JP2012229454A5 - - Google Patents
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- Ga:20〜40at%、Sb:0.1〜3at%、残部がCu及び不可避不純物からなる成分組成を有することを特徴とするスパッタリングターゲット。
- 請求項1に記載のスパッタリングターゲットにおいて、
Cu−Ga合金を主とする合金相の結晶粒内または粒界に、Sb単体またはSbとCuとを含む化合物の少なくとも一方を含む組織を有することを特徴とするスパッタリングターゲット。 - 請求項1又は2に記載のスパッタリングターゲットにおいて、
スパッタリングターゲット素地中のGaがCu−Ga二元合金の形態で含有されていることを特徴とするスパッタリングターゲット。 - Ga:20〜40at%、Sb:0.1〜3at%、Na化合物、残部がCu及び不可避不純物からなる成分組成を有し、
前記Na化合物が、NaF化合物、Na 2 S化合物またはNa 2 Se化合物であり、全金属元素に対し、Naが0.05〜2at%含有されていることを特徴とするスパッタリングターゲット。 - 請求項1から4のいずれか一項に記載のスパッタリングターゲットを作製する方法であって、
少なくともCu,GaおよびSbの各元素を単体またはこれらのうち2種以上の元素を含む合金として粉末とした原料粉末を作製する工程と、
前記原料粉末を真空、不活性雰囲気、または還元性雰囲気で熱間加工する工程を含み、
前記原料粉末に含まれるGaがCuGa合金またはGaSb合金として含有されていることを特徴とするスパッタリングターゲットの製造方法。 - 請求項4に記載のスパッタリングターゲットを作製する方法であって、
少なくともCu,GaおよびSbの各元素を単体またはこれらのうち2種以上の元素を含む合金として金属粉末とし、前記金属粉末にNaF粉末、Na2S粉末またはNa2Se粉末を混合して原料粉末を作製する工程と、
前記原料粉末を真空、不活性雰囲気、または還元性雰囲気で熱間加工する工程を含み、
前記原料粉末に含まれるGaがCuGa合金またはGaSb合金として含有されていることを特徴とするスパッタリングターゲットの製造方法。
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