JP2012034788A - 眼科測定装置 - Google Patents

眼科測定装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2012034788A
JP2012034788A JP2010176673A JP2010176673A JP2012034788A JP 2012034788 A JP2012034788 A JP 2012034788A JP 2010176673 A JP2010176673 A JP 2010176673A JP 2010176673 A JP2010176673 A JP 2010176673A JP 2012034788 A JP2012034788 A JP 2012034788A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
optical system
measurement
eye
fundus
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2010176673A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5500587B2 (ja
Inventor
Masakazu Endo
雅和 遠藤
Masaaki Hanebuchi
昌明 羽根渕
Ei Ochi
永 越智
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nidek Co Ltd
Original Assignee
Nidek Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nidek Co Ltd filed Critical Nidek Co Ltd
Priority to JP2010176673A priority Critical patent/JP5500587B2/ja
Priority to EP11176582.2A priority patent/EP2415393B1/en
Publication of JP2012034788A publication Critical patent/JP2012034788A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5500587B2 publication Critical patent/JP5500587B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Eye Examination Apparatus (AREA)

Abstract

【課題】 良好な徹照像を取得できる。
【解決手段】 コヒーレント性を持つ光を発する光源を有し、光源から出射された光の少なくとも一部を測定光として被検者眼眼底に向けて投光する投光光学系、測定光による眼底反射光を含む光を受光素子で受光する受光光学系、を有し、被検者眼を測定するための測定光学系を備え、受光素子からの出力に基づいて被検者眼を測定する眼科測定装置において、被検眼前眼部と略共役な位置に配置された撮像面を持つ撮像素子を有し、光源による眼底反射光によって照明された徹照像を撮像する撮像光学系と、投光光学系の光路中に配置され、徹照像に生じるスペックルノイズを光学的に抑制するスペックル抑制手段と、
を備える。
【選択図】 図2

Description

本発明は、被検者眼の測定を行う眼科測定装置に関する。
被検眼眼底に測定光束を投光し、その反射光を受光して被検者眼の測定を行う眼科測定装置が知られている。例えば、オートレフラクトメータ、光干渉式眼軸長測定装置が挙げられる。
また、上記のような眼科測定装置において、眼底反射光により瞳孔内を照明することにより、瞳孔内画像(いわゆる徹照像)を撮像できる装置が知られている(特許文献1参照)。これにより、水晶体の混濁状態が確認される。
特開平8−112254号公報
ところで、本発明者らは、測定光源として可干渉性の光を発する光源(例えば、SLD:Super Luminescent Diode)を設け、徹照像を撮影したところ、眼底での光散乱によって画像全体に斑点状のムラ(スペックルノイズ)が発生してしまうことがわかった。この場合、検者は、白内障による混濁と斑点状のムラが判別できず、混濁状態を確認しにくい。
本発明は、上記問題点を鑑み、良好な徹照像を取得できる眼科測定装置を提供することを技術課題とする。
上記課題を解決するために、本発明は以下のような構成を備えることを特徴とする。
(1) コヒーレント性を持つ光を発する光源を有し、光源から出射された光の少なくとも一部を測定光として被検者眼眼底に向けて投光する投光光学系、前記測定光による眼底反射光を含む光を受光素子で受光する受光光学系、を有し、被検者眼を測定するための測定光学系を備え、前記受光素子からの出力に基づいて被検者眼を測定する眼科測定装置において、被検眼前眼部と略共役な位置に配置された撮像面を持つ撮像素子を有し、前記光源による眼底反射光によって照明された徹照像を撮像する撮像光学系と、前記投光光学系の光路中に配置され、前記徹照像に生じるスペックルノイズを光学的に抑制するスペックル抑制手段と、を備えることを特徴とする。
(2) (1)の眼科測定装置において、前記測定光学系は、低コヒーレント光を出射する光源と、光源から出射された光を分割するビームスプリッタと、分割された光の一方を眼底に向けて投光する投光光学系、眼底で反射された一方の光と他方の光を合成することで発生する干渉光を受光素子に導く受光光学系、前記一方の光と他方の光の光路差を調整するために光軸方向に移動可能に配置された光学部材と、を有する眼軸長測定光学系であり、前記スペックル抑制手段は、前記撮像光学系の光路から外れた位置であって、かつ、前記一方の光と前記他方の光が通過する共通光路に配置されることを特徴とする。
(3) (2)の眼科測定装置において、前記測定光学系により干渉光を受光して眼軸長を測定するための第1モードと、前記撮像光学系により前記徹照像を撮像するための第2モードと、を切換える切換信号を発するモード切換手段と、前記モード切換手段からの切換信号に基づいて、前記第1モードでは前記スペックル抑制手段の作動を停止させ、前記第2モードでは前記スペックル抑制手段を作動させる制御手段と、を備えることを特徴とする。
(4) (1)の眼科測定装置において、前記測定光学系は、前記眼底に測定指標を投影し、その反射光束を受光して眼屈折力を測定する眼屈折力測定光学系であり、前記スペックル抑制手段は、前記光源から前記眼底へと向かう測定光を前記眼底に対して偏向させる光偏向手段であることを特徴とする。
(5) (1)又は(4)の眼科測定装置において、前記測定光学系、前記撮像光学系、スペックル抑制手段を有する装置本体と、前記装置本体を被検眼に対して相対移動させる駆動手段と、前記測定光学系により被検者眼を測定するための第1モードと、前記撮像光学系により前記徹照像を撮像するための第2モードと、を切換える切換信号を発するモード切換手段と、前記モード切換手段からの切換信号に基づいて前記第2モードに設定された場合、被検眼の角膜頂点と前記撮像光学系の撮像光軸がずれるように前記駆動手段を制御し、前記撮像素子にて徹照像を撮像する撮像制御手段を備えることを特徴とする。
本発明は、上記問題点を鑑み、良好な徹照像を取得できる眼科測定装置を提供することが技術課題とする。
<第1実施形態>
以下、本発明の第1の実施形態を図面に基づいて説明する。図1は本発明に係る眼科装置の外観図である。本装置は、基台2と、基台2に取り付けられた顔支持ユニット4と、基台2上に移動可能に設けられた移動台6と、移動台6に移動可能に設けられ、後述する光学系を収納する測定部8を備える。移動台6は、ジョイスティック12の操作により、基台2上を左右方向(X方向)及び前後方向(Z方向)に移動される。また、測定部8は回転ノブ12aが回転操作されることにより、モーター等からなる駆動機構17により上下方向(Y方向)に移動される。移動台6には被検眼Eの観察像や測定結果等の各種の情報を表示するモニタ70、各種設定を行うためのスイッチが配置された操作部90が設けられている。なお、以下の説明では、測定部8に光干渉式眼軸長測定光学系が設けられた例を第1実施形態、測定部8に眼屈折力測定光学系が設けられた例を第2実施形態として説明する。以下、本発明の実施形態について図面に基づいて説明する。
図2は本実施形態に係る眼科装置の光学系について示す概略構成図である。本光学系は、眼軸長測定光学系(測定ユニット)10、角膜形状測定用の指標を角膜に投影するケラト投影光学系50、アライメント投影光学系40、前眼部正面像を撮像する前眼部正面撮像光学系30、に大別される。なお、以下の光学系は、測定部8に内蔵されている。
投影光学系50は、測定光軸L1を中心に配置されたリング状の光源51を有し、被検眼角膜にリング指標を投影して角膜形状(曲率、乱視軸角度、等)を測定するために用いられる。なお、光源51には、例えば、赤外光または可視光を発するLEDが使用される。
投影光学系40は、光源51の内側に配置され、赤外光を発する投影光源41(例えば、λ=970nm)を有し、被検者眼角膜にアライメント指標を投影するために用いられる。なお、上記光源51及び光源41は、前眼部照明光源を兼用する。
撮像光学系30は、ダイクロイックミラー33、対物レンズ47、全反射ミラー36、フィルタ34、撮像レンズ37、二次元撮像素子35、を含み、被検眼の前眼部正面像を撮像するために用いられる。撮像素子35は、撮像面が被検眼前眼部と略共役な位置に配置されている。また、撮像光学系30は、眼底反射光によって照明された徹照像(瞳孔内画像)を撮像する。また、ダイクロイックミラー33は、測定光の大部分を透過し、測定光の一部を反射すると共に、光源51及び光源41による光を反射する。
前述の投影光学系50、投影光学系40による前眼部反射光は、ダイクロイックミラー33、対物レンズ47、全反射ミラー36、フィルタ34、及び撮像レンズ37を介して二次元撮像素子35に結像される。
眼軸長測定光学系10は、投光光学系10a及び受光光学系10bを有し、被検眼に測定光を投光し、その反射光による干渉光を検出する。投光光学系10aは、低コヒーレント光を出射する測定光源1(本実施例では、固視灯を兼ねる)、測定光源1から出射された光束を平行光束とするコリメータレンズ3、光源1から出射された光を分割するビームスプリッター(以下、ビームスプリッタ)5、ビームスプリッタ5の透過方向に配置された第1三角プリズム(コーナーキューブ)7、ビームスプリッタ5の反射方向に配置された第2三角プリズム9、偏光ビームスプリッタ11、1/4波長板18、光をランダムに拡散させる光学部材としての拡散板13を有する。
拡散板13は、投光光学系10aの光路中に配置され、徹照像に生じるスペックルノイズを光学的に抑制するスペックル抑制手段として用いられる。本実施例において、拡散板13は撮像光学系30の光路から外れた位置であって、かつ、第1測定光と第2測定光が通過する共通光路に配置されている。すなわち、徹照像のスペックルノイズを除去するため、徹照像撮影時において、光路に挿入され、光軸L1に対して垂直方向に振動される。なお、本実施例においては、拡散板13を光軸L1に対して垂直方向に振動する構成としたが、回転させてもかまわない。
第1駆動部16は、モータ等の駆動源を持ち、拡散板13を光路から挿脱させるために配置されている。第2駆動部15は、モータ等の駆動源を持ち、拡散板13の挿入後、拡散板13を光軸に対して垂直方向に振動させるために配置されている。測定光による角膜反射光と眼底反射光による干渉光を受光するために配置された受光光学系10bは、ダイクロイックミラー33と、1/4波長板18と、偏光ビームスプリッタ11と、集光レンズ19と、受光素子21と、を有する。
光源1から出射された光(直線偏光)は、コリメータレンズ3によってコリメートされた後、ビームスプリッタ5によって第1測定光と第2測定光とに分割される。そして、分割された光は、三角プリズム7(第1測定光)及び三角プリズム9(第2測定光)によって反射されて各々折り返された後、ビームスプリッタ5によって合成される。そして、合成された光は、偏光ビームスプリッタ11によって反射され、1/4波長板18によって円偏光に変換された後、光軸に対して垂直方向に振動する拡散板13、ダイクロイックミラー33を介して、少なくとも被検眼角膜と眼底に照射される。このとき、測定光束は、被検者眼の角膜と眼底にて反射されると、1/2波長分位相が変換される。
角膜反射光及び眼底反射光は、ダイクロイックミラー33(眼底反射光の一部は、反射される)、拡散板13を透過し、1/4波長板18によって直線偏光に変換される。その後、偏光ビームスプリッタ11を透過した反射光は、集光レンズ19によって集光された後、受光素子21によって受光される。
なお、三角プリズム7は、光路長を変更させるための光路長変更部材として用いられ、駆動部71(例えば、モータ)の駆動によってビームスプリッタ5に対して光軸方向に直線的に移動される。この場合、光路長変更部材は、三角ミラーであってもよい。また、プリズム7の駆動位置は、位置検出センサ72(例えば、ポテンショメータ、エンコーダ、等)によって検出される。
なお、上記説明においては、角膜反射光と眼底反射光を干渉させる構成としたが、これに限るものではない。すなわち、光源から出射された光を分割するビームスプリッタ(光分割部材)と、サンプルアームと、レファレンスアームと、干渉光を受光するための受光素子と、を有し、サンプルアームを介して被検眼に照射された測定光とレファレンスアームからの参照光とによる干渉光を受光素子により受光する光干渉光学系を備える眼寸法測定装置であってもよい。この場合、サンプルアーム及びレファレンスアームの少なくともいずれかに光路長変更部材が配置される。
また、上記構成においては、プリズム7を直線的に移動させることにより参照光の光路長を変化させるものとしたが、これに限るものではなく、回転反射体による光遅延機構により参照光の光路長を変化させる構成であっても、本発明の適用は可能である(例えば、特開2005−160694号公報参照)。
また、測定光学系10の測定光源1を徹照像撮影用光源として用いており、投光光学系10aと同様の光路を経て、被検眼眼底に投光される。そして、その眼底反射光によって被検眼の瞳孔内が後方から照明される。そして、被検眼瞳孔を出射した光は、前述の前眼部反射光と同様の経路を経て、二次元撮像素子35に撮像される。これにより、被検眼瞳孔内の徹照像が取得される。
次に、制御系について説明する。制御部80は、装置全体の制御及び測定結果の算出を行う。制御部80は、光源1、光源51、光源41、駆動機構17、第1駆動部16、第2駆動部15、受光素子21、撮像素子35、モニタ70、メモリ85等と接続されている。また、制御部80には、各種入力操作を行うための操作部90が接続されている。メモリ85には、各種制御プログラムの他、制御部80が眼軸長等を算出するためのソフトウェアプログラム等が記憶されている。
操作部90には、例えば、測定光学系により干渉光を受光して眼軸長を測定する第1モードと、撮像光学系により瞳孔内画像である徹照像画像を撮像する第2モードとを切り換える切換信号を発するためのモード切換手段(モード切換スイッチ90a)が設けられている。また、操作部90には、操作入力部として、マウス等の汎用インターフェースが用いられてもよいし、その他、タッチパネルが用いられてもよい。
制御部80は、モード切換手段からの切換信号に基づいて、第1モードではスペックル抑制手段の作動を停止させ、第2モードではスペックル抑制手段を作動させる。
より具体的に説明すると、制御部80は、第1駆動部16及び第2駆動部15の駆動を制御し、拡散板13の着脱及び振動の作動を制御する。なお、眼軸長の測定時には、拡散板13は、光路上より外され、振動が停止される。
第1モードでは、拡散板13は光路上より外され、第1駆動部16及び第2駆動部15の作動は停止される。また、第2モードへの切り換え時には、制御部80により、第1駆動部16が作動され、拡散板13が光路上に挿入されるとともに、第2駆動部15が作動され、拡散板13が振動される。なお、モード切換スイッチ90aの操作により第2モードから第1モードへ切り換えられると、制御部80は、第2駆動部15の作動を停止し、拡散板13の振動を停止させる。そして、第1駆動部16を作動し、光路上から拡散板13を外す。制御部80は、拡散板13が光路上から外れると、第1駆動部16の作動を停止させる。
以上のような構成を備える装置において、その動作について説明する。まず、第1モードに設定された場合を説明する。検者は、モニタ70に表示される被験者眼のアライメント状態を見ながら、ジョイスティック12等の操作手段を用いて、装置を上下左右及び前後方向に移動させ、装置を被験者眼Eに対して所定の位置関係に置く。この場合、検者は、固視標を被験者眼に固視させる。
図3は撮像素子35によって撮像された前眼部画像が表示された前眼部観察画面を示す図である。アライメントの際には、光源41及び光源51が点灯される。ここで、検者は、図3に示すように、電子的に表示されたレチクルLTと、光源41によるリング指標R1と、が同心円状になるように上下左右のアライメントを行う。また、検者は、リング指標R1のピントが合うように、前後のアライメントを行う。なお、リング指標R1の外側には、第2光源51によるリング指標R2が表示されている。
<眼軸長の算出>
アライメント完了後、測定開始のトリガ信号が自動又は手動にて出力され、制御部80によって測定光源1が点灯されると、眼軸長測定光学系10によって測定光が被検眼に照射されると共に、測定光による被検眼からの反射光が受光光学系10bの受光素子21に入射される。
また、制御部80は、駆動部71の駆動を制御し、第1三角プリズム7を往復移動させる。そして、制御部80は、受光素子21から出力される受光信号に基づいて、受光素子21によって干渉光が検出されたタイミングを元に、眼軸長を算出する。
取得された被験者眼の眼軸長の情報は、メモリ85に記憶される。また、制御部80は、所定回数の測定が完了したら(又は被検者の眼軸長値が所定数得られたら)、プリズム7の往復移動を終了し、プリズム7の移動位置を初期位置に復帰させる。なお、第1モードでは、眼軸長の他、角膜形状が任意に測定可能である。
<徹照像撮影>
検者により、第2モードへのモード切換スイッチ90aが選択されると、制御部80は、第1モードから第2モードへとモード切り換えを行う。なお、制御部80は、第1モードから第2モードへの切換を自動的に行うようにしてもよい。第2モードでは、制御部80は、第1駆動部16を作動させ、拡散板13光路上に挿入する。次いで、第2駆動部15を作動させ、光路上にて、拡散板13を振動させる。
そして、光源51及び光源41を消灯させ、光源1を点灯させる。光源1より出射され、拡散板13を通って、眼底に投光される。そして、眼底反射光は被検眼Eの水晶体内を照明した後に、瞳孔から出射される。瞳孔より出射された眼底反射光は、ダイクロイックミラー33により反射され、徹照像として撮像素子35により撮像され、モニタ70上に表示される。これにより、白内障や混濁のある部位Kにおいては、暗い影が確認される(図4参照)。
ここで、投光系より発せられた光の経路を考えると、被検眼眼底のような面は、光の波長と比較してその凹凸が同程度かまたは大きい。そのため、被検眼眼底に向けて照射した光束は、眼底で複雑な位相変化を伴って重なり合い、それらの光束が互いに干渉している場合がある。そして、その反射光により徹照像を撮像すると、徹照画像上に斑点状のムラが発生する。
そのため、徹照像の撮影時に斑点上のムラが発生する光路上において、拡散板13を設置することで、徹照画像上の斑点状のムラを除去した。すなわち、光路上にて、拡散板13を光軸に対して垂直方向に振動させることにより、眼底に向かう測定光に対して位相差を発生させる。これにより、眼底上での測定光の干渉状態が変動され、結果的に、徹照画像上に生じるスペックルパターンが時間的に変動される。そして、受光系の応答速度内での積分効果によりパターンが平均化される。この場合、例えば、撮像素子35において1フレームを取得する時間内にスペックルパターンが幾重にも変動するように、十分な速度で拡散板13を振動させる。
そして、ジョイスティック12に設けられたスイッチ12bが操作されると、徹照像画像が取得され、メモリ85に記憶される。また、このような徹照像画像は、モニタ70やプリンタ等に出力される。なお、本発明においては、撮影スイッチ12bを操作することにより画像の取得が行われるものとしたが、自動的に撮影が行われる構成としてもよい。
以上のように、本発明によれば、徹照像画像のような瞳孔内画像を撮影した際の画像全体の斑点状のムラを除去でき、検者は、白内障による混濁と斑点状のムラを誤認識することなく確認することができる。
また、上記説明においては、徹照像撮影時に拡散板13を作動させることにより、徹照像のスペックルノイズが除去され、白内障の進行状態の確認に適した良好な徹照像が得られる。一方、眼軸長測定時に拡散板13の作動を停止させることにより、眼底反射光と他の光の光干渉性が確保され、眼軸長を正確に測定できる。
なお、本発明においては、スペックルノイズを除去するために用いる光学部材として、拡散板13を用いたが、これに限らない。例えば、プリズムを用いてもよい。プリズムを用いる場合、駆動部により、プリズムを回転運動させ、光束を偏心回転させることにより、眼底上での光束の散乱状態が変化され、スペックルノイズを除去可能となる。また、水晶偏光解消板、バンドルファイバ、フォトニック結晶、液晶プレート等の部材を用いてコヒーレンス性を低下させ、スペックルノイズを除去することも可能である。
なお、上記構成においては、拡散板13を偏光ビームスプリッタ11とダイクロイックミラー33の間に挿入する構成としたがこれに限らず、撮像光学系30の光路から外れた位置であればよい。
さらに、第1測定光と第2測定光との共通光路(例えば、光源1とビームスプリッタ5の間)であることが好ましい。これにより、スペックルノイズ除去用の光学部材によって測定光束全体が作用される。一方、分割光路のいずれかに配置されると、他方の光が変動されないからである。
なお、プリズムを用いた場合には、眼底上での光束を移動させる必要があるため、その配置位置は、撮像光学系30の光路から外れた位置かつ、眼底共役位置から外れた位置とすることで適用可能となる。
なお、本発明においては、測定光源1として、低コヒーレント光を出射する光源であるSLDを用いたが、これに限らず、コヒーレント性を持つ光を出射する光源であればよい。例えば、高コヒーレント光源であるマルチモードレーザダイオードでも適応可能である。
なお、上記構成においては、スペックル除去手段として、プリズム等の光束偏向部材を用いる場合、瞳孔共役位置にこれを配置するのであれば、眼軸長測定中に光束偏向部材を作動させても、角膜反射光の移動が軽減され、干渉性の低下は、一定量抑制されるかもしれない。
<第2実施形態>
以下、第2の実施形態を図面に基づいて説明する。図5は本発明に係る眼科装置(眼屈折力測定装置)における光学系及び制御系の概略構成図である。
本光学系は、測定光学系60、観察光学系110、アライメント投影光学系100、固視標光学系120、に大別される。
測定光学系60は、被検眼の瞳孔中心部から眼底にスポット状の光束を投影する投影光学系60aと、その反射光を瞳孔周辺部からリング状に取り出す受光光学系60bから構成される。投影光学系60aは、測定光軸L1上に配置されたSLD等の赤外点光源61、リレーレンズ62、ホールミラー63、駆動部89により光軸Lを中心に回転駆動されるプリズム64、測定用対物レンズ67からなり、この順に被検眼に向けて配置されている。光源61は被検眼眼底と共役な関係となっており、ホールミラー63のホール部は瞳孔と共役な関係となっている。プリズム64は被検眼Eの瞳孔及び眼底と共役な位置から外れた位置に配置されており、通過する光束を光軸L1に対して偏心させる。測定用対物レンズ67と被検眼の間には、光路分岐部材であるビームスプリッタ29が配置されている。ビームスプリッタ29は、被検眼前眼部の反射光を観察光学系110に反射させ、固視標光学系120の光束を被検眼に導く。また、ビームスプリッタ29は、赤外点光源61より出射され、眼底で反射された眼底反射光の一部を反射し、観察光学系110へ導き、他の眼底反射光を透過し、受光光学系60bへ導く。なお、赤外点光源61による眼底反射光の内、観察光学系110へ導かれた眼底反射光は、徹照像画像の撮影時に用いられる(詳細は後述する)。
受光光学系60bは、投影光学系60aの測定用対物レンズ67、プリズム64及びホールミラー63を共用し、ホールミラー63の反射方向の光路に配置されたリレーレンズ65、ミラー66、ミラー66の反射方向の光路に配置された受光絞り68、コリメータレンズ69、リングレンズ74、CCD等の2次元受光素子である撮像素子79を備える。受光絞り68及び撮像素子79は、被検眼眼底と共役な関係となっている。撮像素子79の出力は、画像処理部76を介して制御部75に接続されている。
また、投影光学系60aの光源61と、受光光学系60bの受光絞り68、コリメータレンズ69、リングレンズ74、撮像素子79は、可動ユニット88として光軸方向に一体的に移動可能となっている。86は可動ユニット88を光軸方向に移動させる駆動部であり、被検眼の球面屈折誤差(球面屈折力)に応じて移動させることで、球面屈折誤差を補正し、被検眼眼底に対して光源61、受光絞り68及び撮像素子79が光学的に共役になるようにする。可動ユニット88の移動位置は、ポテンショメータ87により検出される。なお、ホールミラー63とリングレンズ74は、可動ユニット88の移動量に拘わらず、被検眼の瞳と一定の倍率で共役になるように配置されている。
ビームスプリッタ29により光軸L1と同軸にされる光軸L2上には、観察系対物レンズ43、ハーフミラー42、ダイクロイックミラー124、投光レンズ123、固視標122、可視光源121が順次配置されており、光源121〜観察系対物レンズ43により固視標光学系120が構成される。光源121及び固視標122は光軸L2方向に移動することにより被検眼の雲霧を行う。光源121は固視標122を照明し、固視標122からの光束は投光レンズ123、ダイクロイックミラー124、ハーフミラー42、対物レンズ43を経た後、ビームスプリッタ29で反射して被検眼に向かい、被検眼は固視標122を固視する。
100は被検眼正面からアライメント指標を投影するアライメント投影光学系であり、光源101からの近赤外光は集光レンズ102により集光されてダイクロイックミラー124、ハーフミラー42、対物レンズ43を介して略平行光束とされた後、ビームスプリッタ29で反射されて被検眼に投影される。
110は観察光学系であり、ハーフミラー42の反射側には、撮影レンズ111、撮像素子112が配置されている。撮像素子112の出力は画像処理部77を介してモニタ70に接続されている。被検眼の前眼部像は、ビームスプリッタ29、対物レンズ43、ハーフミラー42、撮影レンズ111を介して撮像素子112の撮像素子面に結像し、観察画像がモニタ70に表示される。観察光学系110は被検眼角膜に形成されるアライメント指標像を検出する光学系及び瞳孔位置を検出する光学系を兼ねることも可能であり、画像処理部77により指標像の位置及び瞳孔位置が検出される。
制御部75は、画像処理部76を介して取得されたリング像を解析し、被検眼の眼屈折力を算出する。また、制御部75は、装置全体の制御を行う。また、制御部75には、同一被検眼において、眼屈折力を測定するための第1モードと、瞳孔内画像である徹照像画像を撮像する第2モードを切り換えるためのモード切換スイッチ90a等を備えた操作部90が接続されている。
<眼屈折力測定>
次に、以上のような構成を備える装置において、その動作を説明する。モード切換スイッチ90aにより第1モードに設定されると、制御部75は、光源61を点灯すると共に、プリズム64を駆動部89により高速回転させる。そして、被検眼の瞳孔中心(又は角膜中心)に測定光軸L1がアライメントされ、測定開始のトリガ信号が出力されると、制御部75は、光源61より赤外光を出射させる。
光源61から出射された赤外光は、リレーレンズ62、ホールミラー63、プリズム64、対物レンズ67、ビームスプリッタ29を経て、被検眼の眼底上にスポット状の点光源像を形成する。このとき、光軸周りに回転するプリズム64により、ホールミラー63のホール部の瞳投影像(瞳上での投影光束)は、高速に偏心回転される。
眼底に投影された点光源像は反射・散乱されて被検眼を射出し、ビームスプリッタ29により、眼底反射光の一部は反射され、他は透過される。そして、ビームスプリッタ29を透過した反射光は、対物レンズ67によって集光され、高速回転するプリズム64、ホールミラー63、リレーレンズ65、ミラー66を介して受光絞り68の位置に再び集光され、コリメータレンズ69とリングレンズ74とによって撮像素子79にリング状に結像する。このとき、眼底からの反射光束は投影光学系60aと同じプリズム64を通過することによって、それ以降の光学系ではあたかも瞳上における投影光束・反射光束(受光光束)の偏心が無かったかのように逆走査されることになる。
撮像素子79からの出力信号は画像処理部76により検出処理される。被検眼が正視眼の場合、撮像素子79と眼底とが共役になり、眼底反射光はリングレンズ74に平行光束として入射するため、撮像素子79上にはリングレンズ74と同じサイズのリング像が結像する。一方、被検眼Eに球面屈折成分の屈折異常がある場合、撮像素子79上にできるリング像のリング半径は、その球面屈折誤差のずれ量に比例した大きさになる。乱視屈折誤差がある場合は、撮像素子79上にできるリング像はその乱視屈折誤差に応じて楕円形状となる。したがって、撮像素子79上にできるリング像の形状を解析することにより、各経線方向の屈折誤差を求めることができ、これに所定の処理を施すことにより、S(球面度数)、C(乱視度数)、A(乱視軸角度)の屈折値を求めることができる。リング像のサイズは、リング像のエッジの中心位置、光量レベルの重心位置あるいは光量レベルのピーク位置として求めることができる。
実際の測定は、予備測定から得られる屈折力に基づいて固視標122を一旦眼底と共役になる位置に置いた後、適当なディオプタ分だけ雲霧が掛かるように固視標122を移動させる。そして、被検眼に雲霧を掛けた状態で本測定が実行される。固視標光学系120の視標光束は、プリズム64より被検眼側に配置されたビームスプリッタ29を介して被検眼に向かうため、被検眼は固視標を安定して注視することができる。
<徹照像撮影>
モード切換スイッチ90aにより第2測定モードへの切換信号が発せられると(自動的に切り換えられても良い)、制御部75は、光源101を消灯させ、光源61を点灯させる。光源61より出射され、プリズム64を通り、眼底で反射された眼底反射光は被検眼Eの水晶体内を照明した後に、瞳孔から出射される。瞳孔より出射された眼底反射光は、ダイクロイックミラー29により一部反射され、徹照像として撮影レンズ111を介して撮像素子112の撮像素子面に結像し、モニタ70に表示される。
ここで、測定光学系60の測定光源61には、コヒーレント性(干渉性が高い)を持つ光源であるSLDが用いられており、その光源による眼底反射光により徹照像を撮像すると、第1実施形態と同様に、徹照画像上に斑点状のムラ(スペックルノイズ)が発生する。
そこで、本実施形態では、スペックル抑制手段として、光源61から眼底へと向かう測定光を眼底に対して偏向させる光偏向手段としてプリズム64の回転駆動を用い、眼底と共役で無い位置に配置することにより徹照像のスペックルノイズを除去している。すなわち、眼底と共役でない位置にプリズム64を配置したことにより、被検眼眼底に投影されるスポット状の光束(点光源像)も高速で偏心回転運動する。ここで、眼底上で測定光束が移動されることにより、眼底上での光束の散乱状態が変化され、結果的に、徹照像のスペックルノイズは、撮像素子112の蓄積時間中に中和され、その影響が取り除くことが可能になる。
なお、本実施例においては、プリズム64をホールミラー63と対物レンズ67の間に挿入する構成としたがこれに限らず、眼底共役位置から外れ、かつ、観察光学系110の光路から外れた位置であればよい。例えば、対物レンズ67とビームスプリッタ29の間に設置した構成であってもよい。また、眼底共役から外れた位置だけでなく、瞳孔共役から外れた位置にプリズム64を配置することにより、スペックルノイズの除去とともに、測定光を瞳孔上で偏心できることにより、眼屈折力の平均的な測定ができるためよりよい。
以上のように、本発明によれば、徹照像画像のような瞳孔内画像を撮影した際の画像全体の斑点状のムラを除去でき、検者は、白内障による混濁と斑点状のムラを誤認識することなく確認することができる。
なお、上記第1及び第2実施形態において、徹照像を撮像する場合、被検眼の角膜頂点と撮像光学系の撮像光軸がずれるように装置本体を被検眼に対して相対移動させる駆動手段(駆動機構17)を制御し、撮像素子にて瞳孔内画像を撮像するとよりよい。すなわち、制御部は、モード切換手段からの切換信号に基づいて第2モードに設定された場合、被検眼の角膜頂点と撮像光学系の撮像光軸がずれるように駆動手段を制御し、撮像素子にて徹照像を撮像する。
眼軸長や眼屈折力の測定時、通常、角膜頂点と撮像光軸が一致された状態で行われる。しかしながら、その後、徹照像を撮像しようとすると、徹照像画像の中央部に測定光源による角膜輝点Bが映るために、検者は、徹照像画像が観察しづらくなる。また、検者は、混濁部と角膜輝点を間違えてしまう可能性がある(図6(a)参照)。そこで、角膜頂点と撮像光軸をずらすことにより、角膜輝点Bの輝度は小さくなり、検者は、徹照像が観察しやすくなり、誤認の可能性も低くなる(図6(b)参照)。なお、この駆動機構17の制御については、コヒーレント性の高い光源に制限されず、コヒーレント性の低いLEDであっても適用可能である。
以下に、図6を用いてより具体的に説明していく。なお、以下の説明は、第1実施形態の装置を例に説明する。ここで、第2モードへのモード切換スイッチ90aが選択されると、制御部80は、第1モードから第2モードへとモード切り換えを行う。
そして、モニタ70上に徹照像画像が表示された後、制御部80は、撮像素子35により撮像された徹照像において、輝度値がピーク値となるXY座標を略角膜頂点位置(角膜輝点位置)Moとして検出する。そして、測定部8と被検者眼を所定の位置関係にするために予め撮像素子35上に設定されたXY方向の基準位置O2(D1、0)と角膜頂点位置Moとの偏位量Δdを求める(図7参照)。
なお、基準位置O2は、第2モード時に用いる基準位置である。なお、基準位置O2は、撮像素子35の撮像面上における撮像光軸L1に対応する光軸位置O1に対して、所定量D1ずれた位置に設定される。いいかえれば、検出されるアライメントずれ量は、光軸位置O1に対してD1分オフセットが掛けられる。なお、D1は、角膜輝点Bの大きさ/明るさ、徹照像の撮像状態などを考慮して設定される。
ここで、制御部80は、この偏位量Δdが角膜頂点移動完了の許容範囲A1に入るように、駆動機構17の駆動制御による自動アライメントを作動する。
偏位量Δdがアライメント完了の許容範囲A1に入り、その時間が一定時間(例えば、画像処理の10フレーム分又は0.3秒間等)継続しているかにより、XY方向のアライメントの適否を判定する。
ここで、XYZ方向におけるアライメント偏位量Δdが許容範囲A1に入ったら、駆動機構17の駆動を停止させると共に、アライメント完了信号を出力する。なお、アライメント完了後においても、制御部80は、偏位量Δdを随時検出しており、撮影完了前に、偏位量Δdが許容範囲A1を超えた場合、自動アライメントを再開する。すなわち、制御部80は、偏位量Δdが許容範囲A1を満たすように被検者眼に対して測定部8を追尾させる制御(トラッキング)を行う。
これにより、モニタ70上に表示されている徹照像画像より角膜輝点を移動させ、観察の妨げとなることを防ぐことが可能となる。なお、上記の場合、光源41及び光源51を消灯する前段階における前眼部観察像と角膜輝点を用いるようにしてもよい
なお、徹照像の位置座標と角膜輝点の位置座標を比較することにより、自動アライメントを行い、角膜輝点の移動を行うものでもよい。より具体的に説明すると、制御部80は、撮像素子35によって撮像された徹照像において、輝度値がピーク値となる位置の検出により角膜輝点の位置を検出する。
次いで、制御部80は、徹照像に対してエッジ検出を行い、徹照像の外周の位置座標を検出する。そして、制御部80は、角膜輝点の位置座標と徹照像の外周の位置情報を比較し、角膜輝点の位置座標が徹照像の外周の位置座標と同位置または、その外側の位置となるように測定部8を移動させる。もちろん、角膜輝点Bの輝度が小さくなり認識しづらくなる位置であればかまわない。例えば、徹照像の外周よりも内側であっても角膜輝点の輝度が小さくなっており、観察の妨げとならない位置であればよい。
なお、上記のように角膜輝点の位置を検出しなくとも、制御部80は、角膜輝点の大きさ/明るさが所定の許容範囲に達したときに、測定部8の移動を停止するようにしても良い。また、角膜輝点を検出せずとも、制御部80は、第1測定モードの終了後、第2測定モードへの切換信号に基づいて駆動機構17の駆動を制御し、測定部8を所定量移動させるようにすればよい。
本発明に係る眼科装置の外観図である。 本実施形態に係る眼科装置の光学系について示す概略構成図である。 前眼部画像が表示された前眼部観察画面を示す図である。 徹照像が表示された徹照像観察画面を示す図である。 本発明に係る眼屈折力測定装置における光学系及び制御系の概略構成図である。 角膜頂点と撮像光軸をずらす前後の徹照像観察画面を示す図である。 角膜頂点位置と基準位置とのずれの検出手法について説明する図である。
1 測定光源
10 眼軸長測定光学系
10a 投光光学系
10b 受光光学系
13 拡散板
15 第2駆動部
16 第1駆動部
30 前眼部正面撮像光学系
35 二次元撮像素子
40 アライメント投影光学系
50 ケラト投影光学系
70 モニタ
80 制御部
85 メモリ
90 操作部
90a モード切換スイッチ

Claims (5)

  1. コヒーレント性を持つ光を発する光源を有し、光源から出射された光の少なくとも一部を測定光として被検者眼眼底に向けて投光する投光光学系、
    前記測定光による眼底反射光を含む光を受光素子で受光する受光光学系、
    を有し、被検者眼を測定するための測定光学系を備え、
    前記受光素子からの出力に基づいて被検者眼を測定する眼科測定装置において、
    被検眼前眼部と略共役な位置に配置された撮像面を持つ撮像素子を有し、前記光源による眼底反射光によって照明された徹照像を撮像する撮像光学系と、
    前記投光光学系の光路中に配置され、前記徹照像に生じるスペックルノイズを光学的に抑制するスペックル抑制手段と、
    を備えることを特徴とする眼科測定装置。
  2. 請求項1の眼科測定装置において、
    前記測定光学系は、低コヒーレント光を出射する光源と、光源から出射された光を分割するビームスプリッタと、分割された光の一方を眼底に向けて投光する投光光学系、
    眼底で反射された一方の光と他方の光を合成することで発生する干渉光を受光素子に導く受光光学系、
    前記一方の光と他方の光の光路差を調整するために光軸方向に移動可能に配置された光学部材と、を有する眼軸長測定光学系であり、
    前記スペックル抑制手段は、前記撮像光学系の光路から外れた位置であって、かつ、前記一方の光と前記他方の光が通過する共通光路に配置されることを特徴とする眼科測定装置。
  3. 請求項2の眼科測定装置において、
    前記測定光学系により干渉光を受光して眼軸長を測定するための第1モードと、前記撮像光学系により前記徹照像を撮像するための第2モードと、を切換える切換信号を発するモード切換手段と、
    前記モード切換手段からの切換信号に基づいて、前記第1モードでは前記スペックル抑制手段の作動を停止させ、前記第2モードでは前記スペックル抑制手段を作動させる制御手段と、
    を備えることを特徴とする眼科測定装置。
  4. 請求項1の眼科測定装置において、
    前記測定光学系は、前記眼底に測定指標を投影し、その反射光束を受光して眼屈折力を測定する眼屈折力測定光学系であり、
    前記スペックル抑制手段は、前記光源から前記眼底へと向かう測定光を前記眼底に対して偏向させる光偏向手段であることを特徴とする眼科測定装置。
  5. 請求項1又は請求項4の眼科測定装置において、
    前記測定光学系、前記撮像光学系、スペックル抑制手段を有する装置本体と、
    前記装置本体を被検眼に対して相対移動させる駆動手段と、
    前記測定光学系により被検者眼を測定するための第1モードと、前記撮像光学系により前記徹照像を撮像するための第2モードと、を切換える切換信号を発するモード切換手段と、
    前記モード切換手段からの切換信号に基づいて前記第2モードに設定された場合、被検眼の角膜頂点と前記撮像光学系の撮像光軸がずれるように前記駆動手段を制御し、前記撮像素子にて徹照像を撮像する撮像制御手段を備えることを特徴とする眼科測定装置。
JP2010176673A 2010-08-05 2010-08-05 眼科測定装置 Active JP5500587B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010176673A JP5500587B2 (ja) 2010-08-05 2010-08-05 眼科測定装置
EP11176582.2A EP2415393B1 (en) 2010-08-05 2011-08-04 Ophthalmic apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010176673A JP5500587B2 (ja) 2010-08-05 2010-08-05 眼科測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2012034788A true JP2012034788A (ja) 2012-02-23
JP5500587B2 JP5500587B2 (ja) 2014-05-21

Family

ID=45847481

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010176673A Active JP5500587B2 (ja) 2010-08-05 2010-08-05 眼科測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5500587B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016063722A1 (ja) * 2014-10-22 2016-04-28 株式会社トプコン 眼科装置
JP2019171130A (ja) * 2019-06-14 2019-10-10 株式会社トプコン 眼科装置
CN113625445A (zh) * 2021-08-16 2021-11-09 重庆远视科技有限公司 用于测量屈光信息的光学系统

Citations (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04244133A (ja) * 1991-01-30 1992-09-01 Nidek Co Ltd 眼屈折力測定装置
JPH06142044A (ja) * 1992-11-10 1994-05-24 Canon Inc 眼科測定装置
JPH0721005U (ja) * 1993-09-22 1995-04-18 株式会社ニコン 眼屈折力測定装置
JPH07241272A (ja) * 1994-03-07 1995-09-19 Canon Inc 角膜形状測定装置
JPH08299273A (ja) * 1995-04-28 1996-11-19 Canon Inc 眼科装置
JPH10192334A (ja) * 1996-12-27 1998-07-28 Nidek Co Ltd 眼科手術装置
JP2001321340A (ja) * 2000-05-12 2001-11-20 Topcon Corp 眼特性測定装置
JP2001340299A (ja) * 2000-06-02 2001-12-11 Topcon Corp 眼光学特性測定装置
JP2005185523A (ja) * 2003-12-25 2005-07-14 Nidek Co Ltd 眼屈折力測定装置
JP2005342204A (ja) * 2004-06-03 2005-12-15 Nidek Co Ltd 眼科測定装置
JP2006187482A (ja) * 2005-01-07 2006-07-20 Nidek Co Ltd 眼屈折力測定装置
JP2008161218A (ja) * 2006-12-26 2008-07-17 Nidek Co Ltd 眼軸長測定装置
JP2009112430A (ja) * 2007-11-02 2009-05-28 Nidek Co Ltd 眼寸法測定装置
WO2010037485A1 (de) * 2008-09-30 2010-04-08 Carl Zeiss Meditec Ag Anordnungen und verfahren zur messung einer augenbewegung, insbesondere einer bewegung des augenhintergrunds

Patent Citations (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04244133A (ja) * 1991-01-30 1992-09-01 Nidek Co Ltd 眼屈折力測定装置
JPH06142044A (ja) * 1992-11-10 1994-05-24 Canon Inc 眼科測定装置
JPH0721005U (ja) * 1993-09-22 1995-04-18 株式会社ニコン 眼屈折力測定装置
JPH07241272A (ja) * 1994-03-07 1995-09-19 Canon Inc 角膜形状測定装置
JPH08299273A (ja) * 1995-04-28 1996-11-19 Canon Inc 眼科装置
JPH10192334A (ja) * 1996-12-27 1998-07-28 Nidek Co Ltd 眼科手術装置
JP2001321340A (ja) * 2000-05-12 2001-11-20 Topcon Corp 眼特性測定装置
JP2001340299A (ja) * 2000-06-02 2001-12-11 Topcon Corp 眼光学特性測定装置
JP2005185523A (ja) * 2003-12-25 2005-07-14 Nidek Co Ltd 眼屈折力測定装置
JP2005342204A (ja) * 2004-06-03 2005-12-15 Nidek Co Ltd 眼科測定装置
JP2006187482A (ja) * 2005-01-07 2006-07-20 Nidek Co Ltd 眼屈折力測定装置
JP2008161218A (ja) * 2006-12-26 2008-07-17 Nidek Co Ltd 眼軸長測定装置
JP2009112430A (ja) * 2007-11-02 2009-05-28 Nidek Co Ltd 眼寸法測定装置
WO2010037485A1 (de) * 2008-09-30 2010-04-08 Carl Zeiss Meditec Ag Anordnungen und verfahren zur messung einer augenbewegung, insbesondere einer bewegung des augenhintergrunds

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016063722A1 (ja) * 2014-10-22 2016-04-28 株式会社トプコン 眼科装置
JP2016077774A (ja) * 2014-10-22 2016-05-16 株式会社トプコン 眼科装置
US10136809B2 (en) 2014-10-22 2018-11-27 Kabushiki Kaisha Topcon Ophthalmic apparatus
JP2019171130A (ja) * 2019-06-14 2019-10-10 株式会社トプコン 眼科装置
CN113625445A (zh) * 2021-08-16 2021-11-09 重庆远视科技有限公司 用于测量屈光信息的光学系统

Also Published As

Publication number Publication date
JP5500587B2 (ja) 2014-05-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5545629B2 (ja) 眼科撮影装置
JP5545630B2 (ja) 眼科撮影装置
JP4492847B2 (ja) 眼屈折力測定装置
EP2415393B1 (en) Ophthalmic apparatus
JP5704946B2 (ja) 眼科撮影装置
JP5578560B2 (ja) 前眼部測定装置
JP5987477B2 (ja) 眼科撮影装置
US8562135B2 (en) Ophthalmic apparatus
JP5767026B2 (ja) 前眼部測定装置
JP5654225B2 (ja) 角膜形状測定装置
JP5834537B2 (ja) 眼軸長測定装置
KR101692078B1 (ko) 안굴절력 측정 장치
JP4523338B2 (ja) 眼科測定装置
JP6604020B2 (ja) 眼底撮像装置及び眼底撮像プログラム
JP6421919B2 (ja) 眼科撮影装置
JP5500587B2 (ja) 眼科測定装置
US20050134798A1 (en) Device for measuring optical charateristic of eye
JP5680913B2 (ja) 前眼部測定装置
JP2016049368A (ja) 眼科撮影装置
JP5484139B2 (ja) 眼科装置
JP6507536B2 (ja) 眼科撮影装置、および眼科撮影プログラム
JP5710827B2 (ja) 角膜形状測定装置
JP2020156622A (ja) 眼科装置
JP2016022261A (ja) 眼底撮影装置
JP6975528B2 (ja) 眼底撮影装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20130722

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20131105

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140204

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140305

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5500587

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250