JP2012514192A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2012514192A5
JP2012514192A5 JP2011542829A JP2011542829A JP2012514192A5 JP 2012514192 A5 JP2012514192 A5 JP 2012514192A5 JP 2011542829 A JP2011542829 A JP 2011542829A JP 2011542829 A JP2011542829 A JP 2011542829A JP 2012514192 A5 JP2012514192 A5 JP 2012514192A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
phase
wave number
height
magnification
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2011542829A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2012514192A (ja
JP5746046B2 (ja
Filing date
Publication date
Priority claimed from DE102008055158A external-priority patent/DE102008055158B4/de
Application filed filed Critical
Publication of JP2012514192A publication Critical patent/JP2012514192A/ja
Publication of JP2012514192A5 publication Critical patent/JP2012514192A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5746046B2 publication Critical patent/JP5746046B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Description

欧州特許公開公報第0968687A2号より、表面構造の取得のための、特に歯科医療のための測定カメラが公知であり、これにより短時間のうちに連続して少なくとも2つの同一の撮影物体の三次元測定が行われ、この際2回の測定の間に三角測量角が変更される。ここで最初の撮影の一意性の範囲を拡大するため、測定値の差が使用される。
一意性の範囲の決定の際のカメラの測定の正確性は三角測量角の変化の再現可能性に依存し、このため、三角測量角が分かる正確性に依存する。第2の三角測量角の完全な再現可能性においては、測定カメラで較正によって高い測定正確性が得られる。限定された再現可能性においては、第2の三角測量角と、一意性の範囲の決定のために求められ、与えられた三角測量角とのぶれにより、一意性の範囲が不正確に決定され、このため誤った高さの値がもたらされる可能性がある。このため背景技術においては、再現可能性を可能な限り良好に保つための試みがなされている。
さらに、第2の測定は不正確である可能性があるため、一意性の範囲の決定のためだけに使用され、独立した測定としては評価されない点が妥協された。
各位相画像は一意性の範囲を有し、これらはとりわけ各三角測量角に依存する。第1の位相画像の各画素について第2の位相画像を用いて波数が決定され、この整数部分が、各画素が存在する一意性の範囲の規則に対応する。この波数は、少なくとも画素の無作為標本において波数の非整数部分が最小化されるように最適化される。
最適化された波数は物体の高さ画像を決定するため、または、測量基準となる高さの値に位相画像を対応付ける倍率の比率を決定するため、および、2つの位相画像間のドリフトを決定するため、および、その他の高さ画像の最適化のための初期値として使用するため、または、第2の位相画像から第2の測量基準となる高さ画像を生成するために使用できる。
一意性の範囲より測定範囲の高さが高い場合、測定基準となる高さの値における位相画像の対応付けは曖昧になる。しかしながら背景技術より、ひとつの画素における2つの位相画像の誤差に基づき、この画素についてこの画素が属する一意性の範囲の規則が割当て可能であり、これにより曖昧さが解消される。
計測の基準となる高さの値hに第1の位相画像を対応付ける第1の倍率は正確に分かることが好ましく、計測の基準となる高さの値hに第2の位相画像を対応付ける第2の倍率は少なくともおおよその値が分かることが好ましい。
撮影された2つの位相画像について、波数の整数部分が少なくとも2つの画素Bについて異なる場合、少なくともm画素の無作為標本について波数の非整数部分が、少なくともおおよそ分かっている倍率へ比率の変更によって、および2つの位相画像間のパターンの位相のドリフトの変更によって最小化されるように、波数の最適化がなされることが好ましい。
この完全な最適化処理により、ある画素の一意性の範囲の規則の割当てにおける誤りを減少することができ、これにより高さ画像の決定を改善することができる。
撮影された2つの位相画像について全ての画素に関して波数の整数部分が同一である場合、波数の最適化は、mの画素の少なくとも無作為標本において波数の非整数部分が両位相画像間のドリフトの変更によって最小化されるようになされることが好ましい。
位相画像からのm次元の無作為標本について測定データのクオリティおよび適切な異常値検出処理に基づき、誤りを含む画素が除外されることが好ましく、この際無作為標本の画素は特に、分布の非整数部分の値に関して期待される分布の範囲内にあることが好ましい。
適切な無作為標本の選択には、原則として測定範囲内にある画像範囲の中間部分からの測定値が含まれ、画像の端の部分からの測定値は含まれない。これにより誤りを含む画素の除外と相まって、最適化処理の結果が改善される。
位相画像φ1およびφ2は高さ画像H1およびH2へ倍率S1およびS2を通して対応付けられ、これらの倍率は各三角測量角θ1またはθ2に基づき測定の前になされた較正によって求められたものである。三角測量角θ2はおおよその値でのみ再現可能であるため倍率S2には誤差が生じる。
高さの値hの位相画像φ1(x,y)およびφ2(x,y)の位相への割当ては、それぞれの一意性の範囲E1またはE2の範囲内でのみ明確に行うことができ、これらの範囲は三角測量角θ1、θ2にもパターンの周期にも依存する。
測定すべき高さの範囲が一意性の範囲E1またはE2より大きい場合、各位相画像φ1またはφ2に対する高さの値hの割当ては曖昧になる。
図3は位相画像φ1(x,y)およびφ2(x,y)の曖昧さによってもたらされる、各位相画像φ1(x,y)またはφ2(x,y)と高さの値hとの関係を示す。各鋸歯の周期の長さはそれぞれの一意性の範囲E1またはE2に対応する。
段階分けされた位相画像φ1およびφ2の差異を使用して、各画素について波数wzを算出することができ、これは第1の位相画像φ1の画素の一意性の範囲の規則に対応する。これは下記の数式で表される。

wz=((rφ1−φ2)mod(2π))/(2π(1−r))
1 物体
2 3Dカメラ
3 パターン
4 照明光線
5 物体表面
6 観察方向
7 画像処理ユニット
8 出力ユニット
θ 三角測量角
φ 位相画像
i 画素
S 倍率
一意性の範囲
Z 位相のぶれ
h 測定された高さの値
H 高さ画像
wz 波数

Claims (6)

  1. 位相シフト法を使用して光学的二重三角測量により物体の表面を三次元走査するための方法であって、
    a.少なくとも2つの、同一の物体(1)の異なる三角測量角(θ1,θ2)による三次元測定が行われ、これにより各三角測量角(θ1,θ2)について少なくとも1つの、座標(x1,y1)を有する複数の画素(B)を有する位相画像(φ1(x,y),φ2(x,y))が生成され、
    b.第1の三角測量角(θ1)が既知でありかつ第2の三角測量角(θ2)も既知であり
    c.各位相画像(φ1(x,y),φ2(x,y))は、前記三角測量角(θ1,θ2)に依存する一意性の範囲(E1,E2)を有し、かつ少なくとも前記一意性の範囲(E1,E2)内における倍率(S1,S2)を用いて高さの画像H(x,y)上に対応付けることができ
    d.第1の位相画像(φ1(x,y))の各画素(B)について、前記倍率(S1,S2)ならびに前記第1の位相画像(φ1(x,y))および前記第2の位相画像(φ2(x,y))間の階段関数を用いて波数(wz(x,y))が決定され、前記波数(wz(x,y)の整数部分([wz(x,y)])が、各画素(B)が存在する高さの値(h)の関数としての一意性の範囲(E1)の規則(n)に等しく、前記波数(wz(x ,y ))の非整数部分(wz(x ,y )−[wz(x ,y )])が入力パラメータの誤差を対応付け、
    e.前記波数(wz(x,y))の最適化は、少なくともm画素(B)の無作為標本について、前記倍率(S2)を用いて前記倍率(S1,S2)の比率(r)を変更することにより、および/または2つの位相画像(φ1(x,y),φ2(x,y))内のパターン(3)の位相位置間のドリフト(q)を変更することにより、前記波数(wz(x,y))の非整数部分(wz(x,y)−[wz(x,y)])が最小化されるように実行され、
    f.前記波数は、wz=((r φ1−φ2)mod(2π))/(2π (1−r))という式により表され、前記波数の決定のために、前記倍率(S1,S2)の比率(r)が用いられ、
    .最適化された波数が、
    1.各画素(B)について、画素(B)における位相画像(φ1(x,y))の値の和が前記画素に属する波数(wz(x,y))の2π倍により得られ、この和に倍率S1を乗じることで、物体の高さの画像H1(x,v)を決定するため、または
    2.測量基準となる高さの値(h)に位相画像(φ1,φ2)を対応付ける倍率(S1,S2)の比率(r)を決定するため、および、2つの位相画像(φ1(x,y),φ2(x,y))における、次の物体の測定の次の高さ画像H(x,y)の最適化のための初期値としてパターン(3)の位相間のドリフト(q)を決定するため、または
    3.第2の位相画像(φ2(x,y))から第2の測量基準となる高さ画像H2(x,y)を生成するため、
    に使用されることを特徴とする、方法。
  2. 位相シフト法の実行のために、既知の変更可能な正弦曲線の位相を有するパターンが物体に投影されることを特徴とする、請求項1に記載の方法。
  3. 計測の基準となる高さの値(h)に第1の位相画像(φ1)を対応付ける第1の倍率(S1)は既知でありかつ、計測の基準となる高さの値(h)に第2の位相画像(φ1)を対応付ける第2の倍率(S2)も既知であることを特徴とする、請求項1または2に記載の方法。
  4. 撮影された2つの位相画像(φ1(x,y),φ2(x,y))について、前記波数の整数部分([wz(x,y)])が画素 の少なくとも2つの画素について異なる場合、少なくともm画素(B)の)無作為標本について前記波数の非整数部分(wz(x,y)−[wz(x,y)])が、前記倍率(S2)を通した倍率(S1,S2)の比率(r)の変更によって、および2つの位相画像(φ1(x,y),φ2(x,y))間のパターン(3)のドリフト(q)の変更によって最小化されるように、波数の最適化がなされることを特徴とする、請求項1乃至3のいずれか一項に記載の方法。
  5. 撮影された2つの位相画像(φ1(x,y),φ2(x,y))について全ての画素(B)に関して波数(wz(x,y))の整数部分が同一である場合、前記波数の最適化は、m画素(Bi)の少なくとも無作為標本において前記波数の非整数部分(wz(x,y))が両位相画像(φ1(x,y),φ2(x,y))間のドリフト(q)の変更によって最小化されるようになされることを特徴とする、請求項1乃至4のいずれか一項に記載の方法。
  6. 第2の位相画像(φ2)からの第2の高さ画像(H2)の生成を改善するために、最適化処理において最適化により得られた第1の高さ画像(φ1(x,y))を使用し、前記倍率(S2)、および前記第1の高さ画像(φ1(x,y))と前記第2の高さ画像(φ2)との間のカメラの位置変更の両方が、前記第2の高さ画像(H2)の算出において用いられ、この際カメラの位置変更は回転動作および転換動作に起因することを特徴とする、請求項1乃至のいずれか一項に記載の方法。
JP2011542829A 2008-12-24 2009-12-23 特に歯科医療を目的とした物体表面の三次元測定方法 Expired - Fee Related JP5746046B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102008055158A DE102008055158B4 (de) 2008-12-24 2008-12-24 Verfahren zur 3D-Vermessung der Oberfläche eines Objekts, insbesondere für zahnmedizinische Zwecke
DE102008055158.9 2008-12-24
PCT/EP2009/067861 WO2010072816A1 (de) 2008-12-24 2009-12-23 Verfahren zur 3d-vermessung der oberfläche eines objekts, insbesondere für zahnmedizinische zwecke

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2012514192A JP2012514192A (ja) 2012-06-21
JP2012514192A5 true JP2012514192A5 (ja) 2014-09-25
JP5746046B2 JP5746046B2 (ja) 2015-07-08

Family

ID=42124523

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011542829A Expired - Fee Related JP5746046B2 (ja) 2008-12-24 2009-12-23 特に歯科医療を目的とした物体表面の三次元測定方法

Country Status (5)

Country Link
US (1) US8615128B2 (ja)
EP (1) EP2382442B1 (ja)
JP (1) JP5746046B2 (ja)
DE (1) DE102008055158B4 (ja)
WO (1) WO2010072816A1 (ja)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8311143B2 (en) * 2008-03-31 2012-11-13 Qualcomm Incorporated Scaling methods and apparatus using SNR estimate to avoid overflow
US9282926B2 (en) 2008-12-18 2016-03-15 Sirona Dental Systems Gmbh Camera for recording surface structures, such as for dental purposes
DE102008054985B4 (de) 2008-12-19 2012-02-02 Sirona Dental Systems Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur optischen Vermessung von dreidimensionalen Objekten mittels einer dentalen 3D-Kamera unter Verwendung eines Triangulationsverfahrens
DE102012207499B3 (de) * 2012-05-07 2013-09-05 Sirona Dental Systems Gmbh Verfahren zur Vermessung einer Zahnsituation
DE102014104993A1 (de) 2013-06-24 2014-12-24 Qioptiq Photonics Gmbh & Co. Kg Dentalmessvorrichtung zur dreidimensionalen Vermessung von Zähnen
CN110375671B (zh) * 2019-02-19 2021-04-02 西安理工大学 一种相位误差的自校正方法

Family Cites Families (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3287562A (en) 1964-02-28 1966-11-22 Kollsman Instr Corp Photosensitive scanning means for rotating an image with respect to a light modulator
US4575805A (en) 1980-12-24 1986-03-11 Moermann Werner H Method and apparatus for the fabrication of custom-shaped implants
CH672722A5 (ja) 1986-06-24 1989-12-29 Marco Brandestini
US5175601A (en) * 1991-10-15 1992-12-29 Electro-Optical Information Systems High-speed 3-D surface measurement surface inspection and reverse-CAD system
FR2720259B1 (fr) 1994-05-31 1997-11-28 Trophy Radiologie Appareil de radiodiagnostic du type à capteur à transfert de charge.
US5635728A (en) 1995-06-19 1997-06-03 Denoptix, Inc. Rotating scanner system for reading multiple storage layer radiation screens
US6373573B1 (en) 2000-03-13 2002-04-16 Lj Laboratories L.L.C. Apparatus for measuring optical characteristics of a substrate and pigments applied thereto
US6040910A (en) 1998-05-20 2000-03-21 The Penn State Research Foundation Optical phase-shift triangulation technique (PST) for non-contact surface profiling
DE19829278C1 (de) * 1998-06-30 2000-02-03 Sirona Dental Systems Gmbh 3-D-Kamera zur Erfassung von Oberflächenstrukturen, insbesondere für zahnmedizinische Zwecke
AU2001260975A1 (en) * 2000-01-25 2001-08-20 Zygo Corporation Optical systems for measuring form and geometric dimensions of precision engineered parts
US6628457B2 (en) 2000-07-11 2003-09-30 Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha Antivibration microscope
JP3857888B2 (ja) 2000-07-11 2006-12-13 ペンタックス株式会社 ビデオ式顕微鏡への防振機構の組込みの決定方法
JP2003269928A (ja) * 2002-03-12 2003-09-25 Nec Corp 3次元形状計測方法および装置ならびにプログラム
DE10304111B4 (de) * 2003-01-31 2011-04-28 Sirona Dental Systems Gmbh Aufnahmeverfahren für ein Bild eines Aufnahmeobjekts
ES2361525T3 (es) 2005-07-27 2011-06-17 Kowa Kabushiki Kaisha Dispositivo de fotografiado oftalmológico.
DE102005043402A1 (de) 2005-09-08 2007-03-22 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Intraorales Kamerasystem
US20070115484A1 (en) * 2005-10-24 2007-05-24 Peisen Huang 3d shape measurement system and method including fast three-step phase shifting, error compensation and calibration
US7646550B2 (en) 2006-02-13 2010-01-12 3M Innovative Properties Company Three-channel camera systems with collinear apertures
DE102006021640B3 (de) 2006-05-08 2007-10-11 Sirona Dental Systems Gmbh Verfahren, Rohling, Rohlingssortiment, Zahndatenbank und Rohlingsdatenbank mit vorgefertigter Teilendfläche zur Herstellung von Zahnersatzteilen
JP3870275B2 (ja) * 2006-07-24 2007-01-17 国立大学法人 和歌山大学 エイリアシングを利用した投影格子の位相解析方法
KR100919166B1 (ko) 2007-04-02 2009-09-28 한국과학기술원 스테레오 모아레를 이용한 3차원 형상 측정장치 및 그 방법
DE102007054907A1 (de) 2007-11-15 2009-05-28 Sirona Dental Systems Gmbh Verfahren zur optischen Vermessung von Objekten unter Verwendung eines Triangulationsverfahrens
US9282926B2 (en) 2008-12-18 2016-03-15 Sirona Dental Systems Gmbh Camera for recording surface structures, such as for dental purposes
DE102008054985B4 (de) 2008-12-19 2012-02-02 Sirona Dental Systems Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur optischen Vermessung von dreidimensionalen Objekten mittels einer dentalen 3D-Kamera unter Verwendung eines Triangulationsverfahrens

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6602867B2 (ja) 三次元計測システムの校正を更新する方法
JP5029618B2 (ja) パターン投影法による3次元形状計測装置、方法およびプログラム
JP5576726B2 (ja) 三次元計測装置、三次元計測方法、及びプログラム
US9322643B2 (en) Apparatus and method for 3D surface measurement
JP2012514192A5 (ja)
JP5123522B2 (ja) 3次元計測方法及びそれを用いた3次元形状計測装置
JP5746046B2 (ja) 特に歯科医療を目的とした物体表面の三次元測定方法
JP6170281B2 (ja) 三次元計測装置、三次元計測装置の制御方法、およびプログラム
JP2007014783A (ja) コンピュータ断層撮影装置における焦点調整方法
CN110692084B (zh) 用于导出场景的拓扑信息的装置和机器可读存储介质
JP2020139869A (ja) 計測装置、算出方法、システム及びプログラム
CN107869966A (zh) 3维形状测量方法及3维形状测量装置
CN112132890A (zh) 一种扩大标定空间的数字光栅投影测量系统标定方法
JP2008145139A (ja) 形状計測装置
JP2008145209A (ja) 三次元形状計測装置及び三次元形状計測方法
JP5391053B2 (ja) 3次元形状計測方法および3次元形状計測装置
JP4797109B2 (ja) 三次元形状計測装置及び三次元形状計測方法
CN107810384B (zh) 条纹投影方法、条纹投影装置和计算机程序产品
JP2019100969A (ja) 距離計測装置、距離計測方法および距離計測プログラム
JP2010175554A (ja) 三次元形状計測装置及び三次元形状計測方法
JP2006084286A (ja) 3次元計測方法とその計測装置
CN112747686B (zh) 三维形貌测量装置
JP6899236B2 (ja) 関係特定方法、関係特定装置、関係特定プログラム、補正方法、補正装置、及び補正用プログラム
JP4985213B2 (ja) 3次元形状計測方法および装置ならびにプログラム
JP7448824B2 (ja) 三次元計測システムおよび三次元計測方法