JP2012195095A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2012195095A5
JP2012195095A5 JP2011056810A JP2011056810A JP2012195095A5 JP 2012195095 A5 JP2012195095 A5 JP 2012195095A5 JP 2011056810 A JP2011056810 A JP 2011056810A JP 2011056810 A JP2011056810 A JP 2011056810A JP 2012195095 A5 JP2012195095 A5 JP 2012195095A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
conductive substrate
hole
substrate
forming
bonding
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
JP2011056810A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2012195095A (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2011056810A priority Critical patent/JP2012195095A/ja
Priority claimed from JP2011056810A external-priority patent/JP2012195095A/ja
Priority to TW101108449A priority patent/TWI455168B/zh
Priority to PCT/JP2012/001771 priority patent/WO2012124318A1/en
Priority to US14/005,037 priority patent/US20140190006A1/en
Publication of JP2012195095A publication Critical patent/JP2012195095A/ja
Publication of JP2012195095A5 publication Critical patent/JP2012195095A5/ja
Ceased legal-status Critical Current

Links

Description

本発明は上記課題を解決するために本発明者らが鋭意検討を行った結果完成に至ったものであり、その骨子とするところは、少なくとも第1の貫通孔を有する第1の導電性基板と、第2の貫通孔を有する第2の導電性基板と、を接合してなる接合電極4を有する電子線レンズの製造方法であって、
前記第1の導電性基板に前記第1貫通孔を形成する工程と、
前記第2の導電性基板に前記第2の貫通孔を形成する工程と、
前記第1の貫通孔と前記第2の貫通孔とが連通するように前記第1の導電性基板と前記第2の導電性基板と、を位置合わせする工程と、前記第1の導電性基板と前記第2の導電性基板とを接合する工程と、を有することを特徴とするものである。

Claims (7)

  1. 第1の導電性基板に第1の貫通孔を形成する工程と、
    第2の導電性基板に第2の貫通孔を形成する工程と、
    前記第1の貫通孔と前記第2の貫通孔とが連通するように前記第1の導電性基板と前記第2の導電性基板と、を位置合わせする工程と、
    前記第1の導電性基板と前記第2の導電性基板とを接合する工程と、
    を有することを特徴とする荷電粒子線レンズの製造方法。
  2. 第1の導電性基板に第1の貫通孔を形成する工程と、
    第2の導電性基板に第2の貫通孔を形成する工程と、
    第3の導電性基板に第3の貫通孔を形成する工程と、
    前記第1の貫通孔と前記第2の貫通孔と前記第3の貫通孔とが連通するように前記第1の導電性基板と、前記第2の導電性基板と、前記第3の導電性基板と、を位置合わせする工程と、
    前記第1から第3の導電性基板を接合する工程と、
    を有することを特徴とする荷電粒子線レンズの製造方法。
  3. 前記第2の導電性基板は、SOI基板のデバイス層からなり、
    前記デバイス層と前記第1の導電性基板とを接合したのちに、前記SOI基板のハンドル層および前記SOI基板のBOX層を除去する工程を有することを特徴とする請求項1又は2に記載の荷電粒子線レンズの製造方法。
  4. 前記第2の導電性基板は、SOI基板のデバイス層からなり、
    前記SOI基板のデバイス層に貫通孔を形成する工程と、
    前記デバイス層に分離層を介して支持基板を接合する工程と、
    前記SOI基板のうちハンドル層およびBOX層を除去する工程と、
    前記デバイス層のうち前記BOX層が形成されていた面を接合面として前記第1の導電性基板を接合する工程と、
    前記支持基板を前記分離層で分離する工程と、を有することを特徴とする請求項1又は2に記載の荷電粒子線レンズの製造方法。
  5. 第1の導電性基板に第1の貫通孔を形成する工程と、
    前記第1の導電性基板と第2の導電性基板とを接合する工程と、
    前記第1の導電性基板と第2の導電性基板とを接合した後に、前記第2の導電性基板に前記第1の貫通孔と連通する第2の貫通孔を形成する工程と、を有することを特徴とする荷電粒子線レンズの製造方法。
  6. 第1の導電性基板と第2の導電性基板とを接合して接合電極を形成する工程と、
    前記接合電極の前記第1の導電性基板側から第1の貫通孔を形成する工程と、
    前記接合電極の前記第2の導電性基板側から前記第1の貫通孔と連通する第2の貫通孔を形成する工程と、を有することを特徴とする荷電粒子線レンズの製造方法。
  7. 前記第1の貫通孔の直径と前記第2の貫通孔の直径とが異なることを特徴とする請求項1〜6の何れか1つに記載の荷電粒子線レンズの製造方法。
JP2011056810A 2011-03-15 2011-03-15 荷電粒子線レンズの製造方法 Ceased JP2012195095A (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011056810A JP2012195095A (ja) 2011-03-15 2011-03-15 荷電粒子線レンズの製造方法
TW101108449A TWI455168B (zh) 2011-03-15 2012-03-13 製造帶電粒子束透鏡的方法
PCT/JP2012/001771 WO2012124318A1 (en) 2011-03-15 2012-03-14 Method for manufacturing charged particle beam lens
US14/005,037 US20140190006A1 (en) 2011-03-15 2012-03-14 Method for manufacturing charged particle beam lens

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011056810A JP2012195095A (ja) 2011-03-15 2011-03-15 荷電粒子線レンズの製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2012195095A JP2012195095A (ja) 2012-10-11
JP2012195095A5 true JP2012195095A5 (ja) 2014-05-01

Family

ID=45932472

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011056810A Ceased JP2012195095A (ja) 2011-03-15 2011-03-15 荷電粒子線レンズの製造方法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US20140190006A1 (ja)
JP (1) JP2012195095A (ja)
TW (1) TWI455168B (ja)
WO (1) WO2012124318A1 (ja)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9341936B2 (en) 2008-09-01 2016-05-17 D2S, Inc. Method and system for forming a pattern on a reticle using charged particle beam lithography
KR102154105B1 (ko) 2012-04-18 2020-09-09 디2에스, 인코포레이티드 하전 입자 빔 리소그라피를 이용하여 패턴들을 형성하기 위한 방법 및 시스템
US9343267B2 (en) 2012-04-18 2016-05-17 D2S, Inc. Method and system for dimensional uniformity using charged particle beam lithography
JP2013239667A (ja) * 2012-05-17 2013-11-28 Canon Inc 荷電粒子線静電レンズにおける電極とその製造方法、荷電粒子線静電レンズ、及び荷電粒子線露光装置
JP6499898B2 (ja) * 2014-05-14 2019-04-10 株式会社ニューフレアテクノロジー 検査方法、テンプレート基板およびフォーカスオフセット方法
CN106997076A (zh) * 2016-01-25 2017-08-01 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 一种夹具及其制造方法
US20220254060A1 (en) * 2021-02-09 2022-08-11 Fei Company 3d fiducial for precision 3d nand channel tilt/shift analysis

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4200794A (en) * 1978-11-08 1980-04-29 Control Data Corporation Micro lens array and micro deflector assembly for fly's eye electron beam tubes using silicon components and techniques of fabrication and assembly
US4902898A (en) 1988-04-26 1990-02-20 Microelectronics Center Of North Carolina Wand optics column and associated array wand and charged particle source
JPH0562611A (ja) * 1991-09-05 1993-03-12 Hitachi Ltd 電子銃用板状電極を備えた陰極線管
JP3763446B2 (ja) * 1999-10-18 2006-04-05 キヤノン株式会社 静電レンズ、電子ビーム描画装置、荷電ビーム応用装置、および、デバイス製造方法
JP2001284230A (ja) * 2000-03-31 2001-10-12 Canon Inc 電子光学系アレイ、これを用いた荷電粒子線露光装置ならびにデバイス製造方法
JP4585661B2 (ja) * 2000-03-31 2010-11-24 キヤノン株式会社 電子光学系アレイ、荷電粒子線露光装置およびデバイス製造方法
JP4947841B2 (ja) * 2000-03-31 2012-06-06 キヤノン株式会社 荷電粒子線露光装置
US7151271B2 (en) * 2003-10-08 2006-12-19 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. System and method for passing high energy particles through a mask
JP5293517B2 (ja) 2009-09-10 2013-09-18 株式会社リコー 画像処理装置、カラー画像形成装置、画像処理方法、画像処理プログラム及び記録媒体

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2012195095A5 (ja)
JP2011216780A5 (ja)
WO2013066455A3 (en) Flattened substrate surface for substrate bonding
GB2505600A (en) Micro-electro-mechanical system (MEMS) and related actuator bumps method of manufacture and design structures
WO2012138480A3 (en) Methods for producing complex films, and films produced thereby
JP2013069808A5 (ja)
EP2441530A3 (en) Electromechanical transducer and method of manufacturing the same
WO2012091415A3 (ko) 유기발광소자용 기판 및 그 제조방법
JP2014235279A5 (ja)
JP2009111375A5 (ja)
EP3018711A8 (en) Semiconductor device and manufacturing method for the semiconductor device
JP2014110390A5 (ja)
WO2006074175A3 (en) Method and structure for forming an integrated spatial light modulator
WO2012141484A3 (ko) 보울-형태 구조체, 이의 제조 방법, 및 보울 어레이
TWI456453B (zh) 鏡片觸控裝置及其製程方法
JP2015518270A5 (ja)
JP2012160500A5 (ja)
WO2015038367A3 (en) Forming through wafer vias in glass
JP2014179569A5 (ja)
JP2013070112A5 (ja)
JP2012154811A5 (ja)
WO2012105800A3 (ko) 나노전력발전소자 및 이의 제조방법
JP2011077505A5 (ja) Soi基板の作製方法
JP2013513971A5 (ja)
JP2009044136A5 (ja)