呼ぶ。この装置′の
性能は電波を一ポートへ与えこの電波によって生ずる各
ポートの新出の電波を記録することにより数量化される
。
電波間の関係はＳパラメータ行列と言う複素係数の行列
で表わされる。
で表わされる。
これらの複素係数は必要な電波を分離してその複雑な関
係を評価判定する回路網アナライザを使うことで°測定
できる。自動回路鋼アナライザーは可変発振器の周波数
が特定の周波数帯域上でコントロールされるという具合
に開発がなされて来ている。これらアナライザーは入射
波や反射波を抜取る為の方向性結合器やブリフジを含ん
でおり大変複雑なものである。抜取されたものは次に反
射係数の振幅と位相を見出す為に比率を設定される。
係を評価判定する回路網アナライザを使うことで°測定
できる。自動回路鋼アナライザーは可変発振器の周波数
が特定の周波数帯域上でコントロールされるという具合
に開発がなされて来ている。これらアナライザーは入射
波や反射波を抜取る為の方向性結合器やブリフジを含ん
でおり大変複雑なものである。抜取されたものは次に反
射係数の振幅と位相を見出す為に比率を設定される。
この事は、位相角が５００ ＫＨｚ以上の周波数では直
接測定できないので実際では複雑な行程である。
接測定できないので実際では複雑な行程である。
それゆえシステムはそれらを測定する前にＲＦ試料を適
切な周波数に変換しなければならない。正確にそれらの
振幅と位相の関係を保持しつつこれを行なうことは困難
でありまた高価につく。その様なヘテロゲイン方式に使
われるミクサやサンプリング回路は極度にリニアでなく
てはならない。
切な周波数に変換しなければならない。正確にそれらの
振幅と位相の関係を保持しつつこれを行なうことは困難
でありまた高価につく。その様なヘテロゲイン方式に使
われるミクサやサンプリング回路は極度にリニアでなく
てはならない。
６ポ一ト回路網アナライザとして知られている装置は位
相についての情報を測定する必要がなく振幅測定に依存
する。そして６ポ一ト回路網アナライザが正確に校正さ
れることをもたらし比較的筒車なＲＦ回路を使用できる
。
相についての情報を測定する必要がなく振幅測定に依存
する。そして６ポ一ト回路網アナライザが正確に校正さ
れることをもたらし比較的筒車なＲＦ回路を使用できる
。
本出願人による同時係続出願番号８６０１１０８（ＧＢ
２１８５５８２ Ａ）および同時係続出願番号８６０９
２２７（Ｇ Ｂ ２１８５５８３ Ａ ）はそのような
システムを校正する為の６ポ一ト回路網アナライザと技
術について説明している。
２１８５５８２ Ａ）および同時係続出願番号８６０９
２２７（Ｇ Ｂ ２１８５５８３ Ａ ）はそのような
システムを校正する為の６ポ一ト回路網アナライザと技
術について説明している。
６ポ一ト反射率計においては、６つのポートは次のよう
に使われている。即ち、ポート１はテスト中の機器へ無
線周波数源が加えた入射信号Ａを受信する。ポート２は
信号Ａをこの機器に与え反射した信号Ｂを受信する為の
テストポートである。
に使われている。即ち、ポート１はテスト中の機器へ無
線周波数源が加えた入射信号Ａを受信する。ポート２は
信号Ａをこの機器に与え反射した信号Ｂを受信する為の
テストポートである。
ポート３は主に信号Ａを抜取り、ポート４，５゜および
６は信号ＡとＢの異る組合わせを抜取る。
６は信号ＡとＢの異る組合わせを抜取る。
６ポート接続は、検知ポートの３つに試料を渡すために
、テスト中の機器（ＤＵＴ）と４つの検知ポート間へ電
源電力を分割しこのテスト中の機器よりの反射波を抜取
るように設計される、抜取られた信号の測定値より、テ
スト中の機器を特徴づけそのｒＳＪＳパラメータ行列こ
とが出来る。
、テスト中の機器（ＤＵＴ）と４つの検知ポート間へ電
源電力を分割しこのテスト中の機器よりの反射波を抜取
るように設計される、抜取られた信号の測定値より、テ
スト中の機器を特徴づけそのｒＳＪＳパラメータ行列こ
とが出来る。
（発明が解決しようとする問題点）
６ポ一ト回路網はＡとＢの電波の試料が４つの検知器に
到達する際にこの人およびＢの電波の試料の正確な位相
と振幅のバランスを与える責任を持つ。この事は以前に
は結合器、ハイブリッド、伝送路の長さ、電圧プローブ
、共振容胴などの標準マイクロ波構成成分を用いなされ
てきた。そのようなシステムはそれゆえ取扱える周波数
帯域が限られ、複雑で嵩りがちとなる。
到達する際にこの人およびＢの電波の試料の正確な位相
と振幅のバランスを与える責任を持つ。この事は以前に
は結合器、ハイブリッド、伝送路の長さ、電圧プローブ
、共振容胴などの標準マイクロ波構成成分を用いなされ
てきた。そのようなシステムはそれゆえ取扱える周波数
帯域が限られ、複雑で嵩りがちとなる。
（問題点を解決するための手段）
本発明によれば、テスト中の機器に接続可能なテストポ
ートを持つ６ポ一ト反射率計を持つテスト装置と、同一
周波数だが相対的位相差を持つ３つの出力信号の各々を
テスト中の機器からの反射によりテストポートにて得た
信号とを組合わせる為の手段と、この機器をテストする
為にこの３つの組合わせた信号と出力信号の一つとを使
用する為の電力計が与えられている。
ートを持つ６ポ一ト反射率計を持つテスト装置と、同一
周波数だが相対的位相差を持つ３つの出力信号の各々を
テスト中の機器からの反射によりテストポートにて得た
信号とを組合わせる為の手段と、この機器をテストする
為にこの３つの組合わせた信号と出力信号の一つとを使
用する為の電力計が与えられている。
信号源は相対的位相が一定のままで３つの出力信号の周
波数が可変であるというように設定してよい。
波数が可変であるというように設定してよい。
典型的実施例では帯域幅はＩＭＨ２からＩＧＨｚまで、
またはそれ以上でありうる。
またはそれ以上でありうる。
望ましくは、信号源は相対的位相差１２０’だが同一周
波数を持つ３つの高周波出力信号を与えることがよい。
波数を持つ３つの高周波出力信号を与えることがよい。
上記同時係続出願に示されており、この事はここでは参
考で取入れているのだが、６ポー１−Ｒ器では４つの検
知器の各々からの出力は幾何学的には複素平面上の円が
ｒ（ラムダ）を 反射波 入射波 と定義する一点ｒ（ラムダ）で交差していると解釈して
よいという事が示されている。これら円の中心が電力計
の指示値の誤差がｒ（ラムダ）の測定で重大な誤差を引
起こさないように可能な限り互いから離れて置かれてい
れば最大の精度が達成できる。このことから、理想的に
は円の中心は１２０°離れて置かれるべきで、これは本
発明においては簡単だが効果的に達成される。
考で取入れているのだが、６ポー１−Ｒ器では４つの検
知器の各々からの出力は幾何学的には複素平面上の円が
ｒ（ラムダ）を 反射波 入射波 と定義する一点ｒ（ラムダ）で交差していると解釈して
よいという事が示されている。これら円の中心が電力計
の指示値の誤差がｒ（ラムダ）の測定で重大な誤差を引
起こさないように可能な限り互いから離れて置かれてい
れば最大の精度が達成できる。このことから、理想的に
は円の中心は１２０°離れて置かれるべきで、これは本
発明においては簡単だが効果的に達成される。
（発明の効果）
三相信号源の使用は直角位相結合器などを不要にしてし
まう。そして抵抗成分を使うことで電力分割と合成が達
成できるのでこの装置は非常に広い周波数帯域上で作動
できる。信号源それ自体はそれが同じく非常に広い周波
数帯域上で作動できるというような形態へ而単に組立て
られる。
まう。そして抵抗成分を使うことで電力分割と合成が達
成できるのでこの装置は非常に広い周波数帯域上で作動
できる。信号源それ自体はそれが同じく非常に広い周波
数帯域上で作動できるというような形態へ而単に組立て
られる。
このテスト装置には二部のテスト中の機器の反射パラメ
ータ並びに送信パラメータが完全に特徴づけされるよう
にする為に２つの６ポート反射率計を含んでもよい。
ータ並びに送信パラメータが完全に特徴づけされるよう
にする為に２つの６ポート反射率計を含んでもよい。
本発明はマイクロ波成分が波長の大きさにより極度に大
きくなるようなサブマイクロ波周波数（ｌＧｌｌｚ以下
）にて特に応用できる。というのは、特定の周波数に応
用できる結合器の長さは波長に比例するからである。
きくなるようなサブマイクロ波周波数（ｌＧｌｌｚ以下
）にて特に応用できる。というのは、特定の周波数に応
用できる結合器の長さは波長に比例するからである。
（実施例）
本発明の実施例は添付図面に関してのみの例により説明
することとする。
することとする。
図１について言えば、三相無線周波数源１とテスト中の
機器（ＤＵＴ）２に接続した６ポ一ト反射率計が示され
ている。習慣によると６ポート反射率計はポートＰｉか
らＰ６で標示され、この図中ではポートＰｌは示されて
ないがこのポートＰ１は相対位相φ０、φ１、およびφ
２を各々持つ３つのソース信号ａ０、ａｌ、およびａ２
が与えられる入力ポートである。Ｐ２はテスト中の機器
２ （ＤＵＴ）が接ながれるポートである。分割器３は
ポートＰ３に接ながれソース信号ａ０の試料をＰ３の電
力計へ与える働きをする。方向性結合器４は、入射信号
Ａがテスト中の機器へ転送され反射信号Ｂが三方向分割
器５へ転送されそこよりポー）Ｐ４、Ｐ５、およびＰ６
の電力計へ与えられるようにする為にポート２へ付けら
れる。これら３つのポートの各対応するものの所で信号
Ｂは電力結合器９において無線周波数源１からの異なる
位相出力ａ２、ａＩ、およびａｏの中の１つと結合され
る。信号ａ０の試料は次段の電力分割器６によりポート
Ｐ６へ与えられる。装置中で使われる電力結合器と電力
分割器は簡単でそして良く知られたＲＦ回路を使っても
よい。
機器（ＤＵＴ）２に接続した６ポ一ト反射率計が示され
ている。習慣によると６ポート反射率計はポートＰｉか
らＰ６で標示され、この図中ではポートＰｌは示されて
ないがこのポートＰ１は相対位相φ０、φ１、およびφ
２を各々持つ３つのソース信号ａ０、ａｌ、およびａ２
が与えられる入力ポートである。Ｐ２はテスト中の機器
２ （ＤＵＴ）が接ながれるポートである。分割器３は
ポートＰ３に接ながれソース信号ａ０の試料をＰ３の電
力計へ与える働きをする。方向性結合器４は、入射信号
Ａがテスト中の機器へ転送され反射信号Ｂが三方向分割
器５へ転送されそこよりポー）Ｐ４、Ｐ５、およびＰ６
の電力計へ与えられるようにする為にポート２へ付けら
れる。これら３つのポートの各対応するものの所で信号
Ｂは電力結合器９において無線周波数源１からの異なる
位相出力ａ２、ａＩ、およびａｏの中の１つと結合され
る。信号ａ０の試料は次段の電力分割器６によりポート
Ｐ６へ与えられる。装置中で使われる電力結合器と電力
分割器は簡単でそして良く知られたＲＦ回路を使っても
よい。
本装置において三相無線周波数源１はＡ波の３つの移相
を行なうのに使われているのが判かり、このことはＢ波
の移相してない試料で要点が説明されている。試料ａ
６ 、ａ Ｉ 、３２間の任意位相差を作り出すことは
できるが、３つのサンプルは可能な限り位相が離れてい
るべきで、これより本実施例においては φ〇−φ１−φ１−φ２＝φ２−φ０＝１２０’と示さ
れる。発振器はそれゆえループ周辺の総移相が３６０°
でこれより各段階間の移相が１２０ ’となるような３
つの同一移相器で作られる。これに適した信号源は図２
に示されている。どのような型の三相無線周波数源でも
、即ち５０Ｈｚの主電源でさえも適することに留意のこ
と。このようなシステムにとっては電力結合器は簡単な
演算増幅器の回路網であり得るだろう。１２０”からの
移相における小さな変化のどのようなものも測定精度に
重大な影響は及ぼさない。というのは、６ポートの校正
法はそのような理想よりの背離を引起こすものであるか
らである。
を行なうのに使われているのが判かり、このことはＢ波
の移相してない試料で要点が説明されている。試料ａ
６ 、ａ Ｉ 、３２間の任意位相差を作り出すことは
できるが、３つのサンプルは可能な限り位相が離れてい
るべきで、これより本実施例においては φ〇−φ１−φ１−φ２＝φ２−φ０＝１２０’と示さ
れる。発振器はそれゆえループ周辺の総移相が３６０°
でこれより各段階間の移相が１２０ ’となるような３
つの同一移相器で作られる。これに適した信号源は図２
に示されている。どのような型の三相無線周波数源でも
、即ち５０Ｈｚの主電源でさえも適することに留意のこ
と。このようなシステムにとっては電力結合器は簡単な
演算増幅器の回路網であり得るだろう。１２０”からの
移相における小さな変化のどのようなものも測定精度に
重大な影響は及ぼさない。というのは、６ポートの校正
法はそのような理想よりの背離を引起こすものであるか
らである。
普通の構造の典型的信号源は図２に示されている。この
信号源は抵抗成分を使い、これは非常に広範な周波数帯
域をカバーするように作ることができる。ＲＣタイプの
周波数制御が使われ、そこではキャパシタンスＣは固定
されており、抵抗Ｒは増幅段での出力インピーダンスで
ある。この回路では相対的位相φＯ１φ１、φ２の３つ
の出力信号を得るために３段階の増幅が用いられる。
信号源は抵抗成分を使い、これは非常に広範な周波数帯
域をカバーするように作ることができる。ＲＣタイプの
周波数制御が使われ、そこではキャパシタンスＣは固定
されており、抵抗Ｒは増幅段での出力インピーダンスで
ある。この回路では相対的位相φＯ１φ１、φ２の３つ
の出力信号を得るために３段階の増幅が用いられる。
２つのＲＣ段が各増幅段で使われ、キャパシタンスはコ
ンデンサＣにより与えられ、抵抗はＲ１、Ｒ２と示すＦ
ＥＴの出力インピーダンスで与えられる。Ｒ１と標示し
た３つのＦＥＴのインピーダンスはループ利得を調整す
る為に振幅制御を用い調整することができる。このこと
は信号のクリッピングを避けるためになされる。という
のは、真の正弦波を倍振動の発生を避けるためおよびテ
スト中の機器（ＤＵＴ）の倍振動に対する応答による周
波数に依存したいずれもの作用が避けられることを確か
にするために得ることは重要だからである。本システム
の同調は増幅ＦＥＴの作動点を変える役割をする周波数
制御抵抗８を変化させることによりなされる。電流鏡面
装置１ま各出力段の静止電流を設定するために使われる
。小さな電流の流れがある場合、ＦＥＴは高い出力イン
ピーダンスを持ち、大きな電流がある場合、出力インピ
ーダンスは低い。発振周波数は増幅器の出力インピーダ
ンスに比例し、このことより電源の周波数帯域は得るこ
とのできる出力インピーダンス域に依存する。これはｔ
ｏ６ ：ｔの周波数帯域に従えば１０ΩからＩＯＭΩの
間であろう。
ンデンサＣにより与えられ、抵抗はＲ１、Ｒ２と示すＦ
ＥＴの出力インピーダンスで与えられる。Ｒ１と標示し
た３つのＦＥＴのインピーダンスはループ利得を調整す
る為に振幅制御を用い調整することができる。このこと
は信号のクリッピングを避けるためになされる。という
のは、真の正弦波を倍振動の発生を避けるためおよびテ
スト中の機器（ＤＵＴ）の倍振動に対する応答による周
波数に依存したいずれもの作用が避けられることを確か
にするために得ることは重要だからである。本システム
の同調は増幅ＦＥＴの作動点を変える役割をする周波数
制御抵抗８を変化させることによりなされる。電流鏡面
装置１ま各出力段の静止電流を設定するために使われる
。小さな電流の流れがある場合、ＦＥＴは高い出力イン
ピーダンスを持ち、大きな電流がある場合、出力インピ
ーダンスは低い。発振周波数は増幅器の出力インピーダ
ンスに比例し、このことより電源の周波数帯域は得るこ
とのできる出力インピーダンス域に依存する。これはｔ
ｏ６ ：ｔの周波数帯域に従えば１０ΩからＩＯＭΩの
間であろう。
典型的なものとして、図２に示す電源回路はＩＭｌｌｚ
から１ＧＩＩｚの周波数帯域について１２０”の位相分
離をする三相無線周波数源を与えるために使われること
となろう。３ｄＢハイブリッド結合器より作られた典型
的６ポート回路網はこの大きな周波数帯域上では取扱い
易くはないだろう。だから一般に３０＝１の周波数帯域
しかもたない。
から１ＧＩＩｚの周波数帯域について１２０”の位相分
離をする三相無線周波数源を与えるために使われること
となろう。３ｄＢハイブリッド結合器より作られた典型
的６ポート回路網はこの大きな周波数帯域上では取扱い
易くはないだろう。だから一般に３０＝１の周波数帯域
しかもたない。
一つの例としてＩＭＩＩｚでのハイブリッド結合器は約
２．５ｍの長さを必要とするだろうし、このことから普
通の６ポ一ト回路網はそのような周波数では非実用的な
ものとなろう。図２に示すそれに同様な装置の実用周波
数は無線周波数回路の技術によってのみ限界があり、構
成成分は例えば１０ＫＩＬｚから２ＧＨｚまたはもっと
広い周波数帯域を実現するようなものが容易に利用でき
る。
２．５ｍの長さを必要とするだろうし、このことから普
通の６ポ一ト回路網はそのような周波数では非実用的な
ものとなろう。図２に示すそれに同様な装置の実用周波
数は無線周波数回路の技術によってのみ限界があり、構
成成分は例えば１０ＫＩＬｚから２ＧＨｚまたはもっと
広い周波数帯域を実現するようなものが容易に利用でき
る。
上記引用の同時係属出願においてはテスト中の機器（Ｄ
ＵＴ）を完全に特徴づけるためにどのようにして６ポ一
ト回路網アナライザの二重構成が必要なものとなるのが
説明されている。図３は三相信号源の双対の６ポート回
路網への応用例を示している。テスト中の機器への信号
の入射はａｏとして示されており、反射波はＢ１として
、そして送信信号はＢ２として示されている。殆どの点
で本装置は図１のそれに同様であり、同様の部品には同
一の参照番号が与えられている。しかしこの場合、さら
にあと３つのポー１−、Ｐ ４ ’、Ｐ ５ ’、およ
びＰ６’が必要となる。三相信号ａ０、ａｌｌおよびＢ
２はＢ２は反射波Ｂ１の各試料と組合わされるだけでな
く送信波Ｂ２の試料とも組合わされる。Ｂ２の試料はａ
ｏ、ａｌ、またはＢ２と組合わされ各々電力計Ｐ６’、
Ｐ５’、およびＰ４’により測定される。テスト中の機
器（ＤＵＴ）の反射と送信特性を測定することによりそ
のパラメータは我々が前に述べた同時係属出願の中に説
明されているように評定することが可能である。
ＵＴ）を完全に特徴づけるためにどのようにして６ポ一
ト回路網アナライザの二重構成が必要なものとなるのが
説明されている。図３は三相信号源の双対の６ポート回
路網への応用例を示している。テスト中の機器への信号
の入射はａｏとして示されており、反射波はＢ１として
、そして送信信号はＢ２として示されている。殆どの点
で本装置は図１のそれに同様であり、同様の部品には同
一の参照番号が与えられている。しかしこの場合、さら
にあと３つのポー１−、Ｐ ４ ’、Ｐ ５ ’、およ
びＰ６’が必要となる。三相信号ａ０、ａｌｌおよびＢ
２はＢ２は反射波Ｂ１の各試料と組合わされるだけでな
く送信波Ｂ２の試料とも組合わされる。Ｂ２の試料はａ
ｏ、ａｌ、またはＢ２と組合わされ各々電力計Ｐ６’、
Ｐ５’、およびＰ４’により測定される。テスト中の機
器（ＤＵＴ）の反射と送信特性を測定することによりそ
のパラメータは我々が前に述べた同時係属出願の中に説
明されているように評定することが可能である。
テスト中の２ポートの機器は異なる順方向および逆方向
の特性を呈するだろうから、即ち、テスト信号が加えら
れるポートにより異なる特性を持つだろうから、テスト
装置を配することが有用なのである。このテスト装置の
テスト信号は代わりにテスト中の機器（ＤＵＴ）の各ポ
ートへ加えられる。これを実現するための一つのシステ
ムは図４に示されており、その中でスイッチ１０はテス
ト中の機器（ＤＵＴ）の２つのポート間のテスト信号を
交互に変えるのに使われる。このスイッチが図示しであ
る位置にある時、この装置は図３中の製図３中の装置の
信号ａ０がテスト中の機器（ＤＵＴ）とＢｌおよび前に
同じく測定されたＢ２へ与えられるというその装置の方
式に同一の方式で作動する。スイッチ１０がその交互に
変えられるいずれかの位置にある場合、信号ａ０はテス
ト中の機器（ＤＵＴ）の他の一方へ与えられ、出力信号
Ｂ１およびＢ２は図３に関して逆になってしまう。この
方法ではテスト中の機器（ＤＵＴ）を特徴づけるＳパラ
メータの全行列はテスト中の機器（ＤＵＴ）の２ポート
間のテスト信号を交互に代えることで求められるだろう
。
の特性を呈するだろうから、即ち、テスト信号が加えら
れるポートにより異なる特性を持つだろうから、テスト
装置を配することが有用なのである。このテスト装置の
テスト信号は代わりにテスト中の機器（ＤＵＴ）の各ポ
ートへ加えられる。これを実現するための一つのシステ
ムは図４に示されており、その中でスイッチ１０はテス
ト中の機器（ＤＵＴ）の２つのポート間のテスト信号を
交互に変えるのに使われる。このスイッチが図示しであ
る位置にある時、この装置は図３中の製図３中の装置の
信号ａ０がテスト中の機器（ＤＵＴ）とＢｌおよび前に
同じく測定されたＢ２へ与えられるというその装置の方
式に同一の方式で作動する。スイッチ１０がその交互に
変えられるいずれかの位置にある場合、信号ａ０はテス
ト中の機器（ＤＵＴ）の他の一方へ与えられ、出力信号
Ｂ１およびＢ２は図３に関して逆になってしまう。この
方法ではテスト中の機器（ＤＵＴ）を特徴づけるＳパラ
メータの全行列はテスト中の機器（ＤＵＴ）の２ポート
間のテスト信号を交互に代えることで求められるだろう
。
図４の装置の問題はスイッチの繰返し性の無いことでテ
スト中の機器をテストするのに使われる出力と三相無線
周波数源１の他の出力ａ１と８２間の位相関係に変化を
引起こしてしまうだろうことである。このスイッチはス
イッチの各作動と共に変化するわずかな移相を信号ａ０
の中に取込んでもよい。ＩＧＩＩｚ以下の周波数におい
ては誤差は小さなものとできるが、この効果は簡単には
説明できない。図５と図６には同様の機能を果たす為の
択一的双対ポート装置が示されている。
スト中の機器をテストするのに使われる出力と三相無線
周波数源１の他の出力ａ１と８２間の位相関係に変化を
引起こしてしまうだろうことである。このスイッチはス
イッチの各作動と共に変化するわずかな移相を信号ａ０
の中に取込んでもよい。ＩＧＩＩｚ以下の周波数におい
ては誤差は小さなものとできるが、この効果は簡単には
説明できない。図５と図６には同様の機能を果たす為の
択一的双対ポート装置が示されている。
図５に示す装置はスイッチの後でａｏと３０を抜取りす
ることにより図４の装置に改良を行なっている。そして
このようにしてスイッチの繰返し性による誤差を最小と
している。しかし、ａｏ、ａＩ、および８２間の位相関
係を維持するという問題がなお残っている。
ることにより図４の装置に改良を行なっている。そして
このようにしてスイッチの繰返し性による誤差を最小と
している。しかし、ａｏ、ａＩ、および８２間の位相関
係を維持するという問題がなお残っている。
図６に示す装置は２つの三相無線周波数源１ａと１ｂを
含んでいる。三相無線周波数源１ａからの信号はテスト
中の機器（ＤＵＴ）の一方の側え与えられ、第２番めの
無線周波数源１ｂからの信号は他方の側へ与えられてよ
い。このことより、一方の発振器は順方向の測定用いら
れ、他方の発振器は逆方向の測定に用いられる。そして
一方の発振器のみが共働型スイッチ１１と１２を使うこ
とで任意の一時期にエネルギーを与えられる。この装置
は図４と５のそれに対しては一つの選択肢であり、図６
のシステムは２つの発振器を使うため、より高価なもの
となろうが、位相差がよりよく制御できるのでわずかな
がらより正確なものであろう。
含んでいる。三相無線周波数源１ａからの信号はテスト
中の機器（ＤＵＴ）の一方の側え与えられ、第２番めの
無線周波数源１ｂからの信号は他方の側へ与えられてよ
い。このことより、一方の発振器は順方向の測定用いら
れ、他方の発振器は逆方向の測定に用いられる。そして
一方の発振器のみが共働型スイッチ１１と１２を使うこ
とで任意の一時期にエネルギーを与えられる。この装置
は図４と５のそれに対しては一つの選択肢であり、図６
のシステムは２つの発振器を使うため、より高価なもの
となろうが、位相差がよりよく制御できるのでわずかな
がらより正確なものであろう。
本出願人の同時係属出願番号８６０９２２７においては
双対の６ポート回路網の校正が２つの段階にて如何に実
行されるのかが説明されている。第一段階では６ポート
回路網は４つのポートへと減少させられている。即ち、
このシステムの未知の係数の数は４ポート回路網と関係
する数へと減少させられる。この６ポートより４ポート
への減少を達成するために理論ではテストポートへのい
くつかの異なる負荷の接続を要求している。これらはす
べて受動負荷であり、即ち、■ｒＩ≦１であるもの、ま
たはさらに望ましくはこの負荷が受動負荷と能動負荷の
混成であること。つまり、能動負荷はＩｒｌ＞ｌとなる
ものであり、即ち、ポートに入射するよりもっと多くの
電力がその能動負荷中で反射するという能動負荷である
こと。上記特許出願ではそのような校正用として一連の
負荷を与えるために任意の停止発振器を使ってよいこと
が示されている。普通の６ポ一ト回路網ではそのような
任意の成端発振器は受動と能動両方の広い成端範囲を与
えるために可変減衰器と可変移相器を含んでいる。図７
に関しては、本発明に基づく装置と共に使用する任意成
端発振器は以前の発振器においてと同じく可変減衰器１
３を含む。しかし、可変移相器の代わりに無線周波数源
１からの３つの電力出力ａｏ 、ａｌ 、およびＢ２が
異なる位相の位相負荷を与えるべ（スイッチ１４を介し
て使われる。それゆえこれは以前の６ポ一ト回路網シス
テムと共に使われているように、発振器よりも設計が簡
単で要求を満たすのが容易である。６ポートから４ポー
トへ減少させる段階で成端発振器はいくつか任意の反射
を与えるように設定されている。引続いてその後に、減
少されてできた４ポート回路網が校正をなされる校正の
第二段階で成端発振器はいくつかの任意送信を行なうよ
うに用いられる。
双対の６ポート回路網の校正が２つの段階にて如何に実
行されるのかが説明されている。第一段階では６ポート
回路網は４つのポートへと減少させられている。即ち、
このシステムの未知の係数の数は４ポート回路網と関係
する数へと減少させられる。この６ポートより４ポート
への減少を達成するために理論ではテストポートへのい
くつかの異なる負荷の接続を要求している。これらはす
べて受動負荷であり、即ち、■ｒＩ≦１であるもの、ま
たはさらに望ましくはこの負荷が受動負荷と能動負荷の
混成であること。つまり、能動負荷はＩｒｌ＞ｌとなる
ものであり、即ち、ポートに入射するよりもっと多くの
電力がその能動負荷中で反射するという能動負荷である
こと。上記特許出願ではそのような校正用として一連の
負荷を与えるために任意の停止発振器を使ってよいこと
が示されている。普通の６ポ一ト回路網ではそのような
任意の成端発振器は受動と能動両方の広い成端範囲を与
えるために可変減衰器と可変移相器を含んでいる。図７
に関しては、本発明に基づく装置と共に使用する任意成
端発振器は以前の発振器においてと同じく可変減衰器１
３を含む。しかし、可変移相器の代わりに無線周波数源
１からの３つの電力出力ａｏ 、ａｌ 、およびＢ２が
異なる位相の位相負荷を与えるべ（スイッチ１４を介し
て使われる。それゆえこれは以前の６ポ一ト回路網シス
テムと共に使われているように、発振器よりも設計が簡
単で要求を満たすのが容易である。６ポートから４ポー
トへ減少させる段階で成端発振器はいくつか任意の反射
を与えるように設定されている。引続いてその後に、減
少されてできた４ポート回路網が校正をなされる校正の
第二段階で成端発振器はいくつかの任意送信を行なうよ
うに用いられる。
第１図はテスト装置の一実施例の図、
第２図は広周波数帯域上で動作可能な信号源の図、
第３図は一経路双対の６ポートテスト装置の図、第４図
と第５図は２つのスイッチ式双対６ポートテスト装置の
図、 第６図は二分割式信号源付６ポートテスト装置の図、 および第７図は本テスト装置用校正装置の図である。 １・・・・・・三相無線周波数源、 ２・・・・・・テスト中の機器（ＤＵＴ）、３・・・・
・・電力分割器、 ４・・・・・・方向性結合器、 ５・・・・・・三方向分割器、 ６・・・・・・電力分割器、 ７・・・・・・振幅制御、 ８・・・・・・周波数制御、 ９・・・・・・電力結合器、 ｌＯ・・・・・・スイッチ、 １１・・・・・・共働スイッチ、 １２・・・・・・共働スイッチ、 １３・・・・・・可変減衰器、 １４・・・・・・スイッチ。 第１＠ Ｖ◆ 第２図 第６図 任意成端発振器
と第５図は２つのスイッチ式双対６ポートテスト装置の
図、 第６図は二分割式信号源付６ポートテスト装置の図、 および第７図は本テスト装置用校正装置の図である。 １・・・・・・三相無線周波数源、 ２・・・・・・テスト中の機器（ＤＵＴ）、３・・・・
・・電力分割器、 ４・・・・・・方向性結合器、 ５・・・・・・三方向分割器、 ６・・・・・・電力分割器、 ７・・・・・・振幅制御、 ８・・・・・・周波数制御、 ９・・・・・・電力結合器、 ｌＯ・・・・・・スイッチ、 １１・・・・・・共働スイッチ、 １２・・・・・・共働スイッチ、 １３・・・・・・可変減衰器、 １４・・・・・・スイッチ。 第１＠ Ｖ◆ 第２図 第６図 任意成端発振器
Claims (9)
- （１）テスト装置において、テスト中の機器に接続可能
なテストポートを持つ６ポート反射率計と、同じ周波数
だが相対的位相差を持つ３つの出力信号を与える信号源
と、前記３つの信号の各々とテスト中の機器からの反射
により前記テストポートで得られた信号とを組合わせる
為の手段と、前記装置をテストする為に前記３つの組合
わせた信号と前記出力信号の一つを利用する為の電力計
とを含むテスト装置。 - （２）前記信号源の相対的位相が事実上一定のままであ
りながら前記３つの出力信号の前記周波数が変化してし
まうように取入れられていることを特徴とする特許請求
の範囲第１項に記載のテスト装置。 - （３）前記の各出力信号が前記の他の２つの信号の各々
と事実上１２０°の相対位相差を持つことを特徴とする
特許請求の範囲第１項あるいは第２項に記載のテスト装
置。 - （４）１ＭＨｚから１ＧＨｚの周波数帯域上で作動する
ように適合されていることを特徴とする前記特許請求の
範囲のいずれかの項に記載のテスト装置。 - （５）テスト中の機器に接続可能な第２テストポートと
、前記テスト中の機器よりの送信あるいは反射により前
記３つの信号の各々を前記２テストポートで得た信号と
組合わせる為の手段と、前記装置をさらにテストする為
に前記３つの結果として生ずる組合わせた信号とをさら
に有することを特徴とする前記特許請求の範囲のいずれ
かに記載のテスト装置。 - （６）テスト信号がいずれかのポートへ選んで与えられ
るように前記信号源がスイッチ手段を介して両テストポ
ートへ接続されていることを特徴とする特許請求の範囲
第５項に記載のテスト装置。 - （７）前記テスト中の装置に接続可能な第２テストポー
トと、同一周波数だが相対的位相差を持つ３つの出力信
号を与える第２信号源と、前記テスト中の機器からの反
射によりこれら３つの出力信号の各々を前記第２テスト
ポートで得た信号と組合わせる為の手段と、さらに前記
装置をテストする為の前記３つの結果として生ずる組合
わせ信号を利用する為のさらなる電力計と、第１または
第２信号源の内から選択した一つを動作させる為のスイ
ッチ手段とを有することを特徴とする特許請求の範囲第
１項記載のテスト装置。 - （８）前記信号源が抵抗素子で出来ていることを特徴と
する特許請求の範囲のいずれかに記載のテスト装置。 - （９）任意の一時期に出力の一つを選択する為に前記信
号源よりの前記３つの出力の各々からの入力と前記入力
に接続された可変減衰器転てつ方法とを含む任意成端発
振器を有すことを特徴とする特許請求の範囲第１項に記
載のテスト装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| GB8625154A GB2196745B (en) | 1986-10-21 | 1986-10-21 | Test arrangement |
| GB8625154 | 1986-10-21 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63115070A true JPS63115070A (ja) | 1988-05-19 |
Family
ID=10606063
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62263646A Pending JPS63115070A (ja) | 1986-10-21 | 1987-10-19 | テスト装置 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4777429A (ja) |
| EP (1) | EP0265073B1 (ja) |
| JP (1) | JPS63115070A (ja) |
| AT (1) | ATE73237T1 (ja) |
| DE (1) | DE3777066D1 (ja) |
| GB (1) | GB2196745B (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02242645A (ja) * | 1989-03-15 | 1990-09-27 | House Food Ind Co Ltd | フルーツゼリー及びその製造方法 |
Families Citing this family (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0321808A1 (de) * | 1987-12-23 | 1989-06-28 | BBC Brown Boveri AG | Verfahren zum Messen eines Wellenwiderstandes und einer Ausbreitungskonstante eines Zweitors |
| US4958294A (en) * | 1988-04-01 | 1990-09-18 | Wavetek Microwave, Inc. | Swept microwave power measurement system and method |
| GB9006983D0 (en) * | 1990-03-28 | 1990-05-23 | Secr Defence | Microwave testing |
| GB2281127A (en) * | 1993-08-05 | 1995-02-22 | Bcf Designs Ltd | Method and apparatus for testing frequency-dependant electrical circuits |
| EP0841756A3 (en) * | 1996-11-07 | 2001-11-28 | Nokia Mobile Phones Ltd. | An improved correlator circuit for a six-port receiver |
| GB9712051D0 (en) * | 1997-06-10 | 1997-08-06 | Bcf Designs Ltd | Method and apparatus for testing frequency-dependent electrical circuits |
| GB2328028B (en) | 1997-06-10 | 1999-12-08 | Bcf Designs Ltd | Method and apparatus for testing low-pass frequency-dependent electrical circuits |
| US6421624B1 (en) * | 1999-02-05 | 2002-07-16 | Advantest Corp. | Multi-port device analysis apparatus and method and calibration method thereof |
| DE69932705T2 (de) | 1999-06-16 | 2007-08-16 | Sony Deutschland Gmbh | Empfänger mit N Toren |
| WO2006004569A2 (en) * | 2004-01-15 | 2006-01-12 | Bae Systems Information And Electronic Systems Integration Inc. | Algorithm for estimation of multiple faults on a transmission line or waveguide |
| US7061251B2 (en) * | 2004-01-15 | 2006-06-13 | Bae Systems Information And Electronic Systems Integration Inc. | Method and apparatus for transmission line and waveguide testing |
| WO2007014280A2 (en) * | 2005-07-25 | 2007-02-01 | University Of Florida Research Foundation, Inc. | System, device, and methods for embedded s-parameter measurement |
| KR100956503B1 (ko) * | 2005-09-01 | 2010-05-07 | 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 | 피검체의 산란 계수의 측정방법 및 측정장치 |
| US7671605B2 (en) * | 2008-01-17 | 2010-03-02 | Agilent Technologies, Inc. | Large signal scattering functions from orthogonal phase measurements |
| US8874391B2 (en) * | 2009-06-05 | 2014-10-28 | Bae Systems Information And Electronic Systems Integration Inc. | Distance-to-fault measurement system capable of measuring complex reflection coefficients |
| NO331964B1 (no) | 2010-07-02 | 2012-05-14 | Sinvent As | Forenklet reflektometer for vektor nettverksanalysator |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2100526B (en) * | 1981-05-21 | 1985-04-24 | Secr Defence | Improvements in or relating to impedance matching devices |
| US4521728A (en) * | 1982-08-23 | 1985-06-04 | Renato Bosisio | Method and a six port network for use in determining complex reflection coefficients of microwave networks |
| GB8413339D0 (en) * | 1984-05-24 | 1984-06-27 | Secr Defence | Six-port reflectometer |
-
1986
- 1986-10-21 GB GB8625154A patent/GB2196745B/en not_active Expired - Fee Related
-
1987
- 1987-09-17 EP EP87308237A patent/EP0265073B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1987-09-17 AT AT87308237T patent/ATE73237T1/de not_active IP Right Cessation
- 1987-09-17 DE DE8787308237T patent/DE3777066D1/de not_active Expired - Fee Related
- 1987-10-08 US US07/105,576 patent/US4777429A/en not_active Expired - Fee Related
- 1987-10-19 JP JP62263646A patent/JPS63115070A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02242645A (ja) * | 1989-03-15 | 1990-09-27 | House Food Ind Co Ltd | フルーツゼリー及びその製造方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| GB2196745A (en) | 1988-05-05 |
| US4777429A (en) | 1988-10-11 |
| EP0265073B1 (en) | 1992-03-04 |
| DE3777066D1 (de) | 1992-04-09 |
| GB8625154D0 (en) | 1986-11-26 |
| EP0265073A1 (en) | 1988-04-27 |
| GB2196745B (en) | 1990-05-16 |
| ATE73237T1 (de) | 1992-03-15 |
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