JP2012118364A - 共焦点顕微鏡 - Google Patents
共焦点顕微鏡 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2012118364A JP2012118364A JP2010268974A JP2010268974A JP2012118364A JP 2012118364 A JP2012118364 A JP 2012118364A JP 2010268974 A JP2010268974 A JP 2010268974A JP 2010268974 A JP2010268974 A JP 2010268974A JP 2012118364 A JP2012118364 A JP 2012118364A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- light shielding
- shielding member
- slit
- scanning mirror
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Landscapes
- Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Abstract
【課題】光毒性の問題を解消しながら試料の明るい観察像を取得可能な共焦点顕微鏡を提供する。
【解決手段】光源からの照明光を制限する第1遮光部材10と、第1遮光部材10で制限された照明光を走査する走査ミラー12と、走査ミラー12で走査された照明光を試料2に集光する対物レンズ4と、試料2からの観察光を制限する第2遮光部材20と、第2遮光部材20で制限された観察光を検出する検出器28a,28bとを有しており、第1遮光部材10は複数のスリットが並んで形成された遮光部材であり、第2遮光部材20は第1遮光部材10の複数のスリットに対応する複数のスリットが並んで形成された遮光部材であることを特徴とする。
【選択図】図2
【解決手段】光源からの照明光を制限する第1遮光部材10と、第1遮光部材10で制限された照明光を走査する走査ミラー12と、走査ミラー12で走査された照明光を試料2に集光する対物レンズ4と、試料2からの観察光を制限する第2遮光部材20と、第2遮光部材20で制限された観察光を検出する検出器28a,28bとを有しており、第1遮光部材10は複数のスリットが並んで形成された遮光部材であり、第2遮光部材20は第1遮光部材10の複数のスリットに対応する複数のスリットが並んで形成された遮光部材であることを特徴とする。
【選択図】図2
Description
本発明は、共焦点顕微鏡に関する。
従来、試料面に照射したライン状の光を走査して観察を行う共焦点顕微鏡が知られている(例えば、特許文献1を参照。)。
しかしながら、上述のような従来の共焦点顕微鏡は、試料面に対して1本のライン状の光を照射して走査するため、このライン状の光が試料面に照射されている時間は非常に短く、試料の観察像が暗くなってしまう。このため、適切な明るさの観察像を取得するためには、ライン状の光を比較的高い強度で照射することが必要になり、この高い強度の光が試料に悪影響を及ぼしてしまう所謂光毒性の問題があった。
そこで本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであり、光毒性の問題を解消しながら試料の明るい観察像を取得可能な共焦点顕微鏡を提供することを目的とする。
そこで本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであり、光毒性の問題を解消しながら試料の明るい観察像を取得可能な共焦点顕微鏡を提供することを目的とする。
上記課題を解決するために本発明は、
光源からの照明光を制限する第1遮光部材と、
前記第1遮光部材で制限された照明光を走査する走査ミラーと、
前記走査ミラーで走査された照明光を試料に集光する対物レンズと、
前記試料からの観察光を制限する第2遮光部材と、
前記第2遮光部材で制限された観察光を検出する検出器とを有しており、
前記第1遮光部材は、複数のスリットが並んで形成された遮光部材であり、
前記第2遮光部材は、前記第1遮光部材の複数のスリットに対応する複数のスリットが並んで形成された遮光部材であることを特徴とする共焦点顕微鏡を提供する。
光源からの照明光を制限する第1遮光部材と、
前記第1遮光部材で制限された照明光を走査する走査ミラーと、
前記走査ミラーで走査された照明光を試料に集光する対物レンズと、
前記試料からの観察光を制限する第2遮光部材と、
前記第2遮光部材で制限された観察光を検出する検出器とを有しており、
前記第1遮光部材は、複数のスリットが並んで形成された遮光部材であり、
前記第2遮光部材は、前記第1遮光部材の複数のスリットに対応する複数のスリットが並んで形成された遮光部材であることを特徴とする共焦点顕微鏡を提供する。
本発明によれば、光毒性の問題を解消しながら試料の明るい観察像を取得可能な共焦点顕微鏡を提供することができる。
以下、本発明の実施形態に係る共焦点顕微鏡を添付図面に基づいて説明する。
はじめに、本実施形態に係る共焦点顕微鏡の全体的な構成を説明する。
図1に示すように共焦点顕微鏡1は、試料2を載置するステージ3、対物レンズ4、及び顕微鏡本体5を有している。顕微鏡本体5の側面には、照明光を供給する光源6が備えられており、共焦点顕微鏡1の各部を制御するコンピュータ(PC)7が接続されている。
はじめに、本実施形態に係る共焦点顕微鏡の全体的な構成を説明する。
図1に示すように共焦点顕微鏡1は、試料2を載置するステージ3、対物レンズ4、及び顕微鏡本体5を有している。顕微鏡本体5の側面には、照明光を供給する光源6が備えられており、共焦点顕微鏡1の各部を制御するコンピュータ(PC)7が接続されている。
図2(a)に示すように顕微鏡本体5内の光路100上には、光源6側から順に励起フィルタホイール8、照明側スリット部9、及び第1ダイクロイックミラー11が備えられている。
第1ダイクロイックミラー11の反射光路101上には走査ミラー12が備えられており、さらに走査ミラー12の表側反射面の反射光路102上にはレンズ13、反射ミラー14、及び対物レンズ4が順に備えられている。また、走査ミラー12から見て第1ダイクロイックミラー11の透過光路103上には、レンズ16、反射ミラー17、観察側スリット部19、反射ミラー21、レンズ22、及び反射ミラー23が順に備えられている。
反射ミラー23から見て走査ミラー12の裏側反射面の反射光路104上には、蛍光フィルタホイール24、ズームレンズ25、及び第2ダイクロイックミラー26が順に備えられている。そして、第2ダイクロイックミラー26の透過光路105上には集光レンズ27aと検出器28aが順に備えられており、反射光路106上には集光レンズ27bと検出器28bが順に備えられている。
第1ダイクロイックミラー11の反射光路101上には走査ミラー12が備えられており、さらに走査ミラー12の表側反射面の反射光路102上にはレンズ13、反射ミラー14、及び対物レンズ4が順に備えられている。また、走査ミラー12から見て第1ダイクロイックミラー11の透過光路103上には、レンズ16、反射ミラー17、観察側スリット部19、反射ミラー21、レンズ22、及び反射ミラー23が順に備えられている。
反射ミラー23から見て走査ミラー12の裏側反射面の反射光路104上には、蛍光フィルタホイール24、ズームレンズ25、及び第2ダイクロイックミラー26が順に備えられている。そして、第2ダイクロイックミラー26の透過光路105上には集光レンズ27aと検出器28aが順に備えられており、反射光路106上には集光レンズ27bと検出器28bが順に備えられている。
励起フィルタホイール8は、波長透過特性の異なる複数の励起フィルタを回転切り替え可能に保持するものであり、これにより光源6から発せられた照明光のうち、所望の波長の照明光を試料2に対して選択的に照射することができる。
蛍光フィルタホイール24は、励起フィルタホイール8と同様に波長透過特性の異なる複数の蛍光フィルタを回転切り替え可能に保持するものであり、これにより試料2で生じた蛍光のうち、所望の波長の蛍光を選択的に観察することができる。
検出器28a,28bには、CCDカメラが用いられており、CMOSカメラ等を用いることも可能である。
蛍光フィルタホイール24は、励起フィルタホイール8と同様に波長透過特性の異なる複数の蛍光フィルタを回転切り替え可能に保持するものであり、これにより試料2で生じた蛍光のうち、所望の波長の蛍光を選択的に観察することができる。
検出器28a,28bには、CCDカメラが用いられており、CMOSカメラ等を用いることも可能である。
照明側スリット部9と観察側スリット部19は、いずれも対物レンズ4の物体側の所定の位置に対して光学的に共役な位置に配置されている。
照明側スリット部9は、複数種類のマルチスリット10を切替可能に保持する回転切替部材である。各マルチスリット10は、図2(b)にその一例を示すように複数の細長い長方形状のスリットが並んで形成された遮光部材であって、本実施形態ではマルチスリット幅Lの異なる3つのマルチスリット10が照明側スリット部9に保持されている。ここで、マルチスリット幅Lとは、全てのスリット幅と全てのスリット間隔を合計した長さであって、スリット数、スリット幅、及びスリット間隔によって定められるものである。なお、本実施形態における3つのマルチスリット10は、いずれもスリット間隔がスリット幅の2.5倍以上に設計されている。これにより、各スリットを通過したスリット光どうしの干渉を防止することができる。具体的には、図2(b)に示したマルチスリットの一例は、黒塗り部分が各スリットを示しており、スリット数が10、スリット長が5mm、スリット幅が10μm、スリット間隔が90μm、マルチスリット幅Lが890μmである。
斯かる構成の照明側スリット部9には、図3に示すようにPC7に備えられているCPU30からの指示に基づいて照明側スリット部9を回転させるための駆動部31が備えられており、これによって3つのマルチスリット10を切り替えて光路中に選択的に配置することができる。
照明側スリット部9は、複数種類のマルチスリット10を切替可能に保持する回転切替部材である。各マルチスリット10は、図2(b)にその一例を示すように複数の細長い長方形状のスリットが並んで形成された遮光部材であって、本実施形態ではマルチスリット幅Lの異なる3つのマルチスリット10が照明側スリット部9に保持されている。ここで、マルチスリット幅Lとは、全てのスリット幅と全てのスリット間隔を合計した長さであって、スリット数、スリット幅、及びスリット間隔によって定められるものである。なお、本実施形態における3つのマルチスリット10は、いずれもスリット間隔がスリット幅の2.5倍以上に設計されている。これにより、各スリットを通過したスリット光どうしの干渉を防止することができる。具体的には、図2(b)に示したマルチスリットの一例は、黒塗り部分が各スリットを示しており、スリット数が10、スリット長が5mm、スリット幅が10μm、スリット間隔が90μm、マルチスリット幅Lが890μmである。
斯かる構成の照明側スリット部9には、図3に示すようにPC7に備えられているCPU30からの指示に基づいて照明側スリット部9を回転させるための駆動部31が備えられており、これによって3つのマルチスリット10を切り替えて光路中に選択的に配置することができる。
観察側スリット部19は、上記照明側スリット部9が保持する3つのマルチスリット20と同じ構成、即ち同じマルチスリット幅Lの3つのマルチスリット20を切替可能に保持する回転切替部材である。この観察側スリット部19には、図3に示すようにPC7のCPU30からの指示に基づいて観察側スリット部19を回転させるための駆動部32が備えられており、これによって3つのマルチスリット20を切り替えて光路中に選択的に配置することができる。
なお、上記構成の照明側スリット部9が保持する3つのマルチスリット10と、観察側スリット部19が保持する3つのマルチスリット20は、観察に際して、同じマルチスリット幅Lのものどうしが光路中に配置して使用される。また、照明側スリット部9及び観察側スリット部19のいずれにもスリットが設けられていない開口部を有していてもよい。
走査ミラー12には、ガルバノミラーが用いられており、図3に示すようにPC7のCPU30からの指示に基づいて走査ミラー12の動作を制御するためのミラー制御部33が備えられている。
なお、上記構成の照明側スリット部9が保持する3つのマルチスリット10と、観察側スリット部19が保持する3つのマルチスリット20は、観察に際して、同じマルチスリット幅Lのものどうしが光路中に配置して使用される。また、照明側スリット部9及び観察側スリット部19のいずれにもスリットが設けられていない開口部を有していてもよい。
走査ミラー12には、ガルバノミラーが用いられており、図3に示すようにPC7のCPU30からの指示に基づいて走査ミラー12の動作を制御するためのミラー制御部33が備えられている。
以上の構成の下、光源6から射出された照明光は、所定波長の光(励起光)のみが励起フィルタホイール8の励起フィルタを透過し、照明側スリット部9のマルチスリット10を通過することで複数のスリット光となる。この複数のスリット光は、第1ダイクロイックミラー11で反射され、さらに走査ミラー12の表側反射面で反射され、レンズ13、反射ミラー14、及び対物レンズ4を順に介してステージ3上の試料2に照射される。これにより励起された試料2から発せられた観察光(蛍光)は、再び対物レンズ4、反射ミラー14、及びレンズ13を順に介し、走査ミラー12の表側反射面で反射された後、第1ダイクロイックミラー11を透過する。そしてこの観察光は、レンズ16と反射ミラー17を介して、観察側スリット部19の位置に試料2に投影されたマルチスリット10の像が形成される。その像を形成する光線がマルチスリット20を通過することで試料2における観察側スリット部19と共役な位置からの光線のみが取り出されて、複数のスリット光となる。この複数のスリット光は、反射ミラー21、レンズ22、及び反射ミラー23を順に経て走査ミラー12の裏側反射面で反射され、さらに所定波長の光のみが蛍光フィルタホイール24の蛍光フィルタを透過した後、ズームレンズ25を介して第2ダイクロイックミラー26に入射する。そして、第2ダイクロイックミラー26を透過した光は、集光レンズ27aを介して検出器28aで検出され、第2ダイクロイックミラー26で反射された光は、集光レンズ27bを介して検出器28bで検出される。
ここで、試料2に照射される複数のスリット光は、走査ミラー12によって試料面上を一次元的に走査されるため、各検出器28a,28bでは試料2の観察領域全体にわたって観察光が検出されることとなる。これによりPC7は、各検出器28a,28bから観察光の検出信号を取得し、これに基づいて試料2の二次元画像を生成してPC7のモニタ7aに表示させる。これにより使用者は、試料2の共焦点画像を観察することが可能となる。
ここで、試料2に照射される複数のスリット光は、走査ミラー12によって試料面上を一次元的に走査されるため、各検出器28a,28bでは試料2の観察領域全体にわたって観察光が検出されることとなる。これによりPC7は、各検出器28a,28bから観察光の検出信号を取得し、これに基づいて試料2の二次元画像を生成してPC7のモニタ7aに表示させる。これにより使用者は、試料2の共焦点画像を観察することが可能となる。
以上のように本実施形態に係る共焦点顕微鏡1は、試料面に対して複数のスリット光を照射して走査する構成であるため、同じ領域を複数のスリット光が照明するので、スリット光が試料面に照射されている時間を従来の共焦点顕微鏡よりも長く確保することができ、強度の弱い光で照明していても、試料2からの光量の増加を図ることができる。このため、低い強度の照明光によって試料2の明るい共焦点画像を撮影することができる。したがって、従来の共焦点顕微鏡のように高い強度の照明光が試料に悪影響を及ぼしてしまうという光毒性の問題を解消することができる。また、従来の共焦点顕微鏡では走査ミラーを高い駆動周波数で動作させた際に暗くて観察できなかった試料の共焦点画像でも、本実施形態に係る共焦点顕微鏡1は、照明光の光量の増加によって観察することが可能になり、即ち試料2の高速な現象を捉えることが可能になる。
次に、本実施形態に係る共焦点顕微鏡1における走査ミラー12の駆動方法について説明する。
走査ミラー12の駆動方法として、三角波駆動やノコギリ波駆動等の複数の駆動方法が知られている。走査ミラー12を三角波駆動して動作させる場合、図4(a)に示すようにグラフの直線部分では走査ミラー12が一定速度で動作しており、その動作期間中、照明側スリット部9のマルチスリット10によって形成された複数のスリット光(「照明側マルチスリット光」という)は試料面上の観察領域を一定速度で走査し、これと同時に、観察側スリット部19のマルチスリット20によって形成された複数のスリット光(「観察側マルチスリット光」という)は試料面と共役関係にある検出器28a,28bの検出面上を同じ一定速度で走査することになる。即ち、均一に蛍光を発する物体を試料2として観察する場合には、試料面の観察領域に均一な光強度の照明光が照射され、検出器28a,28bの検出面に均一な輝度の蛍光が投影されることになる。斯かる場合、図4(a)のグラフの非直線部分では、走査ミラー12の動作速度が一定でないため、照明光の光強度がばらつき、検出器28a,28bに投影される蛍光の輝度がばらついてしまうことになる。このため、図4(a)のグラフの直線部分のみで試料2の照明と蛍光の検出を行い、グラフの非直線部分ではこれらを行わないようにする、即ちグラフの非直線部分を観察に寄与しない無効期間とすればよい。しかしながら斯かる無効期間は、走査ミラー12の駆動周波数が大きくなるほど、即ち図4(b)に示すように走査ミラー12の動作速度が大きくなるほど長くなってしまう。
走査ミラー12の駆動方法として、三角波駆動やノコギリ波駆動等の複数の駆動方法が知られている。走査ミラー12を三角波駆動して動作させる場合、図4(a)に示すようにグラフの直線部分では走査ミラー12が一定速度で動作しており、その動作期間中、照明側スリット部9のマルチスリット10によって形成された複数のスリット光(「照明側マルチスリット光」という)は試料面上の観察領域を一定速度で走査し、これと同時に、観察側スリット部19のマルチスリット20によって形成された複数のスリット光(「観察側マルチスリット光」という)は試料面と共役関係にある検出器28a,28bの検出面上を同じ一定速度で走査することになる。即ち、均一に蛍光を発する物体を試料2として観察する場合には、試料面の観察領域に均一な光強度の照明光が照射され、検出器28a,28bの検出面に均一な輝度の蛍光が投影されることになる。斯かる場合、図4(a)のグラフの非直線部分では、走査ミラー12の動作速度が一定でないため、照明光の光強度がばらつき、検出器28a,28bに投影される蛍光の輝度がばらついてしまうことになる。このため、図4(a)のグラフの直線部分のみで試料2の照明と蛍光の検出を行い、グラフの非直線部分ではこれらを行わないようにする、即ちグラフの非直線部分を観察に寄与しない無効期間とすればよい。しかしながら斯かる無効期間は、走査ミラー12の駆動周波数が大きくなるほど、即ち図4(b)に示すように走査ミラー12の動作速度が大きくなるほど長くなってしまう。
また、本実施形態に係る共焦点顕微鏡1では、スリット光の走査中、走査方向の反転時にはその都度、照明側マルチスリット光が共焦点顕微鏡1の視野から一旦外れる、そして観察側マルチスリットも光路から一旦外れる必要がある。したがって、これに要する時間(詳細には、照明側マルチスリット光が全て試料面の観察領域から外れてから、減速して停止し、走査方向が反転して加速し、再び観察領域に入り始めるまでの時間であって、「スリット光退避時間」という。)も、上記図4(a)のグラフの非直線部分と同様に観察に寄与しない期間と考える必要がある。なお、このスリット光退避時間は各マルチスリット10,20のマルチスリット幅Lや走査ミラー12の駆動周波数が大きいほど長くなってしまう。
上記前提の下、本実施形態に係る共焦点顕微鏡1は、走査ミラー12を三角波駆動して動作させる際に、走査ミラー12の駆動周波数に応じて適切なマルチスリット10,20を自動的に選択するための図5に示すマルチスリット選択ルーチンを実行可能に構成されている。
ここで、本実施形態において、図3に示すPC7の記憶部35には、走査ミラー12の駆動周波数によって異なる無効期間の情報が駆動周波数毎に記憶されている。なお、記憶部35には、照明側スリット部9が保持する各マルチスリット10の走査ミラー12の駆動周波数によって異なるスリット光退避時間の情報も駆動周波数毎に記憶されている。
ここで、本実施形態において、図3に示すPC7の記憶部35には、走査ミラー12の駆動周波数によって異なる無効期間の情報が駆動周波数毎に記憶されている。なお、記憶部35には、照明側スリット部9が保持する各マルチスリット10の走査ミラー12の駆動周波数によって異なるスリット光退避時間の情報も駆動周波数毎に記憶されている。
図5に示すマルチスリット選択ルーチンは、使用者が本ルーチンの開始の指示をPC7へ入力することで開始される。
ステップS1:PC7のCPU30が、使用者によって走査ミラー12の所望の駆動周波数がPC7へ入力されているか否かを判定する。前記所望の駆動周波数がPC7へ入力されている場合はステップS2へ進み、そうでない場合は本ステップS1を再度実行する。
ステップS2:CPU30が、ステップS1で得られた走査ミラー12の所望の駆動周波数に対応する無効期間の情報を記憶部35から読み出す。
ステップS3:CPU30が、ステップS2で得られた無効期間の情報に基づいて、走査ミラー12を前記所望の駆動周波数で駆動させる際に使用するための適切なマルチスリットを、照明側スリット部9の3つのマルチスリット10から選択する。具体的には、CPU30が3つのマルチスリット10について、前記所望の駆動周波数に対応するスリット光退避時間の情報を記憶部35から読み出す。そしてCPU30が読み出した3つのスリット光退避時間を参照して、ステップS2で得られた無効期間よりもスリット光退避時間が小さいマルチスリット10のうち、マルチスリット幅Lが最大のものを選択する。即ち、前記所望の駆動周波数に対応する無効期間中に、照明側マルチスリット光を全て試料面の観察領域から退避させることが可能で最大のマルチスリット幅Lを有するマルチスリット10がCPU30によって選択されることとなる。
ステップS1:PC7のCPU30が、使用者によって走査ミラー12の所望の駆動周波数がPC7へ入力されているか否かを判定する。前記所望の駆動周波数がPC7へ入力されている場合はステップS2へ進み、そうでない場合は本ステップS1を再度実行する。
ステップS2:CPU30が、ステップS1で得られた走査ミラー12の所望の駆動周波数に対応する無効期間の情報を記憶部35から読み出す。
ステップS3:CPU30が、ステップS2で得られた無効期間の情報に基づいて、走査ミラー12を前記所望の駆動周波数で駆動させる際に使用するための適切なマルチスリットを、照明側スリット部9の3つのマルチスリット10から選択する。具体的には、CPU30が3つのマルチスリット10について、前記所望の駆動周波数に対応するスリット光退避時間の情報を記憶部35から読み出す。そしてCPU30が読み出した3つのスリット光退避時間を参照して、ステップS2で得られた無効期間よりもスリット光退避時間が小さいマルチスリット10のうち、マルチスリット幅Lが最大のものを選択する。即ち、前記所望の駆動周波数に対応する無効期間中に、照明側マルチスリット光を全て試料面の観察領域から退避させることが可能で最大のマルチスリット幅Lを有するマルチスリット10がCPU30によって選択されることとなる。
ステップS4:CPU30の指示の下、駆動部31が照明側スリット部9を回転させ、ステップS3で選択されたマルチスリット10を光路中に配置する。またこれと同時に、CPU30の指示の下、駆動部32が観察側スリット部19を回転させ、マルチスリット10と同じマルチスリット幅Lのマルチスリット20を光路中に配置する。
ステップS5:CPU30の指示の下、ミラー制御部33がステップS1で得られた所望の駆動周波数で走査ミラー12を三角波駆動する。
ステップS6:CPU30が、使用者によって走査ミラー12の駆動を終了する旨の指示がPC7へ入力されているか否かを判定する。走査ミラー12の駆動を終了する旨の指示がPC7へ入力されている場合にはステップS7へ進み、そうでない場合には本ステップS6を再度実行する。
ステップS7:CPU30の指示の下、ミラー制御部33が走査ミラー12の駆動を終了して本ルーチンが終了する。
ステップS5:CPU30の指示の下、ミラー制御部33がステップS1で得られた所望の駆動周波数で走査ミラー12を三角波駆動する。
ステップS6:CPU30が、使用者によって走査ミラー12の駆動を終了する旨の指示がPC7へ入力されているか否かを判定する。走査ミラー12の駆動を終了する旨の指示がPC7へ入力されている場合にはステップS7へ進み、そうでない場合には本ステップS6を再度実行する。
ステップS7:CPU30の指示の下、ミラー制御部33が走査ミラー12の駆動を終了して本ルーチンが終了する。
以上より、本実施形態に係る共焦点顕微鏡1は、上記マルチスリット選択ルーチンを実行することで、走査ミラー12の駆動周波数に適した最も大きなマルチスリット幅Lのマルチスリット10,20を自動的に選択することができる。具体的には、走査ミラー12の駆動周波数が大きい即ち無効期間が長い場合は、マルチスリット幅Lの大きな即ちスリット光退避時間の長いマルチスリット10,20を用いることができる。また、走査ミラー12の駆動周波数が小さい即ち無効期間が短い場合は、マルチスリット幅Lの小さな即ちスリット光退避時間の短いマルチスリット10,20を用いることができる。言い換えれば、走査ミラー12の駆動周波数に応じて異なる無効期間をスリット光退避時間に適切に充当することができる。したがって、照明側マルチスリット光を試料面上の観察領域に均一に入射させ、観察側マルチスリット光を検出器28a,28bの検出面に均一に入射させることができる。
なお、本実施形態に係る共焦点顕微鏡1では、走査ミラー12を三角波駆動する例を示しているが、駆動方法はこれに限られず、ノコギリ波駆動等とすることも勿論可能である。
なお、本実施形態に係る共焦点顕微鏡1では、走査ミラー12を三角波駆動する例を示しているが、駆動方法はこれに限られず、ノコギリ波駆動等とすることも勿論可能である。
また、本実施形態に係る共焦点顕微鏡1では、上記マルチスリット選択ルーチンにおいて、スリット光退避時間を、照明側マルチスリット光が試料面の観察領域から外れはじめてから、照明側マルチスリット光の全てが観察領域から外れるまでの時間と定義してもよい(図6を参照。)。これにより、走査ミラー12の駆動周波数に対してより大きなマルチスリット幅Lのマルチスリット10,20を選択することが可能となり、照明光及び観察光の光量をより大きくすることができる。なお、斯かる場合には、照明側マルチスリット光が試料面の観察領域から外れる以前より走査ミラー12を減速し、さらに照明側マルチスリット光が観察領域に入りはじめてから走査ミラー12を加速しなければならない。このため、走査ミラー12の減速及び加速が行われる観察領域の周辺部分からの観察光の検出信号には明るさのゲインを下げる補正を行うことが望ましい。
なお、本実施形態に係る共焦点顕微鏡1は、上記マルチスリット選択ルーチンに限られず、使用者が自ら照明側スリット部9の所望のマルチスリット10を選択した際に、当該所望のマルチスリット10に適した最大の駆動周波数で走査ミラー12を駆動する構成とすることもできる。斯かる場合、記憶部35は、照明側スリット部9の3つのマルチスリット10のスリット光退避時間と一致する無効期間の情報と、当該無効期間に対応する走査ミラー12の駆動周波数の情報を記憶していればよい。斯かる構成により、走査ミラー12をマルチスリット10,20に合わせて最大の駆動周波数で駆動することが可能となるため、試料2に生じる高速な現象を捉えることが可能となる。
1 共焦点顕微鏡
2 試料
4 対物レンズ
7 PC
9 照明側スリット部
10 マルチスリット
12 走査ミラー
19 観察側スリット部
20 マルチスリット
28a,28b 検出器
30 CPU
35 記憶部
2 試料
4 対物レンズ
7 PC
9 照明側スリット部
10 マルチスリット
12 走査ミラー
19 観察側スリット部
20 マルチスリット
28a,28b 検出器
30 CPU
35 記憶部
Claims (6)
- 光源からの照明光を制限する第1遮光部材と、
前記第1遮光部材で制限された照明光を走査する走査ミラーと、
前記走査ミラーで走査された照明光を試料に集光する対物レンズと、
前記試料からの観察光を制限する第2遮光部材と、
前記第2遮光部材で制限された観察光を検出する検出器とを有しており、
前記第1遮光部材は、複数のスリットが並んで形成された遮光部材であり、
前記第2遮光部材は、前記第1遮光部材の複数のスリットに対応する複数のスリットが並んで形成された遮光部材であることを特徴とする共焦点顕微鏡。 - 前記第1遮光部材の複数のスリット及び前記第2遮光部材の複数のスリットは、スリット間隔がスリット幅の2.5倍以上であることを特徴とする請求項1に記載の共焦点顕微鏡。
- スリット数、スリット幅、及びスリット間隔の少なくとも1つが異なる複数の前記第1遮光部材を切替可能に保持する第1切替部材と、
前記複数の第1遮光部材に対応する複数の前記第2遮光部材を切替可能に保持する第2切替部材とを有することを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の共焦点顕微鏡。 - 前記走査ミラーの駆動周波数に応じて、観察に使用する前記第1遮光部材及び前記第2遮光部材を選択する制御部を有することを特徴とする請求項3に記載の共焦点顕微鏡。
- 前記走査ミラーの駆動周波数毎に前記走査ミラーの動作速度が変化する期間の情報を記憶した記憶部を有し、
前記制御部は、前記走査ミラーの駆動周波数に対応する前記期間の情報を前記記憶部から取得し、前記試料を走査する照明光を前記期間中に前記試料の観察領域から退避可能に制限する前記第1遮光部材を選択することを特徴とする請求項4に記載の共焦点顕微鏡。 - 前記複数の第1遮光部材毎に前記走査ミラーの最大駆動周波数の情報を記憶した記憶部と、
使用者が選択した前記第1遮光部材に対応する前記最大駆動周波数を前記記憶部から取得し、該最大駆動周波数で前記走査ミラーを駆動する制御部とを有することを特徴とする請求項3から請求項5のいずれか一項に記載の共焦点顕微鏡。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010268974A JP2012118364A (ja) | 2010-12-02 | 2010-12-02 | 共焦点顕微鏡 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010268974A JP2012118364A (ja) | 2010-12-02 | 2010-12-02 | 共焦点顕微鏡 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012118364A true JP2012118364A (ja) | 2012-06-21 |
Family
ID=46501228
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010268974A Withdrawn JP2012118364A (ja) | 2010-12-02 | 2010-12-02 | 共焦点顕微鏡 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2012118364A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2021049397A1 (ja) * | 2019-09-11 | 2021-03-18 | 浜松ホトニクス株式会社 | 光走査システム及び光走査装置 |
-
2010
- 2010-12-02 JP JP2010268974A patent/JP2012118364A/ja not_active Withdrawn
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2021049397A1 (ja) * | 2019-09-11 | 2021-03-18 | 浜松ホトニクス株式会社 | 光走査システム及び光走査装置 |
JP2021043323A (ja) * | 2019-09-11 | 2021-03-18 | 浜松ホトニクス株式会社 | 光走査システム及び光走査装置 |
CN114341701A (zh) * | 2019-09-11 | 2022-04-12 | 浜松光子学株式会社 | 光扫描系统及光扫描装置 |
JP7481098B2 (ja) | 2019-09-11 | 2024-05-10 | 浜松ホトニクス株式会社 | 光走査システム及び光走査装置 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4804487B2 (ja) | 走査型レーザ顕微鏡および観察方法 | |
US8610086B2 (en) | Increased resolution microscopy | |
JP5307353B2 (ja) | 多光子励起レーザ走査型顕微鏡および多光子励起蛍光画像取得方法 | |
US7915575B2 (en) | Laser scanning microscope having an IR partial transmission filter for realizing oblique illumination | |
JP2010286566A (ja) | レーザ走査型蛍光顕微鏡および蛍光観察方法 | |
JP2005121796A (ja) | レーザー顕微鏡 | |
WO2009104718A1 (ja) | レーザ走査顕微鏡 | |
JP6784514B2 (ja) | レーザ走査型顕微鏡 | |
JP2016537674A (ja) | エバネッセント照明及び点状ラスタスキャン照明のための顕微鏡 | |
US20030071226A1 (en) | Method for fluorescence microscopy, and fluorescence microscope | |
JP2012118364A (ja) | 共焦点顕微鏡 | |
JP4428383B2 (ja) | コンフォーカル顕微鏡 | |
JPH09304701A (ja) | 共焦点レーザ走査顕微鏡 | |
JP4854873B2 (ja) | 顕微鏡制御装置、顕微鏡制御方法、及び顕微鏡制御プログラム | |
JP5738580B2 (ja) | 顕微鏡装置および観察方法 | |
JP5554970B2 (ja) | 走査型顕微鏡 | |
WO2013005765A1 (ja) | 顕微鏡装置 | |
JP2012118363A (ja) | 共焦点顕微鏡 | |
JP2012150331A (ja) | 共焦点顕微鏡 | |
JP4844157B2 (ja) | 走査型顕微鏡 | |
JP3486754B2 (ja) | 走査型光学顕微鏡 | |
JPWO2008155883A1 (ja) | 共焦点顕微鏡装置 | |
JP4464654B2 (ja) | 顕微鏡装置 | |
JP6355961B2 (ja) | 標本観察装置 | |
JP2004138819A (ja) | 蛍光共焦点顕微鏡 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20140204 |