JP2012501089A - 塩化物ガス流の紫外線吸収によるモニタおよび制御 - Google Patents

塩化物ガス流の紫外線吸収によるモニタおよび制御 Download PDF

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Abstract

チャンバと、電磁放射線源とを含む半導体成長システム。反応チャンバの塩化物系化学物質による放射線源からの放射線の吸収を検出するように検出器が配置される。制御システムが、塩化物系化学物質による放射線の吸収に応答して、チャンバの動作を制御する。制御システムは、反応チャンバのパラメータを調節することによって、チャンバの動作を制御する。
【選択図】 図5a

Description

[0001]本発明は、半導体材料の形成システムに関する。
[0002]窒化物系半導体などの多数の異なる半導体材料を形成するために、半導体成長システムが使用されることがある。窒化物系半導体の例には、窒化ガリウムおよびその合金がある。窒化物系半導体は、有機金属化学気相成長(MOCVD)および水素化物(またはハロゲン化物)気相エピタキシ(HVPE)に関連するシステムなど、半導体成長システムを使用して形成されてもよい。MOCVDおよびHVPE成長システムに関するさらなる情報については、米国特許出願第20060076559号および同第20060118513号、M.A.Mastroらの「Influence of polarity on GaN thermal Stability」、Journal of Crystal Growth、Vol.274、Pages 38−46(2005)、およびM.A.Maestroらの「Thermal stability of MOCVD and HVPE GaN layers in H,HCl,NH and N」、Physica Status Solidi(a)、Vol.188、No.1、Pages 467−471(2001)から得られる。
[0003]半導体成長システムは、一般に、1つ以上のガスを反応チャンバに導入すると、それに応答して基板上に窒化物系半導体層が形成される反応チャンバを含む。半導体成長システムは、典型的に、ガスが流入され得るように反応チャンバに結合されたガスラインを含む。さらに、半導体成長システムは、ガスを加熱して、1つ以上の化学種に分解するヒータを含むことが多い。また、ヒータは、化学種が基板上で相互作用し、基板上に半導体層を形成するように、基板を成長温度まで加熱する。
[0004]ガスは、一般に、半導体材料層を形成するために使用される成長システムに依存する。例えば、HVPEは、アルシン(AsH)、アンモニア(NH)、およびホスフィン(PH)などの水素化物前駆体ガスとともに、追加の前駆体ガスを利用する。さらに、MOCVDは、トリメチルガリウム(Ga(CH)、トリメチルアルミニウム(Al(CH)、およびトリメチルインジウム(In(CH)などのガスとともに、追加の前駆体ガスを利用する。1つの種類の前駆体ガスは、塩化ガリウム(GaCl)、塩化アルミニウム(AlCl)、および塩化インジウム(InCl)などの金属塩化物系前駆体ガスである。窒化ガリウム、窒化アルミニウム、および窒化インジウム、およびそれらの合金を形成するために、それぞれGaCl、AlCl、およびInClの前駆体ガスが使用される。ガリウム、アルミニウム、またはインジウムの溶融金属上に、例えば、塩化水素(HCl)などの塩素含有ガスを流すことで前駆体ガスをin−situ形成することによって、前駆体ガスが供給されてもよい。また、三塩化ガリウム、三塩化インジウム、および三塩化アルミニウムを反応チャンバ内に導入することによって、金属塩化物前駆体ガスがex−situ供給されてもよい。
[0005]前駆体ガスは、異なる金属塩化物分子を含んでもよい。存在する金属塩化物分子は、圧力、温度、および反応チャンバに存在するガスの種類や量などの要因に依存する。例えば、金属塩化物分子は、一塩化物分子(GaCl、AlCl、InCl)、塩化物単量体(GaCl、AlCl、InCl)、および塩化物二量体(GaCl、AlCl、InCl)の形態であってもよい。
[0006]しかしながら、窒化ガリウムを形成することが望ましい場合、一般に、窒化ガリウムが形成される可能性が高いため、塩化物単量体および二量体の代わりに、一塩化物分子がガスに含まれることが望ましい。ガスが塩化ガリウム単量体および/または二量体を含む場合、ガリウム単量体および二量体が気相相互作用を起こしやすいため、窒化ガリウムが形成される可能性は低い。塩化ガリウム単量体および二量体が気相相互作用する場合、アンモニアと反応して窒化ガリウムを形成する可能性は低い。このように、窒化ガリウムの成長速度および前駆体ガスが使用される効率の両方は、ガスに一塩化物分子をより多く含ませ、単量体および二量体分子をより少なく含ませると高まる。
[0007]金属塩化物分子は、圧力、温度、および反応チャンバ内に存在するガスの種類や量の変化など、半導体成長パラメータに応答して、ある種類の分子から別のものへと変化することが多い。例えば、低温での塩化ガリウムは、中温で塩化物単量体(GaCl)に分解され、高温で一塩化ガリウムに分解される塩化物二量体(GaCl)を形成する。塩化アルミニウムおよび塩化インジウム分子も、温度変化に応答して塩化ガリウム分子と同じように変化する。ある種類の分子から別のものへの金属塩化物分子の変化は、容易に制御可能なものではない。そのため、成長パラメータの変化に応答して、ガスの金属塩化物気体分子の種類および量を決定し制御することが望ましい。
[0008]ガス中の金属塩化物気体分子の種類および量を決定する試みがこれまでいくつかなされてきた。さらなる情報が、米国特許第5,070,246号および同第5,652,431号、ならびに米国特許出願第20080124453号から得られ、その内容全体は、参照により本明細書に組み入れられる。また、1940年に出版されたJournal of the American Chemical Society、page 1578、volume 62のLaubengayerらの文献、および1975年に出版されたJournal of Crystal Growth,page 385,volume 28のKuniyaらの文献からも情報が入手できる。
[0009]本発明により、チャンバと、電磁放射線源とを含む半導体成長システムが提供される。チャンバの塩化物系化学物質による放射線源からの放射線の吸収を検出するように検出器が配置される。チャンバは、反応チャンバと、サイドチャンバとを備えてもよい。制御システムが、塩化物系化学物質による放射線の吸収に応答して、チャンバの動作を制御する。制御システムは、チャンバのパラメータを調節することによって、チャンバの動作を制御する。塩化物系化学物質は、典型的に、一塩化物分子、塩化物単量体、および塩化物二量体の形態のものである。吸収された放射線の波長は、約100ナノメートル〜400ナノメートルなどの多数の異なる波長領域のものであってもよい。
[0010]いくつかの実施形態において、制御システムは、塩化物系化学物質の一塩化物分子、塩化物単量体、および塩化物二量体による放射線吸収に応答して、チャンバの動作を制御する。制御システムは、塩化物系化学物質の一塩化物分子、塩化物単量体、および塩化物二量体の量を調節することによって、チャンバの動作を制御してもよい。制御システムは、チャンバの温度を調節することによって、チャンバの塩化物系化学物質の一塩化物分子、塩化物単量体、および塩化物二量体の量を調節してもよい。
[0011]本発明により、内部容積と、内部容積に塩化物系化学物質とを有するチャンバを含む半導体成長システムが提供される。半導体成長システムは、第1の電磁放射線源を含み、塩化物系化学物質による放射線吸収を検出するように第1の検出器が配置される。吸収された放射線の波長は、約100ナノメートル〜350ナノメートルなどの多数の異なる波長領域のものであってもよい。制御システムが、第1の検出器からの第1の表示に応答して、チャンバの動作を制御する。第1の表示は、典型的に、内部容積の第1の領域にある塩化物系化学物質の種類および量に対応する。制御システムは、第1の表示に応答して、チャンバの1つ以上の動作パラメータを調節してもよい。
[0012]いくつかの実施形態において、半導体成長システムは、第2の電磁放射線源と、塩化物系化学物質による第2の電磁放射線源の放射線吸収を検出するように配置された第2の検出器とを含む。第1および第2の検出器は、典型的に、異なる場所に配置される。制御システムは、第2の検出器からの第2の表示に応答して、チャンバの動作を制御してもよい。第2の表示は、典型的に、内部容積の第2の領域にある塩化物系化学物質の種類および量に対応する。制御システムは、第2の表示に応答して、チャンバの1つ以上の動作パラメータを調節してもよい。
[0013]本発明により、チャンバの内部容積を通して電磁放射線を放射するステップと、チャンバの塩化物系化学物質による放射線吸収を検出するステップとを含む半導体形成方法が提供される。吸収された放射線は、異なる波長領域を有するものであってもよい。1つの実施形態において、波長は、約100ナノメートル〜400ナノメートルの領域のものである。別の実施形態において、波長は、約185ナノメートル〜210ナノメートルの領域のものである。この方法は、放射線の吸収に応答して、チャンバの動作を制御するステップを含む。塩化物系化学物質は、典型的に、一塩化物分子、塩化物単量体、および塩化物二量体の形態のものである。
[0014]いくつかの実施形態において、この方法は、例えば、塩化物系化学物質の一塩化物分子、塩化物単量体、および塩化物二量体による放射線吸収に応答して、チャンバの成長パラメータを調節することによって、制御システムでチャンバの動作を制御するステップを含む。いくつかの実施形態において、この方法は、塩化物系化学物質の一塩化物分子、塩化物単量体、および塩化物二量体の量を調節することによって、制御システムでチャンバの動作を制御するステップを含む。制御システムは、チャンバの温度を調節することによって、チャンバの塩化物系化学物質の一塩化物分子、塩化物単量体、および塩化物二量体の量を調節してもよい。
本発明による半導体成長システムのブロック図である。 本発明による半導体成長システムの別の実施形態のブロック図である。 信号SRadiationと塩化ガリウム分子のそれぞれとの相互作用に対応する信号SInteractionと波長との関係を表す吸収分光グラフである。 信号SRadiationと塩化アルミニウム分子との相互作用に対応する信号SInteractionと波長との関係を表す吸収分光グラフである。 信号SRadiationと塩化インジウム分子との相互作用に対応する信号SInteractionと波長との関係を表す吸収分光グラフである。 異なる温度での一塩化物分子、塩化物単量体、および塩化物二量体のそれぞれと信号SRadiationとの相互作用に対応する信号SInteractionと波長との関係を表すグラフである。 異なる温度での一塩化物分子、塩化物単量体、および塩化物二量体のそれぞれと信号SRadiationとの相互作用に対応する信号SInteractionと波長との関係を表すグラフである。 異なる温度での一塩化物分子、塩化物単量体、および塩化物二量体のそれぞれと信号SRadiationとの相互作用に対応する信号SInteractionと波長との関係を表すグラフである。 本発明による半導体成長システムの異なる実施形態の斜視図である。 本発明による半導体成長システムの異なる実施形態の斜視図である。 本発明による半導体成長システムの異なる実施形態の斜視図である。 本発明による半導体成長システムの異なる実施形態の斜視図である。 本発明による半導体成長システムの異なる実施形態の斜視図である。 本発明による半導体の形成方法の流れ図である。 本発明による半導体の形成方法の流れ図である。
[0015]本発明のさらなる特徴および利点は、添付の図面とともに以下の詳細な説明から当業者に明らかになるであろう。
[0022]本発明は、半導体成長システムのチャンバのガスに存在する塩化物系化学物質の種類および量を決定し制御することに関わる。また、本発明は、ガスの塩化物系化学物質の種類および量の決定に応答して、チャンバの制御が可能な技術を用いることに関わる。チャンバは、反応チャンバ(図4a〜4d)と、サイドチャンバ(図4e)とを備えてもよい。塩化物系化学物質は、前駆体ガスとして使用されるものを含んでもよい。この実施形態において、塩化物系化学物質は、金属塩化物系の前駆体ガスを含む。金属塩化物系前駆体ガスの例には、GaCl、AlCl、およびInClがある。金属塩化物前駆体ガスは、一塩化物分子(GaCl、AlCl、InCl)、塩化物単量体(GaCl、AlCl、InCl)、および塩化物二量体(GaCl、AlCl、InCl)などの異なる金属塩化物分子の形態であってもよい。
[0023]半導体成長システムは、特に、有機金属化学気相成長(MOCVD)、分子線エピタキシ(MBE)、および水素化物(またはハロゲン化物)気相エピタキシ(HVPE)などのシステムを含んでもよい。MOCVD、MBE、およびHVPEに関するさらなる情報については、米国特許第6,146,458号、同第6,194,742号、同第6,229,150号、同第6,441,393号、同第6,521,917号、および同第6,900,070号、米国特許出願第20060076559号、同第20060118513号、同第20060076559号、同第20060118513号、同第20070072324号、同第20070218703号、および同第20080124453号から得られ、そのすべての内容は、参照により本明細書に組み入れられる。また、M.A.Mastroらの「Influence of polarity on GaN thermal Stability」、Journal of Crystal Growth、Vol.274、Pages 38−46(2005)、M.A.Maestroらの「Thermal stability of MOCVD and HVPE GaN layers in H,HCl,NH and N」、Physica Status Solidi(a)、Vol.188、No.1、Pages 467−471(2001)、M.A.Mastroらの「Influence of polarity on GaN thermal Stability」、Journal of Crystal Growth、Vol.274、Pages 38−46(2005)、およびM.A.Maestroらの「Thermal stability of MOCVD and HVPE GaN layers in H,HCl,NH and N」、Physica Status Solidi(a)、Vol.188、No.1、Pages 467−471(2001)からも情報が得られる。半導体材料の形成は、堆積や成長と呼ばれることが多い。
[0024]半導体材料は、III族窒化物などのIII−V族半導体材料を含んでもよい。III族窒化物半導体材料の例は、窒化ガリウム、窒化インジウム、および窒化アルミニウム、およびInGaNおよびAlGaNなどの対応する合金を含む。半導体材料に関するさらなる情報は、米国特許第6,815,309号、同第6,900,070号、同第6,908,828号、および同第6,953,736号、ならびに米国特許出願第20060099776号、同第20070218703号、および同第20060118513号から得られ、その内容全体は、参照により本明細書に組み入れられる。M.StutzmannらのPhysica Status Solidi(b)228、No.2、505−512(2001)、およびE.S.Hellman、MRS Internal Journal of Nitride Semiconductor Research 3、11(1998)からも、半導体材料に関するさらなる情報が得られる。半導体材料は、典型的に、サファイアおよび炭化珪素基板などの基板上に形成される。米国特許第6,194,742号、同第6,441,393号、および米国特許出願第20070072324号から、半導体基板に関するさらなる情報が得られ、その内容全体は、参照により本明細書に組み入れられる。
[0025]本発明によれば、チャンバに存在する塩化物系化学物質(GaCl、InCl、AlCl)の種類および量は、電磁放射線源および検出器を使用することによって決定される。さらに、チャンバに存在する塩化物系分子(一塩化物分子、塩化物単量体、塩化物二量体)の種類および量も、電磁放射線源および検出器を使用することによって決定される。電磁放射線源は、ランプと、レーザと、発光ダイオードとを備えてもよい。放射線源は、青、緑、赤、および赤外線放射などの多数の異なる波長の放射線を放出してもよいが、典型的に、紫外線(UV)放射を含む。ランプは、特に、キセノン、タングステン、重水素、および重水素タングステンランプなどの種類を含んでもよい。これらの種類のランプの例は、米国特許第6,734,967号および同第6,741,348号に開示されている。これらの種類のランプは、特に、Heraeus Noblelight,LLCなどの製造業者らによって提供されている。レーザは、ガスレーザおよび半導体レーザなどの種類を含んでもよい。半導体レーザの例は、米国特許第6,925,101号および同第6,954,478号に開示されており、ガスレーザの例は、米国特許第5,257,278号および同第7,288,775号に開示されている。これらの種類のレーザは、CVI Melles Griotなどの製造業者らによって提供されている。
[0026]検出器は、分光計と、フォトダイオードとを備えてもよい。分光計および/またはフォトダイオードの例は、米国特許第5,394,237号、同第5,420,432号、同第5,436,459号、同第5,703,689号、同第6,852,997号、および同第6,980,285号に開示されている。しかしながら、検出器は、一般に、ガスと相互作用する放射線源からの電磁放射線を検出可能である。電磁放射線は、多数のさまざまな方法でガスと相互作用し得る。例えば、1つの実施形態において、放射線源の電磁放射線は、その一部分がガスによって吸収されるため、ガスと相互作用する。このようにして、これらの実施形態において、検出器は、ガスによって吸収される放射線に対応する放射線の波長を検出可能である。いくつかの実施形態において、検出器は、ガスによって吸収される放射線に対応する放射線の波長領域を検出可能である。このプロセスは、典型的に、吸収分光法と呼ばれる。
[0027]吸収分光法は、ガスの一塩化物分子、塩化物二量体、および塩化物単量体による放射線吸収の波長の差を分解可能であるため有用である。例えば、場合によって、塩化ガリウム二量体および塩化ガリウム単量体は、それぞれ、波長差が約5nmである約195nmおよび200nmの波長で放射線を吸収する。吸収分光法は、この5nmの波長差を分解可能であるため、以下にさらに詳細に記述するように、ガスの塩化ガリウム二量体および塩化ガリウム単量体の数が決定され得る。
[0028]多数の他の種類の分光法が使用されてもよい。例えば、いくつかの実施形態において、本発明では、放射線源からの放射線を受け取ると、それに応答してガスが放射線を放出する電磁波の波長領域を決定する発光分光法が利用される。発光分光法では、ガスは、まず、放射線源から短波長放射線を吸収し、それに応答して長波長放射線を放出する。他の実施形態において、本発明では、異なる波長、入射角度、偏光角度でガスが散乱する放射線量を決定するラマン分光法などの散乱分光法が利用される。
[0029]本発明によれば、制御システムが、チャンバおよび検出器に動作可能に結合される。いくつかの実施形態において、制御システムは、電磁放射線源に動作可能に結合される。制御システムは、ガスの塩化物系化学物質の種類および量の決定に応答して、チャンバの動作を制御する。さらに、制御システムは、ガスの塩化物系分子の種類および量に応答して、チャンバの動作を制御する。
[0030]制御システムは、上記にさらに詳細に記述したものなどのように、成長パラメータを制御することなどによって、チャンバの動作を制御してもよい。制御システムがチャンバの動作を制御する1つの方法は、半導体材料が所望の速度で形成されるように成長パラメータの1つ以上を調節することである。半導体材料の品質は、不純物および転位など、半導体材料に含まれる欠陥の数などによって特徴付けられてもよい。
[0031]図1aは、本発明による半導体成長システム100aのブロック図である。この実施形態において、半導体成長システム100aは、チャンバ101を含む。半導体成長システム100aおよびチャンバ101は、上記により詳細に記述したように、HVPE、MOCVD、およびMBEを備えてもよい。
[0032]この実施形態において、半導体成長システム100aは、上述した放射線源などの電磁放射線源102を含む。放射線源102は、信号SRadiationとして示す電磁放射線をチャンバ101に放出し、この場合の電磁放射線は、典型的に、UV放射線を含む光信号である。信号SRadiationは、チャンバ101を流れ、上述した塩化物系化学物質などのチャンバ内のガスと相互作用する。この実施形態において、信号SRadiationは、その一部分が塩化物系化学物質に吸収され、別の部分が塩化物系化学物質に吸収されないため、塩化物系化学物質と相互作用し、それに応答して、信号SInteractionが供給される。このように、吸収分光法において、信号SInteractionは、信号SRadiationの部分が塩化物系化学物質によって吸収された後の信号SRadiationに対応する光信号である。信号SInteractionおよびSRadiation吸収分光法の例が、図2a、図2b、図2c、図3a、図3b、および図3cにおいて、より詳細に記述される。
[0033]発光分光法において、信号SInteractionは、信号SRadiationの一部分が塩化物系化学物質によって吸収され、化学種によって放出された後の信号SRadiationに対応する光信号である。散乱分光法において、信号SInteractionは、信号SRadiationの一部分が塩化物系化学物質によって散乱された後の信号SRadiationに対応する光信号である。発光および散乱分光法において、信号SInteractionの波長は、一般に、信号SRadiationの電磁放射より短い。
[0034]図2a、図2b、および図2cは、それぞれ、信号SRadiationと塩化ガリウム、塩化アルミニウム、および塩化インジウムとの相互作用に対応する信号SInteractionと波長との関係を表す吸収分光グラフ110、114、および118である。信号SInteractionは、例示しやすいようにするために、図2a、図2b、および図2cにおいて、1に正規化されている。上述したように、これらの塩化物系化学物質は、一塩化物、塩化物単量体、および塩化物二量体などのいくつかの異なる種類の分子として存在し得る。一塩化物、塩化物単量体、および塩化物二量体は、一般に、信号SRadiationの受信に応答して、3つの異なる波長で放射線を吸収する。
[0035]信号SInteractionは、多数の異なる方法で表されてもよい。グラフ110、114、および118において、信号SInteractionは、ベール・ランバートの法則によって求められた吸光度で表されており、ベール・ランバートの法則とは、信号SRadiationおよび信号SInteractionの比と、塩化物分子の吸収断面積(σ)、放射線源と検出器との間の光路長(l)、および塩化物分子数の密度(N)の積と間に対数依存性があるというものである。ベール・ランバートの法則に関するさらなる情報は、米国特許第5,070,246号から得られる。
[0036]図2a、図2b、および図2cの波長は、塩化ガリウム、塩化アルミニウム、および塩化インジウム分子の構造に依存する異なる領域を有するものであってもよい。しかしながら、ガリウム、アルミニウム、およびインジウムの一塩化物、塩化物単量体、および塩化物二量体は、一般に、約100ナノメートル(nm)〜350nmの波長領域の放射線を吸収すると考えられる。約300nm〜400nmの波長領域を有する放射線は、近紫外線(NUV)と一般に呼ばれているのに対して、約300nm未満の放射線は、深紫外線(DUV)と一般に呼ばれている。一塩化物、単量体、および二量体分子が、放射線の吸収に応答して放射線を吸収する特定の波長は、チャンバ101内のガスの圧力および温度や、チャンバ101に存在するガスの種類および量などの多数の異なる要因に依存することに留意されたい。このように、状況によっては、ガリウム、アルミニウム、およびインジウムの一塩化物、塩化物単量体、および塩化物二量体は、100ナノメートル(nm)〜350nmの波長領域以外の波長領域で放射線を吸収してもよい。
[0037]図2aにおいて、グラフ110の部分111、112、および113は、信号SRadiationの受信に応答して、それぞれ、波長λGa1、λGa2、およびλGa3付近で放射線を吸収するGaCl、GaCl、およびGaCl分子に相当する。波長λGa1は、波長λGa2より長く、波長λGa2は、波長λGa3より長い。このように、ベール・ランバートの法則を用いて、信号SInteractionの波長λGa1、λGa2、およびλGa3のそれぞれでの吸収量を決定することによって、検出器を使用して、チャンバ101内に存在するGaCl、GaCl、およびGaCl分子の相対量が決定されてもよい。
[0038]図2bにおいて、グラフ114の部分115、116、および117は、信号SRadiationの受信に応答して、それぞれ、波長λGa1、λGa2、およびλGa3付近で放射線を吸収するAlCl、AlCl、およびAlCl分子に相当する。波長λAl1は、波長λAl2より長く、波長λAl2は、波長λAl3より長い。このように、ベール・ランバートの法則を用いて、信号SInteractionの波長λAl1、λAl2、およびλAl3のそれぞれでの吸収量を決定することによって、検出器を使用して、チャンバ101内に存在するAlCl、AlCl、およびAlCl分子の相対量が決定されてもよい。
[0039]図2Cにおいて、グラフ118の部分119、120、および121は、信号SRadiationの受信に応答して、それぞれ、波長λIn1、λIn2、およびλIn3付近で放射線を吸収するInCl、InCl、およびInCl分子に相当する。波長λIn1は、波長λIn2より長く、波長λIn2は、波長λIn3より長い。このように、ベール・ランバートの法則を用いて、信号SInteractionの波長λIn1、λIn2、およびλIn3のそれぞれでの吸収量を決定することによって、検出器を使用して、チャンバ101内に存在するInCl、InCl、およびInCl分子の相対量が決定されてもよい。
[0040]この実施形態において、図1aに示すように、半導体成長システム100aは、信号SInteractionを検出する検出器103を含む。検出器103は、上記により詳細に記述したように、分光計と、フォトダイオードとを備えてもよい。検出器103は、一般に、図1bにより詳細に記述するように、制御システムを使用することによって、所望の放射波長または所望の波長領域を検出する。
[0041]1つの実施形態において、検出器103は、制御システムが、信号SInteractionの波長λGa1、λGa2、およびλGa3のそれぞれでの吸収量を決定することによって、チャンバ101内に存在するGaCl、GaCl、およびGaCl分子の相対量を決定し得るように、波長λGa1、λGa2、およびλGa3(図2a)を有する放射線を検出する。
[0042]別の実施形態において、検出器103は、制御システムが、信号SInteractionの波長λAl1、λAl2、およびλAl3のそれぞれでの吸収量を決定することによって、チャンバ101内に存在するAlCl、AlCl、およびAlCl分子の相対量を決定し得るように、波長λAl1、λAl2、およびλAl3(図2b)を有する放射線を検出する。
[0043]別の実施形態において、検出器103は、制御システムが、信号SInteractionの波長λIn1、λIn2、およびλIn3のそれぞれでの吸収量を決定することによって、チャンバ101内に存在するInCl、InCl、およびInCl分子の相対量を決定し得るように、波長λIn1、λIn2、およびλIn3(図2c)を有する放射線を検出する。
[0044]検出器103は、選択された波長で放射線を検出してもよい。例えば、いくつかの実施形態において、検出器103は、波長λGa1、λGa2、λGa3、λAl1、λAl2、λAl3、λIn1、λIn2、および/またはλIn3のすべて、およびそれらの間で放射線を検出する。他の実施形態において、検出器103は、波長λGa1、λGa2、λGa3、λAl1、λAl2、λAl3、λIn1、λIn2、および/またはλIn3のいくつかで放射線を検出する。一般に、検出器103は、検出が望ましい分子に相当する1つ以上の波長で放射線を検出する。
[0045]制御システムは、ベール・ランバートの法則を用いて、チャンバ101に存在する塩化物系化学物質の分子の相対量を決定するために使用されてもよい。例えば、制御システムは、グラフ110の部分111、112、および113に対応する吸収量を決定し、ベール・ランバートの法則を用いて、異なる塩化ガリウム分子数の密度(N)を決定してもよい。このようにして、制御システムは、チャンバ101に存在するGaCl、GaCl、およびGaClの相対量を決定してもよい。さらに、制御システムは、グラフ114の部分115、116、および117に対応する吸収量を決定し、ベール・ランバートの法則を用いて、異なる塩化アルミニウム分子数の密度(N)を決定してもよい。このようにして、制御システムは、チャンバ101に存在するAlCl、AlCl、およびAlClの相対量を決定してもよい。制御システムは、グラフ118の部分119、120、および121に対応する吸収量を決定し、ベール・ランバートの法則を用いて、異なる塩化インジウム分子数の密度(N)を決定してもよい。このようにして、制御システムは、チャンバ101に存在するInCl、InCl、およびInClの相対量を決定してもよい。
[0046]この実施形態において、図1aに示すように、SControlとして示す制御信号が、チャンバ101に供給される。信号SControlは、上述したように、検出器103が信号SInteractionを受信し、制御システムが塩化物分子数の密度(N)を決定すると、それに応答してチャンバ101に供給される。本発明によれば、チャンバ101の動作は、信号SControlに応答して制御される。チャンバ101の動作は、例えば、チャンバ101の温度が、以下にさらに詳細に記述するように、信号SControlに応答して調節されるように制御されてもよい。チャンバ101の温度は、金属塩化物系ガスなどのチャンバ101のガスの温度に対応する。このように、チャンバ101のガスの温度は、チャンバ101の温度の増減のそれぞれに応答して増減する。
[0047]図3a、図3b、および図3cは、異なる温度での一塩化物分子、塩化物単量体、および塩化物二量体と信号SRadiationとの相互作用に対応する信号SInteractionと波長との関係をそれぞれ表すグラフ130、134、および138である。グラフ130、134、および138は、温度T、T、およびTのそれぞれのものであり、温度Tは、温度Tより低く、温度Tは、温度Tより低い。温度T、T、およびTは、多数の異なる温度値を有してもよい。一般に、温度T、T、およびTの値は、約50℃〜約950℃の温度範囲内のものであるが、状況によっては、温度T、T、およびTは、この範囲外の値を有してもよい。ある状況において、温度T、T、およびTは、約50℃〜約1300℃の温度範囲内の値を有する。
[0048]一般に、チャンバ101のガスの温度が上昇すると、一塩化物分子の量は増大し、塩化物単量体および塩化物二量体の量は減少する。さらに、チャンバ101のガスの温度が減少すると、塩化物単量体および二量体の量は増大し、一塩化物分子の量は減少する。このように、本発明によれば、チャンバ101の温度は、チャンバ101のガスの一塩化物、塩化物単量体、および塩化物二量体の量を所望の量にするように、信号SControlに応答して調節される。1つの例において、チャンバ101の温度は、チャンバ101のガスの一塩化物、塩化物単量体、および塩化物二量体の量を互いに対して所望の量にするように、信号SControlに応答して調節される。
[0049]例えば、図3aにおいて、グラフ130の部分133は、塩化物二量体の吸光度に対応しており、波長λで吸光度Aを有する。さらに、グラフ130の部分132および131は、波長λおよびλの対応する波長で、それぞれ、塩化物単量体および一塩化物分子の吸光度に対応する。塩化物単量体および一塩化物分子は、対応する波長λおよびλで、それぞれ、AおよびAの吸光度を有する。波長λは波長λより大きく、波長λは波長λより大きい。さらに、吸光度Aは吸光度Aより高く、吸光度Aは吸光度Aより高い。一塩化物分子、塩化物単量体、および塩化物二量体の数(N)は、ベール・ランバートの法則により、それぞれ、吸光度A、A、およびAの値に対応する。このように、温度Tでは、吸光度Aが吸光度Aより高いため、塩化物二量体の数は、典型的に、塩化物単量体の数より多い。さらに、吸光度Aが吸光度Aより高いため、塩化物単量体の数は、典型的に、一塩化物の分子の数より多い。しかしながら、吸光度A、A、およびAは、それぞれ、一塩化物分子、塩化物単量体、および塩化物二量体の吸収断面積(σ)に依存する。
[0050]図3bにおいて、グラフ134の部分135、136、および137は、温度Tにおける図3aの一塩化物分子、塩化物単量体、および塩化物二量体の吸光度にそれぞれ対応する。上述したように、温度Tは温度Tより高いため、吸光度Aは吸光度Aより高く、吸光度AおよびAは吸光度Aより高い。このように、温度Tにおいて、吸光度Aが吸光度Aより高いため、塩化物単量体の数は、塩化物二量体の数より多い。さらに、吸光度AおよびAは、吸光度Aより高いため、塩化物単量体および二量体の数の各々は、一塩化物分子の数より高い。
[0051]グラフ134の吸光度AおよびAの値は、グラフ130の吸光度AおよびAの対応する値より大きく、これは、TからTへの温度上昇に応答して、一塩化物分子および塩化物単量体の数が増大したことを示す。さらに、グラフ130の吸光度Aの値は、グラフ134の吸光度Aの値より大きく、これは、TからTへの温度上昇に応答して、塩化物二量体の数が減少したことを示す。
[0052]図3cにおいて、グラフ138の部分139、140、141は、温度Tにおける図3aの一塩化物分子、塩化物単量体、および塩化物二量体の吸光度にそれぞれ対応する。上述したように、温度Tは、温度Tより高いため、吸光度Aは、吸光度Aより高く、吸光度AおよびAの各々は、吸光度Aより高い。このように、温度Tでは、吸光度Aが吸光度Aより高いため、一塩化物分子の数は、塩化物単量体の数より多い。さらに、吸光度AおよびAの各々は、吸光度Aより高いため、一塩化物分子および塩化物単量体の数の各々は、塩化物二量体の数より多い。
[0053]グラフ138の吸光度Aの値は、グラフ134の吸光度Aの対応する値より大きく、これは、TからTへの温度上昇に応答して、一塩化物分子の数が増大したことを示す。さらに、グラフ134の吸光度AおよびAの値は、グラフ138の吸光度AおよびAの値より大きく、これは、TからTへの温度上昇に応答して、塩化物単量体および二量体の数が減少したことを示す。このように、図3a、図3b、および図3cは、ガスの得一塩化物分子、塩化物単量体、および塩化物二量体の数が、ガスの温度を調節することによって、互いに対して調節されてもよい。
[0054]一塩化物分子、塩化物単量体、および塩化物二量体の数の調節の方法を示すために、例示的な目的で、この例において、TからTへ、その後、温度Tへ温度が変えられる。しかしながら、他の状況において、一塩化物分子、塩化物単量体、および塩化物二量体の数は、温度Tから温度Tへ、その後、温度Tへ温度を変えることで調節されてもよい。一般に、温度が温度Tから温度Tへ、その後、温度Tに変わると、一塩化物分子の数は減少し、塩化物単量体および塩化物二量体の数は増大する。このようにして、温度は、チャンバ101内に存在する一塩化物、塩化物単量体、および塩化物二量体の量を所望の量にするように、信号SControlに応答して増減されてもよい。
[0055]チャンバ101の金属塩化物系ガスの圧力は、信号SControlに応答して調節されてもよい。例えば、チャンバ101の金属塩化物系ガスの圧力は、チャンバ101にガスをより多く供給して、圧力を高めることにより調節されてもよい。さらに、金属塩化物系ガスの圧力は、チャンバ101にガスをより少なく供給することによって低下してもよい。上記により詳細に記述したように、金属塩化物系ガスは、チャンバ101にex−situまたはin−situ供給されてもよい。塩化物単量体の量は、典型的に、ほとんどの金属塩化物ガス源が、塩化物単量体のガスであるため、金属塩化物ガスが反応チャンバにex−situ供給されると増大する。
[0056]チャンバ101の動作は、チャンバ101に存在する他のガスの種類および量を調節することによって制御されてもよい。例えば、制御システム106は、成長ガス(AsH、NH、PH、Ga(CH、Al(CH、In(CH)などの1つのガスをより多くチャンバ101内に許容し、チャンバ101内に許容される別の成長ガス(AsH、NH、PH、Ga(CH、Al(CH、In(CH)の量を低減させる。このように、制御システム106は、チャンバ101に異なる前駆体ガスの相対量を調節してもよい。制御信号SControlが、その動作を制御するために、多数の異なる方法でチャンバ101に供給されてもよく、それらの方法のうちの1つを、以下、より詳細に記述する。
[0057]図1bは、本発明による半導体成長システム100bのブロック図である。この実施形態において、半導体成長システム100bは、図1aにより詳細に記載するように、システム100aを含む。さらに、半導体成長システム100bは、検出器103およびチャンバ101に動作可能に結合された制御システム106を含む。制御システム106は、動作制御可能なように、検出器103およびチャンバ101に動作可能に連結される。例えば、制御システム106は、検出器103が検出する放射線の波長を制御するように、検出器103に動作可能に連結される。さらに、制御システム106は、上述したように、成長パラメータを制御するために、チャンバ101に動作可能に連結される。
[0058]制御システム106は、ソフトウェアを動作するコンピュータなどの多数の異なるタイプのものであってもよい。このように、制御システム106によって動作されるソフトウェアは、チャンバ101および検出器103を動作させてもよい。チャンバ101の動作を制御するために、制御システム106に異なるタイプの入力が供給されてもよい。例えば、ユーザが、チャンバ101のガスの所望の種類および量の表示を与えてもよく、制御システム106が、チャンバ106の動作を、所望の種類および量にチャンバ内のガスを変えるように、反応チャンバ106の動作を制御してもよい。さらに、ユーザが、チャンバ101のガスの所望の成長パラメータの表示を与えてもよく、制御システム106が、成長パラメータを所望の成長パラメータにするように反応チャンバ106の動作を制御してもよい。
[0059]制御システム106は、必要に応じて、動作制御するように放射線源102に動作可能に結合されてもよい。制御システム106が、典型的に、データを処理することにも留意されたい。例えば、制御システム106は、チャンバ101に存在する一塩化物、単量体、および二量体分子の相対量のベール・ランバートの法則を使用して、表示を与えるように検出器103によって検出された放射線の異なる波長の相対強度を決定してもよい。さらに、制御システム106は、A、A、およびAの値を決定してもよい。
[0060]動作時、検出器103は、検出器信号SDetectionを制御システム106に供給し、ここで、検出器信号SDetectionは、信号SInteractionに対応する。例えば、いくつかの実施形態において、信号SDetectionは、光信号SInteractionに対応する電気信号である。さらに、制御システム106は、上述したように、検出器103からの信号SDetectionの受信に応答して、チャンバ101に制御信号SControlを供給することによって、チャンバ101の動作を制御する。このようにして、半導体成長システム100bは、チャンバ101と、検出器103と、制御システム106とを含む閉ループを通って動作する。
[0061]制御システム106は、単一の制御システムであってもよく、または動作可能に結合された別々の制御システムであってもよい。例えば、置換矢印109で示されているように、制御システム106は、反応チャンバの制御システム108に動作可能に結合された検出器制御システム107と置き換えられてもよい。矢印109で示す例において、検出器信号SDetectionは、検出器103と検出器制御システム107との間を流れ、制御信号SControl1は、検出器制御システム107と反応チャンバ制御システム108との間を流れ、制御信号SControl2は、反応チャンバ制御システム108とチャンバ101との間を流れる。
[0062]動作時、検出器103は、検出器信号SDetectionを検出器制御システム107に供給し、検出器制御システム107は、それに応答して、信号SControl1を反応チャンバ制御システム108に供給する。さらに、反応チャンバ制御システム108は、制御信号SControl2をチャンバ101に供給する。チャンバ101の動作は、上述したように、制御信号SControl2に応答して制御される。
[0063]図4aは、本発明による半導体成長システム100cの斜視図である。この実施形態において、半導体成長システム100cは、内部容積150を有するチャンバ101を含む。さらに、半導体成長システム100cは、内部容積150に位置付けられた前駆体源151と、流量コントローラ160および161をそれぞれ通って内部容積150と流通状態にあるガスライン152および153とを含む。半導体成長システム100cは、真空弁156を通って内部容積150と流通状態にある真空システム155を含む。
[0064]流量コントローラ160および161は、対応するガスライン152および153から内部容積150へのガスの流量を制御する。ガスライン152および153によって供給されるガスは、上述したような前駆体ガス(AsH、NH、PH、Ga(CH、Al(CH、In(CH)を含み得る。流量コントローラ160および161は、半導体成長システムにおけるガスの流量を制御するために、半導体産業で使用されている典型的な流量コントローラを含み得る。これらのタイプの流量コントローラは、質量流量コントローラ(MFC)と呼ばれることもある。
[0065]前駆体源151は、典型的に、金属塩化物分子(GaCl、InCl、GaCl)を含む前駆体ガスを内部容積150に供給する。前駆体源151によって供給される前駆体ガスは、典型的に、塩化水素と溶融金属が互いに相互作用するように、溶融金属上に塩化水素を流すことで形成される。前駆体ガスは、塩化水素と溶融金属との相互作用に応答して形成される。例えば、塩化ガリウム、塩化インジウム、および塩化アルミニウムを形成するために、塩化水素は、溶融ガリウム、インジウム、およびアルミニウム上にわたってそれぞれ流される。前駆体源151によって供給される前駆体ガスの量は、例えば、溶融金属の温度を制御することによって、さらには、溶融金属上にわたって流れる塩化物ガスの量を制御することによって制御されてもよい。真空システム155は、真空弁156を通して内部容積150のガスの圧力を制御するように動作する。真空システム155は、多数の異なるタイプのものであってもよいが、ここでは、半導体成長システムにおいて典型的に使用されるタイプのものである。
[0066]この実施形態において、半導体成長システム100cは、内部容積150において基板158の温度を制御するとともに、チャンバ101の温度および内部容積150内のガスを制御するように熱を供給するヒータ157を含む。ヒータ157は、例えば、フィラメント、固体ランプとともに、抵抗および誘導加熱要素を含んでもよい。いくつかの実施形態において、チャンバ101の外部に複数のヒータ157が設けられ、チャンバ101を通って基板158に熱を供給する。
[0067]この実施形態において、流量コントローラ160、161、および155とともに、ヒータ157および前駆体源151は、制御システム106に動作可能に結合される。このようにして、制御システム106は、コントローラ160、161、および155、ヒータ157、真空システム155、および前駆体源151の動作を制御する。例えば、制御システム106は、流量コントローラ160および161のそれぞれに信号SFlow1およびSFlow2を供給し、対応するガスライン152および153から内部容積150へ流れるガス量を調節する。このようにして、制御システム106は、ガスコントローラとして動作する。さらに、制御システム106は、ヒータ157に信号STempを供給して、ヒータの温度を調節する。このようにして、制御システム106は、温度コントローラとして動作する。制御システム106は、真空システム155が、内部容積150のガスの圧力を調節するように、真空コントローラ155に信号Spressureを供給する。このようにして、制御システム106は、圧力コントローラとして動作する。制御システム106は、前駆体源151に信号SSourceを供給し、それに応答して、前駆体源151は、所望の量の前駆体ガスを内部容積150内に供給する。この実施形態において、信号SSourceは、前駆体源151の溶融金属の温度を制御し、溶融金属上にわたって流れる塩化水素の量は、信号Spressureで制御される。信号SFlow1、SFlow2、STemp、Spressure、およびSSourceは、一般に、SControlおよびSControl2などの図1aおよび図1bの制御信号に含まれる。
[0068]本発明によれば、半導体成長システム100cは、内部容積150を通って光学的に結合される放射線源102および検出器103を含む。放射線源102および検出器103は、さまざまな方法で動作可能に結合されてもよい。この実施形態において、チャンバ101は、チャンバ101の外側の容積および内部容積150の間に信号SRadiationおよびSInteractionを流す窓163および164を含む。このように、放射線源102および検出器103は、内部容積150および窓163および164を通して動作可能に結合される。窓163および164は、石英と、溶融シリカとを含んでもよい。いくつかの実施形態において、チャンバ101はまた、石英や溶融シリカなどの材料を含む。これらの実施形態において、窓164および164は、典型的に、チャンバ101の一体コンポーネントであり、電磁放射線の透過を可能にするさらなる処理は不要である。いくつかの実施形態において、チャンバ101は、窓を設置する領域の研磨が必要な場合がある。
[0069]半導体成長システム100cは、信号SRadiationおよびSInteractionの流れを容易にするための光学デバイスを含んでもよい。例えば、放射線源102と窓163との間、および/または検出器103と窓164との間に、1つ以上の光学レンズが位置付けられてもよい。いくつかの例において、放射線源102と窓163との間、および/または検出器103と窓164との間に、1つ以上の光学フィルタが配置される。さらに、光ファイバや光パイプなどの光導波路を用いて、信号SRadiationが、放射線源101から窓163に流されてもよい。信号SInteractionは、光導波路を用いて、窓164から検出器103に流されてもよい。
[0070]いくつかの実施形態において、放射線源102と窓163との間の光路190の部分および窓164と検出器103との間の光路191の部分は、周囲ガスを通って延在し、周囲ガスは、信号SRadiationおよびSInteractionの減衰を低減するように選択される。例えば、周囲ガスは、SRadiationがUV放射線を含む場合、UV放射線は、酸素ほど窒素によって減衰されないため、より多くの窒素と、より少ない酸素とを含み得る。したがって、酸素は、窒素より多くのUV放射線を吸収するため、放射線源102と窓163との間、および窓164と検出器103との間の酸素量を低減することが望ましい。
[0071]検出器103は、信号SDetectionが、検出器103と制御システム106との間を流れるように、制御システム106に動作可能に結合される。図1aおよび図1bに関して、上記により詳細に記述したように、信号SRadiationが、放射線源102によって供給され、チャンバ101(すなわち、内部容積150内)の信号SRadiationは、金属塩化物系ガスおよび化学種などのガスと相互作用する。信号SRadiationとガスとの相互作用に応答して、信号SInteractionが供給され、信号SRadiationは、検出器103によって検出される。
[0072]この実施形態において、放射線源102は、その光路190が窓163および内部容積150を通って延在するように整列される。さらに、検出器103は、その光路191が窓164および内部容積150を通って延在するように整列される。このようにして、放射線源102は、窓163を通して信号SRadiationを供給してもよく、検出器103は、窓164を通して信号SInteractionを受信する。光路190および191は、使用する分光器の種類などの倍率に依存するさまざまな方法で、互いに対して配向されてもよい。
[0073]この実施形態において、光路190および191は、互いに対して整列されるように配向され、これは吸収分光に有用である。光路190および191は、放射線源102と検出器103との間に延在するように互いに整列される。このようにして、放射線源102は、窓164および検出器103の方へ信号SRadiationを方向付ける。
[0074]この実施形態において、光路190および191は、前駆体源151に隣接した内部容積150の領域170を通って延在する。このように、領域170のガス分子180は、信号SRadiationと相互作用し、光路191に沿って検出器103に信号SInteractionを供給する。このように、放射線源102および検出器103は、信号SRadiationとガス分子180との相互作用を通して光学的に結合される。領域170は、前駆体源151に隣接しているため、ガス分子180は、前駆体源151によって供給されるものに相当する。このように、信号SInteractionは、前駆体源151によって供給される化学種の数および種類に対応する。
[0075]しかしながら、光路190および191は、内部容積150の他の領域を通って延在するように配向されてもよいことに留意されたい。例えば、窓163および164は、光路190および191が、基板158の成長表面に隣接した領域171を通って延在するように配向される。このように、領域171のガス分子181は、信号SRadiationと相互作用し、光路191に沿って検出器103に信号SInteractionを供給する。領域171は、基板158の成長表面に隣接しているため、ガス分子181は、基板上に塊になる化学種に対応する。このように、信号SInteractionは、基板158に隣接した化学種の数および種類に対応する。
[0076]1つの例において、窓163および164は、光路190および191が流量コントローラ160および161に隣接した領域173を通って延在するように配向される位置に設けられる。このようにして、領域173のガス分子183は、信号SRadiationと相互作用し、光路191に沿って検出器103に信号SInteractionを供給する。領域173が流量コントローラ160および161に隣接するため、ガス分子183は、流量コントローラ160および161に隣接したガスに相当する。このように、信号SInteractionは、流量コントローラ160および161に隣接したガスの数および種類に相当する。別の例において、窓163および164は、光路190および191が、基板158と流量コントローラ160および161との間にある領域172を通って延在するように配向される位置に設けられる。このようにして、領域172のガス分子182は、信号SRadiationと相互作用し、光路191に沿って検出器103に信号SInteractionを供給する。領域172は、基板158と流量コントローラ160および161との間にあるため、ガス分子182は、基板158と流量コントローラ160および161との間にあるガスに相当する。このように、信号SInteractionは、基板158と流量コントローラ160および161との間にあるガスの数および種類に相当する。
[0077]光路190および191の向きは、多数の異なる方法で調節されてもよいため、内部容積150の所望の領域を通って延在する。例えば、窓163および164は、対向する側壁167および168に沿って所望の位置に位置付けられてもよい。さらに、放射線源102および検出器103は、それぞれ、チャンバ101および窓163および164に対して所望の角度で配向されてもよいため、対応する光路190および191は、内部容積150の所望の領域を通って延在する。
[0078]動作時、制御システム106は、対応する信号SFlow1およびSFlow2で流量コントローラ160および161を動作するため、流量コントローラは、それぞれ、ガスライン152および153を通って内部容積150内に所望の種類および量のガスを流す。さらに、制御システム106は、基板158とともに、流量コントローラ160および161および前駆体源151によって供給されるガスと加熱するために、内部容積を所望の温度にするように、信号STempでヒータ157を動作する。ガスは、上記により詳細に記述したもののような化学種に分解される。化学種は、基板上で相互作用して、基板158上に半導体層を形成する。
[0079]本発明によれば、放射線源102は、上記により詳細に記載したように、窓163を通して信号SRadiationを供給し、信号SRadiationは、信号SInteractionが供給されるようにガス分子180と相互作用する。信号SInteractionは、窓164を通って流れ、検出器103によって検出され、検出器103は、それに応答して、制御システム106に信号SDetectionを供給する。制御システム106は、信号SDetectionを受信し、図2a、図2b、および図2cで上述したように、例えば、ベール・ランバートの法則を用いることによって、領域170にあるガス分子180の種類および量を決定する。この決定に応答して、制御システム106は、領域170内のガス分子がガス分子の所望の種類および量になるように、チャンバ101の動作を調節する。領域170内のガス分子の所望の種類および量は、さまざまな方法で制御システム106に供給されてもよく、例えば、ユーザが、制御システム106に動作可能に結合されたキーボードやマウスなどの入力デバイスを使用することによって、制御システム106へガス分子の所望の種類および量を供給してもよい。
[0080]上述したように、制御システム106は、領域170内のガス分子が、多数の異なる方法でガス分子の所望の種類および量になるようにチャンバ101の動作を調節してもよい。例えば、信号SDetectionが、ガス分子180の二量体分子が、ガス分子180の一塩化物分子の量に対して多すぎることを示せば、制御システム106は、ヒータ157に温度を上げるための信号STempを供給する。これに応答して、ガス分子180の温度は、ガス分子180の多数の二量体分子が単量体分子に分解し、ガス分子180の多数の単量体分子が一塩化物分子に分解する。このようにして、領域170内のガス分子180の一塩化物、単量体、および二量体分子の相対量が制御されてもよい。
[0081]別の例において、信号SDetectionが、ガス分子180の一塩化物分子の量が、ガス分子180の二量体分子の量に対して多すぎることを示せば、制御システム106は、ヒータ157に温度を下げるようにするために信号STempを供給する。これに応答して、領域170のガス分子180の温度は、ガス分子180の多数の一塩化物分子が単量体分子を形成するように結合し、ガス分子180の多数の単量体分子が二量体分子を形成するように結合する。このように、領域170のガス分子180の一塩化物、単量体、および二量体分子の数は、図3a、図3b、および図3cに対して上述したように、ヒータ157の温度を調節することによって、互いに対して調節されてもよい。このようにして、領域170のガス分子180の一塩化物、単量体、および二量体の相対量が制御されてもよい。
[0082]制御システム106が、領域170内のガス分子180がガス分子の所望の種類および量になるようにチャンバ101の動作を調節し得る別の方法は、流量コントローラ160および161とともに、前駆体源151を制御することである。例えば、信号SDetectionが、ガスライン152によって供給されるガス量が、領域173において少なすぎることを示せば、制御システム106は、信号SFlow1を流量コントローラ160に供給し、それに応答して、流量コントローラ160は、ガスライン152からより多くのガスが内部容積150内に流入させるため、領域173のガス量が増大する。
[0083]別の例において、信号SDetectionが、ガスライン152によって供給されるガス量が、領域173において多すぎることを示せば、制御システム106は、信号SFlow1を流量コントローラ160に供給し、それに応答して、流量コントローラ160は、ガスライン152からより多くのガスを内部容積150内に流入させるため、領域173のガス量が減少する。このようにして、制御システム106は、流量コントローラ160の動作を制御することによって、領域173内のガス分子がガス分子の所望の種類および量になるようにチャンバ101の動作を調節する。この実施形態において、制御システム106は、同じ方法で流量コントローラ161の動作を制御する。
[0084]信号SDetectionが、前駆体源151によって供給されるガス量が、領域170において少なすぎることを示せば、制御システム106は、信号SSourceを前駆体源151に供給し、それに応答して、前駆体源151は、内部容積150の領域170内により多くの前駆体ガスを供給するため、領域170の前駆体ガス量は増大する。さらに、信号SDetectionが、前駆体源151によって供給されるガス量が、領域170において多すぎることを示せば、制御システム106は、信号SSourceを前駆体源151に供給し、それに応答して、前駆体源151は、内部容積150の領域170内により少ない前駆体ガスを供給するため、領域170の前駆体ガスの量は減少する。このようにして、制御システム106は、前駆体源151の動作を制御することによって、領域170内のガス分子がガス分子の所望の種類および量になるように、チャンバ101の動作を調節する。上述したように、前駆体源151は、典型的に、一塩化物分子(GaCl、AlCl、InCl)、単量体分子(GaCl、AlCl、InCl)、および二量体分子(GaCl、AlCl、InCl)などの金属塩化物分子を含むガスを供給し、金属塩化物分子は、前駆体源151によって内部容積150にin−situ供給される。
[0085]制御システム106は、内部容積150にあるガスの圧力を所望の圧力になるように制御することによって、チャンバ101の動作を調節してもよい。例えば、信号SDetectionが、ガスライン152および153および前駆体源によって供給されるガス量が、内部容積150において少なすぎることを示せば、制御システム106は、真空システム155が、内部容積150からより少ないガスを流出させるように、信号Spressureを真空コントローラ155に供給する。内部容積150にあるガスの圧力は、内部容積150から流出されるガスが少なくなると、それに応答して増大する。
[0086]別の例において、信号SDetectionが、ガスライン152および153および前駆体源によって供給されるガス量が、内部容積150において多すぎることを示せば、制御システム106は、真空システム155が内部容積150からより多くのガスを流出させるように、信号Spressureを真空コントローラ155に供給する。内部容積150におけるガスの圧力は、内部容積150か流出されるガスが多くなると、それに応答して低下する。このようにして、制御システム106は、内部容積150にあるガスの圧力を調節してもよい。
[0087]図4bは、本発明による半導体成長システム100dの斜視図である。この実施形態において、半導体成長システム100dは、内部容積150を有するチャンバ101を含む。さらに、ガスライン152および153は、それぞれ、流量コントローラ160および161を通って内部容積150と流通状態にある。この実施形態において、ガスライン154は、流量コントローラ162を通って内部容積150と流通状態にあり、ガスライン154は、前駆体ガスを内部容積150にex−situ供給する。
[0088]本発明によれば、窓163および164および放射線源102および検出器103は、光路190および191が、内部容積150の領域174を通って延在するように位置付けられ、領域174は、流量コントローラ162に隣接した位置にある。このようにして、領域174のガス分子184は、信号SRadiationと相互作用し、光路191に沿って検出器103に信号SInteractionを供給する。領域174は、流量コントローラに隣接しているため、ガス分子184は、流量コントローラ162によって供給される前駆体ガスに相当する。このように、信号SInteractionは、流量コントローラ162によって供給される金属塩化物分子の数および種類に相当する。
[0089]動作時、制御システム106は、対応する信号SFlow1、SFlow2、およびSFlow3で流量コントローラ160、161、および162を動作するため、流量コントローラは、それぞれ、ガスライン152、153、および154を通って内部容積150内に所望の種類および量のガスを流入する。上述したように、流量コントローラ161、162、および163は、一般に、前駆体ガスを供給する。さらに、制御システム106は、基板158とともに、流量コントローラ160、161、および162によって供給されるガスを加熱するために所望の温度にするように、信号STempでヒータ157を動作する。ガスは、上記により詳細に記述したもののような化学種に分解される。化学種は、基板上で相互作用し、基板158上に半導体層を形成する。
[0090]本発明によれば、放射線源102は、上記により詳細に記載したように、窓163を通して信号SRadiationを供給し、信号SRadiationは、信号SInteractionが供給されるようにガス分子184と相互作用する。信号SInteractionは、窓164を通って流れ、検出器103によって検出され、検出器103は、それに応答して、制御システム106に信号SDetectionを供給する。制御システム106は、信号SDetectionを受信し、図2a、図2b、および図2cで上述したように、例えば、ベール・ランバートの法則を用いることによって、領域174にあるガス分子184の種類および量を決定する。この決定に応答して、制御システム106は、領域174内のガス分子がガス分子の所望の種類および量になるように、チャンバ101の動作を調節する。上述したように、制御システム106は、領域174内のガス分子が、図4aに対して上記により詳細に記述したもののような多数の異なる方法でガス分子の所望の種類および量になるようにチャンバ101の動作を調節してもよい。
[0091]図4cは、本発明による半導体成長システム100eの斜視図である。この実施形態において、半導体成長システム100eは、図4bの半導体成長システム100dを含む。本発明によれば、半導体成長システム100eは、窓165および166とともに、放射線源104と、検出器105とをさらに含む。放射線源104は、放射線SRadiationを供給し、検出器103は、信号SInteractionを検出する。放射線源104および検出器105は、内部容積150の領域171を通って延在するように位置付けられた光路192および193を有し、領域171は、基板158に隣接した位置にある。このように、領域171のガス分子181は、信号SRadiationと相互作用し、光路193に沿って検出器105に信号SInteractionを供給する。領域171は、基板158に隣接しているため、ガス分子181は、基板158上で相互作用する化学種に相当する。このように、信号SInteractionは、基板158に隣接した化学種の数および種類に相当する。
[0092]放射線源102および104は、同じ波長の電磁放射線を供給してもよい。例えば、信号SRadiationおよびSRadiation1の両方は、UV放射線に相当するものであってもよい。しかしながら、他の実施形態において、放射線源102および104は、異なる波長の電磁放射線を供給してもよい。例えば、信号SRadiationおよびSRadiation1は、それぞれ、UV放射線および紫外線に相当してもよい。
[0093]動作時、制御システム106は、対応する信号SFlow1、SFlow2、およびSFlow3で流量コントローラ160、161、および162を動作するため、流量コントローラは、図4bに対してより詳細に記述したように、それぞれ、ガスライン152、153、および154を通って内部容積150内に所望の種類および量のガスを流入する。本発明によれば、放射線源102は、上記により詳細に記載したように、窓163を通して信号SRadiationを供給し、信号SRadiationは、信号SInteractionが供給されるように、ガス分子185と相互作用する。信号は、窓164を通って流れ、検出器103によって検出され、検出器103は、それに応答して、制御システム106に信号SDetectionを供給する。制御システム106は、信号SDetectionを受信し、図2a、図2b、および図2cで上述したように、例えば、ベール・ランバートの法則を用いることによって、領域175にあるガス分子185の種類および量を決定する。
[0094]本発明によれば、放射線源104は、窓165を通して信号SRadiation1を供給し、信号SRadiation1は、信号SInteraction1が供給されるようにガス分子181と相互作用する。信号SInteraction1は、窓166を通って流れ、検出器105によって検出され、検出器105は、それに応答して、制御システム106に信号SDetection1を供給する。制御システム106は、信号SDetection1を受信し、図2a、図2b、および図2cで上述したように、例えば、ベール・ランバートの法則を用いることによって、領域171にあるガス分子181の種類および量を決定する。
[0095]ガス分子181および185の種類および量の決定に応答して、制御システム106は、図3a、図3b、および図3cに対して上述したように、領域171および175内のガス分子がガス分子の所望の種類および量になるようにチャンバ101の動作を調節する。制御システム106は、図4aに対して上記により詳細に記述したもののような方法を利用して、領域171および175内のガス分子が所望の種類になるようにチャンバ101の動作を調節してもよい。
[0096]図4dは、本発明による半導体成長システム100fの斜視図である。この実施形態において、半導体成長システム100fは、図4bの半導体成長システム100dを含み、窓163および164は、側壁167を通って延在する。半導体成長システム100fは、内部容積150内に位置付けられたミラー145を含み、光路190は、窓163を通って、放射線源102と領域174内の化学種184との間に延在する。さらに、光路191は、化学種184とミラー145との間に延在する。この実施形態において、光路194が、窓164を通って、ミラー145と検出器103との間に延在する。このように、ミラー145は、光路191に沿って流れる光を、検出器103の方へ光路194に沿って方向付ける。このようにして、放射線源102および検出器103は、内部容積150および窓163および164とともに、ミラー145を通って動作可能に結合される。
[0097]動作時、放射線源102は、光路190に沿って窓163を通って、化学種184と相互作用する信号SRadiationを供給し、信号SInteractionは、それに応答して、光路191に沿って供給される。信号SInteractionは、光路191に沿って流れ、ミラー145によって反射されて、光路194に沿って検出器103の方へ方向付けられる。信号SInteractionは、光路194に沿って窓164を通って検出器103の方へ流れる。半導体成長システム100fの動作に関するさらなる情報が、図4bの半導体成長システム100dの記述に対して上記に提供されている。
[0100]図4eは、本発明による半導体成長システム100gの斜視図である。この実施形態において、半導体成長システム100gは、図4bの半導体成長システム100dを含む。半導体成長システム100fは、側壁167から延在するサイドチャンバ147を含む。この実施形態において、窓163および164は、サイドチャンバ147の対向する側面を通って延在し、流量コントローラ160は、サイドチャンバ147の端部を通って延在する。このように、流量コントローラ160は、ガスライン152からサイドチャンバ147を通って内部容積150へ流れる。ガスライン152からのガスは、領域174とともに、サイドチャンバ147にあるように示された化学種184として表されている。化学種184が反応チャンバ101から離れた位置でモニタされるように、窓163および164が側壁167から離れた位置に持付けられることが典型的に望ましい。
[0101]この実施形態において、半導体成長システム100gは、開位置と閉位置との間で繰り返し可動であるサイドチャンバドア148を含む。サイドチャンバドア148は、ロードロックドアと、弁とを備えてもよい。ロードロックドアおよび弁は、試料を低圧環境にロードしやすいようにするために、半導体成長システムに含まれる場合が多い。ロードロックドアおよび弁に関するさらなる情報については、米国特許第4,418,646号、同第4,534,314号、および同第6,059,507号から得られ、その内容全体は、参照により本明細書に組み入れられる。図4eの実線で示すように、サイドチャンバドア148が開位置にあると、サイドチャンバ147は、内部容積150と流通状態にある。図4eの点線で示すように、サイドチャンバドア148が閉位置にあると、サイドチャンバ147は、内部容積150と流通状態にない。
[0102]この実施形態において、半導体成長システム100gは、内部容積150およびチャンバ101の外部に位置付けられたミラー145および146を含む。光路190は、ミラー145と放射線源102との間に延在し、光路194は、窓163および164とともに、サイドチャンバ147を通って、ミラー145および146の間に延在する。さらに、光路195は、ミラー146と検出器103との間に延在する。このようにして、ミラー145は、放射線源102から窓163および164を通って光を方向付けるように位置付けられ、ミラー146は、窓163および164を通って検出器103に光を方向付けるように配置される。
[0103]動作時、放射線源102は、光路190に沿って信号SRadiationを供給し、信号SRadiationは、ミラー145によって反射され、窓163および164とともに、サイドチャンバ147を通ってミラー146に方向付けられる。信号SRadiationは、サイドチャンバ147において化学種184と相互作用し、信号SInteractionは、それに応答して、光路194に沿って供給される。信号SInteractionは、光路194に沿って流れ、ミラー146によって反射されて、光路195に沿って検出器103へ方向付けられる。半導体成長システム100fの動作に関するさらなる情報については、図4bの半導体成長システム100dの記述に対して上記に提供されている。
[0104]信号SRadiationは、サイドチャンバドア148が開位置または閉位置にあるとき、サイドチャンバ147において化学種184と相互作用し得る。サイドチャンバドア148が開位置にあるとき、信号SRadiationは、化学種184と相互作用し、化学種184は、サイドチャンバ147が内部容積150と流通状態にあるため、反応チャンバ101の内部にある。サイドチャンバドア148が閉位置にあるとき、信号SRadiationは、化学種184と相互作用し、化学種184は、サイドチャンバ147が内部容積150と流通状態にないため、反応チャンバ101の外部にある。このようにして、検出器103は、反応チャンバ101の内部および外部にある化学種からの放射線を検出し得る。
[0105]開位置と閉位置との間でサイドチャンバドア148を移動させることが有用な状況は、例えば、特定の時間に化学種184からの放射線を検出することが望まれ、サイドチャンバ147と内部容積150との間からの化学種184の流れを制約するように、サイドチャンバドア148を閉位置に移動させることによって、この特定の時間で化学種184が変化する量を低減することが望まれ得る。他の状況において、時間に応じて化学種184からの放射線を検出することが望まれるため、サイドチャンバ147と内部容積150との間に化学種184が流れ得るように、サイドチャンバドア148を開位置に移動させることが望ましい場合がある。
[0106]さらなる他の状況において、サイドチャンバ147において化学種184から放射線を検出するために、特定の時間tでサイドチャンバドア148を閉位置に移動させることが望ましいことがある。時間tの後、サイドチャンバドア148が開位置に移動され、サイドチャンバドア148は、時間tまでに開位置にある。時間tの後、サイドチャンバドア148は、閉位置に移動され、サイドチャンバ147の化学種184からの放射線が検出される。サイドチャンバドア148の開閉ステップおよび化学種184からの放射線検出ステップは、必要に応じて繰り返されてもよい。時間tは時間tより長く、時間tは時間tより長い。
[0107]図5aは、本発明による方法200の流れ図である。この実施形態において、方法200は、反応チャンバの内部容積を通して電磁放射線を流すステップ201と、反応チャンバの塩化物系化学物質によって放射線の吸収を検出するステップ202とを含む。方法200は、塩化物系化学物質による放射線の吸収に応答して、反応チャンバの動作を制御するステップを含む。塩化物系化学物質は、典型的に、一塩化物分子、塩化物単量体、および/または塩化物二量体の形態のものである。
[0108]吸収された放射線は、多数の異なる波長領域の波長を有するものであってもよい。例えば、いくつかの実施形態において、吸収された放射線の波長は、約100ナノメートル〜400ナノメートルである。いくつかの実施形態において、吸収された放射線の波長は、約100ナノメートル〜350ナノメールである。1つの特定の実施形態において、吸収された放射線の波長は、約185ナノメートル〜210ナノメートルである。
[0109]方法200は、多数の他のステップを含んでもよい。例えば、いくつかの実施形態において、方法200は、制御システムで反応チャンバの動作を調節することによって、反応チャンバの成長パラメータを調節するステップを含む。さらに、方法200は、塩化物系化学物質の一塩化物分子、塩化物単量体、および/または塩化物二量体による放射線の吸収に応答して、制御システムで反応チャンバの動作を制御するステップを含んでもよい。いくつかの実施形態において、方法200は、制御システムで反応チャンバの動作を調節することによって、塩化物系化学物質の一塩化物分子、塩化物単量体、および塩化物二量体の量を調節するステップを含む。制御システムは、温度のような反応チャンバの成長パラメータを調節することによって、反応チャンバの塩化物系化学物質の一塩化物分子、塩化物単量体、および塩化物二量体の量を調節してもよい。
[0110]図5bは、本発明による方法210の流れ図である。この実施形態において、方法210は、内部容積と、内部容積に塩化物系化学物質とを有する反応チャンバを設けるステップ211と、第1の電磁放射線源を設けるステップ212とを含む。方法210は、塩化物系化学物質による放射線の吸収を検出するように配置された第1の検出器を設けるステップ213と、第1の検出器からの第1の表示に応答して、反応チャンバの動作を制御する制御システムを設けるステップ214とを含む。第1の表示は、塩化物系化学物質による放射線の吸収に対応する。このようにして、第1の表示は、内部容積の第1の領域にある塩化物系化学物質の種類および量に対応する。
[0111]方法210は、多数の他のステップを含んでもよい。例えば、いくつかの実施形態において、方法210は、第1の表示に応答して制御システムで反応チャンバの動作パラメータの1つ以上を調節するステップを含む。
[0112]いくつかの実施形態において、方法210は、第2の電磁放射線源と、塩化物系化学物質による放射線の吸収を検出するために配置された第2の検出器とを設けるステップを含む。第1および第2の検出器は、典型的に、異なる場所に配置される。制御システムは、第2の検出器からの第2の表示に応答して、反応チャンバの動作を制御する。第2の表示は、典型的に、内部容積の第2の領域にある塩化物系化学物質の種類および量に対応する。制御システムは、第2の表示に応答して、反応チャンバの動作パラメータの1つ以上を調節してもよい。
[0113]本発明の特定の実施形態を示し記載してきたが、当業者であれば、多数の変形例および別の実施形態を見い出すであろう。したがって、本発明は、添付の特許請求の範囲にのみ限定されることが意図されている。

Claims (15)

  1. チャンバと、
    電磁放射線源と、
    前記チャンバの塩化物系化学物質による前記放射線源からの放射線の吸収を検出するように配置された検出器と、
    前記塩化物系化学物質による放射線の前記吸収に応答して、前記チャンバの動作を制御する制御システムと、
    を備える半導体成長システム。
  2. 前記塩化物系化学物質が、一塩化物分子、塩化物単量体、および塩化物二量体の少なくとも1つを含む、請求項1に記載の半導体成長システム。
  3. 前記塩化物系化学物質が、ガリウム、アルミニウム、およびインジウムの少なくとも1つを含む、請求項2に記載の半導体成長システム。
  4. 前記制御システムが、前記塩化物系化学物質の一塩化物分子、塩化物単量体、および塩化物二量体の少なくとも1つによる放射線の前記吸収に応答して、前記チャンバの動作を制御する、請求項1に記載の半導体成長システム。
  5. 前記吸収された放射線の波長が、約100ナノメートル〜400ナノメートルである、請求項4に記載の半導体成長システム。
  6. 前記制御システムが、前記塩化物系化学物質の一塩化物分子、塩化物単量体、および塩化物二量体のそれぞれの量を調節することによって前記チャンバの動作を制御する、請求項1に記載の半導体成長システム。
  7. 前記制御システムが、前記チャンバのパラメータを調節することによって、前記チャンバの前記塩化物系化学物質の一塩化物分子、塩化物単量体、および塩化物二量体の量を調節する、請求項6に記載の半導体成長システム。
  8. チャンバの内部容積を通して電磁放射線を放射するステップと、
    前記チャンバの塩化物系化学物質による前記放射線の吸収を検出するステップと、
    前記放射線の前記吸収に応答して、前記チャンバの動作を制御するステップと、
    を含む半導体の形成方法。
  9. 前記塩化物系化学物質が、一塩化物分子、塩化物単量体、および塩化物二量体の少なくとも1つを含む、請求項8に記載の半導体の形成方法。
  10. 前記制御システムで前記チャンバの動作を調節することによって、前記チャンバの成長パラメータを調節するステップをさらに含む、請求項8に記載の半導体の形成方法。
  11. 前記塩化物系化学物質の一塩化物分子、塩化物単量体、および塩化物二量体の少なくとも1つによる放射線の前記吸収に応答して、前記制御システムで前記チャンバの動作を制御するステップをさらに含む、請求項8に記載の半導体の形成方法。
  12. 前記制御システムで前記チャンバの動作を調節することによって、前記塩化物系化学物質の一塩化物分子、塩化物単量体、および塩化物二量体の量を調節するステップをさらに含む、請求項8に記載の半導体の形成方法。
  13. 前記制御システムが、前記反応システムの成長パラメータを調節することによって、前記チャンバの前記塩化物系化学物質の一塩化物分子、塩化物単量体、および塩化物二量体の量を調節する、請求項12に記載の半導体の形成方法。
  14. 前記吸収された放射線の波長が、約100ナノメートル〜400ナノメートルである、請求項8に記載の半導体の形成方法。
  15. 前記吸収された放射線の波長が、約185ナノメートル〜210ナノメートルである、請求項8に記載の半導体の形成方法。
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