JP2012132919A - 測定システムおよびこのようなシステムを備えるイメージセンサ - Google Patents
測定システムおよびこのようなシステムを備えるイメージセンサ Download PDFInfo
- Publication number
- JP2012132919A JP2012132919A JP2011280297A JP2011280297A JP2012132919A JP 2012132919 A JP2012132919 A JP 2012132919A JP 2011280297 A JP2011280297 A JP 2011280297A JP 2011280297 A JP2011280297 A JP 2011280297A JP 2012132919 A JP2012132919 A JP 2012132919A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measurement
- transistor
- mirror configuration
- branch
- measuring
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims abstract description 111
- 101100097991 Schizosaccharomyces pombe (strain 972 / ATCC 24843) rar1 gene Proteins 0.000 claims description 7
- 101100512897 Caenorhabditis elegans mes-2 gene Proteins 0.000 claims description 5
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 6
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 230000001186 cumulative effect Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 230000003503 early effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000003331 infrared imaging Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 230000003362 replicative effect Effects 0.000 description 1
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/10—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors
- G01J5/20—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors using resistors, thermistors or semiconductors sensitive to radiation, e.g. photoconductive devices
- G01J5/22—Electrical features thereof
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Abstract
【解決手段】リファレンス抵抗性センサ(202)と、リファレンス抵抗(218)を備え、リファレンス電流(iref)が流れて両端部間にリファレンス電圧を発生させるリファレンス分岐線(216)と、少なくとも1つの測定抵抗性センサ(222)と、測定電流(imes1、imes2)とミラー構成の測定分岐線(236*、236)を流れる電流(i’ref)との間の電流差を測定する手段(246、248、250)とを有する。各測定抵抗性センサ(222)のミラー構成の測定分岐線の抵抗(238*、238)はリファレンス抵抗と等しく、測定システムはさらに、ミラー構成の測定分岐線のそれぞれにリファレンス電圧を印加する手段(240、236*、238*、242*、242、M)とを有し、リファレンス電圧が印加される際にミラー構成の測定分岐線からの電流を絶縁する。
【選択図】図3
Description
− リファレンスボロメータ2などの抵抗性センサと、
− リファレンスボロメータにリファレンス電流が流れるように、このリファレンスボロメータ2に電圧を印加する電圧印加手段4、6と、
− リファレンス抵抗10を備え、リファレンス電流が流れて両端間にリファレンス電圧が発生するように接続するリファレンス分岐線8と、
− 測定ボロメータ12などの少なくとも1つの抵抗性センサとを有する赤外線イメージセンサであって、各測定ボロメータ12に対して、
− 測定ボロメータが赤外線に曝露される度合いに左右される測定電流がこの測定ボロメータを流れるように、測定ボロメータに電圧を印加する電圧印加手段4、16と、
− 抵抗20を備え、リファレンス電流と等しい電流が流れるようになっているミラー構成の測定分岐線18と、
− 測定電流とミラー構成の測定分岐線18を流れる電流との電流差を測定する測定手段22と
を有する赤外線イメージセンサを使用することが知られている。
− リファレンス抵抗性センサと、
− リファレンス抵抗性センサにリファレンス電流が流れるように、このリファレンス抵抗性センサへ電圧を印加する電圧印加手段と、
− リファレンス抵抗を備え、リファレンス電流が流れるようにリファレンス抵抗性センサに接続するリファレンス分岐線と、
− 少なくとも1つの測定抵抗性センサと
を有する測定システムであって、
各測定抵抗性センサに対して、
− 測定ボロメータが赤外線に曝露される度合いに左右される測定電流が測定抵抗性センサに流れるように、測定抵抗性センサ電圧を印加する電圧印加手段と、
− 抵抗を備え、リファレンス電流と等しい電流が流れるようになっているミラー構成の測定分岐線と、
− グリッドおよびミラー構成の測定分岐線の一方の端部に接続しているソースを備える測定トランジスタと、
− 測定電流とミラー構成の測定分岐線を流れる電流との間の電流差を測定する手段と
を有し、
測定システムが、
− 抵抗を有するミラー構成のリファレンス分岐線と、
− グリッド、ドレインおよびミラー構成のリファレンス分岐線の一方の端部に接続しているソースを備えるリファレンストランジスタと、
− リファレンス分岐線の一方の端部に接続している正入力、リファレンストランジスタのソースに接続している負入力、およびリファレンストランジスタのグリッドに接続している出力とを備えるオペアンプと
を備え、
各測定トランジスタのグリッドはオペアンプの出力に接続している、
測定システムを目的とする。
− ミラー構成のリファレンス分岐線はミラー構成の測定分岐線の一方であり、
− リファレンストランジスタは、ミラー構成のリファレンス分岐線に接続する測定トランジスタである。
− ミラー構成のリファレンス分岐線はミラー構成の測定分岐線とは異なり、
− リファレンストランジスタは測定トランジスタとは異なる。
− リファレンス抵抗性センサへの電圧印加手段は、リファレンス抵抗性センサの端子およびドレインに接続するソースを備える第1のトランジスタを有し、
− 測定システムはさらに、固定電位を持つ第1のトランジスタのドレインへのバイアス印加手段を有する。
− グリッド、ドレインおよび第1のトランジスタのドレインに接続するソースを備える第2のトランジスタと、
− 固定電位を受けるようになっている正入力、第2のトランジスタのソースに接続している負入力、および第2のトランジスタのグリッドに接続している出力を備えるオペアンプと
を有する。
Claims (10)
- − リファレンス抵抗性センサ(202)と、
− 前記リファレンス抵抗性センサ(202)にリファレンス電流(iref)が流れるように、前記リファレンス抵抗性センサに電圧を印加する電圧印加手段(204、206)と、
− リファレンス抵抗(218)を備え、リファレンス電流(iref)が流れるように前記リファレンス抵抗性センサ(202)に接続するリファレンス分岐線(216)と、
− 少なくとも1つの抵抗性センサ(222)と
を有する測定システムであって、
各測定抵抗性センサ(222)に対して、
− 前記測定抵抗性センサ(222)が実行する測定に左右される測定電流(imes1、imes2;imes1)が前記測定抵抗性センサを流れるように、前記測定抵抗性センサ(222)に電圧を印加する電圧印加手段(204、226)と、
− 抵抗(238*、238;238)を備え、前記リファレンス電流(iref)と等しい電流(i’ref)が流れるようになっているミラー構成の測定分岐線(236*、236;236)と、
− グリッドおよび前記ミラー構成の測定分岐線(236*、236;236)の一方の端部に接続しているソースを備える測定トランジスタ(242*、242;242)と、
− 前記測定電流(imes1、imes2;imes1)と前記ミラー構成の測定分岐線(236*、236;236)を流れる前記電流(i’ref)との間の電流差を測定する手段(246、248、250)と
を有する測定システムにおいて、
前記測定システムは、
− 抵抗(238*)を有するミラー構成のリファレンス分岐線(236*)と、
− グリッド、ドレインおよびミラー構成のリファレンス分岐線(236*)の一方の端部に接続しているソースを備えるリファレンストランジスタ(242*)と、
− 前記リファレンス分岐線(216)の一方の端部に接続している正入力、前記リファレンストランジスタ(242*)のソースに接続している負入力、および前記リファレンストランジスタ(242*)のグリッドに接続している出力とを備えるオペアンプ(240)と
を備えていることと、
各測定トランジスタ(242*、242;242)の前記グリッドは前記オペアンプ(240)の前記出力に接続していること
とを特徴とする測定システム。 - 前記測定システムはさらに、前記リファレンス分岐線(216)および前記ミラー構成のリファレンス分岐線(236*)のもう一方の端部に接続する電気アース(M)を有する、請求項1に記載の測定システム。
- 前記測定システムはさらに、前記ミラー構成の測定分岐線(236*、236;236)のそれぞれに対し、前記ミラー構成の測定分岐線(236*、236;236)のもう一方の端部に接続する電気アース(M)を有する、請求項1または2に記載の測定システム。
- − 前記ミラー構成のリファレンス分岐線(236*)は前記ミラー構成の測定分岐線(236*、236)の一方であり、
− 前記リファレンストランジスタ(242*)は、前記ミラー構成のリファレンス分岐線(236*)に接続する前記測定トランジスタである、
請求項1から3のいずれか一項に記載の測定システム。 - − 前記ミラー構成のリファレンス分岐線(236*)は前記ミラー構成の測定分岐線(236)とは異なり、
− 前記リファレンストランジスタ(242*)は前記測定トランジスタ(242)とは異なる、
請求項1から3のいずれか一項に記載の測定システム。 - − 前記リファレンス抵抗性センサ(202)への前記電圧印加手段(204、206)は、前記リファレンス抵抗性センサ(202)の端子およびドレインに接続するソースを備える第1のトランジスタ(206)を有し、
− 前記測定システムはさらに、固定電位(Vin)を持つ前記第1のトランジスタ(206)のドレインへのバイアス印加手段(210、212)を有する、
請求項1から5のいずれか一項に記載の測定システム。 - 前記第1のトランジスタ(206)のドレインへの前記バイアス印加手段(210、212)は、
− グリッド、ドレインおよび前記第1のトランジスタ(206)のドレインに接続するソースを備える第2のトランジスタ(212)と、
− 固定電位(Vin)を受けるようになっている正入力、前記第2のトランジスタ(212)のソースに接続している負入力、および前記第2のトランジスタ(212)のグリッドに接続している出力を備えるオペアンプ(210)と
を有する、
請求項6に記載の測定システム。 - 各測定抵抗性センサ(222)の前記ミラー構成の測定分岐線(236*、236;236)の前記抵抗(238*、238;238)の値は、前記リファレンス抵抗(218)の値と等しい、請求項1から7のいずれか一項に記載の測定システム。
- 前記ミラー構成のリファレンス分岐線(236*)の前記抵抗(238*)の値は、前記リファレンス抵抗(218)の値と等しい、請求項1から8のいずれか一項に記載の測定システム。
- 前記抵抗性センサはボロメータである、請求項1から9のいずれか一項に記載の測定システムを有するイメージセンサ。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR1061041 | 2010-12-22 | ||
FR1061041A FR2969763B1 (fr) | 2010-12-22 | 2010-12-22 | Systeme de mesure et imageur comportant un tel systeme |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012132919A true JP2012132919A (ja) | 2012-07-12 |
JP6153017B2 JP6153017B2 (ja) | 2017-06-28 |
Family
ID=44352157
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011280297A Expired - Fee Related JP6153017B2 (ja) | 2010-12-22 | 2011-12-21 | 測定システムおよび前記測定システムを有するイメージセンサ |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8785854B2 (ja) |
EP (1) | EP2469254A1 (ja) |
JP (1) | JP6153017B2 (ja) |
FR (1) | FR2969763B1 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2018179646A1 (ja) * | 2017-03-29 | 2018-10-04 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 遠赤外線撮像装置 |
JP2021522475A (ja) * | 2018-04-17 | 2021-08-30 | オブシディアン センサーズ インコーポレイテッド | 読み出し回路および方法 |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57193109A (en) * | 1981-05-22 | 1982-11-27 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Current amplifying circuit |
JPH10505989A (ja) * | 1995-03-01 | 1998-06-09 | ラティス セミコンダクタ コーポレイション | 低歪差動トランスコンダクタ出力カレントミラー |
JPH10318843A (ja) * | 1997-05-22 | 1998-12-04 | Mitsubishi Electric Corp | 赤外線検出器及び赤外線アレイ |
US20030160171A1 (en) * | 2002-02-27 | 2003-08-28 | Parrish William J. | Microbolometer focal plane array methods and circuitry |
JP2006254118A (ja) * | 2005-03-10 | 2006-09-21 | Handotai Rikougaku Kenkyu Center:Kk | 電流ミラー回路 |
JP2009145336A (ja) * | 2007-12-12 | 2009-07-02 | Ulis | 抵抗型イメージングボロメータを含む電磁放射を検出するための装置、そのような装置の行列を含むシステム、及びそのようなシステムのイメージングボロメータを読み出すための方法 |
US20100181485A1 (en) * | 2009-01-19 | 2010-07-22 | Ulis | Device for the detection of an electromagnetic radiation and electromagnetic radiation detector comprising such devices |
JP2010199702A (ja) * | 2009-02-23 | 2010-09-09 | Mitsubishi Electric Corp | 熱型赤外線検出素子 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7034301B2 (en) | 2002-02-27 | 2006-04-25 | Indigo Systems Corporation | Microbolometer focal plane array systems and methods |
US7088160B2 (en) * | 2004-04-08 | 2006-08-08 | Infineon Technologies Ag | Circuit arrangement for regulating a parameter of an electrical signal |
US7522368B2 (en) * | 2006-04-10 | 2009-04-21 | Texas Instruments Incorporated | Differential voice coil motor control |
FR2918449B1 (fr) * | 2007-07-02 | 2010-05-21 | Ulis | Dispositif de detection de rayonnement infrarouge a detecteurs bolometriques |
FR2918450B1 (fr) * | 2007-07-02 | 2010-05-21 | Ulis | Dispositif de detection de rayonnement infrarouge a detecteurs bolometriques |
US8039797B2 (en) * | 2008-11-13 | 2011-10-18 | Han Vision Co., Ltd. | Semiconductor for sensing infrared radiation and method thereof |
-
2010
- 2010-12-22 FR FR1061041A patent/FR2969763B1/fr not_active Expired - Fee Related
-
2011
- 2011-12-13 EP EP11306646A patent/EP2469254A1/fr not_active Withdrawn
- 2011-12-14 US US13/325,498 patent/US8785854B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2011-12-21 JP JP2011280297A patent/JP6153017B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57193109A (en) * | 1981-05-22 | 1982-11-27 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Current amplifying circuit |
JPH10505989A (ja) * | 1995-03-01 | 1998-06-09 | ラティス セミコンダクタ コーポレイション | 低歪差動トランスコンダクタ出力カレントミラー |
JPH10318843A (ja) * | 1997-05-22 | 1998-12-04 | Mitsubishi Electric Corp | 赤外線検出器及び赤外線アレイ |
US20030160171A1 (en) * | 2002-02-27 | 2003-08-28 | Parrish William J. | Microbolometer focal plane array methods and circuitry |
JP2005519266A (ja) * | 2002-02-27 | 2005-06-30 | インディゴ・システムズ・コーポレーション | マイクロボロメータ焦点面アレイ方法及び回路 |
JP2006254118A (ja) * | 2005-03-10 | 2006-09-21 | Handotai Rikougaku Kenkyu Center:Kk | 電流ミラー回路 |
JP2009145336A (ja) * | 2007-12-12 | 2009-07-02 | Ulis | 抵抗型イメージングボロメータを含む電磁放射を検出するための装置、そのような装置の行列を含むシステム、及びそのようなシステムのイメージングボロメータを読み出すための方法 |
US20100181485A1 (en) * | 2009-01-19 | 2010-07-22 | Ulis | Device for the detection of an electromagnetic radiation and electromagnetic radiation detector comprising such devices |
JP2010199702A (ja) * | 2009-02-23 | 2010-09-09 | Mitsubishi Electric Corp | 熱型赤外線検出素子 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2018179646A1 (ja) * | 2017-03-29 | 2018-10-04 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 遠赤外線撮像装置 |
JP2021522475A (ja) * | 2018-04-17 | 2021-08-30 | オブシディアン センサーズ インコーポレイテッド | 読み出し回路および方法 |
JP7289851B2 (ja) | 2018-04-17 | 2023-06-12 | オブシディアン センサーズ インコーポレイテッド | 読み出し回路および方法 |
JP7488943B2 (ja) | 2018-04-17 | 2024-05-22 | オブシディアン センサーズ インコーポレイテッド | 読み出し回路および方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20120168624A1 (en) | 2012-07-05 |
FR2969763B1 (fr) | 2013-02-15 |
EP2469254A1 (fr) | 2012-06-27 |
FR2969763A1 (fr) | 2012-06-29 |
US8785854B2 (en) | 2014-07-22 |
JP6153017B2 (ja) | 2017-06-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8080793B2 (en) | Device for detecting infrared radiation comprising a resistive imaging bolometer, a system comprising an array of such bolometers and a method for reading an imaging bolometer integrated into such a system | |
US8987668B2 (en) | Bolometric detector with a temperature-adaptive biasing | |
JP5845301B2 (ja) | 抵抗型イメージングボロメータを具備した赤外線放射検出用デバイス及びそのようなボロメータのアレイを具備したシステム | |
US7082045B2 (en) | Offset compensated sensing for magnetic random access memory | |
JP5773986B2 (ja) | 赤外放射を検出するためのシステム及び方法 | |
US7700919B2 (en) | Device for detecting electromagnetic radiation, especially infrared radiation | |
US20110068272A1 (en) | Device and method for detecting infrared radiation through a resistive bolometer matrix | |
IL224627A (en) | A method for repairing the drift of infrared radiation detectors comprising an array of electromagnetic radiation intensity meters of resistive imaging and implementing a method as aforesaid | |
US9581500B2 (en) | Diagnosis of the defective state of a bolometric detection array | |
JP2008022457A (ja) | 半導体装置 | |
CN111555721A (zh) | 放大接口以及用于校正放大接口的对应测量系统和方法 | |
JP2000114467A (ja) | 半導体装置 | |
US6683310B2 (en) | Readout technique for microbolometer array | |
JP6153017B2 (ja) | 測定システムおよび前記測定システムを有するイメージセンサ | |
US9562936B2 (en) | Infrared detection device and method | |
CN111656681A (zh) | 用于对电流进行积分的高动态装置 | |
US9791322B2 (en) | Measurement circuit for bolometric detector | |
EP3782004A1 (en) | Bias generation and distribution for a large array of sensors | |
US11393810B2 (en) | Array apparatus and associated methods | |
CN111829670A (zh) | 一种非制冷红外焦平面阵列读出电路 | |
CN115357086A (zh) | 带隙基准电路及其操作方法、电子装置 | |
US10897234B2 (en) | Fully differential operational amplifier common mode current sensing feedback | |
US20090167912A1 (en) | Read circuit, variable resistive element device, and imaging device | |
US8785872B1 (en) | Imaging method and system | |
JP2010283514A (ja) | 赤外線撮像装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20141125 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150220 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20150729 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20150818 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20151116 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20151214 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20160115 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20160112 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20160210 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20160204 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20160311 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20160614 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20160914 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20161111 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20161216 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20170425 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20170519 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6153017 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |