JP2012032196A - Thermal conduction measuring apparatus and thermal conduction measuring method - Google Patents

Thermal conduction measuring apparatus and thermal conduction measuring method Download PDF

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a thermal conduction measuring apparatus and a thermal conduction measuring method capable of detecting installation abnormality of a measuring object.SOLUTION: The measuring object is gripped by a heating side gripping member thermally connected to a heating source and having an end face and a cooling side gripping member thermally connected to a cooling source and having an end face. In the gripped state, the heating side gripping member is heated by the heating source and the cooling side gripping member is cooled by the cooling source to allow heat to flow from the heating side gripping member to the cooling side gripping member. In the state, at least either one of temperature dispersion in a face direction parallel with the end face of the heating side gripping member and temperature dispersion in a face direction parallel with the end face of the cooling side gripping member is measured, and the installation abnormality of the measuring object is detected based on the measured temperature dispersion.

Description

本発明は、熱伝導測定装置及び熱伝導測定方法に関するものである。   The present invention relates to a heat conduction measuring device and a heat conduction measuring method.

従来、定常法により樹脂材等の測定対象物の熱物性値を測定する装置として種々の装置が知られている(特許文献1及び2参照)。例えば、特許文献1に記載の装置は、図7に示されるように、測定対象物100を一対の部材(挟持部材)101,102で挟んで層状の構成とし、この層状構造体103を上部ロッド104と下部ロッド105との間に挟み込む構成となっている。   Conventionally, various apparatuses are known as an apparatus for measuring a thermophysical value of a measurement object such as a resin material by a steady method (see Patent Documents 1 and 2). For example, as shown in FIG. 7, the apparatus described in Patent Document 1 has a layered structure in which a measurement object 100 is sandwiched between a pair of members (clamping members) 101 and 102, and the layered structure 103 is an upper rod. It is configured to be sandwiched between 104 and the lower rod 105.

上部ロッド104は、熱源(図示省略)に接続されると共に、長手方向の複数箇所で温度を測定することができるように構成され、また、下部ロッド105は、冷却装置(図示省略)に接続されると共に、長手方向の複数箇所で温度を測定することができるように構成されている。そして、上部ロッド104及び下部ロッド105によって層状構造体103に荷重を加えた状態で上部ロッド104から下部ロッド105に熱を流し、上部ロッド104及び下部ロッド105の複数箇所で温度を測定することにより層状構造体103の熱抵抗を測定し、これに基づいて測定対象物100の熱物性値を求める。   The upper rod 104 is connected to a heat source (not shown) and configured to be able to measure temperature at a plurality of locations in the longitudinal direction. The lower rod 105 is connected to a cooling device (not shown). In addition, the temperature can be measured at a plurality of locations in the longitudinal direction. Then, heat is applied from the upper rod 104 to the lower rod 105 while a load is applied to the layered structure 103 by the upper rod 104 and the lower rod 105, and the temperature is measured at a plurality of locations of the upper rod 104 and the lower rod 105. The thermal resistance of the layered structure 103 is measured, and the thermophysical property value of the measurement object 100 is obtained based on this.

特許第3858660号公報Japanese Patent No. 3858660 特開2008−309729号公報JP 2008-309729 A

特許文献1の装置では、測定対象物100の熱物性値の測定の際に、測定対象物100を一対の挟持部材101,102と共に挟み込んだ状態で上部ロッド104から下部ロッド105に熱を流すが、測定精度を確保するためには熱の流れが偏らないように上部ロッド104から下部ロッド105に熱を流す必要がある。前記の装置では、上下のロッド104,105間に測定対象物100を正常な状態で設置、即ち、上部ロッド104と測定対象物100と下部ロッド105とが熱の流れる方向に沿って真っ直ぐ並ぶように設置(図3(a)参照)することによって、熱の流れが偏ることなく上部ロッド104から下部ロッド105へ熱が流れる。   In the apparatus of Patent Document 1, when measuring the thermophysical value of the measurement object 100, heat is passed from the upper rod 104 to the lower rod 105 in a state where the measurement object 100 is sandwiched with the pair of clamping members 101 and 102. In order to ensure measurement accuracy, it is necessary to flow heat from the upper rod 104 to the lower rod 105 so that the heat flow is not biased. In the apparatus described above, the measuring object 100 is placed in a normal state between the upper and lower rods 104, 105, that is, the upper rod 104, the measuring object 100, and the lower rod 105 are arranged in a straight line along the direction of heat flow. (See FIG. 3 (a)), the heat flows from the upper rod 104 to the lower rod 105 without the heat flow being biased.

そのため、測定対象物100を設置したときに、例えば、上部ロッド104又は/及び下部ロッド105が傾いた状態(図3(b)及び図3(e)参照)や、測定対象物100の厚さ寸法が均一でない状態(図3(c)参照)や、測定対象物100が所定の設置位置から横方向にずれた状態(図3(d)参照)等の設置異常が生じると、上部ロッド104から下部ロッド105への熱の流れに偏りが生じ、測定対象物100の熱物性値を正確に測定することができない。   Therefore, when the measuring object 100 is installed, for example, the upper rod 104 and / or the lower rod 105 are tilted (see FIGS. 3B and 3E) or the thickness of the measuring object 100 is measured. When an installation abnormality occurs such as a state in which the dimensions are not uniform (see FIG. 3C) or a state in which the measurement object 100 is displaced laterally from a predetermined installation position (see FIG. 3D), the upper rod 104 The heat flow from the first to the lower rod 105 is biased, and the thermophysical property value of the measurement object 100 cannot be measured accurately.

また、前記の装置では、この設置異常を検知することができないため、例えば、測定対象物100の厚さ寸法が不均一な場合にも、熱物性値を正確に測定することができない。   In addition, since the above apparatus cannot detect this installation abnormality, for example, even when the thickness of the measurement object 100 is not uniform, the thermophysical property value cannot be measured accurately.

一方、特許文献2には、複数のセンサを用いて測定対象物100の厚さ寸法を複数箇所で測定してその平均値を求め、この平均値を測定対象物100の厚さ寸法と擬制して熱物性値の算出を行う装置が開示されている(特許文献2参照)。   On the other hand, in Patent Document 2, the thickness dimension of the measuring object 100 is measured at a plurality of locations using a plurality of sensors to obtain an average value, and this average value is simulated as the thickness dimension of the measuring object 100. An apparatus for calculating thermophysical property values is disclosed (see Patent Document 2).

しかし、この装置でも、測定対象物100の横方向の位置ずれのような設置異常には対処できない。また、求められた熱物性値には、前記平均値を測定対象物の厚さ寸法と擬制することによる誤差が含まれる場合がある。従って、特許文献2の装置でも、熱物性値を正確に測定できない場合がある。   However, even this apparatus cannot deal with an installation abnormality such as a lateral displacement of the measurement object 100. In addition, the obtained thermophysical property value may include an error caused by imitating the average value as the thickness dimension of the measurement object. Therefore, even with the apparatus of Patent Document 2, the thermophysical property value may not be accurately measured.

そこで、測定対象物の設置異常を検知することができる熱伝導測定装置、及び熱伝導測定方法を提供することを課題とする。   Therefore, it is an object to provide a heat conduction measuring device and a heat conduction measuring method capable of detecting an installation abnormality of a measurement object.

そこで、上記課題を解消すべく、本発明は、一方向熱流定常比較法に用いられる熱伝導測定装置であって、加熱源に熱的に接続されると共に測定対象物の一方の面に接触する端面を有する加熱側挟持部材と、冷却源に熱的に接続されると共に前記測定対象物の他方の面に接触する端面を有し、前記加熱側挟持部材と共に測定対象物を挟み込む冷却側挟持部材と、前記加熱側挟持部材におけるその端面に平行な面方向の温度のばらつき及び前記冷却側挟持部材におけるその端面に平行な面方向の温度のばらつきの少なくとも一方を測定する温度測定部と、前記温度測定部において測定した温度のばらつきに基づいて、前記測定対象物の設置異常を検知する異常検知部とを備える。   Therefore, in order to solve the above-mentioned problem, the present invention is a heat conduction measuring device used in a one-way heat flow steady comparison method, and is thermally connected to a heating source and contacts one surface of a measurement object. A heating-side clamping member having an end surface, and a cooling-side clamping member that has an end surface that is thermally connected to a cooling source and contacts the other surface of the measurement object, and sandwiches the measurement object together with the heating-side clamping member A temperature measuring unit for measuring at least one of a temperature variation in a plane direction parallel to the end surface of the heating-side clamping member and a temperature variation in a plane direction parallel to the end surface of the cooling-side clamping member; and the temperature And an abnormality detection unit that detects an installation abnormality of the measurement object based on variations in temperature measured by the measurement unit.

本発明では、測定対象物の設置異常に基づく加熱側挟持部材から冷却側挟持部材への熱の流れの偏りを各挟持部材におけるその端面と平行な面方向の温度のばらつきとして検出することにより、測定対象物の設置異常を検知することができる。これにより、測定対象物を設置し直す等によって設置異常を排除することができ、測定対象物の熱物性値を精度よく求めることが可能となる。尚、本発明において、測定対象物の設置異常とは、加熱側挟持部材、測定対象物、及び冷却側挟持部材の各中心軸が共通の直線上に位置しない状態、例えば、いずれかの挟持部材の中心軸が他の挟持部材の中心軸に対して傾いていたり(図3(b)参照)、いずれかの挟持部材の中心軸が他の挟持部材の中心軸に対してずれていたり(図3(d)参照)する場合や、測定対象物の厚み寸法(挟持方向の寸法)が不均一な状態(図3(c)参照)等をいう。   In the present invention, by detecting the deviation of the heat flow from the heating side clamping member to the cooling side clamping member based on the installation abnormality of the measurement object as a temperature variation in the plane direction parallel to the end face of each clamping member, It is possible to detect an installation error of the measurement object. Thereby, the installation abnormality can be eliminated by re-installing the measurement object, and the thermophysical property value of the measurement object can be accurately obtained. In the present invention, the abnormal installation of the measurement object refers to a state where the central axes of the heating-side clamping member, the measurement object, and the cooling-side clamping member are not located on a common straight line, for example, any clamping member Or the center axis of one of the clamping members is displaced from the center axis of the other clamping member (see FIG. 3B). 3 (d)), or the thickness dimension (dimension in the clamping direction) of the measurement object is not uniform (see FIG. 3 (c)).

本発明に係る熱伝導測定装置においては、前記温度測定部は、温度測定端を有し、前記温度測定端が前記加熱側挟持部材及び前記冷却側挟持部材の少なくとも一方におけるその端面と平行な面方向の複数箇所にそれぞれ配置されること、が好ましい。   In the heat conduction measuring device according to the present invention, the temperature measuring section has a temperature measuring end, and the temperature measuring end is a surface parallel to the end face of at least one of the heating side holding member and the cooling side holding member. It is preferable to be arranged at a plurality of locations in the direction.

この態様では、各挟持部材におけるその端面と平行な面方向全域の温度のばらつきを測定する構成に比べ、温度測定部の構成をより簡素化することができる。   In this aspect, the configuration of the temperature measurement unit can be further simplified as compared with the configuration in which the temperature variation in the entire surface direction parallel to the end surface of each clamping member is measured.

また、熱伝導測定装置は、前記測定対象物を挟み込んだ状態の前記加熱側挟持部材と前記冷却側挟持部材との間隔を測定する間隔測定部をさらに備えてもよい。   The heat conduction measuring device may further include an interval measuring unit that measures an interval between the heating-side holding member and the cooling-side holding member in a state where the measurement object is interposed.

この態様では、測定された挟持部材の間隔に基づいて測定対象物の厚み寸法を求めることができる。このとき、当該熱伝導測定装置では、測定対象物の設置異常を検知することができるので、設置異常が検知された場合にこの設置異常を排除することができる。そのため、加熱側挟持部材と冷却側挟持部材との端面間の間隔を1点のみ測定することによって測定対象物の厚み寸法を精度よく求めることができる。   In this aspect, the thickness dimension of the measurement object can be obtained based on the measured interval between the clamping members. At this time, the heat conduction measuring device can detect the installation abnormality of the measurement object, and therefore the installation abnormality can be eliminated when the installation abnormality is detected. Therefore, the thickness dimension of the measurement object can be obtained with high accuracy by measuring the distance between the end faces of the heating side clamping member and the cooling side clamping member at only one point.

また、上記課題を解消すべく、本発明は、測定対象物の熱伝導に関する物性値を測定する方法であって、測定対象物を加熱源に熱的に接続されると共に測定対象物の一方の面に接触する端面を有する加熱側挟持部材と冷却源に熱的に接続されると共に前記測定対象物の他方の面に接触する端面を有する冷却側挟持部材とによって測定対象物を挟み込む挟持工程と、前記測定対象物を挟み込んだ状態で前記加熱源により前記加熱側挟持部材を加熱すると共に前記冷却源により前記冷却側挟持部材を冷却することによって前記加熱側挟持部材から前記冷却側挟持部材に熱を流す熱流工程と、前記熱流工程で熱を流した状態で、前記加熱側挟持部におけるその端面と平行な面方向の温度のばらつき及び前記冷却側挟持部材におけるその端面に平行な面方向の温度のばらつきの少なくとも一方の温度のばらつきを測定する温度測定工程と、前記測定した温度のばらつきに基づいて、前記測定対象物の設置異常を検知する検知工程と、を備える。   Further, in order to solve the above-mentioned problem, the present invention is a method for measuring a physical property value related to the heat conduction of a measurement object, wherein the measurement object is thermally connected to a heating source and one of the measurement objects. A sandwiching step of sandwiching the measurement object by a heating-side sandwiching member having an end surface contacting the surface and a cooling-side sandwiching member thermally connected to the cooling source and having an end surface contacting the other surface of the measurement object; The heating side clamping member is heated by the heating source in a state where the measurement object is sandwiched, and the cooling side clamping member is cooled by the cooling source, whereby heat is applied from the heating side clamping member to the cooling side clamping member. In the state of flowing heat in the heat flow step and in the state of flowing heat in the heat flow step, the temperature variation in the surface direction parallel to the end face of the heating side holding portion and the end face of the cooling side holding member are parallel to the end face. Comprising a temperature measuring step of measuring the variation of at least one of the temperature variation in the direction of the temperature, based on temperature variations of said measured, a detection step of detecting an installation abnormality of the measurement object, the.

本発明では、測定対象物の設置異常に基づく加熱側挟持部材から冷却側挟持部材への熱の流れの偏りを各挟持部材におけるその端面と平行な面方向の温度のばらつきとして検出することにより、測定対象物の設置異常を検知することができる。これにより、測定対象物を設置し直す等によって設置異常を排除することができ、測定対象物の熱物性値を精度よく求めることが可能となる。   In the present invention, by detecting the deviation of the heat flow from the heating side clamping member to the cooling side clamping member based on the installation abnormality of the measurement object as a temperature variation in the plane direction parallel to the end face of each clamping member, It is possible to detect an installation error of the measurement object. Thereby, the installation abnormality can be eliminated by re-installing the measurement object, and the thermophysical property value of the measurement object can be accurately obtained.

以上より、本発明によれば、測定対象物の設置異常を検知することができる熱伝導測定装置、及び熱伝導測定方法を提供することができる。   As described above, according to the present invention, it is possible to provide a heat conduction measuring device and a heat conduction measuring method capable of detecting an installation abnormality of a measurement object.

本実施形態に係る熱伝導測定装置の全体構成を概略的に示す図である。It is a figure showing roughly the whole heat conduction measuring device composition concerning this embodiment. (a)(b)試料ブロックを互いに対向する側面を正面として見たときの正面図である。(A) (b) It is a front view when the side surface which mutually opposes a sample block is seen as a front. 測定対象物の設置状態を説明するための図であり、図3(a)は正常な設置状態を示し、図3(b)〜図3(e)は設置異常を示す。It is a figure for demonstrating the installation state of a measurement object, Fig.3 (a) shows a normal installation state, and FIG.3 (b)-FIG.3 (e) show an installation abnormality. 温度分布の偏りを検出する手順及び熱伝導率を求める手順を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the procedure which detects the bias | inclination of temperature distribution, and the procedure which calculates | requires thermal conductivity. 熱伝導率を求める手順を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the procedure which calculates | requires thermal conductivity. 試料の厚さ寸法を測定する装置を説明するための図であり、図6(a)は接触式の変位センサを用いた場合を示し、図6(b)はレーザ変位計を用いた場合を示し、図6(c)及び図6(d)は光学式位置センサを用いた場合を示す。It is a figure for demonstrating the apparatus which measures the thickness dimension of a sample, Fig.6 (a) shows the case where a contact-type displacement sensor is used, and FIG.6 (b) shows the case where a laser displacement meter is used. FIGS. 6C and 6D show the case where an optical position sensor is used. 従来の熱物性値測定装置における測定部の構成を概略的に示す図である。It is a figure which shows roughly the structure of the measurement part in the conventional thermophysical property value measuring apparatus.

以下、本発明の一実施形態について、添付図面を参照しつつ説明する。   Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

図1に示すように、本実施形態に係る熱伝導測定装置10は、主として、測定装置本体12と測定制御装置14と記録装置16と設置異常検知装置17とを備えている。   As shown in FIG. 1, the heat conduction measurement device 10 according to the present embodiment mainly includes a measurement device main body 12, a measurement control device 14, a recording device 16, and an installation abnormality detection device 17.

測定装置本体12は、加熱源である加熱ブロック21と、上部継ぎ手ブロック22と、加熱側部材である上部ロッド23と、カートリッジ24と、冷却側部材である下部ロッド25と、下部継ぎ手ブロック26と、冷却源である冷却ブロック27と、加圧力調整部30とを主として備えている。測定装置本体12の測定部は、下から順に、冷却ブロック27、下部継ぎ手ブロック26、下部ロッド25、カートリッジ24、上部ロッド23、上部継ぎ手ブロック22及び加熱ブロック21が配設された構成となっている。尚、本実施形態では、上部ロッド23と、カートリッジ24の上側試料ブロック24aとを合わせて加熱側挟持部材と称し、下部ロッド25と、カートリッジ24の下側試料ブロック24bとを合わせて冷却側挟持部材と称する場合もある。   The measurement apparatus main body 12 includes a heating block 21 that is a heating source, an upper joint block 22, an upper rod 23 that is a heating side member, a cartridge 24, a lower rod 25 that is a cooling side member, and a lower joint block 26. A cooling block 27 as a cooling source and a pressure adjusting unit 30 are mainly provided. The measurement unit of the measurement apparatus main body 12 has a configuration in which a cooling block 27, a lower joint block 26, a lower rod 25, a cartridge 24, an upper rod 23, an upper joint block 22 and a heating block 21 are arranged in order from the bottom. Yes. In the present embodiment, the upper rod 23 and the upper sample block 24a of the cartridge 24 are collectively referred to as a heating side clamping member, and the lower rod 25 and the lower sample block 24b of the cartridge 24 are collectively referred to as the cooling side clamping. Sometimes referred to as a member.

上部ロッド23及び下部ロッド25は、同様の構成のものである。上部ロッド23及び下部ロッド25は、円柱状又は四角柱状に形成されている。なお、上部ロッド23及び下部ロッド25の形状はこれに限られるものではない。   The upper rod 23 and the lower rod 25 have the same configuration. The upper rod 23 and the lower rod 25 are formed in a columnar shape or a quadrangular prism shape. The shapes of the upper rod 23 and the lower rod 25 are not limited to this.

ロッド23,25の材質としては、銅(JIS C1100)、アルミニウム(JIS
A1100)、アルミニウム合金(JIS A5052)、ニッケル(JIS NW2200)、ステンレス鋼(SUS304、306)等が好ましい。
The material of the rods 23 and 25 is copper (JIS C1100), aluminum (JIS).
A1100), aluminum alloy (JIS A5052), nickel (JIS NW2200), stainless steel (SUS304, 306) and the like are preferable.

上部ロッド23は、その上端部において上部継ぎ手ブロック22によって加熱ブロック21と接続されている。上部継ぎ手ブロック22は、上部ロッド23を加熱ブロック21に対して位置決めした状態で加熱ブロック21と上部ロッド23とを互いに接続する。下部ロッド25は、その下端部において下部継ぎ手ブロック26によって冷却ブロック27と接続されている。下部継ぎ手ブロック26は、下部ロッド25を冷却ブロック27に対して位置決めした状態で冷却ブロック27と下部ロッド25とを互いに接続する。これら継ぎ手ブロック22,26は、例えば銅等の熱伝導性の高い材質の継ぎ手である。すなわち、上部ロッド23は加熱ブロック21と熱的に結合され、また下部ロッド25は冷却ブロック27と熱的に結合されている。   The upper rod 23 is connected to the heating block 21 by an upper joint block 22 at its upper end. The upper joint block 22 connects the heating block 21 and the upper rod 23 to each other with the upper rod 23 positioned with respect to the heating block 21. The lower rod 25 is connected to a cooling block 27 by a lower joint block 26 at the lower end thereof. The lower joint block 26 connects the cooling block 27 and the lower rod 25 to each other with the lower rod 25 positioned with respect to the cooling block 27. These joint blocks 22 and 26 are joints made of a material having high thermal conductivity such as copper. That is, the upper rod 23 is thermally coupled to the heating block 21, and the lower rod 25 is thermally coupled to the cooling block 27.

上部継ぎ手ブロック22と上部ロッド23との間には、熱抵抗抑制材である介在層としての電気絶縁性があるシリコングリース(例えば、信越シリコン社製、G−747等)32が塗布されており、また下部継ぎ手ブロック26と下部ロッド25との間にも電気絶縁性のシリコングリース33が塗布されている。グリース32(33)を介して上部継ぎ手ブロック22(下部継ぎ手ブロック26)と上部ロッド23(下部ロッド25)とを接続することにより、継ぎ手ブロック22(26)とロッド23(25)との密着を確保でき、これにより界面での熱伝導の低下を防止することができる。   Between the upper joint block 22 and the upper rod 23, silicon grease 32 (for example, G-747 manufactured by Shin-Etsu Silicon Co., Ltd.) 32 as an intervening layer which is a thermal resistance suppressing material is applied. Also, an electrically insulating silicon grease 33 is applied between the lower joint block 26 and the lower rod 25. By connecting the upper joint block 22 (lower joint block 26) and the upper rod 23 (lower rod 25) via the grease 32 (33), the joint block 22 (26) and the rod 23 (25) are brought into close contact with each other. It can be ensured, thereby preventing a decrease in heat conduction at the interface.

加熱ブロック21及び冷却ブロック27は、加熱ブロック21から冷却ブロック27に向かって一方向に伝わる熱を付与するためのものであり、それぞれペルチエ素子(図示省略)を備えている。加熱ブロック21は、ペルチエ素子の発熱部の発熱によって発熱し、冷却ブロック27は、ペルチエ素子の吸熱部の吸熱により冷却される。   The heating block 21 and the cooling block 27 are for applying heat transmitted in one direction from the heating block 21 toward the cooling block 27, and each include a Peltier element (not shown). The heating block 21 generates heat by the heat generated by the heat generating part of the Peltier element, and the cooling block 27 is cooled by the heat absorption of the heat absorbing part of the Peltier element.

測定装置本体12には、加熱ブロック21及び冷却ブロック27内のペルチエ素子からの熱を吸収するための放熱器35が設けられている。この放熱器35は、加熱ブロック21のペルチエ素子の吸熱側による後述のロードセル30dへの熱的影響を、後述の断熱材37と併用することで防止している。   The measuring device body 12 is provided with a radiator 35 for absorbing heat from the Peltier elements in the heating block 21 and the cooling block 27. The heat radiator 35 prevents a thermal influence on a load cell 30d described later by the heat absorption side of the Peltier element of the heating block 21 by using it together with a heat insulating material 37 described later.

測定装置本体12には、カートリッジ24と上下ロッド23,25との間の押圧力、試料Wに加えられる押圧力を調整するための加圧力調整部30が設けられている。加圧力調整部30は、支持台30aと、この支持台30aに対して上下方向に移動可能な押圧部材30bと、押圧部材30bを押圧するための圧力調整用ねじ30cと、加圧力検出部としてのロードセル30dと、コイルばねからなる膨張許容ばね30fとを有する。押圧部材30bは、ロードセル30dを押圧可能に配設されていて、圧力調整用ねじ30cのねじ込み量に応じて下方に変位し、ロードセル30dを押圧する。これにより、カートリッジ24と上下ロッド23,25との間の押圧力、及び試料Wに加えられる押圧力が調整される。膨張許容ばね30fは、圧力調整用ねじ30cと押圧部材30bとの間に配設されており、収縮することによって測定時の試料Wの膨張を許容する。   The measuring device main body 12 is provided with a pressing force adjusting unit 30 for adjusting the pressing force between the cartridge 24 and the upper and lower rods 23 and 25 and the pressing force applied to the sample W. The pressure adjusting unit 30 includes a support base 30a, a pressing member 30b movable in the vertical direction with respect to the support base 30a, a pressure adjusting screw 30c for pressing the pressing member 30b, and a pressure detecting unit. Load cell 30d and an expansion allowable spring 30f made of a coil spring. The pressing member 30b is disposed so as to be able to press the load cell 30d, and is displaced downward according to the screwing amount of the pressure adjusting screw 30c to press the load cell 30d. Thereby, the pressing force between the cartridge 24 and the upper and lower rods 23 and 25 and the pressing force applied to the sample W are adjusted. The expansion allowing spring 30f is disposed between the pressure adjusting screw 30c and the pressing member 30b, and allows the sample W to expand during measurement by contracting.

ロードセル30dは、断熱材37を介して加熱ブロック21の上に配設されている。ロードセル30dには、圧力調整用ねじ30cのねじ込み量に応じた荷重が負荷され、ロードセル30dは、この荷重に応じた信号を出力する。ロードセル30dから出力された信号は、測定制御装置14に入力される。測定制御装置14の荷重表示部53は、ロードセル30dの検出値を表示する。   The load cell 30d is disposed on the heating block 21 via a heat insulating material 37. A load corresponding to the screwing amount of the pressure adjusting screw 30c is applied to the load cell 30d, and the load cell 30d outputs a signal corresponding to the load. The signal output from the load cell 30d is input to the measurement control device 14. The load display unit 53 of the measurement control device 14 displays the detection value of the load cell 30d.

カートリッジ24は、測定対象物である試料Wを保持する挟持部であり、上部ロッド23及び下部ロッド25とは別個に形成されている。そして、カートリッジ24は、測定時に上部ロッド23及び下部ロッド25間に挟み込む一方、測定後にはそこから取り外すことができる。すなわち、カートリッジ24は、上部ロッド23及び下部ロッド25に対して着脱可能となっている。   The cartridge 24 is a holding portion that holds a sample W that is a measurement object, and is formed separately from the upper rod 23 and the lower rod 25. The cartridge 24 is sandwiched between the upper rod 23 and the lower rod 25 at the time of measurement, and can be removed therefrom after the measurement. That is, the cartridge 24 can be attached to and detached from the upper rod 23 and the lower rod 25.

カートリッジ24は、上下一対の試料ブロック24a,24bを備えており、加熱側挟持部である上側試料ブロック24aと、冷却側挟持部である下側試料ブロック24bとによって試料Wを挟み込んだ構成である。カートリッジ24全体の厚み(上下方向の厚み)は、50mm以下、より具体的には、2〜20mm程度であり、試料Wの厚みは、0.1mm〜10mmであるのが好ましい。試料Wの厚みがこの範囲内であれば試料ブロック24a,24bの熱のほぼ全てを伝えることができるので、測定装置本体12の周囲を断熱する等の手段を用いることなく、熱伝導に関する物性値を測定することができる。   The cartridge 24 includes a pair of upper and lower sample blocks 24a and 24b, and has a configuration in which the sample W is sandwiched between an upper sample block 24a that is a heating-side clamping unit and a lower sample block 24b that is a cooling-side clamping unit. . The total thickness (vertical thickness) of the cartridge 24 is 50 mm or less, more specifically about 2 to 20 mm, and the thickness of the sample W is preferably 0.1 mm to 10 mm. If the thickness of the sample W is within this range, almost all of the heat of the sample blocks 24a and 24b can be transmitted. Therefore, physical property values relating to heat conduction can be obtained without using means such as insulating the periphery of the measuring device main body 12. Can be measured.

各試料ブロック24a,24bは、円柱状又は四角柱状に形成されている。試料Wとの接触面は、0.01mm以下の平面度、表面粗さ、平行度に調整されている。   Each sample block 24a, 24b is formed in a cylindrical shape or a quadrangular prism shape. The contact surface with the sample W is adjusted to flatness, surface roughness, and parallelism of 0.01 mm or less.

上側試料ブロック24aと下側試料ブロック24bとは、試料W自体の粘着力又は接着力によって固定されていてもよく、あるいは粘着テープ等の補助的手段によって固定されていてもよい。   The upper sample block 24a and the lower sample block 24b may be fixed by the adhesive force or adhesive force of the sample W itself, or may be fixed by auxiliary means such as an adhesive tape.

試料ブロック24a,24bの材質は、銅(JIS C1100)、アルミニウム(JIS A1100)、アルミニウム合金(JIS A5052)、ニッケル(JIS NW2200)等であるのが好ましい。さらに、試料ブロック24a,24bの表面には、電解めっき又は無電解めっきにより、実使用に近い表面処理を施してもよい。なお、この測定装置10が、電気特性を測定する構成の場合には、試料ブロック24a,24bの材質は銅であるのが好ましい。   The material of the sample blocks 24a and 24b is preferably copper (JIS C1100), aluminum (JIS A1100), aluminum alloy (JIS A5052), nickel (JIS NW2200) or the like. Furthermore, the surface of the sample blocks 24a and 24b may be subjected to surface treatment close to actual use by electrolytic plating or electroless plating. When the measuring device 10 is configured to measure electrical characteristics, the material of the sample blocks 24a and 24b is preferably copper.

カートリッジ24は、介在層39,40を介して上部ロッド23及び下部ロッド25と接続されている。すなわち、上部ロッド23と上側試料ブロック24aとの間に介在層39が存在し、下側試料ブロック24bと下部ロッド25との間に介在層40が存在している。この介在層39,40は、接触熱抵抗低減材料であり、電気的絶縁性を有するシリコングリースからなる。   The cartridge 24 is connected to the upper rod 23 and the lower rod 25 through intervening layers 39 and 40. That is, the intervening layer 39 exists between the upper rod 23 and the upper sample block 24a, and the intervening layer 40 exists between the lower sample block 24b and the lower rod 25. The intervening layers 39 and 40 are a contact thermal resistance reducing material and are made of silicon grease having electrical insulation.

試料Wは、ディスペンサ又はスクリーン印刷により、規定の厚みに調整されて試料ブロック24a,24bに塗布される。すなわち、一方の試料ブロック24a(24b)において、試料Wとの接触面となる内側面に試料Wが塗布される。そして、この一方の試料ブロック24a(24b)にもう一方の試料ブロック24b(24a)を重ね合わせることにより、カートリッジ24が作成される。   The sample W is adjusted to a prescribed thickness by dispenser or screen printing and applied to the sample blocks 24a and 24b. That is, in one sample block 24a (24b), the sample W is applied to the inner side surface that is a contact surface with the sample W. Then, the other sample block 24b (24a) is overlaid on the one sample block 24a (24b), whereby the cartridge 24 is produced.

試料Wが例えば硬化性樹脂材料の場合には、規定の厚みに調整された状態で加熱処理を行うことにより固められる。この場合、スクリーン印刷等によって試料W厚みを調整してもよいが、スペーサを用いて試料ブロック24a,24b間の間隙幅を調整することも可能である。なお、スペーサは、厚みが既知であり試料ブロック24a,24bとの接触面が極小のものであれば、どのようなものでもよい。   In the case where the sample W is, for example, a curable resin material, the sample W is hardened by performing a heat treatment in a state adjusted to a specified thickness. In this case, the thickness of the sample W may be adjusted by screen printing or the like, but it is also possible to adjust the gap width between the sample blocks 24a and 24b using a spacer. The spacer may be any spacer as long as the thickness is known and the contact surface with the sample blocks 24a and 24b is minimal.

試料Wの厚みは、試料Wカートリッジ24の全体の厚みから、各試料ブロック24a,24bの厚みを差し引くことにより求める。厚みの測定には、最小読み精度0.001mmのマイクロメータやこれと同等以上の測定精度を有する計測器を用いる。なお、試料Wは、不定形のものに限られず、定形のものでもよい。一定の形状を保持する定形の試料Wの場合には、予め厚みを測定した上で試料ブロック24a,24b上に載置してもよい。   The thickness of the sample W is obtained by subtracting the thickness of each sample block 24a, 24b from the total thickness of the sample W cartridge 24. For measuring the thickness, a micrometer having a minimum reading accuracy of 0.001 mm or a measuring instrument having a measurement accuracy equal to or higher than this is used. The sample W is not limited to an irregular shape, and may be a regular shape. In the case of the fixed sample W having a certain shape, the thickness may be measured in advance and then placed on the sample blocks 24a and 24b.

上部ロッド23、下部ロッド25及び各試料ブロック24a,24bには、それぞれ温度測定用の穴23a,25a,24c,24dが設けられている。上部ロッド23及び下部ロッド25では、複数(図例では、4つ)の穴23a,25aがロッドの長手方向に等間隔に並ぶように設けられている。ここでいう長手方向とは、上部ロッド23及び下部ロッド25において熱の伝わる方向であり、加熱ブロック21と冷却ブロック27とが並ぶ方向(上下方向)である。   The upper rod 23, the lower rod 25 and the sample blocks 24a and 24b are provided with temperature measurement holes 23a, 25a, 24c and 24d, respectively. In the upper rod 23 and the lower rod 25, a plurality (four in the illustrated example) of holes 23a and 25a are provided so as to be arranged at equal intervals in the longitudinal direction of the rod. The longitudinal direction here is a direction in which heat is transmitted in the upper rod 23 and the lower rod 25, and is a direction (vertical direction) in which the heating block 21 and the cooling block 27 are arranged.

各穴23a,25aは、例えば熱電対等の温度センサ44,47を挿入可能となっている。つまり、上部ロッド23の穴23aは、加熱側部材温度測定部である温度センサ44の温度測定端としての検知部を取り付け可能であり、また下部ロッド25の穴25aは、冷却側部材温度測定部である温度センサ47の温度測定端としての検知部を取り付け可能となっている。このように長手方向の複数個所で温度を検出できるので、この複数個所の温度差に基づいて、上部ロッド23及び下部ロッド25での温度勾配をそれぞれ導出することができる。なお、穴23a,25aには、穴23a,25aの周面と温度センサ44,47の密着を確保すべく、図略のグリースが充填されている。   For example, temperature sensors 44 and 47 such as thermocouples can be inserted into the holes 23a and 25a. That is, the hole 23a of the upper rod 23 can be attached with a detection unit as a temperature measurement end of the temperature sensor 44 which is a heating side member temperature measurement unit, and the hole 25a of the lower rod 25 is provided with a cooling side member temperature measurement unit. It is possible to attach a detection unit as a temperature measurement end of the temperature sensor 47. Thus, since temperature can be detected at a plurality of locations in the longitudinal direction, temperature gradients at the upper rod 23 and the lower rod 25 can be derived based on the temperature difference between the locations. The holes 23a and 25a are filled with grease (not shown) in order to ensure close contact between the peripheral surfaces of the holes 23a and 25a and the temperature sensors 44 and 47.

図2(a)にも示すように、各試料ブロック24a,24bの穴24c,24dも複数(図例では3つ)設けられている。穴24c,24dは、試料ブロック24a,24bの1つの側面に、ブロック24a,24bの幅方向に等間隔に並ぶように配設されている。すなわち、複数の穴24c,24dは、試料ブロック24a,24bにおける試料Wとの接触面(即ち、加熱側挟持部材の端面及び冷却側挟持部材の端面)に平行な方向に並ぶように等間隔に配設されている。これら穴24c,24dには、例えば熱電対等の温度センサ45,46を挿入可能となっている。つまり、試料ブロック24a,24bの穴24c,24dは、挟持部温度測定部である温度センサ45,46(設置異常検知装置17の温度測定部も兼ねる)の温度測定端としての検知部をそれぞれ取り付け可能となっている。そして、穴24c(穴24d)は3つ設けられており、この穴24c(24d)のそれぞれに温度センサ45(46)の検知部が配設されている。したがって、温度センサ45,46の検知部は、試料ブロック24a,24bの幅方向の複数個所に配置されている。なお、穴24c,24dには、穴24c,24dの周面と温度センサ45,46の密着を確保すべく、図略のグリースが充填されている。   As shown in FIG. 2A, a plurality (three in the illustrated example) of holes 24c and 24d of the sample blocks 24a and 24b are also provided. The holes 24c and 24d are arranged on one side surface of the sample blocks 24a and 24b so as to be arranged at equal intervals in the width direction of the blocks 24a and 24b. That is, the plurality of holes 24c and 24d are equally spaced so as to be aligned in a direction parallel to the contact surfaces of the sample blocks 24a and 24b with the sample W (that is, the end surface of the heating side clamping member and the end surface of the cooling side clamping member). It is arranged. For example, temperature sensors 45 and 46 such as thermocouples can be inserted into the holes 24c and 24d. That is, the holes 24c and 24d of the sample blocks 24a and 24b are respectively attached with detection units as temperature measurement ends of temperature sensors 45 and 46 (also serving as a temperature measurement unit of the installation abnormality detection device 17) which are clamping unit temperature measurement units. It is possible. Three holes 24c (holes 24d) are provided, and a detection unit for the temperature sensor 45 (46) is provided in each of the holes 24c (24d). Therefore, the detection parts of the temperature sensors 45 and 46 are arranged at a plurality of positions in the width direction of the sample blocks 24a and 24b. The holes 24c and 24d are filled with grease (not shown) in order to ensure close contact between the peripheral surfaces of the holes 24c and 24d and the temperature sensors 45 and 46.

温度センサ44〜47は、例えば熱電対によって構成される。なお、これと同等の性能を有する温度センサでも可能である。温度センサ44〜47の検出信号は、記録装置16の演算部に入力される。また、温度センサ45,46の検出信号は、設置異常検知装置17の設置異常検知部73にも入力される。   The temperature sensors 44 to 47 are configured by, for example, thermocouples. It is also possible to use a temperature sensor having equivalent performance. Detection signals from the temperature sensors 44 to 47 are input to the calculation unit of the recording device 16. Further, the detection signals of the temperature sensors 45 and 46 are also input to the installation abnormality detection unit 73 of the installation abnormality detection device 17.

図2(b)に示すように、試料の電気的特性の測定を同時に行う場合は、各試料ブロック24a,24bには、電気抵抗測定用の穴24e,24fが設けられている。この電気抵抗測定用の穴24e,24fは、温度測定用の穴24c,24dとは反対側の側面に配設されている。電気抵抗測定用の穴24e,24fは、2つ設けられており、何れもねじ穴からなる。一方の穴24e,24fは、定電流印加用であり、もう一方の穴24e,24fは、電圧測定用である。試料ブロック24a(24b)と上部ロッド23(下部ロッド25)との間のシリコングリース39(40)が絶縁性であり、しかも試料ブロック24a(24b)が導電材料からなるので、上下の試料ブロック24a,24bに電気抵抗測定用の端子(図示省略)を接続することにより試料Wの電気抵抗を測定することができる。   As shown in FIG. 2B, when the electrical characteristics of the sample are measured simultaneously, the sample blocks 24a and 24b are provided with holes 24e and 24f for measuring electrical resistance. The electrical resistance measurement holes 24e and 24f are disposed on the side surface opposite to the temperature measurement holes 24c and 24d. Two holes 24e and 24f for measuring electrical resistance are provided, both of which are screw holes. One hole 24e, 24f is for applying a constant current, and the other hole 24e, 24f is for voltage measurement. Since the silicon grease 39 (40) between the sample block 24a (24b) and the upper rod 23 (lower rod 25) is insulative and the sample block 24a (24b) is made of a conductive material, the upper and lower sample blocks 24a , 24b can be connected to a terminal for electrical resistance measurement (not shown) to measure the electrical resistance of the sample W.

図1に示すように、測定制御装置14は、測定条件や各種警報の設定を行うための条件設定部51と、加熱ブロック21の加熱量及び冷却ブロック27の冷却量を制御する温度制御部52と、荷重表示部53とを有する。   As shown in FIG. 1, the measurement control device 14 includes a condition setting unit 51 for setting measurement conditions and various alarms, and a temperature control unit 52 for controlling the heating amount of the heating block 21 and the cooling amount of the cooling block 27. And a load display portion 53.

条件設定部51は、タッチパネル等の図略の入力部を有しており、この入力部により、測定のための条件を入力できるようになっている。条件設定部51において設定される測定条件としては、例えば試料温度、試料温度幅、試料温度上限値等を挙げることができる。試料温度上限値は、警報判定を行うための基準として用いられる。   The condition setting unit 51 has an unillustrated input unit such as a touch panel. The input unit can input measurement conditions. Examples of the measurement conditions set in the condition setting unit 51 include a sample temperature, a sample temperature width, a sample temperature upper limit value, and the like. The sample temperature upper limit value is used as a reference for performing alarm determination.

温度制御部52は、条件設定部51において設定された条件に応じて加熱ブロック21の加熱量及び冷却ブロック27の吸熱量を制御する。すなわち、温度制御部52には、温度センサ44〜47から出力された信号が入力され、温度制御部52は、この受信した信号に基づいて、試料Wの温度が条件設定部51によって設定された試料温度になるように、加熱ブロック21のペルチエ素子及び冷却ブロック27のペルチエ素子を制御する。   The temperature control unit 52 controls the heating amount of the heating block 21 and the endothermic amount of the cooling block 27 according to the conditions set in the condition setting unit 51. That is, the signal output from the temperature sensors 44 to 47 is input to the temperature control unit 52, and the temperature control unit 52 sets the temperature of the sample W by the condition setting unit 51 based on the received signal. The Peltier element of the heating block 21 and the Peltier element of the cooling block 27 are controlled so as to reach the sample temperature.

また温度制御部52は、加熱ブロック21、試料ブロック24a,24b、冷却ブロック27の温度が設定温度で安定するように、加熱ブロック21及び冷却ブロック27のペルチエ素子を制御する。温度変動幅は、例えば±0.5K以下に制御される。   The temperature control unit 52 controls the Peltier elements of the heating block 21 and the cooling block 27 so that the temperatures of the heating block 21, the sample blocks 24a and 24b, and the cooling block 27 are stabilized at the set temperature. The temperature fluctuation range is controlled to ± 0.5K or less, for example.

荷重表示部53は、ロードセル30dから出力された信号が入力され、ロードセル30dの検出圧力を表示する。   The load display unit 53 receives the signal output from the load cell 30d and displays the detected pressure of the load cell 30d.

記録装置16には、入力部61と演算部62と記録部63と表示部64とが含まれている。入力部61は、カートリッジ24の全体厚み、温度測定位置(穴24c,24dの位置)等、温度勾配を演算するための諸元に関するデータを入力するためのものである。ここで入力されるデータは、実測されたデータである。   The recording device 16 includes an input unit 61, a calculation unit 62, a recording unit 63, and a display unit 64. The input unit 61 is used to input data related to specifications for calculating a temperature gradient, such as the overall thickness of the cartridge 24 and temperature measurement positions (positions of the holes 24c and 24d). The data input here is actually measured data.

演算部62は、CPU、ROM、RAM等を備え、ROMに格納されたプログラムを実行させることにより、所定の機能を発揮するものである。この機能には、温度演算部66と物性値導出部67と電気特性測定部68とが含まれている。   The calculation unit 62 includes a CPU, a ROM, a RAM, and the like, and exhibits a predetermined function by executing a program stored in the ROM. This function includes a temperature calculation unit 66, a physical property value deriving unit 67, and an electrical characteristic measuring unit 68.

温度演算部66には、上部ロッド23の温度測定用穴23aに取り付けられた温度センサ44からの信号と、上側試料ブロック24aの温度測定用穴24cに取り付けられた温度センサ45からの信号と、下側試料ブロック24bの温度測定用穴24dに取り付けられた温度センサ46からの信号と、下部ロッド25の温度測定用穴25aに取り付けられた温度センサ47からの信号とが入力されている。   The temperature calculation unit 66 includes a signal from the temperature sensor 44 attached to the temperature measurement hole 23a of the upper rod 23, a signal from the temperature sensor 45 attached to the temperature measurement hole 24c of the upper sample block 24a, A signal from the temperature sensor 46 attached to the temperature measurement hole 24d of the lower sample block 24b and a signal from the temperature sensor 47 attached to the temperature measurement hole 25a of the lower rod 25 are input.

温度演算部66は、試料ブロック24a,24b間の温度差を導出する。すなわち、温度演算部66は、上側試料ブロック24aと下側試料ブロック24bとの平均温度差をブロック24a,24b間の温度差として導出する。具体的には、温度演算部66は、試料ブロック24a,24b毎に複数個所の温度データを平均して、その平均値同士の差を試料ブロック24a,24b間の温度差として導出する。なお、温度演算部66は、上側試料ブロック24aと下側試料ブロック24bで上下一対となっている各検出端(穴24c,24d)を1セットとして、そのセット毎の温度差を出し、この温度差の平均値を試料ブロック24a,24b間の温度差として導出してもよい。   The temperature calculation unit 66 derives a temperature difference between the sample blocks 24a and 24b. That is, the temperature calculation unit 66 derives an average temperature difference between the upper sample block 24a and the lower sample block 24b as a temperature difference between the blocks 24a and 24b. Specifically, the temperature calculation unit 66 averages temperature data at a plurality of locations for each of the sample blocks 24a and 24b, and derives a difference between the average values as a temperature difference between the sample blocks 24a and 24b. The temperature calculation unit 66 sets each detection end (holes 24c, 24d) in the upper and lower pairs of the upper sample block 24a and the lower sample block 24b as one set, and calculates a temperature difference for each set. The average value of the difference may be derived as a temperature difference between the sample blocks 24a and 24b.

温度演算部66は、上部ロッド23における温度測定位置に関するデータと温度センサ44の検出値とに基づいて、上部ロッド23での温度勾配を導出する。また、温度演算部66は、下部ロッド25における温度測定位置に関するデータと温度センサ47の検出値とに基づいて、下部ロッド25での温度勾配を導出する。   The temperature calculation unit 66 derives the temperature gradient at the upper rod 23 based on the data regarding the temperature measurement position on the upper rod 23 and the detection value of the temperature sensor 44. Further, the temperature calculation unit 66 derives the temperature gradient at the lower rod 25 based on the data regarding the temperature measurement position at the lower rod 25 and the detection value of the temperature sensor 47.

物性値導出部67は、温度演算部66の測定結果に基づいて、試料Wの熱伝導に関する物性値を導出する。ここでは、熱伝導率を導出するものとする。物性値導出部67は、入力されたカートリッジ24の全体厚みに関するデータを用いて、予め記憶されている試料ブロック24a,24bの温度測定位置と試料Wとの間の距離を導出するとともに試料Wの厚みを導出し、温度センサ45及び温度センサ46の検出値に基づいて、試料Wの上下面の温度を算出し、この算出された温度データと試料Wの厚みとに基づいて、試料Wの温度勾配を導出する。そして、この温度勾配から試料Wの熱伝導率を導出する。   The physical property value deriving unit 67 derives a physical property value related to the heat conduction of the sample W based on the measurement result of the temperature calculating unit 66. Here, it is assumed that the thermal conductivity is derived. The physical property value deriving unit 67 derives the distance between the temperature measurement positions of the sample blocks 24 a and 24 b stored in advance and the sample W by using the input data relating to the entire thickness of the cartridge 24 and the sample W. The thickness is derived, the temperatures of the upper and lower surfaces of the sample W are calculated based on the detected values of the temperature sensor 45 and the temperature sensor 46, and the temperature of the sample W is calculated based on the calculated temperature data and the thickness of the sample W. Deriving the gradient. Then, the thermal conductivity of the sample W is derived from this temperature gradient.

電気特性測定部68は、両試料ブロック24a,24bに装着された端子の端子間電圧及び電流値に基づいて、試料Wの電気抵抗を導出する。   The electrical characteristic measuring unit 68 derives the electrical resistance of the sample W based on the inter-terminal voltage and current value of the terminals attached to both the sample blocks 24a and 24b.

記録部63は、各温度センサ44〜47によって測定された温度、導出された熱伝導率、測定された試料Wの導通抵抗値等を記録する。表示部64は、各温度センサ44〜47によって測定された温度、導出された熱伝導率、導通抵抗値等を表示する。   The recording unit 63 records the temperature measured by each of the temperature sensors 44 to 47, the derived thermal conductivity, the measured conduction resistance value of the sample W, and the like. The display unit 64 displays the temperature measured by each of the temperature sensors 44 to 47, the derived thermal conductivity, the conduction resistance value, and the like.

設置異常検知装置17は、測定装置本体12の測定部における試料Wの設置異常を検知するための装置であり、演算部71と表示部72とが含まれている。演算部71は、CPU、ROM、RAM等を備え、ROMに格納されたプログラムを実行させることにより、所定の機能を発揮するものである。この機能には、設置異常検知部73が含まれている。   The installation abnormality detection device 17 is a device for detecting an installation abnormality of the sample W in the measurement unit of the measurement apparatus main body 12, and includes a calculation unit 71 and a display unit 72. The calculation unit 71 includes a CPU, a ROM, a RAM, and the like, and exhibits a predetermined function by executing a program stored in the ROM. This function includes an installation abnormality detection unit 73.

設置異常検知部73は、試料Wの設置異常(挟み込み状態の異常)の検知を行う。設置異常検知部73には、上側試料ブロック24aの温度測定用穴24cに取り付けられた温度センサ45からの信号と、下側試料ブロック24bの温度測定用穴24dに取り付けられた温度センサ46からの信号とが入力されている。   The installation abnormality detection unit 73 detects an installation abnormality of the sample W (an abnormality in the pinching state). The installation abnormality detection unit 73 includes a signal from the temperature sensor 45 attached to the temperature measurement hole 24c of the upper sample block 24a and a temperature sensor 46 attached to the temperature measurement hole 24d of the lower sample block 24b. Signal.

ここで、本実施形態において、試料Wの正常な設置状態とは、図3(a)に示すように、加熱側挟持部材(上部ロッド23及び上側試料ブロック24a)、試料W、及び冷却側挟持部材(下側試料ブロック24b及び下部ロッド25)の各中心軸が共通の直線上に位置した状態である。一方、試料Wの設置異常とは、加熱側挟持部材23,24a、試料W、及び冷却側挟持部材25,24bの各中心軸が共通の直線上に位置しない状態、例えば、いずれかの部材の中心軸がもう一方の部材の中心軸に対して傾いていたり(図3(b)及び図3(e)参照)、いずれかの部材の中心軸がもう一方の部材の中心軸に対して側方にずれていたり(図3(d)参照)する場合や、測定対象物の厚み寸法(挟持方向の寸法)が不均一な状態(図3(c)参照)等をいう。   Here, in this embodiment, the normal installation state of the sample W means that the heating side clamping member (the upper rod 23 and the upper sample block 24a), the sample W, and the cooling side clamping, as shown in FIG. In this state, the central axes of the members (lower sample block 24b and lower rod 25) are located on a common straight line. On the other hand, the abnormal installation of the sample W means a state where the central axes of the heating side clamping members 23 and 24a, the sample W, and the cooling side clamping members 25 and 24b are not located on a common straight line, for example, any member The central axis is inclined with respect to the central axis of the other member (see FIGS. 3B and 3E), or the central axis of one of the members is on the side of the central axis of the other member Or a state where the thickness dimension of the measurement object (dimension in the clamping direction) is not uniform (see FIG. 3C).

設置異常検知部73は、上側試料ブロック24a及び下側試料ブロック24bにおける幅方向の温度のばらつきに基づいて設置異常を検知する。即ち、設置異常検知部73は、試料Wの設置異常に基づく上部ロッド23から下部ロッド25への熱の流れの偏りを各試料ブロック24a,24bにおけるその試料Wとの接触面と平行な面方向の温度のばらつきとして検出することにより、試料Wの設置異常を検知する。具体的に、設置異常検知部73は、幅方向の温度のばらつきが所定の範囲よりも大きい場合に設置異常であると判定し、所定の範囲以下のばらつきの場合に設置異常なしと判定する。詳しくは、設置異常検知部73は、上側試料ブロック24aの幅方向における複数箇所(本実施形態では3箇所)の温度データのうちの最大値と最小値との差を求め、この差の値と予め設定され記憶している規定値とを比較する。また、設置異常検知部73は、下側試料ブロック24bの幅方向における複数箇所(本実施形態では3箇所)の温度データのうちの最大値と最小値との差を求め、この差の値と前記所定の規定値とを比較する。そして、設置異常検知部73は、上側試料ブロック24a又は下側試料ブロック24bの少なくとも一方において、前記差の値が規定値よりも大きかった場合には設置異常が生じていると判定し、前記差の値が規定値以下であった場合には設置異常が生じていないと判定する。   The installation abnormality detection unit 73 detects an installation abnormality based on temperature variations in the width direction of the upper sample block 24a and the lower sample block 24b. That is, the installation abnormality detection unit 73 detects the deviation of the heat flow from the upper rod 23 to the lower rod 25 based on the installation abnormality of the sample W in the plane direction parallel to the contact surface with the sample W in each of the sample blocks 24a and 24b. By detecting this as a variation in temperature, the installation abnormality of the sample W is detected. Specifically, the installation abnormality detection unit 73 determines that there is an installation abnormality when the temperature variation in the width direction is larger than a predetermined range, and determines that there is no installation abnormality when the variation is within a predetermined range. Specifically, the installation abnormality detection unit 73 obtains a difference between the maximum value and the minimum value among the temperature data at a plurality of locations (three locations in the present embodiment) in the width direction of the upper sample block 24a, A predetermined value stored in advance is compared. Further, the installation abnormality detection unit 73 obtains a difference between the maximum value and the minimum value among the temperature data at a plurality of locations (three locations in the present embodiment) in the width direction of the lower sample block 24b, The predetermined specified value is compared. Then, the installation abnormality detection unit 73 determines that an installation abnormality has occurred in at least one of the upper sample block 24a and the lower sample block 24b when the value of the difference is larger than a specified value. If the value is less than the specified value, it is determined that no installation abnormality has occurred.

表示部72は、各温度センサ45,46によって測定された温度、前記差の値、設置異常が生じているか否か等を表示する。   The display unit 72 displays the temperatures measured by the temperature sensors 45 and 46, the difference value, whether or not an installation abnormality has occurred, and the like.

次に、この測定装置10を用いて熱伝導率を測定する手順について説明する。   Next, a procedure for measuring the thermal conductivity using the measuring apparatus 10 will be described.

まずカートリッジ24を作成する。このカートリッジ24の作成工程では、一方の試料ブロック24a(24b)に、規定の厚みに調整されるように試料Wを塗布する。そして、必要に応じてスペーサを設置し、試料Wの塗布面が挟み込まれるように他方の試料ブロック24b(24a)を重合させる。これにより、カートリッジ24が出来上がる。そして、カートリッジ24全体の厚みをマイクロメータで測定する。この測定値は、入力部61によって記録装置16に入力する。なお、試料Wの厚みを規制するためには、スペーサを用いるのが望ましい。   First, the cartridge 24 is prepared. In the production process of the cartridge 24, the sample W is applied to one sample block 24a (24b) so as to be adjusted to a specified thickness. Then, if necessary, a spacer is installed, and the other sample block 24b (24a) is polymerized so that the coated surface of the sample W is sandwiched. Thereby, the cartridge 24 is completed. Then, the thickness of the entire cartridge 24 is measured with a micrometer. This measured value is input to the recording device 16 by the input unit 61. In order to regulate the thickness of the sample W, it is desirable to use a spacer.

次に、カートリッジ24を上部ロッド23及び下部ロッド25間にセットし、各試料ブロック24a,24bに温度センサ45,46を取り付けるとともに電気特性測定用の端子を取り付ける。このとき上部ロッド23及び下部ロッド25には温度センサ44,47が既に取り付けられている。このとき、上部ロッド23とカートリッジ24との接触面及びカートリッジ24と下部ロッド25との接触面にシリコングリース39,40を塗布する。これにより接触熱抵抗を低減することができる。   Next, the cartridge 24 is set between the upper rod 23 and the lower rod 25, temperature sensors 45 and 46 are attached to the sample blocks 24a and 24b, and terminals for measuring electrical characteristics are attached. At this time, temperature sensors 44 and 47 are already attached to the upper rod 23 and the lower rod 25. At this time, silicon grease 39, 40 is applied to the contact surface between the upper rod 23 and the cartridge 24 and the contact surface between the cartridge 24 and the lower rod 25. Thereby, contact thermal resistance can be reduced.

次に、加圧力調整部30の圧力調整用ねじ30cをねじ込み、カートリッジ24と上下ロッド23,25との間の押圧力、及び試料Wに加えられる押圧力を調整する。測定制御装置14の荷重表示部53にはロードセル30dの検出荷重が表示されるため、この表示を参照しながら押圧力を調整すればよい。   Next, the pressure adjusting screw 30c of the pressure adjusting unit 30 is screwed in to adjust the pressing force between the cartridge 24 and the upper and lower rods 23 and 25 and the pressing force applied to the sample W. Since the detected load of the load cell 30d is displayed on the load display unit 53 of the measurement control device 14, the pressing force may be adjusted while referring to this display.

押圧力が調整されたら、試料Wの設置異常が生じているか否かのチェックを開始する。即ち、加熱ブロック21を加熱するとともに冷却ブロック27を冷却する。この加熱及び冷却による加熱ブロック21と冷却ブロック27との温度差は、試料Wの設置異常を検知するためのものであるため、上部ロッド23から下部ロッド25へ向けた熱の流れが生じればよく、試料Wの熱伝導に関する物性値を測定するときより小さくてもよい。   When the pressing force is adjusted, a check is started as to whether or not a sample W installation abnormality has occurred. That is, the heating block 21 is heated and the cooling block 27 is cooled. The temperature difference between the heating block 21 and the cooling block 27 due to the heating and cooling is for detecting an installation abnormality of the sample W, so that if a heat flow from the upper rod 23 to the lower rod 25 occurs. Well, it may be smaller than when the physical property value relating to the heat conduction of the sample W is measured.

この加熱及び冷却に伴い、加熱ブロック21から上部ロッド23、カートリッジ24、下部ロッド25へと熱が伝わり、各温度センサ45,46の測定データが所定時間ごとに出力され、設置異常検知装置17の設置異常検知部73に送信される。   With this heating and cooling, heat is transferred from the heating block 21 to the upper rod 23, the cartridge 24, and the lower rod 25, and the measurement data of each temperature sensor 45, 46 is output every predetermined time. It is transmitted to the installation abnormality detection unit 73.

設置異常検知装置17の設置異常検知部73では、温度センサ45,46から送られてくる温度データのうちの最大値と最小値との差の絶対値を試料ブロック24a,24b毎に導出する。具体的には、設置異常検知部73は、判定1として、上側試料ブロック24aの温度センサ45から送られてきた温度データ(T1a,T1b,T1c)に基づき(図4参照)、
(T1a,T1b,T1cの最大値)−(T1a,T1b,T1cの最小値)
の演算を行う。そして、設置異常検知部73は、この演算結果の値と予め設定され記憶している規定値(本実施形態では、例えば、0.5K)との大小を比較する。
The installation abnormality detection unit 73 of the installation abnormality detection device 17 derives the absolute value of the difference between the maximum value and the minimum value of the temperature data sent from the temperature sensors 45 and 46 for each of the sample blocks 24a and 24b. Specifically, the installation abnormality detection unit 73, as the determination 1, based on the temperature data (T 1a , T 1b , T 1c ) sent from the temperature sensor 45 of the upper sample block 24a (see FIG. 4),
(Maximum value of T 1a , T 1b , T 1c ) − (Minimum value of T 1a , T 1b , T 1c )
Perform the operation. Then, the installation abnormality detection unit 73 compares the value of the calculation result with a predetermined value stored in advance (for example, 0.5K in the present embodiment).

この判定1と共に、設置異常検知部73は、判定2として、下側試料ブロック24bの温度センサ46から送られてきた温度データ(T2a,T2b,T2c)に基づき(図4参照)、
(T2a,T2b,T2cの最大値)−(T2a,T2b,T2cの最小値)
の演算を行う。そして、設置異常検知部73は、この演算結果の値と規定値(本実施形態では、例えば、0.5K)との大小を比較する。
Together with this determination 1, the installation abnormality detection unit 73, as determination 2, is based on the temperature data (T 2a , T 2b , T 2c ) sent from the temperature sensor 46 of the lower sample block 24b (see FIG. 4),
(Maximum value of T 2a , T 2b , T 2c ) − (minimum value of T 2a , T 2b , T 2c )
Perform the operation. Then, the installation abnormality detection unit 73 compares the value of the calculation result with the specified value (in this embodiment, for example, 0.5K).

そして、設置異常検知部73は、
(T1a,T1b,T1cの最大値)−(T1a,T1b,T1cの最小値)≦規定値
(T2a,T2b,T2cの最大値)−(T2a,T2b,T2cの最小値)≦規定値
の場合には、設置異常が生じていないと判定し、
(T1a,T1b,T1cの最大値)−(T1a,T1b,T1cの最小値)>規定値
(T2a,T2b,T2cの最大値)−(T2a,T2b,T2cの最小値)≦規定値
または、
(T1a,T1b,T1cの最大値)−(T1a,T1b,T1cの最小値)≦規定値
(T2a,T2b,T2cの最大値)−(T2a,T2b,T2cの最小値)>規定値
または、
(T1a,T1b,T1cの最大値)−(T1a,T1b,T1cの最小値)>規定値
(T2a,T2b,T2cの最大値)−(T2a,T2b,T2cの最小値)>規定値
の場合には、設置異常が生じていると判断する。
The installation abnormality detection unit 73
(Maximum value of T 1a , T 1b , T 1c ) − (minimum value of T 1a , T 1b , T 1c ) ≦ specified value (maximum value of T 2a , T 2b , T 2c ) − (T 2a , T 2b , T 2c minimum value) ≦ specified value, it is determined that no installation abnormality has occurred,
(Maximum value of T 1a , T 1b , T 1c ) − (minimum value of T 1a , T 1b , T 1c )> specified value (maximum value of T 2a , T 2b , T 2c ) − (T 2a , T 2b , T 2c minimum value) ≦ specified value or
(Maximum value of T 1a , T 1b , T 1c ) − (minimum value of T 1a , T 1b , T 1c ) ≦ specified value (maximum value of T 2a , T 2b , T 2c ) − (T 2a , T 2b , T 2c minimum value)> specified value or
(Maximum value of T 1a , T 1b , T 1c ) − (minimum value of T 1a , T 1b , T 1c )> specified value (maximum value of T 2a , T 2b , T 2c ) − (T 2a , T 2b , T 2c (minimum value)> predetermined value, it is determined that an installation error has occurred.

設置異常が検知されると、設置異常検知装置17の表示部72がその旨の表示を行う。この表示がなされると、当該装置10の操作者等は、加圧力調整部30の圧力調整用ねじ30cを緩める。そして、カートリッジ24を上部ロッド23及び下部ロッド25の間から取り外し、このカートリッジ24を再度設置し直す、若しくは、別のカートリッジ24を新たに設置する。   When an installation abnormality is detected, the display unit 72 of the installation abnormality detection device 17 displays that effect. When this display is made, the operator of the device 10 loosens the pressure adjusting screw 30c of the pressure adjusting unit 30. Then, the cartridge 24 is removed from between the upper rod 23 and the lower rod 25, and this cartridge 24 is installed again, or another cartridge 24 is newly installed.

カートリッジ24を設置し直し、若しくは新たなカートリッジ24を前記同様に設置し、これが完了すると、再度、設置異常のチェックを行う。このチェックにおいて、設置異常が検出されなければ、試料Wの熱伝導に関する物性値の測定を開始し、設置異常が検出されれば、再度、カートリッジ24の設置をやり直す。   The cartridge 24 is re-installed or a new cartridge 24 is installed in the same manner as described above, and when this is completed, the installation abnormality is checked again. In this check, if an installation abnormality is not detected, measurement of a physical property value related to the heat conduction of the sample W is started, and if an installation abnormality is detected, the cartridge 24 is installed again.

一方、最初の設置異常のチェックの際に設置異常が検知されなければ、そのまま、試料Wの熱伝導に関する物性値の測定を開始する。   On the other hand, if the installation abnormality is not detected at the time of the first installation abnormality check, the measurement of the physical property value relating to the heat conduction of the sample W is started as it is.

続いて、試料Wの熱伝導に関する物性値の測定のために、加熱ブロック21を加熱するとともに冷却ブロック27を冷却する。これに伴い、加熱ブロック21から上部ロッド23、カートリッジ24、下部ロッド25へと熱が伝わり、各温度センサ44〜47の測定データが所定時間ごとに出力される。各温度は、記録装置16の表示部64に表示されるとともに記録部63に記録される一方、温度センサ45,46により測定された温度は、設置異常検知装置17にも送信される。   Subsequently, the heating block 21 is heated and the cooling block 27 is cooled in order to measure the physical property values relating to the heat conduction of the sample W. Accordingly, heat is transferred from the heating block 21 to the upper rod 23, the cartridge 24, and the lower rod 25, and measurement data of the temperature sensors 44 to 47 are output at predetermined time intervals. Each temperature is displayed on the display unit 64 of the recording device 16 and recorded in the recording unit 63, while the temperature measured by the temperature sensors 45 and 46 is also transmitted to the installation abnormality detection device 17.

設置異常検知装置17は、当該装置10における試料Wの熱伝導に関する物性値の測定動作の際に、測定装置本体12の測定部が定常状態となるまでの間の上部ロッド23から下部ロッド25への熱の流れを利用して、測定中に生じた設置異常の検知も行う。   The installation abnormality detection device 17 moves from the upper rod 23 to the lower rod 25 until the measurement unit of the measurement device main body 12 is in a steady state during the measurement operation of the physical property value related to the heat conduction of the sample W in the device 10. Using the heat flow, the installation abnormality that occurred during the measurement is also detected.

具体的には、設置異常検知装置17の設置異常検知部73では、温度センサ45,46から送られてくる温度データのうちの最大値と最小値との差の絶対値を試料ブロック24a,24b毎に導出する。そして、設置異常検知部73は、前記同様に、試料ブロック24a,24b毎に求めた温度差の値と規定値との比較をそれぞれ行い、設置異常が生じているか否かを判定する。   Specifically, in the installation abnormality detection unit 73 of the installation abnormality detection device 17, the absolute value of the difference between the maximum value and the minimum value of the temperature data sent from the temperature sensors 45 and 46 is used as the sample blocks 24a and 24b. Derived every time. Then, similarly to the above, the installation abnormality detection unit 73 compares the temperature difference value obtained for each of the sample blocks 24a and 24b with the specified value to determine whether or not an installation abnormality has occurred.

設置異常が検知されなければ、そのまま測定を続け、設置異常が検知されれば、試料Wの熱伝導に関する物性値の測定を中止し、カートリッジ24を設置し直した後、測定をやり直す。   If the installation abnormality is not detected, the measurement is continued as it is. If the installation abnormality is detected, the measurement of the physical property value relating to the heat conduction of the sample W is stopped, the cartridge 24 is re-installed, and the measurement is performed again.

試料温度の変化量が1分間あたり0.2K以下になるまで制御を行い、温度変化量が0.2K以下になった後に定常状態とみなし、この定常状態における温度の記録を行う。   Control is performed until the amount of change in the sample temperature becomes 0.2 K or less per minute, and after the amount of change in temperature becomes 0.2 K or less, the state is regarded as a steady state, and the temperature in this steady state is recorded.

記録装置16の演算部62では、各温度センサ44〜47による測定値と、温度測定位置に関するデータとに基づいて、上部ロッド23での温度勾配、下部ロッド25での温度勾配、カートリッジ24での温度勾配を導出する。上部ロッド23及び下部ロッド25については、温度の測定位置が予め記憶されている。このため、この記憶された測定位置と、測定された温度とに基づいて、上部ロッド23及び下部ロッド25での温度勾配が導出される。一方、カートリッジ24については、カートリッジ24ごとに厚みが異なるため、入力部61によって入力されたカートリッジ24の厚みに関するデータを用いて、予め記憶されている試料ブロック24a,24bの温度測定位置と試料Wとの間の距離を導出するとともに試料Wの厚みを導出する。そして、演算部62では、温度センサ45及び温度センサ46の検出値に基づいて、試料Wの上下面の温度を算出し、この算出された温度のデータと試料Wの厚みとに基づいて、温度勾配を導出する。   In the calculation unit 62 of the recording device 16, the temperature gradient at the upper rod 23, the temperature gradient at the lower rod 25, the temperature at the cartridge 24, based on the measurement values by the temperature sensors 44 to 47 and the data related to the temperature measurement position. Deriving the temperature gradient. For the upper rod 23 and the lower rod 25, temperature measurement positions are stored in advance. For this reason, the temperature gradient in the upper rod 23 and the lower rod 25 is derived based on the stored measurement position and the measured temperature. On the other hand, since the cartridge 24 has a different thickness for each cartridge 24, the temperature measurement positions of the sample blocks 24 a and 24 b stored in advance and the sample W are stored using the data regarding the thickness of the cartridge 24 input by the input unit 61. And the thickness of the sample W are derived. Then, the calculation unit 62 calculates the temperatures of the upper and lower surfaces of the sample W based on the detection values of the temperature sensor 45 and the temperature sensor 46, and based on the calculated temperature data and the thickness of the sample W, the temperature Deriving the gradient.

続いて、演算部62は、試料Wの熱伝導率を導出する。熱伝導率の算出は以下の通り行う。すなわち、図4及び図5に示すように、試料Wの熱伝導率をk[W/(m・K)]、上部ロッド23及び下部ロッド25の熱伝導率k[W/(m・K)]、試料ブロック24a,24bの熱伝導率k[W/(m・K)]、試料Wの厚みt[m]、試料ブロック24a,24bのセンサ位置と試料Wとの間の距離tSB[m]、上下試料ブロック24a,24bセンサ間の温度差ΔT[K]、試料Wの上下面間の温度差ΔT[K]、試料ブロック24a,24bのセンサと試料W表面との温度差ΔTSB[K]、上部ロッド23を通過する熱流速q[W/m]、下部ロッド25を通過する熱流速q[W/m]、試料Wを通過する熱流速q[W/m]、上部ロッド23での温度勾配(dT/dx)[K/m]、下部ロッド25での温度勾配(dT/dx)[K/m]、試料Wの温度勾配(dT/dx)[K/m]とすると、以下の関係式が成立する。 Subsequently, the calculation unit 62 derives the thermal conductivity of the sample W. Calculation of thermal conductivity is performed as follows. That is, as shown in FIGS. 4 and 5, the thermal conductivity of the sample W k s [W / (m · K)], the thermal conductivity of the upper rod 23 and lower rod 25 k r [W / (m · K)], the thermal conductivity k B [W / (m · K)] of the sample blocks 24a and 24b, the thickness t s [m] of the sample W, and the position between the sensor position of the sample blocks 24a and 24b and the sample W. The distance t SB [m], the temperature difference ΔT B [K] between the upper and lower sample blocks 24a, 24b, the temperature difference ΔT s [K] between the upper and lower surfaces of the sample W, the sensor of the sample blocks 24a, 24b and the surface of the sample W Difference ΔT SB [K], heat flow rate q 1 [W / m 2 ] passing through the upper rod 23, heat flow rate q 2 [W / m 2 ] passing through the lower rod 25, and heat passing through the sample W Flow velocity q [W / m 2 ], temperature gradient at upper rod 23 (dT / dx) 1 [K / M], the temperature gradient at the lower rod 25 (dT / dx) 2 [ K / m], when the temperature gradient of the sample W (dT / dx) s [ K / m], the following relationship is established.

Figure 2012032196
Figure 2012032196

前記の関係式(3)において、試料Wの熱伝導率kを導出するには、関係式(4)から試料Wの上下表面間の温度差ΔTを求める一方、試料W厚みtは、入力部61によって入力されたカートリッジ24の全体厚みから予め記憶されている上側試料ブロック24a及び下側試料ブロック24bの厚みを差し引いて求める。そして、関係式(6)により、試料Wの温度勾配(dT/dx)を求める。この温度勾配と関係式(1)(2)から得られる熱流速qとにより、試料Wの熱伝導率kを求めることができる。 In the above equation (3), to derive the thermal conductivity k s of sample W, while obtaining the temperature difference [Delta] T s between the upper and lower surface of the sample W from equation (4), the sample W thickness t s is The thickness of the upper sample block 24a and the lower sample block 24b stored in advance is subtracted from the total thickness of the cartridge 24 input by the input unit 61. Then, the temperature gradient (dT / dx) s of the sample W is obtained from the relational expression (6). The thermal conductivity k s of the sample W can be obtained from this temperature gradient and the heat flow rate q obtained from the relational expressions (1) and (2).

以上説明したように、本実施形態によれば、試料Wの設置異常に基づく上部ロッド23から、上側試料ブロック24a、試料W、下側試料ブロック24b、下部ロッド25への熱の流れの偏りを各試料ブロック24a,24bにおける試料Wとの接触面と平行な面方向の温度のばらつきとして検出することにより、試料Wの設置異常を検知することができる。これにより、試料Wを設置し直す等によって設置異常を排除することができ、試料Wの熱物性値(熱物伝導に関する物性値)を精度よく求めることができる。   As described above, according to the present embodiment, the flow of heat from the upper rod 23 to the upper sample block 24a, the sample W, the lower sample block 24b, and the lower rod 25 from the upper rod 23 due to the installation abnormality of the sample W is reduced. By detecting the variation in temperature in the surface direction parallel to the contact surface with the sample W in each of the sample blocks 24a and 24b, the installation abnormality of the sample W can be detected. Thereby, the installation abnormality can be eliminated by re-installing the sample W or the like, and the thermophysical property value of the sample W (physical property value related to thermophysical conduction) can be accurately obtained.

また、本実施形態では、各試料ブロック24a,24bにおいて3つの温度センサ45,46によって試料Wとの接触面と平行な面方向の温度分布を測定しているため、各試料ブロック24a,24bにおける前記平行な面方向全域の温度のばらつきを測定する構成に比べ、温度測定部45,46の構成を簡素化することができる。   In the present embodiment, since the temperature distribution in the plane direction parallel to the contact surface with the sample W is measured by the three temperature sensors 45 and 46 in each sample block 24a and 24b, in each sample block 24a and 24b. The configuration of the temperature measuring units 45 and 46 can be simplified as compared with the configuration of measuring the temperature variation across the parallel plane direction.

また、本実施形態では、設置異常の検知のために用いられた温度センサ45,46を熱物性値の導出の際にも利用することで、当該装置10における温度測定端45,46の数を抑えることができる。   Further, in the present embodiment, the temperature sensors 45 and 46 used for detecting the installation abnormality are also used for deriving the thermophysical property values, so that the number of the temperature measurement ends 45 and 46 in the apparatus 10 can be reduced. Can be suppressed.

また、本実施形態では、上部ロッド23から上側試料ブロック24aが着脱可能であると共に下部ロッド25から下側試料ブロック24bが着脱可能であるため、試料W(カートリッジ24)の交換作業の容易化を図ることができる。   In the present embodiment, the upper sample block 24a can be detached from the upper rod 23 and the lower sample block 24b can be detached from the lower rod 25, so that the replacement work of the sample W (cartridge 24) can be facilitated. Can be planned.

また、本実施形態では、熱伝導測定装置10において熱物性値の測定動作に入る前の設置異常の検知に加え、当該熱伝導測定装置10における熱物性値の測定動作中の上部ロッド23から下部ロッド25へ流す熱の流れを利用して各試料ブロック24a,24bにおける試料Wとの接触面と平行方向における温度のばらつきを測定することにより、前記熱物性値の測定動作中に生じた試料Wの設置異常を検知することも可能となる。   In addition, in the present embodiment, in addition to the detection of the installation abnormality before entering the measurement operation of the thermophysical property value in the heat conduction measuring device 10, the lower part is moved from the upper rod 23 during the thermophysical property measurement operation in the heat conduction measuring device 10. The sample W generated during the measurement operation of the thermophysical property value is measured by measuring the temperature variation in the direction parallel to the contact surface with the sample W in each of the sample blocks 24a and 24b using the flow of heat flowing to the rod 25. It is also possible to detect an installation error of the.

なお、本発明は、前記実施形態に限られるものではなく、その趣旨を逸脱しない範囲で種々変更、改良等が可能である。   Note that the present invention is not limited to the above-described embodiment, and various modifications and improvements can be made without departing from the spirit of the present invention.

上記実施形態では、試料Wの設置異常の検知を熱伝導測定装置10における試料Wの熱物性値の測定動作に入る前と測定動作中とに行っているが、これに限定されず、測定動作に入る前か測定動作中のいずれか一方だけで行ってもよい。   In the above embodiment, the detection of the installation abnormality of the sample W is performed before and during the measurement operation of the thermophysical property value of the sample W in the heat conduction measuring device 10, but the measurement operation is not limited to this. It may be performed either before entering or during the measurement operation.

また、上記実施形態では、試料Wの設置異常が検知された場合、操作者等が設置状態を修正しているが、試料Wの設置状態を修正するための機構を熱伝導測定装置10に設け、当該装置により前記設置状態を自動修正してもよい。   Further, in the above embodiment, when an installation abnormality of the sample W is detected, the operator corrects the installation state, but the mechanism for correcting the installation state of the sample W is provided in the heat conduction measuring device 10. The installation state may be automatically corrected by the device.

また、上記実施形態では、記録装置16と設置異常検知装置17とが別々の装置として構成されているが、これらが一つの装置として構成されてもよい。   Moreover, in the said embodiment, although the recording device 16 and the installation abnormality detection apparatus 17 are comprised as a separate apparatus, these may be comprised as one apparatus.

また、上記実施形態では、上部ロッド23と上側試料ブロック24aとが互いに別体に形成され、下部ロッド25と下側試料ブロック24bとが互いに別体に形成されている、即ち、上部ロッド23と下部ロッド25とによりカートリッジ24を挟み込むように構成されているが、これに限定されない。例えば、図6(a)に示されるように、加熱側挟持部材123と冷却側挟持部材125とがそれぞれ単一の部材で構成され、これら加熱側挟持部材123と冷却側挟持部材125とが試料Wを挟み込むように構成されてもよい。即ち、上部ロッド23と上側試料ブロック24aとを一体にして加熱側挟持部材123を構成し、下部ロッド25と下側試料ブロック24bとを一体にして冷却側挟持部材125を構成してもよい。この場合でも、各挟持部材123,125におけるその試料Wとの接触面(端面)と平行な面方向の温度のばらつきを測定することにより、試料Wの設置異常を検出することができる。   In the above embodiment, the upper rod 23 and the upper sample block 24a are formed separately from each other, and the lower rod 25 and the lower sample block 24b are formed separately from each other. Although the cartridge 24 is sandwiched by the lower rod 25, the present invention is not limited to this. For example, as shown in FIG. 6A, the heating-side clamping member 123 and the cooling-side clamping member 125 are each composed of a single member, and the heating-side clamping member 123 and the cooling-side clamping member 125 are the sample. You may comprise so that W may be inserted | pinched. That is, the heating side clamping member 123 may be configured by integrating the upper rod 23 and the upper sample block 24a, and the cooling side clamping member 125 may be configured by integrating the lower rod 25 and the lower sample block 24b. Even in this case, the installation abnormality of the sample W can be detected by measuring the temperature variation in the plane direction parallel to the contact surface (end surface) of each of the clamping members 123 and 125 with the sample W.

一方向熱流定常比較法では、熱伝導に関する物性値を算出するときに試料Wの厚さ寸法が必要となるため、上記実施形態では、操作者等がその値を熱伝導測定装置10に打ち込んでいるが、例えば図6(a)乃至図6(d)に示すような試料Wの厚さ寸法を測定する装置を熱伝導測定装置10に設けてもよい。   In the one-way heat flow steady comparison method, the thickness dimension of the sample W is required when calculating the physical property value related to heat conduction. Therefore, in the above embodiment, the operator or the like inputs the value into the heat conduction measuring device 10. However, for example, a device for measuring the thickness dimension of the sample W as shown in FIGS. 6A to 6D may be provided in the heat conduction measuring device 10.

この態様では、測定された挟持部材123,125(又は両試料ブロック24a,24b)の間隔に基づいて試料Wの厚み寸法を求めることができる。このとき、当該熱伝導測定装置では、試料Wの設置異常を検知することができるので、これを排除することができる。そのため、加熱側挟持部材123(又は上側試料ブロック24a)と冷却側挟持部材125(又は下側試料ブロック24b)との試料Wとの接触面間の間隔を1点のみ測定することによって試料Wの厚み寸法を精度よく求めることができる。   In this aspect, the thickness dimension of the sample W can be obtained based on the measured distance between the clamping members 123 and 125 (or both sample blocks 24a and 24b). At this time, since the heat conduction measuring device can detect the installation abnormality of the sample W, it can be eliminated. Therefore, by measuring only one point between the contact surfaces of the heating side clamping member 123 (or the upper sample block 24a) and the cooling side clamping member 125 (or the lower sample block 24b) with the sample W, The thickness dimension can be obtained with high accuracy.

尚、試料Wの厚さ寸法を測定する装置としては、例えば、挟持部材123の接触面に直接触れてこの接触面の上下方向の位置に基づいて測定する接触式の変位センサ(図6(a)参照)や、両挟持部材123,125に取付けたピン等の間隔をレーザにより非接触で測定するレーザ変位計(図6(b)参照)、両挟持部材123,125に設けたスリットやピンの間隔を照射部から照射した光を受光部で受光することにより測定する光学式位置センサ(図6(c)及び図6(d)参照)等の接触式や非接触式の種々のセンサが用いられる。   As an apparatus for measuring the thickness dimension of the sample W, for example, a contact-type displacement sensor (FIG. 6A) that directly touches the contact surface of the clamping member 123 and measures based on the vertical position of the contact surface. )), A laser displacement meter (see FIG. 6 (b)) that measures the distance between the pins attached to both the holding members 123 and 125 in a non-contact manner by a laser, and slits and pins provided in both the holding members 123 and 125 There are various contact-type and non-contact-type sensors such as an optical position sensor (see FIG. 6C and FIG. 6D) that measures the distance of the light by receiving the light emitted from the irradiation unit by the light receiving unit. Used.

上記実施形態では、両試料ブロック24a,24bにおける試料Wとの接触面に平行な面方向の温度のばらつきをそれぞれ測定しているが、いずれか一方の試料ブロック24a(又は24b)における試料Wとの接触面に平行な面方向の温度のばらつきのみを測定してもよい。また、下部ロッド25における下側試料ブロック24b側の端面と平行な面方向の温度のばらつきを測定可能に構成すれば、図3(e)に示すような、上部ロッド23とカートリッジ24とが一体的に傾くような設置異常も検出することが可能となる。   In the above embodiment, the temperature variation in the surface direction parallel to the contact surface with the sample W in both the sample blocks 24a and 24b is measured, but the sample W in either one of the sample blocks 24a (or 24b) Only the temperature variation in the plane direction parallel to the contact surface may be measured. If the temperature variation in the surface direction parallel to the end surface of the lower rod 25 on the lower sample block 24b can be measured, the upper rod 23 and the cartridge 24 are integrated as shown in FIG. It is possible to detect an abnormal installation that is inclined.

また、上記実施形態では、両試料ブロック24a,24bにおいて試料Wとの接触面に平行な面方向に複数箇所(即ち、間欠的に)の温度を測っているが、接触面に平行な面方向の全領域の温度を連続的に測定してもよい。これにより、設置異常のより高精度な検知が可能となる。   Moreover, in the said embodiment, although the temperature of several places (namely, intermittently) is measured in the surface direction parallel to the contact surface with the sample W in both sample blocks 24a and 24b, the surface direction parallel to a contact surface You may measure the temperature of the whole area | region continuously. Thereby, it is possible to detect the installation abnormality with higher accuracy.

また、所定の範囲以上の温度のばらつきを検出する具体的方法は、限定されない。上記実施形態では、共通の面方向における温度の最大値と最小値との差の値を用いて所定の範囲以上の温度のばらつきを検出しているが、例えば、試料Wを挟んで対向する位置の温度差や、各位置における温度の相対比等に基づいて検出してもよく、また、前記対向する位置の温度差が閾値を越えるか否かにより検出してもよい。   In addition, a specific method for detecting a temperature variation over a predetermined range is not limited. In the above embodiment, the temperature variation of a predetermined range or more is detected using the difference between the maximum value and the minimum value of the temperature in the common plane direction. For example, the positions facing each other across the sample W May be detected on the basis of the temperature difference between them, the relative ratio of the temperatures at each position, or the like, or may be detected based on whether or not the temperature difference between the opposing positions exceeds a threshold.

具体的には、例えば、図4におけるT1aとT2aとの温度差をΔTとし、T1bとT2bとの温度差をΔTとし、T1cとT2cとの温度差をΔTとし、試料Wの厚みを所定の値以下とした場合に、
各温度差ΔT、ΔT、ΔTのうちの最大値≦規定値
の場合には、設置異常が生じていないと判定し、
各温度差ΔT、ΔT、ΔTのうちの最大値>規定値
の場合には、設置異常が生じていると判定してもよい。
Specifically, for example, the temperature difference between T 1a and T 2a in FIG. 4 is ΔT a , the temperature difference between T 1b and T 2b is ΔT b , and the temperature difference between T 1c and T 2c is ΔT c. When the thickness of the sample W is a predetermined value or less,
If the maximum value of the temperature differences ΔT a , ΔT b , ΔT c ≦ the specified value, it is determined that no installation abnormality has occurred,
If the maximum value among the temperature differences ΔT a , ΔT b , ΔT c > the specified value, it may be determined that an installation abnormality has occurred.

また、T1a、T1b、T1cのうちの最大値と、T2a、T2b、T2cのうちの最小値と、の差が規定値内か否かで設置異常の有無を判定してもよい。 Also, the presence / absence of an installation abnormality is determined based on whether or not the difference between the maximum value of T 1a , T 1b , and T 1c and the minimum value of T 2a , T 2b , and T 2c is within a specified value. Also good.

10 熱伝導測定装置
17 設置異常検知装置
21 加熱ブロック(加熱源の一例)
23 上部ロッド(加熱側部材の一例)
24 カートリッジ(挟持部の一例)
24a 上側試料ブロック(加熱側挟持部の一例)
24b 下側試料ブロック(冷却側挟持部の一例)
24c,24d 温度測定用穴
25 下部ロッド(冷却側部材の一例)
27 冷却ブロック(冷却源の一例)
45,46 温度センサ(温度測定部の一例)
71 演算部
72 表示部
73 設置異常検知部
W 試料
10 Heat Conduction Measurement Device 17 Installation Abnormality Detection Device 21 Heating Block (Example of Heating Source)
23 Upper rod (example of heating side member)
24 cartridge (an example of a clamping part)
24a Upper sample block (an example of a heating side clamping part)
24b Lower sample block (an example of a cooling side clamping part)
24c, 24d Temperature measurement hole 25 Lower rod (an example of a cooling side member)
27 Cooling block (an example of a cooling source)
45, 46 Temperature sensor (example of temperature measurement unit)
71 Calculation unit 72 Display unit 73 Installation abnormality detection unit W Sample

Claims (4)

一方向熱流定常比較法に用いられる熱伝導測定装置であって、
加熱源に熱的に接続されると共に測定対象物の一方の面に接触する端面を有する加熱側挟持部材と、
冷却源に熱的に接続されると共に前記測定対象物の他方の面に接触する端面を有し、前記加熱側挟持部材と共に測定対象物を挟み込む冷却側挟持部材と、
前記加熱側挟持部材におけるその端面に平行な面方向の温度のばらつき及び前記冷却側挟持部材におけるその端面に平行な面方向の温度のばらつきの少なくとも一方を測定する温度測定部と、
前記温度測定部において測定した温度のばらつきに基づいて、前記測定対象物の設置異常を検知する異常検知部と、を備える熱伝導測定装置。
A heat conduction measuring device used in a one-way heat flow steady comparison method,
A heating-side clamping member having an end face that is thermally connected to a heating source and contacts one surface of the measurement object;
A cooling-side clamping member that has an end face that is thermally connected to a cooling source and that contacts the other surface of the measurement object, and sandwiches the measurement object together with the heating-side clamping member;
A temperature measuring unit that measures at least one of a temperature variation in a plane direction parallel to the end surface of the heating-side clamping member and a temperature variation in a plane direction parallel to the end surface of the cooling-side clamping member;
A heat conduction measurement device comprising: an abnormality detection unit that detects an installation abnormality of the measurement object based on variations in temperature measured by the temperature measurement unit.
前記温度測定部は、温度測定端を有し、前記温度測定端が前記加熱側挟持部材及び前記冷却側挟持部材の少なくとも一方におけるその端面と平行な面方向の複数箇所にそれぞれ配置される、請求項1に記載の熱伝導測定装置。   The temperature measurement unit has a temperature measurement end, and the temperature measurement ends are respectively arranged at a plurality of locations in a plane direction parallel to the end face of at least one of the heating side clamping member and the cooling side clamping member. Item 2. The heat conduction measuring device according to Item 1. 前記測定対象物を挟み込んだ状態の前記加熱側挟持部材と前記冷却側挟持部材との間隔を測定する間隔測定部をさらに備える請求項1又は2に記載の熱伝導測定装置。   The heat conduction measuring device according to claim 1 or 2, further comprising an interval measuring unit that measures an interval between the heating-side clamping member and the cooling-side clamping member in a state where the measurement object is sandwiched. 測定対象物の熱伝導に関する物性値を測定する方法であって、
加熱源に熱的に接続されると共に測定対象物の一方の面に接触する端面を有する加熱側挟持部材と冷却源に熱的に接続されると共に前記測定対象物の他方の面に接触する端面を有する冷却側挟持部材とによって測定対象物を挟み込む挟持工程と、
前記測定対象物を挟み込んだ状態で前記加熱源により前記加熱側挟持部材を加熱すると共に前記冷却源により前記冷却側挟持部材を冷却することによって前記加熱側挟持部材から前記冷却側挟持部材に熱を流す熱流工程と、
前記熱流工程で熱を流した状態で、前記加熱側挟持部におけるその端面と平行な面方向の温度のばらつき及び前記冷却側挟持部材におけるその端面に平行な面方向の温度のばらつきの少なくとも一方の温度のばらつきを測定する温度測定工程と、
前記測定した温度のばらつきに基づいて、前記測定対象物の設置異常を検知する検知工程と、を備える熱伝導測定方法。
A method for measuring a physical property value related to heat conduction of a measurement object,
A heating-side clamping member having an end surface that is thermally connected to the heating source and that contacts one surface of the measurement object, and an end surface that is thermally connected to the cooling source and contacts the other surface of the measurement object A clamping step of sandwiching a measurement object by a cooling side clamping member having
Heating the heating side clamping member by the heating source while the measurement object is sandwiched and cooling the cooling side clamping member by the cooling source, heat is applied from the heating side clamping member to the cooling side clamping member. A heat flow process,
With the heat flowing in the heat flow step, at least one of a temperature variation in the surface direction parallel to the end surface of the heating-side clamping portion and a temperature variation in the surface direction parallel to the end surface of the cooling-side clamping member. A temperature measurement process for measuring temperature variations;
And a detection step of detecting an installation abnormality of the measurement object based on the measured temperature variation.
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Hartman et al. Comparison of Deflection Measurements to FEA Modeling for Muon Cooling Channel RF Cavity Windows

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