JP2012114621A - Signal input circuit - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、信号入力端子をプルアップする機能を有したまま、高電位電源端子の電圧を超える電圧を信号入力端子に入力可能にした信号入力回路に関する。 The present invention relates to a signal input circuit capable of inputting a voltage exceeding the voltage of a high potential power supply terminal to a signal input terminal while having a function of pulling up the signal input terminal.
従来のプルアップ機能を有する信号入力回路として、図7〜図9に示すような回路がある。図7の信号入力回路は、電圧VDDの高電位電源端子1と電圧VSS(=GND)の低電位電源端子2と信号入力端子3を有し、ダイオードD1と抵抗R1によりESD保護回路5が構成された信号入力回路において、高電位電源端子1と抵抗R1の信号入力端子3の反対側との間に、ソース・ドレインを接続し、ゲートを接地GNDに接続したエンハンスメント型PMOSトランジスタMP1で構成されている。INV1は入力信号電圧の波形整形用のインバータである。
As signal input circuits having a conventional pull-up function, there are circuits as shown in FIGS. The signal input circuit of FIG. 7 has a high potential
この図7の信号入力回路は、信号入力端子3がオープン状態のときには、トランジスタMP1がオン状態であるため、インバータINV1の入力側を高電位電源端子1の電圧VDDにプルアップする。信号入力端子3に“H”レベルの電圧(VDDに近い電圧)が入力したときには、トランジスタMP1がオンしているため、その“H”レベルの電圧を増強する。一方、信号入力端子3に“L”レベルの電圧(VSSに近い電圧)が入力したときには、トランジスタMP1が信号入力端子3からみて負荷となる。このため、そのトランジスタMP1は、信号入力端子3に接続される前段回路のドライバの能力で十分駆動できるように、該前段回路に対して、小さい出力電流、又は高い出力抵抗となるように、そのオン抵抗の値が設定される。
The signal input circuit of FIG. 7 pulls up the input side of the inverter INV1 to the voltage VDD of the high potential
図8の信号入力回路は、図7の信号入力回路のトランジスタMP1に並列に、別のエンハンスメント型PMOSトランジスタMP2を追加接続し、そのゲートに、入力信号電圧を3段のインバータINV1,INV2,INV3で波形整形処理してから入力するよう構成した回路である。 In the signal input circuit of FIG. 8, another enhancement type PMOS transistor MP2 is additionally connected in parallel with the transistor MP1 of the signal input circuit of FIG. 7, and the input signal voltage is supplied to the gate of the three-stage inverters INV1, INV2, INV3. This is a circuit configured to input after waveform shaping processing.
この図8の信号入力回路では、信号入力端子3に“H”レベルの電圧が入力したときは、追加されたトランジスタMP2もオンすることで、信号入力端子3をプルアップする機能を増強している。信号入力端子3に“L”レベルの電圧が入力したときは、追加されたトランジスタMP2がオフすることで、プルアップ機能を低減させ、信号入力端子3に接続される前段回路のドライバの能力の低減を可能ならしめている。
In the signal input circuit of FIG. 8, when the “H” level voltage is inputted to the
図9の信号入力回路は、図7の信号入力回路において、インバータINV1をヒステリシスインバータINV4に置き換えたものである。この図9の信号入力回路では、信号入力端子3に入力する信号電圧がヒステリシスインバータINV4のしきい値電圧近くでふらつくとき、そのインバータINV4の出力が不安定になることを防止できる。
The signal input circuit of FIG. 9 is obtained by replacing the inverter INV1 with a hysteresis inverter INV4 in the signal input circuit of FIG. In the signal input circuit of FIG. 9, when the signal voltage inputted to the
以上のいずれの信号入力回路においても、信号入力端子3に入力する信号電圧が“H”レベルのときにはインバータINV1又はINV4の入力側で“H”レベル、“L”レベルのときは“L”レベル、オープンのときはプルアップ機能により“H”レベルを保持する。なお、プルアップ回路については、特許文献1に記載がある。
In any of the above signal input circuits, when the signal voltage input to the
ところが、図7〜図9で説明した回路構成では、信号入力端子3にVDD以上の電圧が入力されると、その電圧がトランジスタMP1のドレインとバックゲートとの間の寄生ダイオードDp2(代表として図7に表示した)の順方向電圧を超えるとき、信号入力端子3に接続されたトランジスタMP1のドレインから寄生ダイオードDp2を経由して高電位電源端子1に電流が流れ込む。このため、信号入力端子3に接続する前段回路のドライバに対して大きな負荷が接続されることとなり、そのドライバが破壊する恐れがある。また、高電位電源端子1に強制的に電流が流入すると、高電位電源端子1の電圧VDDが安定せず、回路の異常動作やその電圧VDDの供給を受ける他の回路を破壊する危険性もある。その他の問題としては、信号入力端子3がオープンの条件の際、高電位電源端子1の電圧VDDの立ち上がり時に、トランジスタMP1(あるいはこれに加えてMP2)のしきい値電圧にその電圧VDDが立ち上がるまでは、そのトランジスタMP1(あるいはこれに加えてMP2)がプルアップ機能を発揮しないため、その間、信号入力端子3の電圧が定まらず、後段のインバータINV1の出力電圧が不安定となるという問題もあった。
However, in the circuit configuration described with reference to FIGS. 7 to 9, when a voltage equal to or higher than VDD is input to the
そこで、上記の問題を解決するために、図10に示すように、信号入力端子3に入力トレラント回路6を接続して、信号入力端子3の信号電圧が高電位電源端子1の電圧VDDを超えるとき、あるいは高電位電源端子1の電圧VDDが十分に立ち上がっていないとき、信号入力端子3から高電位電源端子1に電流が流れ込まないようにする対策や、図11に示すように、高電位電源端子7の電圧VCCを電源とする前段回路のドライバ8の出力電圧を抵抗R2,R3で分圧してから信号入力端子3に入力するような対策を採用する必要があった。D2,D3はESD保護用のダイオードである。このため、設計の手間やコスト増加を招き、また回路面積増大や追加回路により消費電流増加を招いていた。
In order to solve the above problem, as shown in FIG. 10, an input
本発明の目的は、信号入力端子のプルアップ機能を有したまま、信号入力端子に入力する信号電圧が高電位電源端子の電圧を超えるときがあっても、上記したような問題が生じないようにした信号入力回路を提供することである。 The object of the present invention is to prevent the above-described problem from occurring even when the signal voltage input to the signal input terminal exceeds the voltage of the high potential power supply terminal while having the pull-up function of the signal input terminal. The present invention provides a signal input circuit.
上記目的を達成するために、請求項1にかかる発明の信号入力回路は、エンハンスメント型NMOSトランジスタのバックゲートを低電位電源端子に接続し、ドレインとゲートを高電位電源端子に接続し、ソースを信号入力端子に接続したことを特徴とする。
請求項2にかかる発明は、請求項1に記載の信号入力回路において、前記エンハンスメント型NMOSトランジスタのオン抵抗を、前記信号入力端子に接続される前段回路のドライバの“L”レベル電圧出力時の出力インピーダンスよりも高い値に設定したことを特徴とする。
請求項3にかかる発明は、請求項1又は2に記載の信号入力回路において、前記エンハンスメント型NMOSトランジスタを、デプレッション型NMOSトランジスタに置き換えたことを特徴とする。
請求項4にかかる発明は、請求項3に記載の信号入力回路において、前記デプレッション型NMOSトランジスタのドレインとソースに別のデプレッション型NMOSトランジスタのドレインとソースを共通接続し、該別のデプレッション型NMOSトランジスタのゲートに、前記信号入力端子に接続される波形整形用の偶数段目のインバータの出力端子を接続したことを特徴とする。
請求項5にかかる発明は、請求項1乃至4のいずれか1つに記載の信号入力回路において、
前記信号入力端子と前記低電位電源端子との間に、ESD保護回路を接続したことを特徴とする。
In order to achieve the above object, a signal input circuit according to a first aspect of the present invention includes a back gate of an enhancement type NMOS transistor connected to a low potential power supply terminal, a drain and a gate connected to a high potential power supply terminal, and a source connected It is connected to a signal input terminal.
According to a second aspect of the present invention, in the signal input circuit according to the first aspect, the on-resistance of the enhancement type NMOS transistor is connected to the driver of the pre-stage circuit connected to the signal input terminal when the “L” level voltage is output. It is characterized by being set to a value higher than the output impedance.
According to a third aspect of the present invention, in the signal input circuit according to the first or second aspect, the enhancement type NMOS transistor is replaced with a depletion type NMOS transistor.
According to a fourth aspect of the present invention, in the signal input circuit according to the third aspect, the drain and source of another depletion type NMOS transistor are connected in common to the drain and source of the depletion type NMOS transistor, and the other depletion type NMOS transistor The output terminal of an even-numbered inverter for waveform shaping connected to the signal input terminal is connected to the gate of the transistor.
The invention according to
An ESD protection circuit is connected between the signal input terminal and the low potential power supply terminal.
本発明によれば、プルアップ用のトランジスタをNMOSトランジスタとしたので、信号入力端子に入力する入力電圧が高電位電源端子の電圧以上の電圧であっても、信号入力端子から高電位電源端子に向けては電流が流れなくなるため、信号入力端子に接続される前段回路のドライバの消費電流の増大を引き起こす要因を無くすことができる。また、信号入力端子から高電位電源端子へ強制的に電流が流入することがなくなるため、高電位電源端子の電圧が不安定になることを防止でき、回路の異常動作やその電圧が供給される他の回路が破壊する危険性も避けることができる。さらに、それらを避けるための外部部品による対策を行う必要がなくなるので、設計の手間やコスト増加、また回路面積増大や追加回路による消費電流増加等を招くことを避けることができる。さらに、プルアップ用のトランジスタをデプレッション型NMOSトランジスタに置き換えることで、高電位電源端子の電圧が低いときでも、確実にプルアップ機能を保持することができる。これにより、高電位電源端子の電圧の立ち上がりとほぼ同時にプルアップ動作が行われるため、電源投入時の信号入力端子の不安定さを抑える効果があり、誤動作防止やボツ音防止の対策にもなる。 According to the present invention, since the pull-up transistor is an NMOS transistor, even if the input voltage input to the signal input terminal is equal to or higher than the voltage of the high potential power supply terminal, the signal input terminal is switched to the high potential power supply terminal. Since the current does not flow, the factor causing the increase in the current consumption of the driver of the previous circuit connected to the signal input terminal can be eliminated. In addition, since the current does not forcibly flow from the signal input terminal to the high potential power supply terminal, the voltage of the high potential power supply terminal can be prevented from becoming unstable, and the abnormal operation of the circuit and the voltage are supplied. The risk of destruction of other circuits can also be avoided. Furthermore, since it is not necessary to take measures with external parts to avoid them, it is possible to avoid an increase in design effort and cost, an increase in circuit area, an increase in current consumption due to additional circuits, and the like. Further, by replacing the pull-up transistor with a depletion type NMOS transistor, the pull-up function can be reliably maintained even when the voltage at the high potential power supply terminal is low. As a result, the pull-up operation is performed almost simultaneously with the rise of the voltage of the high-potential power supply terminal, so there is an effect of suppressing the instability of the signal input terminal when the power is turned on, and it also serves as a countermeasure for preventing malfunctions and popping noises. .
<第1の実施例>
図1に本発明の第1の実施例の信号入力回路を示す。本実施例では、エンハンスメント型NMOSトランジスタMN1をプルアップ用のトランジスタとして用いる。このトランジスタMN1は、ゲートとドレインが高電位電源端子1に接続され、ソースが信号入力端子3に接続され、バックゲートが低電位電源端子2に接続されている。信号入力端子3に入力される信号電圧はインバータINV1によって波形整形されて内部に取り込まれる。
<First embodiment>
FIG. 1 shows a signal input circuit according to a first embodiment of the present invention. In this embodiment, the enhancement type NMOS transistor MN1 is used as a pull-up transistor. The transistor MN1 has a gate and a drain connected to the high potential
信号入力端子3に“H”レベルの電圧(VDDに近い電圧)が入力されたときは、トランジスタMN1のゲート・ソース間電圧Vgsがしきい値電圧よりも小さくなるので、そのトランジスタMN1はオフする。このため、信号入力端子3の“H”レベルの電圧がそのままインバータINV1に入力する。信号入力端子3に“L”レベルの電圧(VSSに近い電圧)が入力されたときは、トランジスタMN1の出力インピーダンス(オン抵抗)を前段回路のドライバの出力インピーダンスよりもあらかじめ大きく設定しておくことにより、信号入力端子3に入力した“L”レベルの電圧が優先され、インバータINV1には“L”レベルの電圧がそのまま入力する。信号入力端子3がオープン又はハイインピーダンスとなったときは、トランジスタMN1がオンしているため、インバータINV1の入力電圧は“H”レベルにプルアップされる。信号入力端子3に高電位電源端子1の電圧VDDを超える電圧が入力したときは、トランジスタMN1には、ソースとバックゲートとの間に寄生する逆方向の寄生ダイオードDp1によってほとんど電流が流れず、高電位電源端子1の電圧VDDに大きな影響は与えない。なお、このとき、インバータINV1にはその高い電圧が入力する。以上により、図1の信号入力回路は、プルアップ機能を有しながら、高電位電源端子1の電圧VDD以上の電圧が信号入力端子3に入力しても、異常電流が流れることなく正常に機能できる。
When an “H” level voltage (a voltage close to VDD) is input to the
<第2の実施例>
図2に本発明の第2の実施例の信号入力回路を示す。本実施例は、図1の信号入力回路におけるプルアップ用のエンハンスメント型NMOSトランジスタMN1を、デプレッション型NMOSトランジスタMN2に置き換えたものである。なお、トランジスタMN2の寄生ダイオードの表示は省略した。
<Second embodiment>
FIG. 2 shows a signal input circuit according to a second embodiment of the present invention. In this embodiment, the pull-up enhancement type NMOS transistor MN1 in the signal input circuit of FIG. 1 is replaced with a depletion type NMOS transistor MN2. The display of the parasitic diode of the transistor MN2 is omitted.
図1の信号入力回路のように、エンハンスメント型のトランジスタMN1をプルアップ用のトランジスタとして使用するときは、信号入力端子3がオープン又はハイインピーダンスのときに、インバータINV1の入力電圧が、高電位電源端子1の電圧VDDからトランジスタMN1のゲート・ソース間電圧Vgs分だけ減少するために、そのインバータINV1の入力電圧は高電位電源端子1の電圧VDDまでは上がらない。ただし、電圧VDDが比較的高い場合には、インバータINV1の入力電圧がインバータINV1のしきい値電圧よりも高い電圧になる程度に”H”レベルとなり、プルアップ機能を果たせる。しかし、電圧VDDが低くなってくると、電圧Vgs分の低下でインバータINV1の入力電圧がそのインバータINV1のしきい値電圧付近となり、インバータINV1の動作が安定しない可能性がある。
When the enhancement type transistor MN1 is used as a pull-up transistor as in the signal input circuit of FIG. 1, when the
これに対して、プルアップ用トランジスタを、しきい値電圧が0Vあるいはそれよりも低いデプレッション型NMOSトランジスタMN2に置き換えれば、信号入力端子3がオープンあるいはハイインピーダンスであっても、インバータINV1の入力電圧を電圧VDD付近にまで上げることができるので、電圧VDDが比較的低電圧でもプルアップ機能を確実に実現できるようになる。信号入力端子3のその他の状態では、動作としては図1の信号入力回路と同じである。
On the other hand, if the pull-up transistor is replaced with a depletion type NMOS transistor MN2 having a threshold voltage of 0 V or lower, even if the
<第3の実施例>
図3に本発明の第3の実施例の信号入力回路を示す。本実施例は、図1の信号入力回路に、ドレイン・ソース間の寄生バイポーラポーラNPNトランジスタを利用したGG(Gate Grounded)NMOSトランジスタMN3と抵抗R1で構成されたESD保護回路4を付加した例である。なお、トランジスタMN1の寄生ダイオードDp1の表示は省略した。動作としては図1の信号入力回路と同じである。
<Third embodiment>
FIG. 3 shows a signal input circuit according to a third embodiment of the present invention. This embodiment is an example in which an ESD protection circuit 4 including a GG (Gate Grounded) NMOS transistor MN3 using a drain-source parasitic bipolar polar NPN transistor and a resistor R1 is added to the signal input circuit of FIG. is there. Note that the display of the parasitic diode Dp1 of the transistor MN1 is omitted. The operation is the same as that of the signal input circuit of FIG.
<第4の実施例>
図4に本発明の第4の実施例の信号入力回路を示す。本実施例は、図1の信号入力回路に、ダイオードD1と抵抗R1からなるESD保護回路5を付加した例である。なお、トランジスタMN1の寄生ダイオードDp1の表示は省略した。動作としては図1の信号入力回路と同じである。
<Fourth embodiment>
FIG. 4 shows a signal input circuit according to a fourth embodiment of the present invention. In this embodiment, an
<第5の実施例>
図5に本発明の第5の実施例の信号入力回路を示す。本実施例は、図2の信号入力回路において、プルアップ用のトランジスタとして機能するデプレッション型のトランジスタMN2のソースとドレインに、ソースとドレインを共通接続した別のデプレッション型NMOSトランジスタMN4を接続し、そのトランジスタMN4のゲートに、信号入力端子3に入力する電圧をインバータINV1,INV2を経由して入力させるように構成した実施例である。なお、トランジスタMN2,MN4の寄生ダイオードの表示は省略した。
<Fifth embodiment>
FIG. 5 shows a signal input circuit according to a fifth embodiment of the present invention. In this embodiment, in the signal input circuit of FIG. 2, another depletion type NMOS transistor MN4 having the source and drain connected in common is connected to the source and drain of the depletion type transistor MN2 functioning as a pull-up transistor. In this embodiment, the voltage input to the
信号入力端子3に入力される電圧が“H”レベルあるいは電圧VDDより大きいときは、トランジスタMN4のゲート電圧はVDDとなり、プルアップ機能が強化されるが、プルアップされる電圧は入力された電圧と同じであり、また、入力電圧が電圧VDDより大きい場合でも、図1の信号入力回路と同じ動作となる。信号入力端子3に入力される電圧が“L”レベルのときはトランジスタMN4はゲート電圧が“L”レベル(=VSS)になるためオフ状態になる。本実施例では、信号を出力している前段回路のドライバの能力が小さくて済み、負担を低減できる。
When the voltage input to the
<第6の実施例>
図6に本発明の第6の実施例の信号入力回路を示す。本実施例は、図2の信号入力回路において、GGNMOSトランジスタMN3と抵抗R1からなるESD保護回路4を付加し、インバータINV1をヒステリシスインバータINV4に置き換えた例である。なお、トランジスタMN2の寄生ダイオードの表示は省略した。
<Sixth embodiment>
FIG. 6 shows a signal input circuit according to a sixth embodiment of the present invention. This embodiment is an example in which an ESD protection circuit 4 including a GGNMOS transistor MN3 and a resistor R1 is added to the signal input circuit of FIG. 2, and the inverter INV1 is replaced with a hysteresis inverter INV4. The display of the parasitic diode of the transistor MN2 is omitted.
この図6の信号入力回路では、信号入力端子3に入力する信号電圧がヒステリシスインバータINV4のしきい値電圧近くでふらつくとき、そのインバータINV4の出力が不安定になることを防止できる。他の動作は、図2の信号入力回路と同じである。
In the signal input circuit of FIG. 6, when the signal voltage input to the
1:高電位電源端子、2:低電位電源端子、3:信号入力端子、4,5:ESD保護回路、6:入力トレラント回路、7:高電位電源端子、8:前段回路のドライバ
MN1:エンハンスメント型NMOSトランジスタ
MN2,MN4:デプレッショント型NMOSトランジスタ
MN3:GGNMOSトランジスタ
MP1,MP2:エンハンスメント型PMOSトランジスタ
D1〜D3:ダイオード
Dp1,Dp2:寄生ダイオード
INV1,INV2,INV3:インバータ
INV4:ヒステリシスインバータ
1: High-potential power supply terminal, 2: Low-potential power supply terminal, 3: Signal input terminal, 4, 5: ESD protection circuit, 6: Input tolerant circuit, 7: High-potential power supply terminal, 8: Driver of previous circuit MN1: Enhancement Type NMOS transistors MN2, MN4: depletion type NMOS transistors MN3: GNMOS transistors MP1, MP2: enhancement type PMOS transistors D1-D3: diodes Dp1, Dp2: parasitic diodes INV1, INV2, INV3: inverters INV4: hysteresis inverters
Claims (5)
前記エンハンスメント型NMOSトランジスタのオン抵抗を、前記信号入力端子に接続される前段回路のドライバの“L”レベル電圧出力時の出力インピーダンスよりも高い値に設定したことを特徴とする信号入力回路。 The signal input circuit according to claim 1,
The signal input circuit according to claim 1, wherein the on-resistance of the enhancement type NMOS transistor is set to a value higher than the output impedance of the driver of the previous circuit connected to the signal input terminal when the "L" level voltage is output.
前記エンハンスメント型NMOSトランジスタを、デプレッション型NMOSトランジスタに置き換えたことを特徴とする信号入力回路。 The signal input circuit according to claim 1 or 2,
A signal input circuit, wherein the enhancement type NMOS transistor is replaced with a depletion type NMOS transistor.
前記デプレッション型NMOSトランジスタのドレインとソースに別のデプレッション型NMOSトランジスタのドレインとソースを共通接続し、該別のデプレッション型NMOSトランジスタのゲートに、前記信号入力端子に接続される波形整形用の偶数段目のインバータの出力端子を接続したことを特徴とする信号入力端子。 The signal input circuit according to claim 3.
The drain and source of another depletion type NMOS transistor are commonly connected to the drain and source of the depletion type NMOS transistor, and the even number stage for waveform shaping connected to the signal input terminal at the gate of the other depletion type NMOS transistor A signal input terminal connected to the output terminal of the eye inverter.
前記信号入力端子と前記低電位電源端子との間に、ESD保護回路を接続したことを特徴とする信号入力回路。 The signal input circuit according to any one of claims 1 to 4,
A signal input circuit, wherein an ESD protection circuit is connected between the signal input terminal and the low potential power supply terminal.
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