JP2012022512A - 検査装置、及び検査方法 - Google Patents

Abstract

【課題】タッチパネル付き液晶表示装置の出荷前の製品検査に要する作業を効率的に行うことを可能とする。
【解決手段】静電容量型のタッチパネルが画面上に設けられているタッチパネル付き液晶表示装置の検査に使用する検査装置１である。一端が回転自在に指示された治具本体３１の自由端部に窓３３ａを有する基板３３を設ける。基板３３の裏面側に、タッチパネルが設けられた画面５０１ａの表示輝度を検出する光センサ３４を窓３３ａ内に位置するように設ける。基板３３の表面側にタッチパネルが有する複数本の電極パターンの配置に応じた形状の導電性を有する接触子３５を設ける。治具本体３１を回動させることにより、光センサ３４を画面５０１ａに対向したＶｃｏｍ調整を可能とする検査位置にセットすると同時に、接触子３５を画面５０１ａの特定領域Ａに面接するタッチパネルの断線検査を可能とする検査位置にセットすることができる。
【選択図】図１

Description

本発明は、タッチパネル付き液晶表示装置の検査に使用する検査装置、及び検査方法に関するものである。

従来、例えばＴＦＴ（Thin Film Transistor）型の液晶表示装置には、画面の焼き付き等を防ぐために、画素に印加する電圧の極性を一定の周期（フレーム毎や一走査線毎）で反転させて駆動する反転駆動と呼ばれる駆動方式が採用されている。反転駆動では、液晶表示装置の共通電極に供給するコモン電圧（Ｖｃｏｍ）の極性を、ソース電圧を基準として一定の周期で反転させるが、液晶に印加される実効電圧が正極性時と負極性時とにおいて異なっていると、表示画面にフリッカと呼ばれる表示のちらつき（表示輝度のばらつき）が発生する。

そのため液晶表示装置の出荷前には、液晶に印加される実効電圧を正極性時と負極性時とでほぼ同一の値にするためのＶｃｏｍ調整と呼ばれる表示調整作業が一般に行われている。Ｖｃｏｍ調整では、液晶表示装置の輝度をフォトセンサによって検出し、フォトセンサから出力された検出信号に含まれるＡＣ成分の振幅が最小となるように、ソース電圧とＶｃｏｍとの間の電位差を調整する手法が代表的である（例えば、特許文献１参照）。

一方、液晶表示装置には、画面上にタッチパネルが組み込まれたタッチパネル付きのもの（以下、タッチパネル付き液晶表示装置という。）がある。画面上に組み込まれるタッチパネルとしては静電容量型のものがある（例えば、特許文献２参照）。静電容量型のタッチパネルは、互いに交差して延在する複数本の透明な電極パターンをセンサとして用い、指などがタッチした（接触又は近接した）際の各々の電極パターンにおける静電容量の変化に基づいて入力位置を検出するものである。

特開２０１０−２９５８号公報 特開平６−１３０９２０号公報

ところで、タッチパネル付き液晶表示装置では、出荷前にＶｃｏｍ調整とは別にタッチパネルの動作を検査する必要がある。タッチパネルの動作については、それが静電容量型であれば比較的容易に検査することができる。すなわち互いに交差する方向の一方側に延在する電極パターン群と、他方側に延在する電極パターン群とをそれぞれ横断する形状の導電材料からなる接触子をタッチパネルに接触させた状態で、各電極パターンから静電容量を検出すれば検査を行うことができる。

しかしながら、タッチパネル付き液晶表示装置にあっては、上記のようにＶｃｏｍ調整とタッチパネルの検査とを行う必要があるため、タッチパネルが組み込まれていない液晶表示装置に比べると、出荷前の製品検査に手間がかかるという問題があった。

本発明は、かかる従来の課題に鑑みてなされたものであり、タッチパネル付き液晶表示装置の出荷前の製品検査に要する作業を効率的に行うことを目的とする。

前記課題を解決するため、請求項１記載の発明に係る検査装置にあっては、互いに交差して延在する複数本の電極パターンをセンサとして用いる静電容量型のタッチパネルが画面上に設けられているタッチパネル付き液晶表示装置の検査に使用する検査装置であって、前記タッチパネル付き液晶表示装置のタッチパネルが設けられた画面の表示輝度を検出する光センサと、前記複数本の電極パターンの配置に応じた形状の導電性を有する接触子と、前記光センサと前記接触子とが取り付けられるとともに、前記タッチパネル付き液晶表示装置の検査に際し、前記光センサを、前記画面と対向する第１の検査位置へ案内する同時に、前記接触子を、前記画面の特定領域に接触する第２の検査位置へ案内する治具とを備えたことを特徴とする。

また、請求項２記載の発明に係る検査装置にあっては、前記治具により第１の検査位置に案内された状態の光センサが出力する検出信号を処理し、前記タッチパネル付き液晶表示装置の表示調整作業に供する調整値を取得する調整値取得手段と、前記調整値取得手段により取得された調整値を表示する第１の表示手段と、前記治具により接触子が第２の検査位置に案内された状態で前記タッチパネルから供給される電極パターン毎の静電容量を示す検出値に基づいて、前記タッチパネルにおける断線の有無を判断する断線判断手段と、前記断線判断手段による判断結果を表示する第２の表示手段とを含むことを特徴とする。

また、請求項３記載の発明に係る検査装置にあっては、前記調整値取得手段は、前記光センサが出力する検出信号に含まれる交流成分を半周期毎に積分する積分手段を含み、この積分手段により積分された交流成分の半周期毎の積分値を前記調整値として取得し、前記第１の表示手段は、前記積分手段により積分された交流成分の半周期毎の積分値を表示することを特徴とする。

また、請求項４記載の発明に係る検査方法にあっては、互いに交差して延在する複数本の電極パターンをセンサとして用いる静電容量型のタッチパネルが画面上に設けられているタッチパネル付き液晶表示装置の検査方法であって、前記タッチパネル付き液晶表示装置のタッチパネルが設けた画面の表示輝度を検出する光センサと、前記複数本の電極パターンの配置に応じた形状の導電性を有する接触子とを同一の治具に設けておき、タッチパネル付き液晶表示装置の検査に際し、前記治具によって、前記光センサを、前記画面と対向する第１の検査位置へ案内させると同時に、前記接触子を、前記画面の特定領域に接触する第２の検査位置へ案内させることを特徴とする。

本発明によれば、タッチパネル付き液晶表示装置の出荷前の製品検査に要する作業を効率的に行うことが可能となる。

本発明に係る検査装置を示す図であり、（ａ）は検査装置の平面図、（ｂ）は検査装置の正面図である。 検査装置の電気的構成を示すブロック図である。 タッチパネルの構成を示す図である。 接触子を接触させる領域を示す図３（ａ）に対応する図である。 タッチパネル付き液晶表示装置の検査手順を示すフローチャートである。

以下、本発明の実施形態について説明する。図１は、本発明の一実施形態を示す検査装置１の機械的構成の概略を示す図であって、図１（ａ）は検査装置１の平面図、図１（ｂ）は検査装置１の正面図である。本実施形態の検査装置１は、例えば携帯電話端末にメインディスプレイとして組み付けられるモジュール化されたタッチパネル付き液晶表示装置５０１の検査に使用されるものである。また、図２は、検査装置１と、タッチパネル付き液晶表示装置５０１との電気的構成の概略を示すブロック図である。

ここでは、便宜上、検査装置１が検査対象とするタッチパネル付き液晶表示装置５０１について先に説明する。図２に示したように、タッチパネル付き液晶表示装置５０１は、文字や画像等の情報を表示するＴＦＴ型の液晶表示パネル５０２と、液晶表示パネル５０２の表面に組み付けられたタッチパネル５０３と、液晶表示パネル５０２を駆動する駆動回路５０４とを備えている。

駆動回路５０４による液晶表示パネル５０２の駆動方式は、画素に印加する電圧の極性をフレーム毎に反転させる反転駆動であり、駆動回路５０４にはＶｃｏｍ調整用ボリュウム５０５が設けられている。Ｖｃｏｍ調整用ボリュウム５０５は、反転駆動に伴い液晶表示パネル５０２に生ずる表示のちらつき（表示輝度のばらつき）を抑えるための既説したＶｃｏｍ調整を行うためのものである。

一方、タッチパネル５０３は静電容量型であり、図３（ａ）に示したように、長辺方向に延在する複数列の電極パターン５１１と、短辺方向に延在する複数行の電極パターン５１２と、ＦＰＣ（フレキシブルプリント基板）５１３に実装された駆動ＩＣ５１４とから構成される。複数列の電極パターン５１１と複数行の電極パターン５１２とは、液晶表示パネル５０２の表面を覆う透光性の基板の同一平面上に設けられたＩＴＯ（Indium Tin Oxide）膜によって形成されている。

複数列の電極パターン５１１は、図３（ａ）に白で表現したひし形の電極部分が長辺方向に連続して形成されたものであり、任意のタッチ位置（入力位置）をｘｙ座標で特定する際のｘ座標の位置を特定するためのセンサとして機能する。また、複数行の電極パターン５１２は、図３（ａ）に網掛けで表現したひし形の電極部分が短辺方向に連続して形成されたものであり、任意のタッチ位置をｘｙ座標で特定する際のｙ座標の位置を特定するためのセンサとして機能する。

図３（ｂ）は、複数列の電極パターン５１１を構成する一方の電極部分５１１ａと、複数行の電極パターン５１２を構成する他方の電極部分５１２ａとを示す拡大図である。図３（ｂ）に示したように、各列の電極パターン５１１の各々の電極部分５１１ａは、ＩＴＯ膜によって連続して形成されている。他方、各行の電極パターン５１２の各々の電極部分５１２ａは各列の電極パターン５１１を隔てて互いに離間しており、隣接する電極部分５１２ａ，５１２ａは、各列の電極パターン５１１を跨ぐメタル５１５によりジャンパー（飛び越し接続）されている。これは一般にメタルブリッジと呼ばれている。

図３（ａ）に示したように、複数列の電極パターン５１１は、一端側（図で下端側）からそれぞれ引き出された信号線Ｘ１〜Ｘ６を介してＦＰＣ５１３上で駆動ＩＣ５１４に接続されている。また、複数行の電極パターン５１２は、一端側（図で右端側）からそれぞれ引き出された信号線Ｙ１〜Ｙ１０を介してＦＰＣ５１３上で駆動ＩＣ５１４に接続されている。

駆動ＩＣ５１４は、複数列の電極パターン５１１と複数行の電極パターン５１２とを決められた順番で個別に駆動することによって、電極パターン毎に静電容量を示す検出値を取得する（走査する）。タッチパネル付き液晶表示装置５０１が携帯電話端末等に組み付けられた状態では、駆動ＩＣ５１４が電極パターン毎に取得した検出値が携帯電話端末等に設けられている制御部（マイクロコンピュータ等）へ供給される。そして、制御部によって電極パターン毎の検出値に基づきタッチ位置（指などが接触又は近接した位置）が特定されることとなる。

ここで、タッチパネル５０３においては、例えば図３（ａ）に丸で示したある領域Ｂに導電物が接触した場合、信号線Ｘ１が引き出された左から１列目の電極パターン５１１、及び信号線Ｙ１が引き出された上から１行目の電極パターン５１２の静電容量が、指などの導電物が接触していないときよりも増加する。つまり駆動ＩＣ５１４により取得される検出値が、導電物が接触していないときの検出値よりも大きな一定の閾値を超える値となる。

また、前記領域Ｂに導電物が接触した状態で、仮に上から１行目の電極パターン５１２において、図３（ａ）で領域Ｂの右側に楕円で示した第１の箇所Ｃでメタルブリッジに断線が生じていた場合、当該第２の電極パターン５１２の検出値が閾値を超えず、左から１行目の電極パターン５１１についてのみ閾値を超える検出値が得られることとなる。なお、これは、１行目の電極パターン５１２から引き出された信号線Ｙ１に断線が生じていた場合においても同様である。

また、前記領域Ｂに導電物が接触した状態で、仮に左から１行目の電極パターン５１１から引き出された信号線Ｘ１に、図３（ａ）に楕円で示したＦＰＣ５１３上の第２の箇所Ｄで断線が生じていた場合、左から１列目の電極パターン５１１の検出値が閾値を超えず、上から１行目の電極パターン５１２についてのみ閾値を超える検出値が得られることとなる。

したがって、タッチパネル５０３の動作を検査する際には、各列及び各行の複数本の電極パターンのＦＰＣ５１３から一番遠い配線箇所に導電物を接触させた状態で、複数本の電極パターンを駆動し、駆動ＩＣ５１４が取得した電極パターン毎の検出値を確認すれば、タッチパネル５０３における断線の有無を確認することができる。すなわち、図４に破線で示した特定領域Ａに導電物を接触させた状態で、全ての電極パターンについて閾値を超える検出値が得られれば、断線が無いと判断でき、いずれかの電極パターンの検出値が閾値を超えていなければ、断線が有ると判断できる。

一方、図１（ａ）に示したように、モジュール化された状態のタッチパネル付き液晶表示装置５０１は、外周部を金属製のカバー５０６によって保護されており、カバー５０２にはＶｃｏｍ調整用ボリュウム５０５の調整用のドライバを挿入するための穴５０６ａが設けられている。また、駆動ＩＣ５１４が実装されたＦＰＣ５１３にはカバー５０２から露出する端子部分５１３ａが設けられている。

そして、検査時においてタッチパネル付き液晶表示装置５０１には、ＦＰＣ５１３の端子部分５１３ａに接続されるコネクタ６０１を備えた接続ケーブル６０２から、液晶表示パネル５０２やタッチパネル５０３の動作に必要な駆動電力と、液晶表示パネル５０２を一定の輝度で点灯させるための表示信号とが供給される。

次に、検査装置１の詳細について説明する。図１（ａ）及び図１（ｂ）に示したように、検査装置１は、図示しない本体に設けられたワーク（検査対象の蓋体６０１）を支持する支持台２と、支持台２の近傍に配置された治具３とを備えている。支持台２は、図では省略するが、作業者により手動で搬送されたワークを位置固定した状態で保持する構造を有している。

治具３は、主として検査装置１の本体に相離間して突設された一対の取付部４，４に回転軸５を介して回動自在に支持された治具本体３１と、治具本体３１の自由端部にスペーサ３２，３２を介してビス等により固着された基板３３とから構成されている。

基板３３の略中央部には窓３３ａが開口しており、基板３３の裏面には、基板３３の表面側の光を検出する光センサであるフォトダイオード３４が、窓３３ａの内部に位置決めされた状態で固着されている。また、基板３３の表面には、基板３３の隣接する２辺の周縁に沿ったＬ字形状の接触子３５が貼り付けられている。接触子３５は導電ゴム等の導電物により形成された部材であり、基板３３を介して検査装置１の本体にアースされている。

一方、治具本体３１の自由端部側の両側面には係止ピン３６，３６が突設されており、係止ピン３６，３６と回転軸５の一端及び他端との間にはテンションスプリング３７，３７が張り渡されている。

治具本体３１は、図１（ｂ）で右方向への回動範囲を図示しないストッパによって規制されており、非検査時において治具本体３１は、テンションスプリング３７，３７のバネ力によって自由端部の基板３３が図１（ｂ）に示した位置にある非検査状態を保持される。また、検査時において治具本体３１は、作業者によって、図１（ｂ）に矢印で示した左方向へ回動された後、図１（ｂ）に２点差線で示したように、基板３３の表面に設けられている接触子３５がワークの画面５０１ａに当接した検査状態に操作される。そして、検査状態をテンションスプリング３７，３７のバネ力によって保持される。

すなわち治具３は、治具本体３１を作業者によって非検査状態から検査状態へ操作されることによって、フォトダイオード３４をワークの画面５０１ａに対向する第１の検査位置へ案内し、かつ接触子３５を図１（ａ）に破線で示したワークの画面５０１ａの特定領域Ａ、つまり図４に破線で示した特定領域Ａに面接する第２の検査位置へ案内する。

一方、本実施形態の検査装置１は、図２に示したように、電気的構成としてフォトダイオード３４を含むＶｃｏｍ調整支援部３０１と、前述した接続ケーブル６０２を介してタッチパネル５０３（具体的には駆動ＩＣ５１４）に接続される断線検査部４０１とを備えている。

Ｖｃｏｍ調整支援部３０１は、作業者によるタッチパネル付き液晶表示装置５０１のＶｃｏｍ調整作業（表示調整作業）を支援するためのものであり、フォトダイオード３４と、センサアンプ３０２、全波整流回路３０３、積分器３０４、Ｓ／Ｈ（サンプルホールド）回路３０５、アナログ電圧計３０６、ゼロクロスコンパレータ３０７、タイミング発生回路３０８から構成される。

フォトダイオード３４は、ワークの画面５０１ａに対向する第１の検査位置において画面５０１ａの表示輝度の変化を検出し、表示輝度の時間変化を示す波形の出力信号をセンサアンプ３０２に供給する。センサアンプ３０２は、フォトダイオード３４の出力信号を増幅して全波整流回路３０３に供給する。全波整流回路３０３は、センサアンプ３０２から供給された増幅後の出力信号に対して全波整流を行い、正の整流波形からなる信号を積分器３０４、及びゼロクロスコンパレータ３０７に供給する。

ゼロクロスコンパレータ３０７は、全波整流回路３０３の出力信号が「ゼロ」になるタイミングで出力値が変化する波形の信号をタイミング発生回路３０８に供給する。全波整流回路３０３の出力信号が「ゼロ」になるタイミングは、タッチパネル付き液晶表示装置５０１において液晶表示パネル５０２の画素（液晶）に印加される電圧の極性が反転するタイミングである。

タイミング発生回路３０８は、ゼロクロスコンパレータ３０７の出力信号に基づいて、積分器３０４、及びＳ／Ｈ回路３０５の動作タイミングを規定するタイミング信号を発生し、積分器３０４、及びＳ／Ｈ回路３０５へ供給する。積分器３０４に供給されるタイミング信号はリセットパルスであり、Ｓ／Ｈ回路３０５に供給されるタイミング信号はサンプル／ホールドタイミングパルスである。

積分器３０４は、全波整流回路３０３から供給された正の整流波形を時間積分して、Ｓ／Ｈ回路３０５に供給する。その際、積分器３０４は、タイミング発生回路３０８から供給されるリセットパルスのタイミングに基づいて積分値をリセットすることにより、全波整流回路３０３から供給された信号の整流波形の積分を半周期毎に行う。

Ｓ／Ｈ回路３０５は、積分器３０４により供給された半周期毎の積分電圧値をサンプル（標本化）し、ホールド（保持）する。Ｓ／Ｈ回路３０５は、積分電圧値のサンプル及びホールドの動作を、タイミング発生回路３０８から供給されるサンプル／ホールドタイミングパルスのタイミングに基づいて行い、半周期毎に変化する積分電圧をアナログ電圧計３０６に供給する。アナログ電圧計３０６は、Ｓ／Ｈ回路３０５によってホールドされた半周期毎の積分値（サンプルホールド値）を表示する。

したがって、作業者は、アナログ電圧計３０６に表示される電圧値が最小になるようにＶｃｏｍ調整用ボリュウム５０５を操作することにより、液晶表示パネル５０２に生ずる表示のちらつき（表示輝度のばらつき）を抑えることができる。

なお、Ｖｃｏｍ調整支援部３０１においては、センサアンプ３０２、全波整流回路３０３、積分器３０４、Ｓ／Ｈ回路３０５、ゼロクロスコンパレータ３０７、タイミング発生回路３０８が調整値取得手段として機能し、アナログ電圧計３０６が第１の表示手段として機能する。

一方、断線検査部４０１は、タッチパネル５０３における断線の有無を検査するためのものであり、タッチパネル５０３が有する駆動ＩＣ５１４に接続される断線判断部４０２と、表示部４０３と、検査開始用スイッチ４０４から構成される。

断線判断部４０２は、例えばマイクロコンピュータにより構成され、接触子３５が図１（ａ）、及び図４に示したワークの画面５０１ａの特定領域Ａに接触している状態でタッチパネル５０３から供給される電極パターン毎の検出値に基づいて、タッチパネル５０３における断線の有無を判断する。すなわち、断線判断部４０２は、電極パターン毎の全ての検出値が閾値を超えている場合には断線が無いと判断し、いずれかの検出値が閾値を超えていない場合には断線が有ると判断する。

表示部４０３は、断線判断部４０２によって動作を制御され、断線判断部４０２における断線の有無の判断結果（検査結果）を文字や、色等で簡易に表示する表示器等により構成される。判断結果を文字によって表示する表示器としては、例えば断線が無いときには「ＯＫ」を表示し、かつ断線が有るときには「ＮＧ」を表示するものである。また、判断結果を色で表示する表示器としては、例えば断線が無いときには緑色のランプや発光ダイオードを点灯し、かつ断線が有るときには「赤色」のランプや発光ダイオードを点灯するものである。

検査開始用スイッチ４０４は、作業者が断線検査部４０１に前述した動作を開始させるためのスイッチである。なお、検査開始用スイッチ４０４は、治具本体３１が検査状態へ操作されたことを自動的に検出し、断線検査部４０１に前述した動作を開始させる他のスイッチに代えることができる。他のスイッチとしては、例えば治具本体３１の検査状態への操作を機械的に検出するマイクロスイッチや、治具本体３１の検査状態への操作を非接触で検出する光電スイッチである。

なお、断線検査部４０１においては、断線判断部４０２が断線判断手段として機能し、表示部４０３が第２の表示手段として機能する。

次に、以上説明した検査装置１を使用して作業者がタッチパネル付き液晶表示装置５０１の検査を行うときの手順を図５のフローチャートに従い説明する。

検査に際して作業者は、まずワークを支持台２にセットして位置固定する（ステップＳ１）。次に、作業者は、断線検査部４０１、及び図示しない電源回路や表示信号の供給回路が接続された接続ケーブル６０２をワーク（ＦＰＣ５１３の端子部分５１３ａ）に接続する（ステップＳ２）。これに伴いワークのタッチパネル５０３と断線検査部４０１が電気的に接続されると同時に、ワークに駆動電力と表示信号とが供給され、ワークにおいて液晶表示パネル５０２が一定の輝度で点灯する。

引き続き、作業者は、非検査状態にある治具本体３１を、図１（ｂ）に２点差線で示した検査状態へ操作する（ステップＳ３）。これに伴い、フォトダイオード３４がワークの画面５０１ａに対向する第１の検査位置へ案内され、同時に接触子３５がワークの画面５０１ａの特定領域Ａに面接する第２の検査位置へ案内される。

しかる後、作業者は検査開始用スイッチ４０４を操作して、断線検査部４０１にタッチパネル５０３における断線の有無の検査を指示する（ステップＳ４）。そして、作業者は、断線検査部４０１における検査結果、つまり表示部４０３における表示内容が「断線有り」を示すものであったときには（ステップＳ５：ＮＯ）、その時点で現在のワークに対する検査作業を終了する。

逆に、作業者は、表示部４０３における表示内容が「断線無し」を示すものであったときには（ステップＳ５：ＹＥＳ）、Ｖｃｏｍ調整用を行う。すなわちＶｃｏｍ調整支援部３０１のアナログ電圧計３０６に表示される電圧値が最小になるようにＶｃｏｍ調整用ボリュウム５０５を操作する。そして、作業者は、Ｖｃｏｍ調整用が完了するまで（ステップＳ６：ＮＯ）、Ｖｃｏｍ調整用ボリュウム５０５の操作を継続するとともに、Ｖｃｏｍ調整用が完了した時点で（ステップＳ６：ＹＥＳ）、現在のワークに対する検査作業を終了する。

ここで、本実施形態の検査装置１においては、フォトダイオード３４と接触子３５とが治具本体３１の自由端部の基板３３に設けられている。そのため、作業者は、治具本体３１を検査状態へ操作（回動）するだけで、フォトダイオード３４をＶｃｏｍ調整を可能とする第１の検査位置にセットすると同時に、接触子３５をタッチパネル５０３の断線検査を可能とする第２の検査位置にセットすることができる。

したがって、フォトダイオード３４と接触子３５とを第１の検査位置と第２の検査位置との個別にセットして、Ｖｃｏｍ調整作業とタッチパネルの動作検査とを行う場合に比べると、それらの作業、つまりタッチパネル付き液晶表示装置５０１の出荷前の製品検査に要する作業を効率的に行うことができる。

なお、本実施形態においては、治具３が回動自在な治具本体３１を有し、治具本体３１が非検査状態から検査状態へ回動することによって、フォトダイオード３４を第１の検査位置に案内すると同時に、接触子３５を第２の検査位置に案内する構成につて説明した。

しかし、フォトダイオード３４と接触子３５を設ける治具は、本実施形態に示した構成のものに限らず、任意の構成を有するものに変更することができる。例えば治具は、ワーク（モジュール状態のタッチパネル付き液晶表示装置５０１）を支持する支持台２の上方に昇降自在に設けられた治具本体を有し、係る治具本体にフォトダイオード３４と接触子３５とが固着された構成を有するものでも構わない。すなわち、治具は、治具本体がワークから離間する非検査位置から検査位置に降下し、検査位置に降下した状態で接触子３５をワークの画面５０１ａの特定領域Ａに面接させる構成を有するものであっても構わない。

また、本実施形態においては接触子３５がＬ字形状である場合について説明したが、接触子３５は、タッチパネルを構成する複数本の電極パターンの配置に応じた形状である必要があるため、電極パターンの配置が本実施形態で示したものと異なる場合には、電極パターンの配置に応じて適宜変更する必要がある。

また、本実施形態に示したＶｃｏｍ調整支援部３０１の具体的な構成については、タッチパネル付き液晶表示装置５０１のＶｃｏｍ調整作業に供する調整値（本実施形態では電圧値）を取得し、かつ取得した調整値を表示するものであれば適宜変更することができる。

１ 検査装置
２ 支持台
３ 治具
３１ 治具本体
３３ 基板
３３ａ 窓
３４ 光センサ
３５ 接触子
３０１ Ｖｃｏｍ調整支援部
３０２ センサアンプ
３０３ 全波整流回路
３０４ 積分器
３０５ Ｓ／Ｈ回路
３０６ アナログ電圧計
３０７ ゼロクロスコンパレータ
３０８ タイミング発生回路
４０１ 断線検査部
４０２ 断線判断部
４０３ 表示部
５０１ タッチパネル付き液晶表示装置
５０１ａ 画面
５０２ 液晶表示パネル
５０３ タッチパネル
５０５ Ｖｃｏｍ調整用ボリュウム
５１１ 各列の電極パターン
５１２ 各行の電極パターン
Ａ 特定領域

Claims (4)

1. 互いに交差して延在する複数本の電極パターンをセンサとして用いる静電容量型のタッチパネルが画面上に設けられているタッチパネル付き液晶表示装置の検査に使用する検査装置であって、
   前記タッチパネル付き液晶表示装置のタッチパネルが設けられた画面の表示輝度を検出する光センサと、
   前記複数本の電極パターンの配置に応じた形状の導電性を有する接触子と、
   前記光センサと前記接触子とが取り付けられるとともに、前記タッチパネル付き液晶表示装置の検査に際し、前記光センサを、前記画面と対向する第１の検査位置へ案内する同時に、前記接触子を、前記画面の特定領域に接触する第２の検査位置へ案内する治具と
   を備えたことを特徴とする検査装置。
2. 前記治具により第１の検査位置に案内された状態の光センサが出力する検出信号を処理し、前記タッチパネル付き液晶表示装置の表示調整作業に供する調整値を取得する調整値取得手段と、
   前記調整値取得手段により取得された調整値を表示する第１の表示手段と、
   前記治具により接触子が第２の検査位置に案内された状態で前記タッチパネルから供給される電極パターン毎の静電容量を示す検出値に基づいて、前記タッチパネルにおける断線の有無を判断する断線判断手段と、
   前記断線判断手段による判断結果を表示する第２の表示手段と
   を含むことを特徴とする請求項１記載の検査装置。
3. 前記調整値取得手段は、前記光センサが出力する検出信号に含まれる交流成分を半周期毎に積分する積分手段を含み、この積分手段により積分された交流成分の半周期毎の積分値を前記調整値として取得し、
   前記第１の表示手段は、前記積分手段により積分された交流成分の半周期毎の積分値を表示する
   ことを特徴とする請求項２記載の検査装置。
4. 互いに交差して延在する複数本の電極パターンをセンサとして用いる静電容量型のタッチパネルが画面上に設けられているタッチパネル付き液晶表示装置の検査方法であって、
   前記タッチパネル付き液晶表示装置のタッチパネルが設けた画面の表示輝度を検出する光センサと、前記複数本の電極パターンの配置に応じた形状の導電性を有する接触子とを同一の治具に設けておき、
   タッチパネル付き液晶表示装置の検査に際し、前記治具によって、前記光センサを、前記画面と対向する第１の検査位置へ案内させると同時に、前記接触子を、前記画面の特定領域に接触する第２の検査位置へ案内させる
   ことを特徴とする検査方法。

Images