JP2012247286A - 光フィルター装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】可変エタロン4と、可変エタロン駆動回路13と、受光素子5と、受光素子5に接続されたI−V変換回路6と、I−V変換回路6に接続されゲイン切り替え機能を有する増幅回路7と、増幅回路7に接続されたADコンバーター8と、増幅回路7およびADコンバーター8に接続されたマイコン11と、マイコン11に接続され増幅回路7のゲインのデータであるゲインテーブル14を有する電圧設定メモリー10と、を備え、受光素子5で検出された電流に基づき受光電圧の事前測定を行い、電圧設定メモリー10に記憶させた事前測定で得られた受光電圧に対する増幅回路7のゲインのゲインテーブル14を参照し、事前測定で得られた受光電圧をADコンバーター8のダイナミックレンジに合うように増幅回路7のゲインを調整する。
【選択図】図1
Description
従来の光フィルター装置における1波長分の測定の流れを以下に示す。
可変エタロン駆動回路113は、制御演算回路112からの指令により電圧設定メモリー110に格納されたV−λテーブル109に応じて、波長毎の駆動電圧データを可変エタロン4の静電アクチュエーターに出力する(ステップ51)。
測定対象1からの反射した光2もしくは透過した光3は、可変エタロン4を透過し受光素子5に入る(ステップ52)。
受光素子5はフォトダイオードなどの電流出力素子であり、素子に接続されたI−V変換回路106にて電圧(受光電圧)に変換される(ステップ53)。
受光電圧は、I−V変換回路(電流電圧変換回路)106の出力に接続された増幅回路107により増幅される(ステップ54)。
増幅された受光電圧は、増幅回路107の出力に接続されたADコンバーター108によりアナログ信号からデジタル信号に変換される(ステップ55)。
デジタル信号に変換された受光電圧はマイコン111により測定される(ステップ56)。
マイコン111により測定された受光電圧が基準電圧値よりも大きい場合は、受光電圧を基準電圧値以下になるように制御演算回路112からの指令により増幅回路107のゲインを下げて、測定手順ステップ52〜ステップ56を繰り返し行い、測定した受光電圧値を更新する(ステップ57)。
図1は本実施形態における可変エタロンを用いた光フィルター装置の構成を示すブロック図である。図2は増幅回路の構成を示す図である。図3は増幅回路内のマルチプレクサーの信号を設定したゲインテーブルを示す図である。図4は1波長分測定時の増幅回路の出力電圧、エタロンの駆動電圧の波形の概要を説明するための図である。
可変エタロン4は、対向する基板に外力、たとえば静電アクチュエーターなどを用いて基板間のギャップを調整し、透過する波長を変えるものである。
可変エタロン駆動回路13は、制御演算回路12の命令により可変エタロン4の静電アクチュエーターなどに電圧を印加するものである。
受光素子5は、フォトダイオードなどの電流出力素子であり、可変エタロン4から入った光を電流信号に変換するものである。
増幅回路7は、I−V変換回路6から出力された電圧を増幅するものであり、制御演算回路12の命令によりゲインの調整をして切り替えるものである。
ADコンバーター8は、増幅回路7から出力された電圧信号(アナログ信号)をデジタル信号に変換するものである。
制御演算回路12は、ADコンバーター8から出力されたデジタル信号化された電圧を取り込むものである。また、制御演算回路12は、増幅回路7のゲイン変更および可変エタロン駆動回路13の出力電圧の設定を行うものである。
マイコン11は、マイクロコンピューターやゲートアレイ等で構成されるものである。
V−λテーブル9は、可変エタロン4の駆動電圧(V)に対する可変エタロンのギャップ間の距離に対応する透過波長(λ)のデータが格納されており、電圧データに基づいて、可変エタロンの駆動電圧のレベルが決定されるものである。
ゲインテーブル14は、増幅回路7の出力電圧と増幅回路7内のマルチプレクサー16A,16Bの信号の関係を設定したデータである。
電圧設定メモリー10は、フラッシュメモリーなどの記憶素子であり、マイコン11に内蔵されていてもよい。
次に、本実施形態の光フィルター装置における1波長分の測定の流れを以下に示す。
まず、可変エタロン駆動回路13は、制御演算回路12からの指令により電圧設定メモリー10に格納されたV−λテーブル9に応じて、波長毎の静電アクチュエーターに印加する駆動電圧を出力する(ステップ1)。
測定対象1からの反射した光2もしくは透過した光3は、可変エタロン4を透過し受光素子5に入る(ステップ2)。
受光素子5はフォトダイオードなどの電流出力素子であり、素子に接続されたI−V変換回路6にて電圧(受光電圧)に変換される(ステップ3)。
受光電圧は、I−V変換回路6の出力に接続された増幅回路7により増幅される(ステップ4)。
増幅された受光電圧は、増幅回路7の出力に接続されたADコンバーター8によりアナログ信号からデジタル信号に変換される(ステップ5)。以上のステップ1からステップ5が、図4の時間ta〜tbに対応する。
デジタル信号に変換された受光電圧はマイコン11により事前測定される(ステップ6)。このステップ6は、図4の時間tbに対応する。
本測定を開始する(ステップ8)。このステップ8は、図4の時間tcに対応する。
受光電圧は、I−V変換回路6の出力に接続された増幅回路7により増幅される(ステップ9)。
増幅された受光電圧は、増幅回路7の出力に接続されたADコンバーター8によりアナログ信号からデジタル信号に変換される(ステップ10)。ステップ9,10は、図4の時間tc〜tdに対応する。
デジタル信号に変換された受光電圧はマイコン11により本測定される(ステップ11)。このステップ11は、図4の時間tdに対応する。
図5は本実施形態における可変エタロンを用いた光フィルター装置の構成を示すブロック図である。図6は増幅回路と積分回路の構成を示す図である。図7は増幅回路内のマルチプレクサーの信号と積分回路における積分時間を設定したゲインテーブルを示す図である。図8は1波長分測定時の積分回路の出力電圧、エタロンの駆動電圧、帰還コンデンサーの放電の波形の概要を説明するための図である。
可変エタロン4は、対向する基板に外力、たとえば静電アクチュエーターなどを用いて基板間のギャップを調整し、透過する波長を変えるものである。
可変エタロン駆動回路13は、制御演算回路12の命令により可変エタロン4の静電アクチュエーターなどに電圧を印加するものである。
受光素子5は、フォトダイオードなどの電流出力素子であり、可変エタロン4から入った光を電流信号に変換するものである。
増幅回路7は、I−V変換回路6から出力された電圧を増幅するものであり、制御演算回路12の命令によりゲインの調整をして切り替えるものである。
積分回路18は、増幅回路7から出力された電圧を時間に対して積分する回路であり、制御演算回路12より積分時間を設定するものである。
ADコンバーター8は、積分回路18から出力された電圧信号(アナログ信号)をデジタル信号に変換するものである。
制御演算回路12は、ADコンバーター8から出力されたデジタル信号化された電圧を取り込むものである。また、制御演算回路12は、増幅回路7のゲイン変更および可変エタロン駆動回路13の出力電圧の設定を行うものである。
マイコン11は、マイクロコンピューターやゲートアレイ等で構成されるものである。
V−λテーブル9は、可変エタロン4の駆動電圧(V)に対する可変エタロン4のギャップ間の距離に対応する透過波長(λ)のデータが格納されており、電圧データに基づいて、可変エタロンの駆動電圧のレベルが決定されるものである。
ゲインテーブル19は、増幅回路7の出力電圧と増幅回路7内のマルチプレクサー16A,16Bの信号の関係を設定したデータである。
電圧設定メモリー10は、フラッシュメモリーなどの記憶素子であり、マイコン11に内蔵されていてもよい。
次に本実施形態の光フィルター装置における1波長分の測定の流れを以下に示す。
可変エタロン駆動回路13は、制御演算回路12からの指令により電圧設定メモリー10に格納されたV−λテーブル9に応じて、波長毎の静電アクチュエーターに印加する駆動電圧を出力する(ステップ21)。
制御演算回路12からの指令により可変エタロン駆動完了まで積分回路内の帰還コンデンサー20を放電し続け、積分回路18の出力電圧を0Vにする(ステップ22)。ステップ22では、図8の時間t1〜t2に対応する。
測定対象1からの反射した光2もしくは透過した光3は、可変エタロン4を透過し受光素子5に入る(ステップ23)。
受光素子5はフォトダイオードなどの電流出力素子であり、素子に接続されたI−V変換回路6にて電圧(受光電圧)に変換される(ステップ24)。
受光電圧は、I−V変換回路6の出力に接続された増幅回路7により増幅される(ステップ25)。
増幅された受光電圧は、増幅回路7の出力に接続された積分回路18により制御演算回路12から命令された時間だけ積分される(ステップ26)。
積分された受光電圧は、積分回路18の出力に接続されたADコンバーター8によりアナログ信号からデジタル信号に変換される(ステップ27)。ステップ23〜27は、図8の時間t2〜t3に対応する。
デジタル信号に変換された受光電圧はマイコン11により事前測定される(ステップ28)。このステップ28は、図8の時間t3に対応する。
積分回路内の帰還コンデンサー20は、制御演算回路12からの指令により増幅回路7のゲインと積分時間の変更が完了するまで放電し続け、積分回路18の出力電圧を0Vにして次の受光電圧測定に備える(ステップ30)。このステップ29,30は、図8の時間t3〜t4に対応する。
本測定を開始する(ステップ31)。
受光電圧は、I−V変換回路6の出力に接続された増幅回路7により増幅される(ステップ32)。
増幅された受光電圧は、増幅回路7の出力に接続された積分回路18により制御演算回路12から命令された時間だけ積分される(ステップ33)。
積分された受光電圧は、積分回路18の出力に接続されたADコンバーター8によりアナログ信号からデジタル信号に変換される(ステップ34)。ステップ31〜34は、図8の時間t4〜t5に対応する。
デジタル信号に変換された受光電圧はマイコン11により本測定される(ステップ35)。ステップ35は、図8の時間t5に対応する。
また、積分回路18を追加することでモニター等の時間に対して光量が変化する光源に対しても測定可能となる。
Claims (4)
- 特定の波長の光を出射する透過波長可変干渉フィルターと、
前記透過波長可変干渉フィルターを駆動させる可変エタロン駆動回路と、
前記透過波長可変干渉フィルターから出射された光を受光する受光素子と、
前記受光素子に接続されたI−V変換回路と、
前記I−V変換回路に接続されゲイン切り替え機能を有する増幅回路と、
前記増幅回路に接続されたADコンバーターと、
前記増幅回路および前記ADコンバーターに接続されたマイコンと、
前記マイコンに接続され、前記増幅回路のゲインのデータであるゲインテーブルを有する電圧設定メモリーと、
を備え、
前記受光素子で検出された電流に基づき受光電圧の事前測定を行い、
前記電圧設定メモリーに記憶させた事前測定で得られた前記受光電圧に対する前記増幅回路のゲインの前記ゲインテーブルを参照し、事前測定で得られた前記受光電圧を前記ADコンバーターのダイナミックレンジに合うように前記増幅回路のゲインを調整することを特徴とする光フィルター装置。 - 請求項1に記載の光フィルター装置において、
前記増幅回路および前記ADコンバーターに接続された積分回路を含み、
前記電圧設定メモリーに事前測定で得られた前記受光電圧に対する積分時間のデータテーブルを追加したこと特徴とする光フィルター装置。 - 請求項1または請求項2に記載の光フィルター装置において、
前記ゲインテーブルは前記積分回路の出力電圧と前記ADコンバーターのダイナミックレンジに合わせるために、前記積分回路の出力電圧の桁ごとの増加に応じて前記増幅回路のゲインと積分時間が減少するようにそれぞれ前記増幅回路内のマルチプレクサーの信号と積分時間を設定すること特徴とする光フィルター装置。 - 請求項2に記載の光フィルター装置において、
前記透過波長可変干渉フィルターの駆動と同期させて前記積分回路内の帰還コンデンサーを放電させることを特徴とする光フィルター装置。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10760962B2 (en) | 2017-12-27 | 2020-09-01 | Seiko Epson Corporation | Light detector, correction coefficient calculation device, and correction coefficient calculation method |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107110706A (zh) * | 2014-11-06 | 2017-08-29 | 光谱引擎股份公司 | 光学测量方法和系统 |
CN106840416B (zh) * | 2016-12-14 | 2018-12-25 | 华中农业大学 | 基于滤波片吸收特性的全自动光波长测量装置及方法 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5885139A (ja) * | 1981-11-17 | 1983-05-21 | Toshiba Corp | 分光分析装置 |
JPH089098A (ja) * | 1994-06-21 | 1996-01-12 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | イメージセンサ |
JPH08304283A (ja) * | 1995-05-11 | 1996-11-22 | Olympus Optical Co Ltd | 蛍光光度計 |
JP2005156242A (ja) * | 2003-11-21 | 2005-06-16 | Konica Minolta Sensing Inc | 測光装置およびその非線形性補正方法 |
JP2009244498A (ja) * | 2008-03-31 | 2009-10-22 | Seiko Epson Corp | 光学フィルタ装置 |
Family Cites Families (39)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04104020A (ja) | 1990-08-24 | 1992-04-06 | Topcon Corp | 測光用装置 |
US5285059A (en) * | 1990-10-31 | 1994-02-08 | Canon Kabushiki Kaisha | Method for controlling a tunable filter and an apparatus therefor |
JPH0563572A (ja) | 1991-09-04 | 1993-03-12 | Hitachi Ltd | 自動ゲイン切替機能付信号処理装置 |
JP3396237B2 (ja) | 1992-06-08 | 2003-04-14 | セイコーインスツルメンツ株式会社 | 分光測定装置 |
US5563405A (en) | 1995-04-28 | 1996-10-08 | Santa Barbara Research Center | Staring IR-FPA with on-FPA adaptive dynamic range control electronics |
JPH09229770A (ja) | 1996-02-22 | 1997-09-05 | Ando Electric Co Ltd | 光パワーメータ |
US5867514A (en) * | 1997-01-09 | 1999-02-02 | Cymer, Inc. | Laser wavelength control circuit having automatic DC offset and gain adjustment |
JPH11142752A (ja) | 1997-11-05 | 1999-05-28 | Yokogawa Electric Corp | 透過波長可変干渉フィルタ及びこれを用いた分光器 |
JPH11271220A (ja) | 1998-03-24 | 1999-10-05 | Olympus Optical Co Ltd | 走査型顕微鏡の測定パラメータ決定方法 |
US6320663B1 (en) * | 1999-01-22 | 2001-11-20 | Cymer, Inc. | Method and device for spectral measurements of laser beam |
JP2001051202A (ja) | 1999-06-04 | 2001-02-23 | Olympus Optical Co Ltd | 走査型顕微鏡の測定パラメータ決定方法及びコンピュータにより読み取り可能な記憶媒体 |
US6400737B1 (en) * | 1999-12-14 | 2002-06-04 | Agere Systems Guardian Corp. | Automatic closed-looped gain adjustment for a temperature tuned, wavelength stabilized laser source in a closed-loop feedback control system |
US6597462B2 (en) * | 2000-03-01 | 2003-07-22 | Lambda Physik Ag | Laser wavelength and bandwidth monitor |
US7092416B2 (en) * | 2000-04-05 | 2006-08-15 | Digital Optics Corporation | Integrated wavelength locker for use with more than one wavelength and associated methods |
JP2002196131A (ja) * | 2000-12-27 | 2002-07-10 | Ando Electric Co Ltd | ファブリペロエタロン、波長モニタ及び波長モニタ内蔵型波長可変光源 |
US6778307B2 (en) * | 2001-02-21 | 2004-08-17 | Beyond 3, Inc. | Method and system for performing swept-wavelength measurements within an optical system |
US6845108B1 (en) * | 2001-05-14 | 2005-01-18 | Calmar Optcom, Inc. | Tuning of laser wavelength in actively mode-locked lasers |
US20020186376A1 (en) * | 2001-06-06 | 2002-12-12 | Brown David C. | Expandable closed chamber etalon with contact bonded optical components |
US6631146B2 (en) * | 2001-07-06 | 2003-10-07 | Intel Corporation | Tunable laser control system |
US6606331B2 (en) * | 2001-07-09 | 2003-08-12 | Multiwave Networks Portugal, Lda. | Step-tunable all-fiber laser apparatus and method for dense wavelength division multiplexed applications |
WO2003032547A2 (en) * | 2001-10-09 | 2003-04-17 | Infinera Corporation | Transmitter photonic integrated circuit |
JP3993409B2 (ja) * | 2001-10-17 | 2007-10-17 | 日本オプネクスト株式会社 | 光モジュール及びその製造方法 |
US6831450B2 (en) * | 2001-10-19 | 2004-12-14 | Nortel Networks, Ltd. | Electronic method and apparatus for measuring optical wavelength and locking to a set optical wavelength of Fabry-Perot tunable cavity opto-electronic devices |
US6611641B2 (en) * | 2001-10-30 | 2003-08-26 | Redc Optical Networks Ltd. | Method and apparatus for a highly efficient, high performance optical amplifier |
US6833913B1 (en) | 2002-02-26 | 2004-12-21 | Kla-Tencor Technologies Corporation | Apparatus and methods for optically inspecting a sample for anomalies |
TW533631B (en) * | 2002-05-27 | 2003-05-21 | Ind Tech Res Inst | Wavelength monitoring device and method of tunable laser sources |
US6859284B2 (en) * | 2002-12-02 | 2005-02-22 | Picarro, Inc. | Apparatus and method for determining wavelength from coarse and fine measurements |
JP3687648B2 (ja) | 2002-12-05 | 2005-08-24 | セイコーエプソン株式会社 | 電源供給方法及び電源回路 |
GB2399875B (en) * | 2003-03-24 | 2006-02-22 | Tsunami Photonics Ltd | Optical wavelength meter |
US6879421B2 (en) * | 2003-03-28 | 2005-04-12 | Beyond 3, Inc. | Method and system for performing swept-wavelength measurements within an optical system incorporating a reference resonator |
US7065112B2 (en) * | 2003-05-12 | 2006-06-20 | Princeton Optronics, Inc. | Wavelength locker |
EP1480302B1 (en) * | 2003-05-23 | 2007-07-11 | Rohm and Haas Electronic Materials, L.L.C. | External cavity semiconductor laser comprising an etalon and method for fabrication thereof |
TW594364B (en) * | 2003-07-23 | 2004-06-21 | Delta Electronics Inc | Wavelength stabilizing apparatus and control method |
US7061618B2 (en) * | 2003-10-17 | 2006-06-13 | Axsun Technologies, Inc. | Integrated spectroscopy system |
JP5029364B2 (ja) * | 2005-09-06 | 2012-09-19 | 日本電気株式会社 | 波長可変フィルタおよび波長可変レーザ |
JP4759425B2 (ja) * | 2006-03-28 | 2011-08-31 | オリンパス株式会社 | 多光子励起型観察装置 |
JP5606929B2 (ja) * | 2008-02-21 | 2014-10-15 | インテュイティブ サージカル オペレーションズ, インコーポレイテッド | 波長可変レーザ制御システムおよび波長可変レーザの出力を制御する方法 |
WO2010010437A1 (en) * | 2008-07-25 | 2010-01-28 | Centre National De La Recherche Scientifique - Cnrs | Fourier transform spectrometer with a frequency comb light source |
JP2011164374A (ja) * | 2010-02-10 | 2011-08-25 | Seiko Epson Corp | 波長可変干渉フィルター、及び波長可変干渉フィルターの製造方法。 |
-
2011
- 2011-05-27 JP JP2011118792A patent/JP5803280B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2012
- 2012-05-23 US US13/478,231 patent/US9250129B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5885139A (ja) * | 1981-11-17 | 1983-05-21 | Toshiba Corp | 分光分析装置 |
JPH089098A (ja) * | 1994-06-21 | 1996-01-12 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | イメージセンサ |
JPH08304283A (ja) * | 1995-05-11 | 1996-11-22 | Olympus Optical Co Ltd | 蛍光光度計 |
JP2005156242A (ja) * | 2003-11-21 | 2005-06-16 | Konica Minolta Sensing Inc | 測光装置およびその非線形性補正方法 |
JP2009244498A (ja) * | 2008-03-31 | 2009-10-22 | Seiko Epson Corp | 光学フィルタ装置 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10760962B2 (en) | 2017-12-27 | 2020-09-01 | Seiko Epson Corporation | Light detector, correction coefficient calculation device, and correction coefficient calculation method |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US9250129B2 (en) | 2016-02-02 |
US20120300303A1 (en) | 2012-11-29 |
JP5803280B2 (ja) | 2015-11-04 |
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