JP2012161425A - 眼科装置 - Google Patents

Abstract

【課題】 水晶体から充分な強度の反射光を観察することができ、水晶体の位置を精度良く特定することができる眼科装置を提供する。
【解決手段】 本願の眼科装置は、光源１２と、光源からの光を被検眼の内部に照射すると共にその反射光を導く測定光学系（２４，２８，３４，３０，４０，４６，４８）と、光源からの光を参照面に照射すると共にその反射光を導く参照光学系（２４，２２）と、測定光学系により導かれた反射光と参照光学系により導かれた反射光とが合成された干渉光を受光する受光素子２６と、受光素子で受光される干渉光から、被検眼内部の測定対象部位の位置を特定する演算装置とを有している。そして、測定光学系は、被検眼に照射される光の被検眼への入射角を被検眼の視軸に対して所定の角度範囲で変更する入射角度変更手段４６を有している。
【選択図】 図１

Description

本願は、被検眼を検査する眼科装置に関する。

被検眼の内部（例えば、水晶体、網膜等）を検査するための眼科装置が開発されている。この種の眼科装置は、光源からの光を被検眼の内部に照射すると共にその反射光を導く測定光学系と、光源からの光を参照面に照射すると共にその反射光を導く参照光学系を備えている。そして、測定光学系により導かれた反射光と参照光学系により導かれた反射光とを合成した干渉光から、被検眼内部の測定対称部位（例えば、水晶体、網膜等）の位置を特定する。特許文献１，２には、この種の眼科装置の従来例が開示されている。

特開２００７−３７９８４号公報 特開２００７−３１３２０８号公報

従来の眼科装置では、被検眼を検査する際は、被検眼に照射される光の光軸が被検眼の視軸と一致するように調整している。しかしながら、水晶体の法線方向は被検眼の視軸からずれているのが一般的である。このため、被検眼に照射される光の光軸を被検眼の視軸と一致するように調整しても、水晶体には斜めに光が照射され、水晶体の表面で光の散乱が生じることとなる。このため、被検者によっては、水晶体から充分な強度の光が反射されず、水晶体の位置を精度よく特定できない場合があった。

本願は、上述した実情に鑑みてなされたものであり、その目的は、水晶体から充分な強度の反射光を観察することができ、水晶体の位置を精度良く特定することができる眼科装置を提供することである。

本明細書に開示する眼科装置は、光源と、光源からの光を被検眼の内部に照射すると共にその反射光を導く測定光学系と、光源からの光を参照面に照射すると共にその反射光を導く参照光学系と、測定光学系により導かれた反射光と参照光学系により導かれた反射光とが合成された干渉光を受光する受光素子と、受光素子で受光される干渉光から被検眼内部の測定対象部位の位置を特定する演算装置と、を有している。そして、測定光学系は、被検眼に照射される光の被検眼への入射角を被検眼の視軸に対して所定の角度範囲で変更する入射角度変更手段を有している。

この眼科装置では、入射角度変更手段によって、被検眼に照射される光の被検眼への入射角を被検眼の視軸に対して所定の角度範囲で変更することができる。このため、水晶体への光の入射角を水晶体の法線方向に略一致させることができ、水晶体から充分な強度の反射光が得ることができる。これによって、水晶体の位置を精度良く特定することができる。

上記の眼科装置では、入射角度変更手段は、被検眼を検査する際に、被検眼への入射角を所定の角度範囲で走査してもよく、また、受光素子は、各走査角における干渉光を受光してもよい。そして、演算装置は、各走査角における干渉光から、被検眼内部の測定対象部位の位置を特定することが好ましい。被検眼への入射角を所定の角度範囲で走査すると、いずれかの走査角では水晶体からの反射光が充分な強度を有することとなる。このため、演算装置は、水晶体の位置を精度良く特定することができる。

また、上記の眼科装置では、測定光学系は、光源からの光の焦点位置をその光軸方向に変化させる焦点調整機構をさらに有することができる。このような構成によると、光の焦点位置を角膜の前後面、水晶体の前後面及び網膜に一致させることができる。これにより、これらの部位から反射される反射光の強度が強くなり、これらの部位の位置を精度良く特定することができる。

なお、焦点調整機構は、光軸上に配置される凹レンズと、光軸上に配置されると共に凹レンズよりも被検眼側に配置される凸レンズと、凹レンズに対して凸レンズを光軸方向に移動させる移動手段によって構成することができる。

また、上記の眼科装置では、測定光学系が、光源から被検眼までの光路長を変更する光路長変更手段をさらに有していてもよい。このような構成によると、測定光学系の物体光路長と参照光学系の参照光路長とを一致させることができ、干渉光の強度が強くでき、測定精度を向上することができる。

また、上記の眼科装置では、入射角度変更手段は、測定光学系の光軸上に配置されたミラーとし、被検眼への光の入射角度及び入射位置を変更することができる。この場合に、そのミラーと被検眼との距離を調整する距離調整機構をさらに有することが好ましい。このような構成によると、ミラーと被検眼との距離を調整することで、水晶体への光の入射位置を調整することができる。これによって、白内障等によって水晶体に混濁部位があっても、その混濁部位を避けて光を照射することができる。

本実施例に係る眼科装置の光学系の概略構成図である。 本実施例に係る眼科装置の制御系のブロック図である。 ０点調整機構の機能を説明するための図である。 焦点調整機構の機能を説明するための図である。 ガルバノミラーの機能を説明するための図である。 測定光学系の光路長を所定の光路長範囲で走査したときに得られる干渉信号波形を処理する手順を説明するための図である。 被検眼への光の入射角を所定の角度範囲で走査し、各走査角度について得られる情報（図６に示される手順で得られる情報）から被検眼の各部位の位置を特定する手順を説明するための図である。 本実施例に係る眼科装置の処理手順の一例を示すフローチャートである。 被検眼に照射される光の入射角と入射位置を変更する機構の他の例を示す正面図である。 図９のＸ−Ｘ線断面図である。 図９のＸＩ−ＸＩ線断面図であり、シャフトが反時計回りに最大限回転した状態を示している。 図９のＸＩ−ＸＩ線断面図であり、シャフトが時計回りに最大限回転した状態を示している。 被検眼に照射される光の入射角と入射位置を変更する機構の他の例を示す正面図である。 図１３のＸＩＶ−ＸＩＶ線断面図であり、シャフトが時計回りに最大限回転した状態を示している。 図１３のＸＩＶ−ＸＩＶ線断面図であり、シャフトが反時計回りに最大限回転した状態を示している。

図１に示すように、本実施例の眼科装置は、被検眼１００を検査するための測定部１０を有している。測定部１０は、被検眼１００から反射される反射光と参照光とを干渉させる干渉光学系１４と、被検眼１００の前眼部を観察する観察光学系５０と、被検眼１００に対して測定部１０を所定の位置関係にアライメントするためのアライメント光学系（図示省略）を有している。アライメント光学系は、公知の眼科装置に用いられているものを用いることができるため、その詳細な説明は省略する。

干渉光学系１４は、光源１２と、光源１２からの光を被検眼の内部に照射すると共にその反射光を導く測定光学系と、光源１２からの光を参照面に照射すると共にその反射光を導く参照光学系と、測定光学系により導かれた反射光と参照光学系により導かれた参照光とを合成した干渉光を受光する受光素子２６によって構成されている。

光源１２は、波長掃引型の光源であり、出射される光の波長が所定の周期で変化するようになっている。光源１２から出射される光の波長が変化すると、出射される光の波長に対応して、被検眼１００の深さ方向の各部位から反射される光のうち参照光と干渉を生じる反射光の反射位置が被検眼の深さ方向に変化する。このため、出射される光の波長を変化させながら干渉光を測定することで、被検眼１００の内部の各部位（すなわち、水晶体１０４や網膜１０６）の位置を特定することが可能となる。

測定光学系は、ビームスプリッタ２４と、ミラー２８と、０点調整機構３０と、ミラー３４と、焦点調整機構４０と、入射角調整機構４６と、ホットミラー４８によって構成されている。光源１２から出射された光は、ビームスプリッタ２４、ミラー２８、０点調整機構３０、ミラー３４、焦点調整機構４０、ガルバノミラー４６、及びホットミラー４８を介して被検眼１００に照射される。被検眼１００からの反射光は、ホットミラー４８、ガルバノミラー４６、焦点調整機構４０、ミラー３４、０点調整機構３０、ミラー２８、及びビームスプリッタ２４を介して受光素子２６に導かれる。０点調整機構３０と焦点調整機構４０と入射角調整機構４６については、後で詳述する。

参照光学系は、ビームスプリッタ２４と参照ミラー２２によって構成されている。光源１２から出射された光の一部は、ビームスプリッタ２４で反射され、参照ミラー２２に照射され、参照ミラー２２によって反射される。参照ミラー２２で反射された光は、ビームスプリッタ２４を介して受光素子２６に導かれる。参照ミラー２２とビームスプリッタ２４と受光素子２６は、干渉計２０内に配置され、その位置が固定されている。このため、本実施例の眼科装置では、参照光学系の参照光路長は一定で変化しない。

受光素子２６は、参照光学系により導かれた光と測定光学系により導かれた光とを合成した干渉光を検出する。受光素子２６としては、例えば、フォトダイオードを用いることができる。

観察光学系５０は、被検眼１００にホットミラー４８を介して観察光を照射すると共に、被検眼１００から反射される反射光（すなわち、照射された観察光の反射光）を撮影する。ここで、ホットミラー４８は、干渉光学系の光源１２からの光を反射する一方で、観察光学系の光源からの光を透過する。このため、本実施例の眼科装置では、干渉光学系による測定と、観察光学系５０による前眼部の観察を同時に行うことができる。なお、観察光学系５０には、公知の眼科装置に用いられているものを用いることができるため、その詳細な構成については説明を省略する。

ここで、測定光学系に設けられる０点調整機構３０と焦点調整機構４０と入射角調整機構４６について説明する。０点調整機構３０は、コーナキューブ３２と、コーナキューブ３２をミラー２８，３４に対して進退動させる第２駆動装置５６（図２に図示）を備えている。第２駆動装置５６がコーナキューブ３２を図１の矢印Ａの方向に駆動することで、光源１２から被検眼１００までの光路長（すなわち、測定光学系の物体光路長）が変化する。図３に示すように、光源１２から被検眼１００の検出面（図３では角膜表面）までの物体光路長（詳細には、光源１２〜検出面＋検出面〜受光素子２６）と、光源１２から参照ミラー２２までの参照光路長（詳細には、光源１２〜参照ミラー２２＋参照ミラー２２〜受光素子２６）とに光路差Δｚが存在する場合、光路差Δｚが大きくなるほど、検出面から反射される反射光と参照光とを合成した干渉光の強度は弱くなる。逆に、光路差Δｚが小さいほど、干渉光の強度は強くなる。このため、本実施例では、０点調整機構３０により物体光路長を変化させることで、参照光路長と物体光路長とが一致する位置（いわゆる、０点）を角膜１０２の表面から網膜１０６の表面まで変化させることができる。

焦点調整機構４０は、光源１２側に配置される凸レンズ４２と、被検眼１００側に配置される凸レンズ４４と、凸レンズ４２に対して凸レンズ４４を光軸方向に進退動させる第３駆動装置５８（図２に図示）を備えている。凸レンズ４２と凸レンズ４４は、光軸上に配置され、入射する平行光の焦点の位置を変化させる。すなわち、第３駆動装置５８が凸レンズ４４を図１の矢印Ｂの方向に駆動することで、被検眼１００に照射される光の焦点の位置が被検眼１００の深さ方向に変化する。具体的には、凸レンズ４４から照射される光が平行光となるように凸レンズ４２と凸レンズ４４との間隔を調整した状態から、凸レンズ４４を凸レンズ４２から離れる方向に移動させると、凸レンズ４４から照射される光は収束光となり、凸レンズ４４を凸レンズ４２に近づく方向に移動させると、凸レンズ４４から照射される光は発散光となる。このため、凸レンズ４２と凸レンズ４４との間隔を調整することで、図４（ａ），（ｂ）に示すように、正常視の被検眼１００に対して、照射される光の焦点の位置を角膜１０２の表面から網膜１０６の表面まで変化させることができる。また、図４（ｃ）、（ｄ）に示す近視眼に対しても、照射される光の焦点の位置が網膜１０６の位置となるように調整することができる。このように、被検眼１００に照射される光の焦点の位置を被検眼１００の角膜１０２の表面や網膜１０６の表面に一致させることで、これらの面から反射される光の強度を強くでき、これらの面の位置を精度よく検出することができる。

入射角調整機構４６は、ガルバノミラー４６ａと、ガルバノミラー４６ａを駆動する第４駆動装置６０を備えている。ガルバノミラー４６ａは、光軸上に配置されており、光軸に対して所定の角度範囲（例えば、±１°）で傾動可能となっている。第４駆動装置６０がガルバノミラー４６ａを所定の角度範囲に振ることで、被検眼１００に照射される光の入射位置と入射角が変化する。すなわち、図５に示すように、ガルバノミラー４６ａの振り角θに応じて、角膜１０２への光の入射位置と入射角が変化し、それによって、水晶体１０４への光の入射位置と入射角が変化し、さらに、網膜への光の入射位置も変化する。このため、水晶体１０４の法線方向が視軸からずれていても、水晶体１０４に略垂直に光を照射することができる。これにより、水晶体１０４からの反射光の強度が強くなり、水晶体１０４の位置を精度よく検出することができる。また、白内障等によって水晶体１０４に白濁部位があっても、その白濁部位を避けて光を照射することができる。これにより、水晶体１０４を透過する光の強度が強くなり、網膜１０６の位置を精度よく検出することができる。

なお、本実施例の眼科装置では、被検眼１００に照射される光の入射位置が横方向（左右の目を繋ぐ方向）に変化するように、ガルバノミラー４６ａの傾動方向が設定されている。このため、光源１２からの光が瞼やまつ毛等によって被検眼１００に照射されないといった事態が発生することが防止される。

また、本実施例の眼科装置では、被検眼１００に対して測定部１０（詳細には、測定部１０のうち干渉計２０を除いた部分の光学系）の位置を調整するための位置調整機構１６（図２に図示）と、その位置調整機構１６を駆動する第１駆動装置５４（図２に図示）を備えている。図５より明らかなように、被検眼１００に対する測定部１０の位置を調整し、被検眼１００からガルバノミラー４６ａまでの距離Ｌが変化すると、それに応じて被検眼１００に照射される光の入射位置も変化する。したがって、被検眼１００からガルバノミラー４６ａまでの距離Ｌを調整することで、水晶体１０４の所望の範囲に光を入射させることができる。これによって、水晶体１０４の混濁部位等を適切に避けることができる。なお、被検眼１００に照射される光が瞳孔の範囲内で変化するように、被検眼１００からガルバノミラー４６ａまでの距離Ｌを調整することが好ましい。

次に、本実施例の眼科装置の制御系の構成を説明する。図２に示すように、眼科装置は演算装置６４によって制御される。演算装置６４は、ＣＰＵ，ＲＯＭ，ＲＡＭ等からなるマイクロコンピュータ（マイクロプロセッサ）によって構成されている。演算装置６４には、光源１２と、第１〜第４駆動装置５４〜６０と、モニタ６２と、観察光学系５０が接続されている。演算装置６４は、光源１２のオン／オフを制御し、第１〜第４駆動装置５４〜６０を制御することで各機構１６，３０，４０，４６を駆動し、また、観察光学系５０を制御して観察光学系５０で撮像される前眼部像をモニタ６２に表示する。また、演算装置６４には、受光素子２６が接続され、受光素子２６で検出される干渉光の強度に応じた干渉信号が入力する。演算装置６４は、受光素子２６からの干渉信号をフーリエ変換することによって、被検眼１００の各部位（角膜１０２の前後面、水晶体１０４の前後面、網膜１０６の表面）の位置を特定し、被検眼１００の眼軸長を算出する。なお、演算装置６４による被検眼１００の各部位の位置を特定する処理の詳細については後述する。

次に、本実施例の眼科装置を用いて眼軸長を測定する際の手順を説明する。図８に示すように、まず、検査者は図示しないジョイスティック等の操作部材を操作して、被検眼１００に対して測定部１０の位置合わせを行う（Ｓ１０）。すなわち、演算装置６４は、検査者の操作部材の操作に応じて、第１駆動装置５４により位置調整機構１６を駆動する。これによって、被検眼１００に対する測定部１０のｘｙ方向（縦横方向）の位置とｚ方向（進退動する方向）の位置が調整される。また、演算装置６４は、第２，第３駆動装置５６，５８を駆動して、０点調整機構３０及び焦点調整機構４０を調整する。これによって、光源１２から被検眼１００に照射される光の焦点の位置が被検眼１００の所定の位置（例えば、角膜１０２の前面）となり、また、物体光路長と参照光路長が一致する０点の位置が被検眼１００の所定の位置（例えば、角膜１０２の前面）となる。

次に、演算装置６４は、第４駆動装置６０を駆動して、ガルバノミラー４６ａを走査角範囲内の１の走査角に調整する（Ｓ１２）。これによって、光源１２からの光は、調整された走査角に対応した入射位置及び入射角度で被検眼１００に入射することとなる。

ガルバノミラー４６ａの調整が終わると、演算装置６４は、光源１２から照射される光の周波数を変化させながら、受光素子２６で検出される信号を取り込む（Ｓ１４）。既に説明したように、光源１２から照射される光の周波数を変化させると、測定光と参照光とが干渉して干渉波を生じる位置が被検眼１００の深さ方向に変化する。このため、受光素子２６から出力される干渉信号は、図６に示すように、信号強度が時間によって変化する信号となり、この信号には被検眼１００の各部（角膜１０２の前面及び後面、水晶体１０４の前面及び後面、網膜１０６の表面）から反射された各反射光と参照光とを合成した干渉波による信号となる。そこで、演算装置６４は、受光素子２６から入力する信号をフーリエ変換することで、その信号から被検眼１００の各部（角膜１０２の前面及び後面、水晶体１０４の前面及び後面、網膜１０６の表面）から反射された反射光による干渉信号成分を分離する。これにより、演算装置６４は、被検眼１００の各部の位置を特定することができる。なお、光源１２から照射される光の周波数を変化させることで、干渉波が生じる位置を被検眼１００の深さ方向に変化させることを、本明細書ではＡスキャンという。

次に、演算装置６４は、上述したステップＳ１４の測定を、全ての走査角（すなわち、全ての入射位置及び入射角）について実施したか否かを判断する（Ｓ１６）。全ての走査角についてステップＳ１４の測定を実施していない場合（ステップＳ１６でＮＯ）は、ステップＳ１２に戻って、ステップＳ１２からの処理が繰り返される。これによって、ガルバノミラー４６ａを走査する各走査角について、Ａスキャンにより得られる干渉信号が取得される。なお、ガルバノミラー４６ａの走査角（振り角θ）を変化させることで、光源１２からの光が入射する位置および入射角度を変化させることを、本明細書ではＢスキャンという。

全ての走査角についてステップＳ１４の測定を実施している場合（ステップＳ１６でＹＥＳ）は、演算装置６４は、各走査角について得られた干渉信号から、被検眼１００の各部位（すなわち、角膜１０２の前面及び後面、水晶体１０４の前面及び後面、網膜１０６の表面）の位置を特定する（Ｓ１８）。具体的には、各走査角についてステップＳ１４の処理を実行すると、各走査角について干渉信号の情報（Ａスキャン情報）が取得される。したがって、図７に示すように、各走査角の数（ｎ個）だけ干渉信号情報（Ａスキャン情報）が並んだ２次元情報が得られる。このため、演算装置６４は、各干渉信号情報に含まれる被検眼１００の各部位（すなわち、角膜１０２の前面及び後面、水晶体１０４の前面及び後面、網膜１０６の表面）の位置情報の平均値を算出することで、被検眼１００の各部位の位置を特定する。被検眼１００の各部位の位置が特定できると、演算装置６４は、被検眼１００の眼軸長を算出する。このように算出された被検眼１００の各部位の位置及び眼軸長は、モニタ６２に表示される。

上述の説明から明らかように、本実施例に係る眼科装置では、ガルバノミラー４６ａの振り角θを走査することで、被検眼１００への光の入射位置及び入射角度を所定の範囲で走査する。そして、ガルバノミラー４６ａの各走査角（振り角θ）について眼軸方向の干渉信号波形を取得し、これらの干渉信号波形から被検眼１００の各部位（すなわち、角膜１０２の前面及び後面、水晶体１０４の前面及び後面、網膜１０６の表面）の位置を特定する。したがって、水晶体１０４に様々な入射角度で光が入射されてＡスキャン情報が取得されるため、得られた測定結果の中には水晶体１０４からの反射光の強度が充分となるＡスキャン情報が含まれることとなる。したがって、水晶体１０４の位置を精度良く特定することができる。また、水晶体１０４に光が入射する位置が変化するため、白内障等で水晶体１０４に白濁部位があったとしても、得られた測定結果の中には白濁部位を避けて測定されたＡスキャン情報が含まれることとなる。したがって、白内障等で水晶体１０４に白濁部位があったとしても、被検眼１００の各部位の位置を精度良く特定することができる。

以上、本発明の実施例について詳細に説明したが、これは例示に過ぎず、特許請求の範囲を限定するものではない。特許請求の範囲に記載の技術には、以上に例示した具体例を様々に変形、変更したものが含まれる。

例えば、上述した実施例では、ガルバノミラー４６ａによって被検眼１００に照射される光の入射角度と入射位置を調整（変更）したが、被検眼１００に照射される光の入射角度のみを変更するものとしてもよい。このような構成によっても、水晶体１０４に種々の角度で光を入射できるため、水晶体１０４の位置を精度良く特定することができる。

また、上述した実施例では、被検眼１００に照射される光の入射角及び入射位置を変更するためにガルバノミラー４６ａを用いたが、それ以外の構成によって被検眼に照射される光の入射角と入射位置を変更するようにしてもよい。例えば、ミラーと、そのミラーを駆動する電磁石によって、被検眼に照射される光の入射角と入射位置を変更するようにしてもよい。図９〜１２に示す例では、ハウジング７０は、軸受８０ａ，８０ｂを介してシャフト７２の両端を回転可能に支持する。シャフト７２には、ミラー７４と複数の磁石７６ａ，７６ｂが取付けられている。磁石７６ａはシャフト７０の左側に配置され、磁石７６ｂはシャフト７０の右側に配置されている。各磁石７６ａ，７６ｂに対向する位置には、電磁石７８ａ，７８ｂが配置される。かかる構成において、シャフト７２の左側に配置された電磁石７８ａに流す電流と、シャフト７２の右側に配置された電磁石７８ｂに流す電流と、の比を変更すると、それによって左右の電磁石７８ａ，７８ｂから磁石７６ａ，７６ｂに作用する磁力が変化する。その結果、シャフト７２はハウジング７０に対して回転し、図１１に示す状態（シャフト７２の左側に配置された磁石７６ａが、シャフト７２の左側に配置された電磁石７８ａに吸引された状態）から図１２に示す状態（シャフト７２の右側に配置された磁石７６ｂが、シャフト７２の右側に配置された電磁石７８ｂに吸引された状態）まで変位する。したがって、左右の電磁石７８ａ，７８ｂに流れる電流比を制御することで、シャフト７２の回転角を制御することができる。シャフト７２の回転角が変化すると、シャフト７２に取付けられたミラー７４への光の入射角も変化する。このため、上記の構成によると、左右の電磁石７８ａ，７８ｂに流れる電流比を制御することで、被検眼に照射される光の入射角と入射位置を変更することができる。

また、電磁石によってミラーを駆動する構成を採る場合も、図９〜１２に示す構成には限られず、種々の構成を採ることができる。例えば、図１３〜１５に示す例では、シャフト８４が、ハウジング８２に対して回転可能に支持されている。シャフト８４にはミラー８６が取付けられる。シャフト８４の上端部には、コイルホルダ８８が取付けられている。コイルホルダ８８には、図示しないコイルが巻回されている。コイルホルダ８８の対向する２辺には、磁石部９０が配置されている（図１４，１５参照）。磁石部９０は、ハウジング８２の上面に設置されている。磁石部９０は、コイルホルダ８８を上下方向から挟む一対の磁石を備えている。この一対の磁石によって、コイルホルダ８８の上方から下方に向かう磁界が形成されている。また、コイルホルダ８８の外周面には磁石９２が取付けられ、ハウジング８２にも磁石９４が取付けられている。磁石９２と磁石９４は互いに対向するように配置され、磁石９２と磁石９４の間には斥力が作用するようになっている。かかる構成において、コイルホルダ８８に巻回されたコイルに電流を流していない状態では、磁石９２と磁石９４の斥力によってコイルホルダ８８に時計回りのモーメントが作用し、コイルホルダ８８は図１４に示す状態に付勢されている。一方、コイルホルダ８８に巻回されたコイルに電流を流すと、コイルホルダ８８に反時計回りのローレンツ力が作用する。その結果、ローレンツ力が磁石９２と磁石９４の斥力とが釣合う位置まで、コイルホルダ８８が反時計回りに回転する(例えば、図１５に示す状態)。したがって、コイルホルダ８８に巻回されたコイルに流れる電流量を制御することで、コイルホルダ８８に作用するローレンツ力を制御でき、コイルホルダ８８の回転角を制御することができる。コイルホルダ８８が回転すると、コイルホルダ８８と一体にシャフト８４も回転し、シャフト８４に取付けられたミラー８６への光の入射角が変化する。これによって、被検眼に照射される光の入射角と入射位置を変更することができる。このため、上記の構成によっても、被検眼に照射される光の入射角と入射位置を変更することができる。

また、上述した実施例では、被検眼１００に照射される光の焦点の位置及び０点の位置を被検眼１００の所定の位置となるように調整し、その位置で光源１２から照射される光の周波数を変化させたが、被検眼１００の各部位の位置を特定する手順としては種々の方法を採ることができる。例えば、被検眼１００に照射される光の焦点の位置及び０点の位置を被検眼１００の角膜１０２の前面の位置に合わせ、その位置で光源１２から照射される光の周波数を変化させ、角膜１０２の前面と後面の位置のみに関する干渉光信号を取得する。次いで、被検眼１００に照射される光の焦点の位置及び０点の位置を被検眼１００の水晶体１０４の前面の位置に合わせ、その位置で光源１２から照射される光の周波数を変化させ、水晶体１０４の前面と後面の位置のみに関する干渉光信号を取得する。最後に、被検眼１００に照射される光の焦点の位置及び０点の位置を被検眼１００の網膜１０６の表面の位置に合わせ、その位置で光源１２から照射される光の周波数を変化させ、網膜１０６の表面の位置のみに関する干渉光信号を取得する。このように、被検眼１００の各部位に焦点の位置及び０点の位置を合せて複数回の測定を行うことで、各部位からの反射光による干渉光の強度が強くなり、各部位の位置を精度良く特定することができる。

また、上述した実施例では、Ａスキャン及びＢスキャンをすることにより得られた二次元情報を単純に平均することで、被検眼１００の各部位の位置を特定したが、このような方法に限られない。例えば、網膜１０６とその他の部位（角膜１０２、水晶体１０４）を特定する場合とで、その方法を変更してもよい。すなわち、網膜１０６からの反射光による干渉信号は、Ｂスキャンによる依存性が小さい。網膜１０６では入射した光が拡散反射するため、入射角による依存性は小さいためである。そこで、網膜１０６の位置を特定する際は、全ての走査角について得られた位置情報を加算して平均を取ることで、網膜１０６の位置を特定する。全ての走査角について得られた位置情報を加算することで、ノイズが除去され、Ｓ／Ｎ比を向上することができる。一方、角膜１０２や水晶体１０４からの反射光による干渉信号は、Ｂスキャンによる依存性が大きい。角膜１０２や水晶体１０４では、入射した光が鏡面反射するためである。そこで、角膜１０２や水晶体１０４の位置を特定する際は、干渉信号の強度が強くなる角度範囲について得られた位置情報のみを加算して平均値を取ることで、角膜１０２や水晶体１０４の位置を特定する。これによって、Ｂスキャンの影響を低減し、角膜１０２と水晶体１０４の位置を精度良く特定することができる。

また、上述した実施例では、検査者が操作部材を操作することで測定部１０の位置を調整したが、眼科装置が被検眼１００に対して測定部１０の位置を自動調整する機構を有していてもよい。さらに、上述した実施例は、フーリエドメイン方式の干渉計を利用した例であったが、タイムドーメイン方式の干渉計を利用してもよい。

また、上述した実施例で示した光学系の構成は一例であり、種々の態様を採り得る。例えば、上述した実施例では、焦点調整機構４０を２枚の凸レンズ４２，４４によって構成したが、焦点調整機構は、光源側に配置した凸レンズと、被検眼側に配置した凹レンズによって構成することもできる。この場合も、上述した実施例と同様に、凹レンズから被検眼に照射される光が平行光となるように凸レンズと凹レンズとの間隔を調整した状態から、凹レンズを凸レンズから離れる方向に移動させると、凹レンズから被検眼に照射される光は収束光となり、凹レンズを凸レンズに近づく方向に移動させると、凹レンズから被検眼に照射される光は発散光となる。

本明細書または図面に説明した技術要素は、単独であるいは各種の組み合わせによって技術的有用性を発揮するものであり、出願時請求項記載の組み合わせに限定されるものではない。また、本明細書または図面に例示した技術は複数目的を同時に達成するものであり、そのうちの一つの目的を達成すること自体で技術的有用性を持つものである。

１０・・測定部
１２・・光源
１４・・干渉光学系
２０・・干渉計
２２・・参照ミラー
２４・・ビームスプリッタ
２６・・受光素子
２８，３４・・ミラー
３０・・０点調整機構
３２・・コーナキューブ
４０・・焦点調整機構
４２・・凹レンズ
４４・・凸レンズ
４６・・入射角調整機構
４６ａ・・ガルバノミラー
４８・・ホットミラー
５０・・観察光学系
５４・・第１駆動装置
５６・・第２駆動装置
５８・・第３駆動装置
６０・・第４駆動装置
６２・・モニタ
６４・・演算装置

Claims (6)

1. 光源と、
   光源からの光を被検眼の内部に照射すると共にその反射光を導く測定光学系と、
   光源からの光を参照面に照射すると共にその反射光を導く参照光学系と、
   測定光学系により導かれた反射光と参照光学系により導かれた反射光とが合成された干渉光を受光する受光素子と、
   受光素子で受光される干渉光から、被検眼内部の測定対象部位の位置を特定する演算装置と、を有しており、
   測定光学系は、被検眼に照射される光の被検眼への入射角を被検眼の視軸に対して所定の角度範囲で変更する入射角度変更手段を有している、眼科装置。
2. 入射角度変更手段は、被検眼を検査する際に、被検眼への入射角を所定の角度範囲で走査し、
   受光素子は、各走査角における干渉光を受光し、
   演算装置は、各走査角における干渉光から、被検眼内部の測定対象部位の位置を特定する、請求項１に記載の眼科装置。
3. 測定光学系は、光源からの光の焦点位置をその光軸方向に変化させる焦点調整機構をさらに有している、請求項１又は２に記載の眼科装置。
4. 焦点調整機構は、光軸上に配置される凹レンズと、光軸上に配置されると共に凹レンズよりも被検眼側に配置される凸レンズと、凹レンズに対して凸レンズを光軸方向に移動させる移動手段と、を有している、請求項３に記載の眼科装置。
5. 測定光学系は、光源から被検眼までの光路長を変更する光路長変更手段をさらに有している、請求項１〜４のいずれか一項に記載の眼科装置。
6. 入射角度変更手段は、測定光学系の光軸上に配置されたミラーであり、被検眼への光の入射角度及び入射位置を変更し、
   眼科装置は、そのミラーと被検眼との距離を調整する距離調整機構をさらに有する、請求項１〜５のいずれか一項に記載の眼科装置。

Images