JP2012167934A - Data preparation device, board inspection device, and data preparation method - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、部品実装基板に対して行う電気的検査において電気信号の入出力を行うための検査ポイントを示すポイント情報を含む検査用データを作成するデータ作成装置、基板検査装置およびデータ作成方法に関するものである。 The present invention relates to a data creation apparatus, a board inspection apparatus, and a data creation method for creating inspection data including point information indicating inspection points for inputting and outputting electrical signals in an electrical inspection performed on a component mounting board. Is.
この種の基板検査装置として、特開2001−66351号公報に開示された回路基板検査装置が知られている。この回路基板検査装置は、フィクスチャおよび接続計測部を備えて、回路基板における各配線(ランドパターン)や回路基板に実装された電気部品の検査を実行可能に構成されている。この場合、フィクスチャは、配線や電気部品の配置位置に対応して複数のプローブピンが突出形成された下側フィクスチャおよび上側フィクスチャで構成されている。この回路基板検査装置では、下側フィクスチャと上側フィクスチャとの間に回路基板を挟み込むことによって下側フィクスチャのプローブピンを各配線や電気部品の端子などに設定された検査ポイントに接触させ、各検査ポイントの中から指定された検査ポイントに対してプローブピンを介して信号を供給した状態で、接続計測部がプローブピンを介して入力する信号に基づいて各配線の導通検査や絶縁検査、および電気部品の良否検査などを行う。 As this type of board inspection apparatus, a circuit board inspection apparatus disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2001-66351 is known. This circuit board inspection apparatus includes a fixture and a connection measurement unit, and is configured to be able to inspect each wiring (land pattern) on the circuit board and electrical components mounted on the circuit board. In this case, the fixture is composed of a lower fixture and an upper fixture in which a plurality of probe pins are formed so as to protrude corresponding to the positions of wiring and electrical components. In this circuit board inspection device, the circuit board is sandwiched between the lower fixture and the upper fixture so that the probe pins of the lower fixture are brought into contact with the inspection points set on the terminals of each wiring or electrical component. In the state where the signal is supplied via the probe pin to the inspection point specified from each inspection point, the continuity inspection and insulation inspection of each wiring based on the signal input by the connection measurement unit via the probe pin , And inspection of electrical parts.
この場合、検査時に信号を供給する検査ポイントを示すデータは、配線や電気部品の大きさ、形状および配置位置などをCADデータやガーバデータに基づいて確認しつつ、検査対象の配線毎および電気部品毎に入力する入力作業によって予め作成されて記憶部に記憶される。このような入力作業を効率的に行わせるため、発明者は、配線や電気部品の配置をCADデータやガーバデータに基づいて特定し、それらが図示された配置図を表示部に表示させる基板検査装置を既に開発している。この基板検査装置では、表示部に表示された配置図を参照しつつ入力作業を行うことができるため、作業効率を向上させることが可能となっている。 In this case, the data indicating the inspection point for supplying a signal at the time of inspection is checked for each wiring to be inspected and the electric component while confirming the size, shape and arrangement position of the wiring and the electric component based on CAD data and Gerber data. It is created in advance by an input operation that is input every time and is stored in the storage unit. In order to perform such input work efficiently, the inventor specifies the layout of wiring and electrical components based on CAD data and Gerber data, and displays the layout on which the layout is illustrated on the display unit The device has already been developed. In this board inspection apparatus, the input work can be performed while referring to the layout diagram displayed on the display unit, so that the work efficiency can be improved.
ところが、発明者らが既に開発している上記の基板検査装置には、改善すべき以下の課題がある。すなわち、上記の基板検査装置では、データを作成する際に検査ポイントを示す数値等を入力する作業が、キーボード等の入力装置を用いた入力操作によって行われる。このため、この基板検査装置には、作業がやや煩雑で作業効率の向上が困難であるという課題が存在する。また、配置図に表示された配線番号の読み間違いや、入力操作ミス等に起因する数値の誤入力のおそれもある。 However, the above-described substrate inspection apparatus already developed by the inventors has the following problems to be improved. That is, in the substrate inspection apparatus described above, an operation of inputting a numerical value indicating an inspection point or the like when creating data is performed by an input operation using an input device such as a keyboard. For this reason, this board inspection apparatus has a problem that the work is somewhat complicated and it is difficult to improve the work efficiency. In addition, there is a risk of erroneous input of numerical values due to misreading of the wiring numbers displayed on the layout drawing or input operation errors.
本発明は、かかる課題を改善すべくなされたものであり、部品実装基板に対して行う電気的検査において用いる検査用データを作成する際の入力作業を効率よくかつ正確に行い得るデータ作成装置、基板検査装置およびデータ作成方法を提供することを主目的とする。 The present invention was made to improve such a problem, a data creation device capable of efficiently and accurately performing input work when creating test data used in an electrical test performed on a component mounting board, A main object is to provide a substrate inspection apparatus and a data creation method.
上記目的を達成すべく請求項1記載のデータ作成装置は、回路基板に電気部品が実装された部品実装基板に対して行う電気的検査において電気信号の入出力を行うための当該部品実装基板における検査ポイントを示すポイント情報を含む検査用データを作成する処理部と、前記ポイント情報を入力する操作が可能な操作部と、前記ポイント情報の入力時に参照させる図であって前記回路基板の配線および前記電気部品の配置を示す配置図を表示部に表示させる表示制御部とを備えたデータ作成装置であって、前記操作部は、前記配置図内に図示されている前記配線を選択する選択操作が可能に構成され、前記処理部は、前記選択操作によって選択された前記配線を示す情報を前記ポイント情報として前記検査用データを作成する。
In order to achieve the above object, a data creation device according to
また、請求項2記載のデータ作成装置は、請求項1記載のデータ作成装置において、前記表示制御部は、前記電気的検査の対象となる複数の前記電気部品および当該各電気部品にそれぞれ対応する前記検査ポイントを一覧表として前記表示部に表示させると共に、前記選択操作が行われたときに当該選択操作によって選択された前記配線を示す情報を前記ポイント情報として前記一覧表内に表示させる。
The data creation device according to
また、請求項3記載のデータ作成装置は、請求項2記載のデータ作成装置において、前記表示制御部は、前記一覧表内に表示されている前記各電気部品の1つが選択されたときに、当該選択された電気部品と当該電気部品に直接的に接続されている前記配線と当該配線に直接的に接続されている他の前記電気部品との配置を示す前記配置図を表示させる。
Further, the data creation device according to
また、請求項4記載の基板検査装置は、請求項1から3のいずれかに記載のデータ作成装置と、当該データ作成装置によって作成された前記検査用データを用いて前記部品実装基板に対する電気的検査を行う検査部とを備えている。 According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a circuit board inspection apparatus comprising: the data generation apparatus according to any one of the first to third aspects; and the inspection data generated by the data generation apparatus. And an inspection unit for performing an inspection.
また、請求項5記載のデータ作成方法は、回路基板に電気部品が実装された部品実装基板に対して行う電気的検査において電気信号の入出力を行うための当該部品実装基板における検査ポイントを示すポイント情報を入力させる際に、前記回路基板の配線および前記電気部品の配置を示す配置図を表示部に表示させ、前記入力されたポイント情報を含む検査用データを作成するデータ作成方法であって、前記配置図内に図示されている前記配線を選択する選択操作によって選択された前記配線を示す情報を前記ポイント情報として前記検査用データを作成する。 According to a fifth aspect of the present invention, there is provided a data creation method that indicates an inspection point on the component mounting board for inputting / outputting electric signals in an electrical inspection performed on the component mounting board on which the electric component is mounted on the circuit board. When inputting point information, a data creation method for displaying a layout diagram showing the wiring of the circuit board and the layout of the electrical components on a display unit and creating inspection data including the input point information, The inspection data is created using the information indicating the wiring selected by the selection operation for selecting the wiring shown in the layout diagram as the point information.
請求項1記載のデータ作成装置、および請求項5記載のデータ作成方法では、配置図内の配線を選択する選択操作によって選択された配線の情報をポイント情報として検査用データを作成する。このため、このデータ作成装置およびデータ作成方法によれば、キーボード等を用いた入力操作を行うことなくポイント情報を入力することができる結果、作業効率を十分に向上させることができる。また、キーボード等を用いた入力操作を行うことなくポイント情報を入力することができるため、入力操作を行う際のポイント情報の読み間違いや入力操作ミス等に起因するポイント情報の誤入力を回避することができる結果、入力作業を正確に行うことができる。
In the data creation device according to
また、請求項2記載のデータ作成装置によれば、電気的検査の対象となる複数の電気部品および各電気部品にそれぞれ対応する検査ポイントを一覧表として表示部に表示させると共に、選択操作が行われたときに選択操作によって選択された配線を示す情報をポイント情報として一覧表内に表示させることにより、選択操作によって選択された配線の情報がポイント情報として入力されたか否か、およびその情報が所望の配線の情報であるか否かなどを一目で容易に確認することができる。 According to the data creation device of the second aspect, a plurality of electrical components to be subjected to electrical inspection and inspection points corresponding to the electrical components are displayed as a list on the display unit, and the selection operation is performed. Information indicating the wiring selected by the selection operation is displayed in the list as point information, whether or not the information on the wiring selected by the selection operation has been input as point information, and the information It is possible to easily confirm at a glance whether or not the information is desired wiring information.
また、請求項3記載のデータ作成装置では、一覧表内に表示されている各電気部品の1つが選択されたときに、選択された電気部品とその電気部品に直接的に接続されている配線とその配線に直接的に接続されている他の電気部品との配置を示す配置図を表示させる。このため、このデータ作成装置およびデータ作成方法では、選択した電気部品と配線を介して接続されている他の電気部品との接続状態を一目で確認することができるため、選択した電気部品についての検査ポイントとして設定すべき配線を確実かつ容易に決定することができる。 According to a third aspect of the present invention, when one of the electrical components displayed in the list is selected, the selected electrical component and the wiring directly connected to the electrical component are selected. And a layout diagram showing the layout of the other electrical components directly connected to the wiring. For this reason, in this data creation device and data creation method, the connection state between the selected electrical component and another electrical component connected via the wiring can be confirmed at a glance. The wiring to be set as the inspection point can be determined reliably and easily.
また、請求項4記載の基板検査装置によれば、上記のデータ作成装置を備えたことにより、上記のデータ作成装置が有する効果と同様の効果を実現することができる。 According to the substrate inspection apparatus of the fourth aspect, by providing the data creation device, it is possible to achieve the same effect as the data creation device has.
以下、データ作成装置、基板検査装置およびデータ作成方法の実施の形態について、添付図面を参照して説明する。 Hereinafter, embodiments of a data creation device, a substrate inspection device, and a data creation method will be described with reference to the accompanying drawings.
最初に、基板検査装置1の構成について説明する。図1に示す基板検査装置1は、基板検査装置の一例であって、部品実装基板100に対する電気的検査を実行可能に構成されている。この場合、部品実装基板100は、図2に示すように、配線W1〜W7(以下、区別しないときには「配線W」ともいう)が形成された回路基板Bと、配線Wに接続されて回路基板Bに実装された電気部品E(例えば、同図に示す抵抗器R1〜R8)とを備えて構成されている。なお、同図では、部品実装基板100の一部を図示している。
First, the configuration of the
一方、基板検査装置1は、図1に示すように、データ作成装置2および検査部3を備えて構成されている。データ作成装置2は、操作部11、表示部12、記憶部13および制御部14を備えて、部品実装基板100に対して行う電気的検査において用いられる検査用データDtを作成可能に構成されている。
On the other hand, the
操作部11は、キーボード等の入力装置を備え、後述する検査ポイントを示すポイント情報を入力する入力操作が可能に構成されている。また、操作部11は、ポインティングデバイス(一例として、マウス)を備え、後述する配置図F(図3,5参照)内に図示されている配線Wを選択する選択操作が可能に構成されている。また、操作部11は、上記した入力操作や選択操作が行われたときに、各操作に応じた操作信号を制御部14に対して出力する。
The operation unit 11 includes an input device such as a keyboard, and is configured to allow an input operation to input point information indicating an inspection point described later. Further, the operation unit 11 includes a pointing device (a mouse as an example), and is configured to be capable of performing a selection operation for selecting the wiring W illustrated in the layout drawing F (see FIGS. 3 and 5) described later. . The operation unit 11 outputs an operation signal corresponding to each operation to the
表示部12は、制御部14の制御に従い、後述する一覧表T(図3,4参照)や配置図F(図3,5参照)などの各種の画像を表示する。記憶部13は、検査用データDtを記憶する。また、記憶部13は、制御部14によって実行される第1表示処理および第2表示処理において用いられる配線データDaおよび電気部品データDbを記憶する。この場合、配線データDaは、部品実装基板100の各配線Wについての形状や配設位置を特定可能な例えばガーバデータで構成されている。また、電気部品データDbは、部品実装基板100の各電気部品Eについての種類や規格(例えば、抵抗値の規格値Rs)、および各電気部品Eについての形状や配設位置を特定可能な情報を含んで構成されている。
The
制御部14は、操作部11から出力される操作信号に基づき、各種の処理を実行すると共に、表示部12や検査部3を制御する。また、制御部14は、処理部として機能し、操作部11から出力される操作信号に基づいて検査用データDtを作成して、記憶部13に記憶させる。ここで、検査用データDtは、一例として、検査内容、検査用信号S(電気信号の一例)を供給する検査ポイントとしての配線Wを示すポイント情報、ガードポイント(検査用信号SのHi側を供給する配線Wと同電位とするポイント)として機能させる検査ポイントとしての配線Wを示すポイント情報、電気部品Eの規格値Rs、および電気部品Eの良否を判定するための良否判定用の基準値(例えば、抵抗値の基準値Rr)などが検査対象の電気部品E毎に記述されて構成されている。
The
また、制御部14は、表示制御部として機能し、第1表示処理を実行して一覧表T(図3,4参照)を表示部12に表示させる。この場合、一覧表Tは、検査用データDtの内容を示す表であって、図4に示すように、検査用データDtに含まれる検査内容、検査ポイント、規格値Rsおよび基準値Rrが電気部品E毎に一覧表形式で並べられて構成されている。
Moreover, the
また、制御部14は、一覧表Tを表示させている状態において一覧表T内に表示されている各電気部品Eの1つが選択されたときに、第2表示処理を実行して配置図F(図3,5参照)を表示部12に表示させる。この場合、配置図Fは、検査用データDtを作成する際(操作部11に対する入力作業を行う際)に参照させる図であって、図5に示すように、選択された電気部品Eとその電気部品Eに配線Wを介して接続されている他の電気部品Eの配置が図示されると共に、各配線Wの番号や電気部品Eの種類などを示す情報が図示されている。
In addition, when one of the electrical components E displayed in the list T is selected in a state where the list T is displayed, the
また、制御部14は、配置図F内に図示されている配線Wを選択する選択操作が行われたときには、その選択操作によって選択された配線Wを示す情報(例えば、配線Wの符号)がポイント情報として入力されたとして検査用データDtを作成すると共に、その配線Wの符号を一覧表T内に表示させる。
In addition, when the selection operation for selecting the wiring W illustrated in the layout drawing F is performed, the
検査部3は、図1に示すように、基板保持台21、プローブユニット22、プロービング機構23、スキャナ部24、検査用信号生成部25、および測定部26を備えて構成されている。
As shown in FIG. 1, the
基板保持台21は、部品実装基板100を保持可能に構成されている。プローブユニット22は、部品実装基板100の各配線Wに接触可能な複数のプローブピン31を備えて治具型に構成されている。プロービング機構23は、制御部14の制御に従い、プローブユニット22を移動させることによってプロービングを行う。
The board holding table 21 is configured to hold the
スキャナ部24は、複数のスイッチ(図示せず)を備えて構成され、制御部14の制御に従って各スイッチをオン状態またはオフ状態に移行させることにより、プローブユニット22のプローブピン31と検査用信号生成部25との接断(接続および切断)、およびプローブピン31と測定部26との接断を行う。検査用信号生成部25は、検査用信号S(例えば、直流定電流信号)を生成する。測定部26は、検査用信号Sの供給によって電気部品Eの両端に生じる電圧の電圧値と検査用信号Sの電流値とに基づいて電気部品Eの抵抗値を測定する。
The
次に、基板検査装置1を用いて図2に示す部品実装基板100についての検査用データDtを作成するデータ作成方法、およびその検査用データDtに基づいて基板検査装置1を用いて部品実装基板100を検査する方法について、図面を参照して説明する。
Next, a data creation method for creating inspection data Dt for the
検査に先立ち、部品実装基板100についての検査用データDtを作成する。この検査用データDtの作成に当たっては、操作部11を操作して処理の開始を指示する。この際に、操作部11が操作信号を出力し、制御部14が操作信号に従って第1表示処理を実行する。この第1表示処理では、制御部14は、記憶部13から配線データDaおよび電気部品データDbを読み出す。
Prior to the inspection, inspection data Dt for the
次いで、制御部14は、電気部品データDbに基づき、部品実装基板100における各電気部品Eの種類(名称)、各電気部品Eにそれぞれ対応する検査内容、各電気部品Eについて予め決められている規格値Rs、および基準値Rrを特定する。なお、この例では、制御部14は、基準値Rrを規格値Rsと同じ値に特定している。次いで、制御部14は、これらの情報を電気部品E毎に一覧表形式で並べた一覧表Tを表示させるために必要な画像データを生成する。続いて、制御部14は、生成した画像データを表示部12に出力する。これにより、図3,4に示すように、一覧表Tが表示部12に表示される。
Next, the
次いで、各電気部品Eについての検査ポイントの情報(ポイント情報)を入力する。具体的には、操作部11のキーボードのカーソルキーやマウスを操作して、図4に示すように、一覧表T内に表示されている各電気部品Eの1つ(例えば、抵抗器R1)を選択する。この際に、制御部14は、選択された抵抗器R1について検査ポイントの情報を入力すべき一覧表T内の欄(例えば、同図に示す「検査ポイント」の「Hi側」の欄)にカーソル(同図に示す太枠)を表示させる。
Next, inspection point information (point information) for each electrical component E is input. Specifically, by operating a cursor key or a mouse on the keyboard of the operation unit 11, as shown in FIG. 4, one of the electrical components E displayed in the list T (for example, a resistor R1) Select. At this time, the
次いで、制御部14は、操作部11から出力された操作信号に従って第2表示処理を実行する。この第2表示処理では、制御部14は、記憶部13から読み出した配線データDaおよび電気部品データDbに基づき、一覧表T内に表示されている各電気部品Eの中から選択された電気部品E(この例では、抵抗器R1)と、その抵抗器R1に直接的に接続されている配線W(この例では、配線W1,W2)と、その配線W1,W2に直接的に接続されている他の電気部品E(この例では、配線W1には電気部品Eが接続されておらず、配線W2に抵抗器R2,R6,R7が直接的に接続されている状態における、その抵抗器R2,R6,R7)との配置を示す配置図Fを表示させるのに必要な画像データを生成する。続いて、制御部14は、生成した画像データを表示部12に出力する。これにより、図5に示すように、配置図Fが表示部12に表示される。
Next, the
次いで、配置図Fを参照しつつ、抵抗器R1について検査ポイントとすべき配線Wを決定する。次いで、例えば配線W1(図5参照)を、検査用信号SのHi側供給用の検査ポイントとして決定したときには、同図に示すように、配置図F内に図示されている配線W1(具体的には、配線W1を示す線分の画像、または配線W1を示す符号「W1」の画像)を操作部11のマウスを用いてクリックすることによって選択する選択操作を行う。 Next, with reference to the layout diagram F, the wiring W to be an inspection point for the resistor R1 is determined. Next, for example, when the wiring W1 (see FIG. 5) is determined as the inspection point for supplying the inspection signal S on the Hi side, as shown in FIG. In this case, a selection operation is performed in which an image of a line segment indicating the wiring W1 or an image of a symbol “W1” indicating the wiring W1) is selected by clicking with the mouse of the operation unit 11.
この際に、制御部14は、操作部11から出力された操作信号に従い、選択操作によって選択された配線W1を示す情報(配線W1の符号)がポイント情報として入力されたとして、図6に示すように、その符号を一覧表T内(同図に示す「検査ポイント」の「Hi側」の欄)に表示させる。また、制御部14は、同図に示すように、次の検査ポイントの情報を入力すべき一覧表T内の欄(例えば、同図に示す「検査ポイント」の「Lo側」の欄)にカーソル(同図に示す太枠)を表示させる。
At this time, the
次いで、例えば配線W2(図5参照)を、検査用信号SのLo側供給用の検査ポイントとして決定したときには、操作配置図F内に図示されている配線W2を選択する選択操作を行う。この際に、制御部14は、配線W2の符号がポイント情報として入力されたとして、図7に示すように、その符号を一覧表T内における「検査ポイント」の「Lo側」の欄に表示させる。また、制御部14は、次の検査ポイントの情報を入力すべき一覧表T内の欄(例えば、同図に示す「検査ポイント」の「ガードP」の欄)にカーソルを表示させる。
Next, for example, when the wiring W2 (see FIG. 5) is determined as the inspection point for supplying the inspection signal S on the Lo side, a selection operation for selecting the wiring W2 illustrated in the operation layout diagram F is performed. At this time, assuming that the code of the wiring W2 is input as the point information, the
この場合、抵抗器R1についてのガードポイントとして設定すべき検査ポイント(配線W)が存在しないときには、抵抗器R1についての検査ポイントの入力を終了し、次いで、一覧表T内に表示されている各電気部品Eの他の1つ(例えば、抵抗器R2)を選択する。この際に、制御部14は、上記した第2表示処理を実行して、選択された抵抗器R2と、抵抗器R2に直接的に接続されている配線W2,W3と、配線W2,W3に直接的に接続されている抵抗器R1,R3,R4,R6,R7(いずれも図2参照)との配置を示す配置図Fを表示部12に表示させる。次いで、抵抗器R2についての検査ポイントとすべき配線Wが選択操作によって選択されたときには、制御部14は、上記したように、選択された配線Wの符号を一覧表T内に表示させる。
In this case, when there is no inspection point (wiring W) to be set as a guard point for the resistor R1, the input of the inspection point for the resistor R1 is terminated, and then each of the items displayed in the list T is displayed. Another one of the electrical components E (eg resistor R2) is selected. At this time, the
以下、同様にして、一覧表T内に表示されている各電気部品Eを1つずつ選択し、各電気部品Eについての検査ポイントとすべき配線Wを選択操作によって選択する。これにより、制御部14が、図7に示すように、選択された配線Wの符号を一覧表T内に表示させる。以上により、各電気部品Eについてのポイント情報の入力が終了する。次いで、制御部14は、上記のようにして入力された検査ポイントの情報を含む検査用データDtを作成して記憶部13に記憶させる。以上により、部品実装基板100についての検査用データDtの作成が終了する。
Thereafter, similarly, each electric component E displayed in the list T is selected one by one, and the wiring W to be an inspection point for each electric component E is selected by a selection operation. Thereby, the
次に、部品実装基板100の検査を行う。具体的には、部品実装基板100を検査部3の基板保持台21に載置して保持させる。続いて、操作部11を操作して、検査の開始を指示する。この際に、制御部14が、操作部11から出力された操作信号に従い、検査部3のプロービング機構23を制御してプローブユニット22を移動させる。これにより、プローブユニット22の各プローブピン31の先端部が部品実装基板100の各配線Wに接触(プロービング)させられる。
Next, the
次いで、制御部14は、検査処理を実行する。この検査処理では、制御部14は、記憶部13から検査用データDtを読み出し、続いて、検査用データDtに基づき、最初に検査する電気部品E(例えば、図2に示す抵抗器R1)についての検査ポイントを特定する。次いで、制御部14は、検査部3の検査用信号生成部25を制御して検査用信号Sを生成させる。続いて、制御部14は、検査部3のスキャナ部24を制御して、検査ポイントとして設定されている配線W(この例では、配線W1,W2)に接触しているプローブピン31と検査用信号生成部25および測定部26とを接続する。これにより、検査用信号生成部25によって生成された検査用信号Sが配線W1,W2間に供給される。
Next, the
次いで、測定部26が検査用信号Sの供給によって生じる配線W1,W2間の電圧の電圧値と検査用信号Sの電流値とに基づいて抵抗値を測定する。続いて、制御部14が、測定部26によって測定された測定値と、検査用データDtに含まれている良否判定用の基準値Rrとを比較して、抵抗器R1の良否を判定する。次いで、制御部14は、上記した各処理を実行して、他の電気部品Eに対する検査を実行する。また、制御部14は、各電気部品Eについての判定結果を表示部12に表示させる。
Next, the
このように、この基板検査装置1、データ作成装置2およびデータ作成方法では、配置図F内の配線Wを選択する選択操作によって選択された配線Wの情報(配線Wの符号)をポイント情報として検査用データDtを作成する。このため、この基板検査装置1、データ作成装置2およびデータ作成方法によれば、キーボード等を用いた入力操作を行うことなくポイント情報を入力することができる結果、作業効率を十分に向上させることができる。また、キーボード等を用いた入力操作を行うことなくポイント情報を入力することができるため、入力操作を行う際のポイント情報の読み間違いや入力操作ミス等に起因するポイント情報の誤入力を回避することができる結果、入力作業を正確に行うことができる。
As described above, in this
また、この基板検査装置1、データ作成装置2およびデータ作成方法によれば、各電気部品Eおよび各電気部品Eにそれぞれ対応する検査ポイントを一覧表Tとして表示し、選択操作が行われたときに選択操作によって選択された配線Wの情報(配線Wの符号)をポイント情報として一覧表T内に表示することにより、選択操作によって選択した配線Wの情報がポイント情報として入力されたか否か、およびその情報が所望の配線Wの情報であるか否かなどを一目で容易に確認することができる。
Moreover, according to this board |
また、この基板検査装置1、データ作成装置2およびデータ作成方法では、一覧表T内に表示されている各電気部品Eの1つが選択されたときに、選択された電気部品Eと、その電気部品Eに直接的に接続されている配線Wとその配線Wに直接的に接続されている他の電気部品Eとの配置を示す配置図Fを表示させる。このため、この基板検査装置1、データ作成装置2およびデータ作成方法では、選択した電気部品Eと配線Wを介して接続されている他の電気部品Eとの接続状態を一目で確認することができるため、選択した電気部品Eについての検査ポイントとして設定すべき配線Wを確実かつ容易に決定することができる。
Moreover, in this board |
なお、基板検査装置1(データ作成装置2)およびデータ作成方法は、上記の構成および方法に限定されない。例えば、図3〜7に示す一覧表Tおよび配置図Fの表示形態(例えば、一覧表T内に表示する項目や、配置図F内に図示する電気部品Eの数など)は一例であって、適宜変更することができる。また、上記の例では、一覧表Tおよび配置図Fを表示部12の一画面内に並べて同時に表示させているが、一覧表Tおよび配置図Fを切り替えて表示する構成および方法を採用することもできる。
The substrate inspection apparatus 1 (data creation apparatus 2) and the data creation method are not limited to the above configuration and method. For example, the display forms of the list T and the layout drawing F shown in FIGS. 3 to 7 (for example, items displayed in the list T, the number of electrical components E shown in the layout drawing F, etc.) are examples. Can be changed as appropriate. In the above example, the list T and the layout F are arranged in one screen of the
1 基板検査装置
2 データ作成装置
3 検査部
11 操作部
14 制御部
100 部品実装基板
B 回路基板
Dt 検査用データ
F 配置図
R1〜R8 抵抗器
S 検査用信号
T 一覧表
W1〜W7 配線
DESCRIPTION OF
Claims (5)
前記操作部は、前記配置図内に図示されている前記配線を選択する選択操作が可能に構成され、前記処理部は、前記選択操作によって選択された前記配線を示す情報を前記ポイント情報として前記検査用データを作成するデータ作成装置。 A processing unit for creating inspection data including point information indicating inspection points on the component mounting board for inputting and outputting electric signals in an electrical inspection performed on the component mounting board on which the electrical component is mounted on the circuit board And an operation unit capable of inputting the point information, and a display which is referred to when the point information is input and which displays a layout diagram showing the wiring of the circuit board and the arrangement of the electrical components on the display unit. A data creation device comprising a control unit,
The operation unit is configured to be able to perform a selection operation for selecting the wiring shown in the layout diagram, and the processing unit uses the information indicating the wiring selected by the selection operation as the point information. A data creation device that creates inspection data.
前記配置図内に図示されている前記配線を選択する選択操作によって選択された前記配線を示す情報を前記ポイント情報として前記検査用データを作成するデータ作成方法。 When inputting point information indicating an inspection point in the component mounting board for inputting and outputting an electric signal in an electrical inspection performed on the component mounting board on which the electric component is mounted on the circuit board, the circuit board A data creation method for displaying a layout diagram showing the layout of wiring and electrical parts on a display unit, and creating inspection data including the input point information,
A data creation method for creating the inspection data using the information indicating the wiring selected by the selection operation for selecting the wiring shown in the layout drawing as the point information.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011026624A JP5615197B2 (en) | 2011-02-10 | 2011-02-10 | Data creation device, board inspection device, and data creation method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012167934A true JP2012167934A (en) | 2012-09-06 |
JP5615197B2 JP5615197B2 (en) | 2014-10-29 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2011026624A Active JP5615197B2 (en) | 2011-02-10 | 2011-02-10 | Data creation device, board inspection device, and data creation method |
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Country | Link |
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JP (1) | JP5615197B2 (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014202665A (en) * | 2013-04-08 | 2014-10-27 | 日置電機株式会社 | Data processor |
JP2020165800A (en) * | 2019-03-29 | 2020-10-08 | 日置電機株式会社 | Information display device, measurement system, and information display program |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02227679A (en) * | 1989-02-28 | 1990-09-10 | Toshiba Corp | Inspection device for substrate |
JPH10232886A (en) * | 1997-02-18 | 1998-09-02 | Fujitsu Ltd | Circuit design supporting system |
JP2005108018A (en) * | 2003-09-30 | 2005-04-21 | Toshiba Corp | Information display system and method for displaying information |
JP2010277506A (en) * | 2009-06-01 | 2010-12-09 | Mitsubishi Electric Corp | Circuit diagram editing device and circuit diagram editing program |
-
2011
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02227679A (en) * | 1989-02-28 | 1990-09-10 | Toshiba Corp | Inspection device for substrate |
JPH10232886A (en) * | 1997-02-18 | 1998-09-02 | Fujitsu Ltd | Circuit design supporting system |
JP2005108018A (en) * | 2003-09-30 | 2005-04-21 | Toshiba Corp | Information display system and method for displaying information |
JP2010277506A (en) * | 2009-06-01 | 2010-12-09 | Mitsubishi Electric Corp | Circuit diagram editing device and circuit diagram editing program |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014202665A (en) * | 2013-04-08 | 2014-10-27 | 日置電機株式会社 | Data processor |
JP2020165800A (en) * | 2019-03-29 | 2020-10-08 | 日置電機株式会社 | Information display device, measurement system, and information display program |
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