JP2012233914A - 光検出装置及び光検出システム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】この分光装置は、光源からの光L2を、光L2の入射角に応じた波長範囲で選択的に透過させる4枚のバンドパスフィルタ11a〜11dと、バンドパスフィルタ11a〜11dが主面10a上に立設され、主面10aに沿って回転中心C1の周りを回転可能にされた平板状の回転テーブル10とを備える分光装置であって、4枚のバンドパスフィルタ11a〜11dは、それぞれ、光入射面12或いは光出射面13が、回転テーブル10の主面10a上の回転中心C1と主面10a上の該バンドパスフィルタ11a〜11dの中心点15a〜15dとを結ぶ線に対して傾斜するように配置されている。
【選択図】図2
Description
図1は、本発明の第1実施形態に係る光源装置の概略構成を示す平面図である。同図に示す光源装置1は、半導体検査装置等の各種検査装置において、特定の発光波長域(例えば、近赤外波長域)を有する光源として用いられる装置である。この光源装置1は、光源からの光のうちの特定の波長域を選択する分光装置の一態様であり、放熱機構としてのヒートシンク2上に取り付けられた光源3と、その光源3から照射された光が入射されて、その光を変換して光ファイバ4を経由して外部出力する光変換光学系5と、光源3及び光変換光学系5を制御する制御系30とから構成されている。ここで、図1においては、紙面上において光源3の光軸に沿った方向にX軸をとり、紙面上においてX軸に垂直な方向に沿ってY軸、X軸及びY軸に垂直な方向に沿ってZ軸をとるものとする。
次に、本発明の第2実施形態について説明する。図6は、本発明の第2実施形態に係る光源装置の概略構成を示す平面図である。同図に示す光源装置101と第1実施形態にかかる光源装置1との相違点は、フィルタ回転体8と同一構成を有する2つのフィルタ回転体8A,8Bを用いて、光L2から分離された2つの直線偏光成分L4,L5を、それぞれP偏光としてフィルタ回転体8A,8Bを透過させる構成を有する点である。
図8は、本発明の第3実施形態に係る光源装置の概略構成を示す平面図である。同図に示す光源装置201と第2実施形態にかかる光源装置101との相違点は、偏光成分L4,L5を、それぞれS偏光として2つのフィルタ回転体8C,8Dを透過させる構成を有する点である。
Claims (7)
- 外部から入力された光を、前記光の入射角に応じた波長範囲で選択的に透過させるn個(nは3以上の整数)の誘電体薄膜干渉フィルタと、
前記誘電体薄膜干渉フィルタが主面上に立設され、前記主面に沿って所定点の周りを回転可能にされた平板状の回転支持部材と、
前記誘電体薄膜干渉フィルタを透過した光を検出する光検出器とを備える光検出装置であって、
前記n個の誘電体薄膜干渉フィルタは、それぞれ、光入射側或いは光出射側の端面が、前記回転支持部材の前記表面上の前記所定点と前記主面上の該誘電体薄膜干渉フィルタの中心点とを結ぶ線に対して傾斜するように配置されている、
ことを特徴とする光検出装置。 - 前記n個の誘電体薄膜干渉フィルタは、前記主面と前記端面とで形成されるそれぞれの交線が1つの内接円に接するように搭載されている、
ことを特徴とする請求項1記載の光検出装置。 - 前記n個の誘電体薄膜干渉フィルタは、それぞれ、前記主面上において前記内接円の外側に位置するように配置されている、
ことを特徴とする請求項2記載の光検出装置。 - 前記n個の誘電体薄膜干渉フィルタは、前記主面上の前記所定点と前記主面上の該誘電体薄膜干渉フィルタの中心点とを結ぶ線が互いに等角度を成すように配置されている、
ことを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の光検出装置。 - 前記n個の誘電体薄膜干渉フィルタは、前記主面上において前記所定点を中心にしてn回回転対称となるように配置されている、
ことを特徴とする請求項4記載の光検出装置。 - 前記n個の誘電体薄膜干渉フィルタには、それぞれ、前記主面上の前記所定点と前記主面上の該誘電体薄膜干渉フィルタの中心点とを結ぶ線に対する傾斜角を調整するための回転軸部材が取り付けられている、
ことを特徴とする請求項1〜5のいずれか1項に記載の光検出装置。 - 請求項1〜6のいずれか1項に記載の光検出装置と前記光を出力する光源装置とを備える、
ことを特徴とする光検出システム。
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