JP2012068621A - テラヘルツ波発生素子、テラヘルツ波検出素子、及びテラヘルツ時間領域分光装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】テラヘルツ波発生素子は、光11、11´を伝搬させる電気光学結晶を含む導波路13と、導波路を伝搬する光から発生するテラヘルツ波12を外部に取り出す光結合部材14とを備える。導波路13を複数有し、複数の導波路は所定の軸15に対して略回転対称となるように配置される。更に、光結合部材は、複数の導波路から発生するテラヘルツ波12の波面が略一致するように配置されている。
【選択図】 図1
Description
cosθc=vTHz/vg=ng/nTHz
ここで、vg、ngは夫々励起光の群速度、群屈折率、vTHz、nTHzは夫々テラヘルツ波の位相速度、屈折率を表す。このチェレンコフ放射現象に関して、発生するテラヘルツ波の波長よりも十分小さい厚さを持つスラブ導波路を用いて、DFG方式により単色テラヘルツ波を発生させるという報告がある(非特許文献1参照)。
(実施形態1)
本発明による実施形態1であるLN結晶を用いるテラヘルツ波発生素子について、図1を用いて説明する。図1において、(a)はテラヘルツ波発生素子の断面図、(b)は上面図である。LN基板10はYカットニオブ酸リチウムであり、レーザ光11(以下、レーザ光11’についても同様)の伝搬方向をLN結晶のX軸、Y軸及び伝搬方向(X軸)と直交する方向をZ軸としている(図1に示した座標軸参照)。また、レーザ光11はZ軸方向の直線偏波としている。この様な構成にすることによって、2次非線形現象である電気光学的チェレンコフ放射を効率良く起こすことができる。これと共に、結晶軸は、2次非線形過程によりチェレンコフ発生するテラヘルツ波12とレーザ光11との位相整合が取れる様にも設定されている。つまり、2次非線形過程に関与する光波(テラヘルツ波12とレーザ光11)の波数ベクトルの間に位相整合条件が成り立つ様に、結晶軸は設定されている。
実施形態1に対応するより具体的な実施例1を説明する。本実施例では、MgOドープの層(コア部)(不図示)が厚さ3.8μmで形成されている。また、幅5μmの低屈折率バッファ層(不図示)が、厚さ2μmで、光学接着剤により形成されている。本実施例では、例えば7THzまで対応するとして自由空間での波長はおよそ43μmになる。等価波長を低屈折率層の屈折率1.5で除した値と仮定すると、実施形態1の所で説明したようにλeq/10(=43/1.5/10)の厚さ以下になるように2μmとしている。更に、低屈折率バッファ層上には高抵抗Siからなる光結合部材44が密着している。このような構造を模式的に示したのが図3の構造である。
tanθA=(n0/nclad−cos(θp−θc))/sin(θp−θc)
ここで、θcは導波路43の光伝搬方向と導波路43から出射するテラヘルツ波42のなす角(ここでは、θc=acos(nopt/nclad))、n0はテラヘルツ波出射面46で光結合部材44と接する部分(上記の場合は空気)の屈折率である。また、noptは光の波長における導波路のコア部の屈折率、ncladはテラヘルツ波の波長における光結合部材の屈折率である。
スネルの法則 ncladsinθ1=n0sinθ0
θ1=π/2−θA−θc+θp
θ0=π/2−θA
θ1、θ0を一番目の式に代入して整理することで、上記θAの式が得られる。
本発明の実施形態2を図4を用いて説明する。本実施形態では、実施形態1と異なり、導波路63の光入射端が所定の軸65から遠い側にあることが構造上の特徴である。ただし、発生したテラヘルツ波62を光結合部材64のテラヘルツ波出射面66で屈折させ、2つのテラヘルツ波発生部からのテラヘルツ波62を合波させる思想は同じである。
これまでは、主に、励起光にフェムト秒レーザ光を用いてこれを同時にテラヘルツ波発生素子の複数の導波路に入射させ、各導波路において光整流によりテラヘルツパルスを発生させる例を説明してきた。これに対して、実施形態3では、2つの異なる発振周波数ν1、ν2を持つレーザ光を入射させ、差周波に相当する単色のテラヘルツ波を出射する。レーザ光源としては、Nd:YAGレーザ励起のKTP-OPO(Optical
Parametric Oscillator)光源(これは2波長の光を出力する)や、2台の波長可変レーザダイオードを用いることができる。構造としては、実施形態1の図1のようなものを用いることができるが、本実施形態では、テラヘルツ波の出力を大きくするために導波路長をより長くしてもよい。例えば、導波路長を40mmとすることができる。
図5を用いて実施形態4を説明する。本実施形態では、導波路の終端部80に斜めカットやARコーティングなどの処理を施して、終端部80から出射される光をプローブ光として再利用する。即ち、本実施形態では、テラヘルツ波発生素子71の導波路終端部80からの光を検出手段へのプローブ光として利用し、遅延部は、テラヘルツ波発生素子71の導波路への光の到達時間と検出手段へのプローブ光の到達時間との間の遅延時間を調整する。
実施形態5では、光結合部材のテラヘルツ波の出射面において、テラヘルツ波をブリュースター角で出射させることが特徴である。つまり、出射する面に対するテラヘルツ波の入射角がブリュースター条件を満たしている。構成としては実施形態1と同様であるが、テラヘルツ波12は、テラヘルツ波の出射面16に対してp偏光となっている。テラヘルツ波12をこのような偏光方向とする為に、LN結晶の電気光学軸はY方向となっており、更に、光11と光11´はY方向の直線偏波となっている。
本実施形態では、実施形態1から5に記載の素子と同様に対称性を有する素子をテラヘルツ波の検出素子として機能させるものである。そのために、ここでは、超短パルスレーザ光をこれまでの実施形態とは反対側の面から(すなわち図8の99、99’のある面から)、偏波を直線偏光で結晶のZ軸からY軸方向に傾けて(例えば45度)入射させる。その場合、結晶から出射されたレーザ光の電界のZ軸成分とY軸成分には電気光学結晶の複屈折性によって位相差が生じて、出射された空間では楕円偏波となって伝播する。このような自然複屈折による位相差は結晶の種類や入射偏波方向、導波路長さによって異なり、位相差ゼロの構成にすることもできる。
前記自然複屈折の補償のために位相補償板(λ/4板など、不図示)を出射端と偏光素子110、110’との間に追加してもよい。
Claims (11)
- 電気光学結晶を含む導波路と、
前記導波路を光が伝搬することで発生するテラヘルツ波を外部に取り出す光結合部材と、
を備え、
前記導波路を複数有し、
複数の前記導波路は所定の軸に対して回転対称となるように配置されるとともに、
前記光結合部材は、前記複数の導波路から発生するテラヘルツ波の波面が一致するように配置されていることを特徴とするテラヘルツ波発生素子。 - 前記所定の軸と前記光結合部材のテラヘルツ波出射面とのなす角度θAが下記式で表されることを特徴とする請求項1に記載のテラヘルツ波発生素子。
tanθA=(n0/nclad−cos(θp−θc))/sin(θp−θc)
ここで、
θp:前記導波路の光伝搬方向と前記所定の軸がなす角
θc:前記導波路の光伝搬方向と前記導波路から出射するテラヘルツ波とのなす角
nclad:テラヘルツ波の波長における光結合部材の屈折率
n0:テラヘルツ波出射面で光結合部材と接する部分の屈折率 - 前記導波路及び前記電気光学結晶の結晶軸の方向は、電気光学的チェレンコフ放射により前記テラヘルツ波が発生する様に設定されていることを特徴とする請求項1または2に記載のテラヘルツ波発生素子。
- 前記導波路は、伝搬する光に対してコアとなる高屈折率層とクラッドとなる低屈折率層を含み、
前記低屈折率層の少なくとも1つは、前記高屈折率層と前記光結合部材にそれぞれ接して挟まれ、かつその厚さdは、前記導波路を伝搬する光のコアにおける光強度の1/e2(eは自然対数の底)になる厚みをa、外部に取り出すテラヘルツ波の最大周波数における前記低屈折率層での等価波長をλeqとしたとき、
a<d<λeq/10
であることを特徴とする請求項1乃至3の何れか1項に記載のテラヘルツ波発生素子。 - 発生するテラヘルツ波の電界の偏光方向が前記光結合部材から出射する面に対してp偏光であり、前記出射する面に対するテラヘルツ波の入射角がブリュースター条件を満たしていることを特徴とする請求項1乃至4の何れか1項に記載のテラヘルツ波発生素子。
- 電気光学結晶を含む導波路と、
前記導波路にテラヘルツ波を入射させるための光結合部材と、
を備え、
前記導波路を複数有し、
複数の前記導波路は所定の軸に対して回転対称となるように配置されるとともに、
前記光結合部材はテラヘルツ波の波面を分割して前記複数の導波路へ入射させるように配置されていることを特徴とするテラヘルツ波検出素子。 - 前記導波路の前記電気光学結晶の結晶軸は、前記導波路に前記テラヘルツ波が入射することで、前記導波路を伝播する光の伝播状態が変化するように設定されていることを特徴とする請求項6に記載のテラヘルツ波検出素子
- テラヘルツ波を発生するための発生手段と、
前記発生手段から放射されたテラヘルツ波を検出するための検出手段と、
前記発生手段におけるテラヘルツ波発生時と前記検出手段におけるテラヘルツ波検出時との間の遅延時間を調整するための遅延部と、
を備えたテラヘルツ時間領域分光装置であって、
前記発生手段が、請求項1乃至5の何れか1項に記載のテラヘルツ波発生素子を含むことを特徴とする装置。 - テラヘルツ波を発生するための発生手段と、
前記発生手段から放射されたテラヘルツ波を検出するための検出手段と、
前記発生手段におけるテラヘルツ波発生時と前記検出手段におけるテラヘルツ波検出時との間の遅延時間を調整するための遅延部と、
を備えたテラヘルツ時間領域分光装置であって、
前記検出手段が、請求項6または7に記載のテラヘルツ波検出素子を含むことを特徴とする装置。 - 前記テラヘルツ波発生素子の導波路終端部からの光を前記検出手段へのプローブ光として利用し、
前記遅延部は、前記テラヘルツ波発生素子の導波路への前記光の到達時間と前記検出手段への前記プローブ光の到達時間との間の遅延時間を調整することを特徴とする請求項8に記載の装置。 - 前記検出手段は、前記発生手段から放射されサンプルで反射されて来たテラヘルツ波を検出し、
前記サンプルからの反射光を分析することでサンプルの内部構造をイメージングするトモグラフィ装置として構成されていることを特徴とする請求項8乃至10の何れか1項に記載の装置。
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