JP2012008076A

JP2012008076A - 光パルス試験方法及び光パルス試験装置

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Publication number: JP2012008076A
Application number: JP2010146056A
Authority: JP
Inventors: Tatsuyuki Maki; 達幸牧
Original assignee: Anritsu Corp
Current assignee: Anritsu Corp
Priority date: 2010-06-28
Filing date: 2010-06-28
Publication date: 2012-01-12
Anticipated expiration: 2030-06-28
Also published as: JP5562141B2

Abstract

【課題】本発明は、短いダミーファイバを用いて長距離の被測定光ファイバのＯＴＤＲ測定を精度よく行うことのできる光パルス試験方法及び光パルス試験装置の提供を目的とする。
【解決手段】本発明は、パルス幅の狭い第１のパルス光Ｐ_Ｆ１がダミーファイバ１３で散乱された第１の戻り光Ｐ_Ｂ１の光レベルを測定する第１の測定手順Ｓ１０１と、パルス幅の広い第２のパルス光Ｐ_Ｆ２がダミーファイバ１３及び被測定光ファイバ１００で散乱された第２の戻り光Ｐ_Ｂ２の光レベルを測定する第２の測定手順Ｓ１０２と、第１のパルス幅、第２のパルス幅及び第１の戻り光の光レベルＰ_Ｂ１を用いて、第２のパルス光Ｐ_Ｆ２がダミーファイバ１３で散乱された被測定光ファイバが接続される側のダミーファイバ１３の端である入出力端の戻り光の光レベルを算出する入出力端戻り光レベル算出手順Ｓ１０３と、を順に有する。
【選択図】図１

Description

本発明は、ＯＴＤＲ（ＯｐｔｉｃａｌＴｉｍｅＤｏｍａｉｎＲｅｆｌｅｃｔｏｍｅｔｒｙ）測定を行う光パルス試験方法及び光パルス試験装置に関する。

光伝送路の損失等を測定するために、ＯＴＤＲ測定が行われている。ＯＴＤＲ測定では、光源からのパルス光を被測定光ファイバに出力し、被測定光ファイバでの後方散乱光の光パワーを測定する。光源からのパルス光は、装置内のダミーファイバを介して被測定光ファイバに出力される。このダミーファイバでの後方散乱光レベルを測定することによって、ＯＴＤＲ測定の精度を高める方法が提案されている（例えば、特許文献１参照。）。特許文献１に記載の方法は、ダミーファイバでの後方散乱光の光レベルと被測定光ファイバを接続後の後方散乱光の光レベルを用いて被測定光ファイバの後方散乱光の光レベルを算出する。

特開平６−１６０１９７号公報

長距離の被測定光ファイバのＯＴＤＲ測定を精度よく行いたい場合、ＳＮ比を高めるために、パルス幅の広いパルス光を用いる。このとき、ダミーファイバを長くしなければ、ダミーファイバでの後方散乱光の光レベルを測定することはできない。つまり、被測定光ファイバが接続される、光パルス試験装置の入出力端（ダミーファイバの末端）における後方散乱光の光レベルを測定することはできない。

特許文献１に記載の方法では、パルス光のパルス幅まで考慮されていない。このため、特許文献１に記載の方法を用いると、ダミーファイバが長くなり、光パルス試験装置が大型化してしまうとともにコストが増大するという問題があった。

そこで、本発明は、短いダミーファイバを用いて長距離の被測定光ファイバのＯＴＤＲ測定を精度よく行うことのできる光パルス試験方法及び光パルス試験装置の提供を目的とする。

上記目的を達成するために、本願発明の光パルス試験方法は、デッドゾーンがダミーファイバ長に相当する時間以下になる第１のパルス幅を有する第１のパルス光を前記ダミーファイバに入射し、前記第１のパルス光が前記ダミーファイバで散乱された第１の戻り光の光レベルを測定する第１の測定手順（Ｓ１０１）と、前記ダミーファイバに被測定光ファイバが接続された状態で、前記第１のパルス幅よりもパルス幅の広い第２のパルス幅を有する第２のパルス光を前記ダミーファイバに入射し、前記第２のパルス光が前記ダミーファイバ及び前記被測定光ファイバで散乱された第２の戻り光の光レベルを測定する第２の測定手順（Ｓ１０２）と、前記第１のパルス幅、前記第２のパルス幅及び前記第１の戻り光の光レベルを用いて、前記第２の戻り光の光レベルのうちの前記第２のパルス光が前記ダミーファイバで散乱された前記被測定光ファイバが接続される側の前記ダミーファイバの端である入出力端の戻り光の光レベルを算出する入出力端戻り光レベル算出手順（Ｓ１０３）と、を順に有する。

第１の測定手順を実行することで、第１のパルス幅のときのダミーファイバからの戻り光の光レベルを測定することができる。第１のパルス幅を狭くすることで、短いダミーファイバであっても入出力端における第１の戻り光の光レベルを測定することができる。第２の測定手順を実行することで、パルス幅の広い第２のパルス幅のときの被測定光ファイバからの戻り光の光レベルを測定することができる。第２のパルス幅のときにダミーファイバで散乱された戻り光の光レベルは、第１のパルス光と第２のパルス光のパワー比に応じて大きくなっている。このため、入出力端戻り光レベル算出手順を実行することで、入出力端の戻り光の光レベルを算出することができる。このように、本願発明の光パルス試験方法は、入出力端の戻り光の光レベルを算出することができるため、短いダミーファイバを用いた場合であっても、被測定光ファイバのＯＴＤＲ測定を精度よく行うことができる。したがって、本願発明の光パルス試験方法は、短いダミーファイバを用いて長距離の被測定光ファイバのＯＴＤＲ測定を精度よく行うことができる。

本願発明の光パルス試験方法では、前記第２の測定手順で測定した第２の戻り光の光レベル及び前記入出力端戻り光レベル算出手順で算出した前記入出力端の戻り光の光レベルを用いて、前記被測定光ファイバでの光の損失値を算出する全損失値算出手順（Ｓ１１１）を、前記入出力端戻り光レベル算出手順の後にさらに有していてもよい。

本願発明の光パルス試験方法では、前記全損失値算出手順で算出した前記被測定光ファイバでの光の損失値を表示する全損失値表示手順（Ｓ１１２）を、前記全損失値算出手順の後にさらに有していてもよい。

本願発明の光パルス試験方法では、前記全損失値算出手順で算出した前記光の損失値が予め定められたしきい値を超えているか否かを判定し、判定結果を表示するしきい値判定手順（Ｓ１１３）を、前記全損失値算出手順の後にさらに有していてもよい。

本願発明の光パルス試験方法では、前記入出力端戻り光レベル算出手順で算出した前記入出力端の戻り光の光レベルにマーカを表示するマーカ表示手順（Ｓ１２１）を、前記入出力端戻り光レベル算出手順の後にさらに有していてもよい。

本願発明の光パルス試験方法では、前記第２の測定手順で測定した前記第２の戻り光の光レベルを用いて、前記被測定光ファイバの前記第２のパルス光の入射端における前記第２の戻り光の光レベルを算出する被測定光ファイバ入射光レベル算出手順（Ｓ１３１）を、前記第２の測定手順の後にさらに有し、前記入出力端戻り光レベル算出手順で算出した光レベル及び前記被測定光ファイバ入射光レベル算出手順で算出した光レベルを用いて、前記ダミーファイバと前記被測定光ファイバとの間の接続損失値を算出する接続損失値算出手順（Ｓ１３２）を、前記入出力端戻り光レベル算出手順の後にさらに有していてもよい。

本願発明の光パルス試験方法では、前記接続損失値算出手順で算出した前記接続損失値を表示する接続損失値表示手順（Ｓ１３３）を、前記接続損失値算出手順の後にさらに有していてもよい。

本願発明の光パルス試験方法では、前記第２の測定手順で測定した第２の戻り光の光レベルと前記被測定光ファイバ入射光レベル算出手順で算出した光レベルをつなぐ直線を表示する第２の戻り光推定直線表示手順（Ｓ１３４）を、前記入出力端戻り光レベル算出手順の後にさらに有していてもよい。

上記目的を達成するために、本願発明の光パルス試験装置は、パルス光を出力する光源（１１）と、被測定光ファイバ（１００）に接続可能な入出力ポート（１２）と、前記入出力ポートに接続され、前記光源からのパルス光を前記入出力ポートに接続されている前記被測定光ファイバに出力するダミーファイバ（１３）と、前記パルス光が前記ダミーファイバで散乱された第１の戻り光又は前記パルス光が前記ダミーファイバ及び前記被測定光ファイバで散乱された第２の戻り光を受光する受光部（１４）と、前記受光部の受光する前記第１の戻り光及び前記第２の戻り光の光レベルを用いて演算を行う演算部（１５）と、前記演算部の演算結果を表示する表示部（１６）と、を備え、前記光源は、デッドゾーンが前記ダミーファイバ長に相当する時間以下になる第１のパルス幅を有する第１のパルス光を出力するとともに、前記第１のパルス幅よりもパルス幅の広い第２のパルス幅を有する第２のパルス光を出力し、前記受光部は、前記第１のパルス光が前記ダミーファイバで散乱された第１の戻り光を受光するとともに、前記第２のパルス光が前記ダミーファイバ及び前記被測定光ファイバで散乱された第２の戻り光を受光し、前記演算部は、前記第１のパルス幅、前記第２のパルス幅及び前記受光部の受光する前記第１の戻り光の光レベルを用いて、前記第２の戻り光の光レベルのうちの前記第２のパルス光が前記ダミーファイバで散乱された前記被測定光ファイバが接続される側の前記ダミーファイバの端である入出力端の戻り光の光レベルを算出する入出力端戻り光レベル算出部（５１）を備える。

光源が第１のパルス光を出力し、受光部が第１の戻り光を受光するため、第１のパルス幅のときのダミーファイバからの戻り光の光レベルを測定することができる。第１のパルス幅を狭くすることで、短いダミーファイバであっても入出力端における第１の戻り光の光レベルを測定することができる。光源が第２のパルス光を出力し、受光部が第２の戻り光を受光するため、パルス幅の広い第２のパルス幅のときの被測定光ファイバからの戻り光の光レベルを測定することができる。第２のパルス幅のときにダミーファイバで散乱された戻り光の光レベルは、第１のパルス光と第２のパルス光のパワー比に応じて大きくなっている。このため、入出力端戻り光レベル算出部は、入出力端の戻り光の光レベルを算出することができる。このように、本願発明の光パルス試験装置は、入出力端の戻り光の光レベルを算出することができるため、短いダミーファイバを用いた場合であっても、被測定光ファイバのＯＴＤＲ測定を精度よく行うことができる。したがって、本願発明の光パルス試験装置は、短いダミーファイバを用いて長距離の被測定光ファイバのＯＴＤＲ測定を精度よく行うことができる。

本願発明の光パルス試験装置では、前記演算部は、前記第２の戻り光の光レベル及び前記入出力端の戻り光の光レベルを用いて、前記被測定光ファイバにおける前記第２のパルス光の損失値を算出する全損失値算出部（５２）を備えていてもよい。

本願発明の光パルス試験装置では、前記表示部は、前記全損失値算出部の算出する損失値を表示する全損失値表示部（６２）をさらに備えていてもよい。

本願発明の光パルス試験装置では、前記演算部は、前記全損失値算出部の算出する損失値が予め定められたしきい値を超えているか否かを判定するしきい値判定部（５３）を備え、前記表示部は、前記しきい値判定部の判定結果を表示する判定結果表示部（６３）を備えていてもよい。

本願発明の光パルス試験装置では、前記表示部は、前記入出力端の戻り光の光レベルにマーカを表示するマーカ表示部（６１）を備えていてもよい。

本願発明の光パルス試験装置では、前記演算部は、前記受光部の受光する前記第２の戻り光の光レベルを用いて前記被測定光ファイバの前記第２のパルス光の入射端における光レベルを算出し、算出した光レベル及び前記入出力端の戻り光の光レベルを用いて前記ダミーファイバと前記被測定光ファイバとの間の接続損失値を算出する接続損失値算出部（５４）を備えていてもよい。

本願発明の光パルス試験装置では、前記表示部は、前記接続損失値算出部の算出する接続損失値を表示する接続損失値表示部（６４）を備えていてもよい。

本願発明の光パルス試験装置では、前記演算部は、前記受光部の受光する前記第２の戻り光の光レベルを用いて前記入出力ポートから所定距離までの光レベルを算出する入出力端近傍光レベル算出部（５５）を備え、前記表示部は、前記第２の戻り光の光レベルと前記入出力端近傍光レベル算出部の算出する光レベルをつなぐ直線を表示する入出力端近傍光レベル表示部（６５）を備えていてもよい。

なお、上記各発明は、可能な限り組み合わせることができる。

本発明によれば、短いダミーファイバを用いて長距離の被測定光ファイバのＯＴＤＲ測定を精度よく行うことのできる光パルス試験方法及び光パルス試験装置を提供することができる。

実施形態１に係る光パルス試験装置の一例を示す。実施形態１に係る光パルス試験方法の一例を示す。第１の戻り光Ｐ_Ｂ１の光レベルの一例を示す。第２の戻り光Ｐ_Ｂ２の光レベルの一例を示す。実施形態２に係る光パルス試験装置の一例を示す。実施形態２に係る光パルス試験方法の一例を示す。

添付の図面を参照して本発明の実施形態を説明する。以下に説明する実施形態は本発明の実施の例であり、本発明は、以下の実施形態に制限されるものではない。なお、本明細書及び図面において符号が同じ構成要素は、相互に同一のものを示すものとする。

（実施形態１）
図１に、本実施形態に係る光パルス試験装置の一例を示す。本実施形態に係る光パルス試験装置１０１は、距離Ｄ_Ｔの被測定光ファイバ１００にパルス光Ｐ_Ｆ２を入射し、被測定光ファイバ１００からの戻り光Ｐ_Ｂ２を測定することでＯＴＤＲ測定を行う。光パルス試験装置１０１は、光源１１と、入出力ポート１２と、ダミーファイバ１３と、受光部１４と、演算部１５−１と、表示部１６−１と、タイミング発生部１７と、ＡＤＣ（ＡｎａｌｏｇｔｏＤｉｇｉｔａｌＣｏｎｖｅｒｔｅｒ）１８と、を備える。

光源１１は、パルス光を出力する。タイミング発生部１７は、光源１１を駆動し、パルス光のパルス幅を変更する。また、タイミング発生部１７は、光源１１がパルス光を出力したタイミングを演算部１５−１に出力する。これにより、演算部１５−１は、パルス光が出力されてから戻り光を受光するまでの時間を測定し、パルス光が散乱された距離を算出することができる。

光源１１からのパルス光は光カプラ１９を介してダミーファイバ１３に出力される。ダミーファイバ１３は、光源１１からのパルス光を入出力ポート１２まで導く。入出力ポート１２は、被測定光ファイバ１００に接続可能である。入出力ポート１２に被測定光ファイバ１００が接続されている状態では、光源１１からのパルス光は被測定光ファイバ１００で散乱されて戻り光が発生し、その戻り光が入出力ポート１２に入力される。入出力ポート１２に入力された戻り光はダミーファイバ１３に出力される。ダミーファイバ１３を伝搬した戻り光は、光カプラ１９を介して受光部１４に出力される。

受光部１４は、戻り光を受光し、戻り光の光レベルを検出する。ＡＤＣ１８は、受光部１４からの光レベルをサンプリングしてデジタル信号に変換する。演算部１５−１は、受光部１４の受光する戻り光の光レベルを用いて演算を行う。表示部１６は、演算部１５−１の演算結果を表示する。

図２に、本実施形態に係る光パルス試験方法の一例を示す。本実施形態に係る光パルス試験方法は、第１の測定手順Ｓ１０１と、第２の測定手順Ｓ１０２と、入出力端戻り光レベル算出手順Ｓ１０３と、全損失値算出手順Ｓ１１１と、を順に有する。本実施形態に係る光パルス試験方法は、さらに、全損失値算出手順Ｓ１１１の後に、全損失値表示手順Ｓ１１２、しきい値判定手順Ｓ１１３及びマーカ表示手順Ｓ１２１を有する。本実施形態では、全損失値算出手順Ｓ１１１の後に、全損失値表示手順Ｓ１１２、しきい値判定手順Ｓ１１３及びマーカ表示手順Ｓ１２１を同時に行う例を示すが、これらの手順は任意の順に行ってもよい。

第１の測定手順Ｓ１０１では、第１のパルス光Ｐ_Ｆ１をダミーファイバ１３に入射し、第１のパルス光Ｐ_Ｆ１がダミーファイバ１３で散乱された第１の戻り光Ｐ_Ｂ１の光レベルを測定する。ここで、第１のパルス光Ｐ_Ｆ１は、デッドゾーンがダミーファイバ１３長に相当する時間以下になる第１のパルス幅を有する。これにより、ダミーファイバ１３が短い場合であっても、入出力端における第１の戻り光Ｐ_Ｂ１の光レベルを測定することができる。なお、ここで、入出力端とは、ダミーファイバ１３のうちの被測定光ファイバ１００が接続される側の端である。

例えば、入出力ポート１２には、被測定光ファイバ１００を接続する。この状態で、光源１１は、第１のパルス光Ｐ_Ｆ１を出力する。パルス光Ｐ_Ｆ１はダミーファイバ１３及び被測定光ファイバ１００で散乱されて第１の戻り光Ｐ_Ｂ１が発生する。受光部１４は、この第１の戻り光Ｐ_Ｂ１を受光する。

図３に、第１の戻り光Ｐ_Ｂ１の光レベルの一例を示す。第１のパルス幅を有する第１のパルス光Ｐ_Ｆ１を用いているため、ダミーファイバ１３が短い場合であっても、ダミーファイバ１３の入出力端での後方散乱光による光レベルＬ_０を測定することができる。ところが、第１のパルス光Ｐ_Ｆ１では、被測定光ファイバ１００の全長を測定するための十分な性能が得られない場合がある。このため、次の第２の測定手順Ｓ１０２を実行する。

第２の測定手順Ｓ１０２では、ダミーファイバ１３に被測定光ファイバ１００を接続した状態で、第２のパルス光Ｐ_Ｆ２をダミーファイバ１３に入射し、第２のパルス光Ｐ_Ｆ２がダミーファイバ１３及び被測定光ファイバ１００で散乱された第２の戻り光Ｐ_Ｆ２の光レベルを測定する。ここで、第２のパルス光Ｐ_Ｆ２は、第１のパルス光Ｐ_Ｆ１の第１のパルス幅よりもパルス幅の広い第２のパルス幅を有する。

例えば、被測定光ファイバ１００を入出力ポート１２に接続した状態で、光源１１は、パルス光Ｐ_Ｆ２を出力する。パルス光Ｐ_Ｆ２はダミーファイバ１３で散乱されるとともに、被測定光ファイバ１００で散乱され、戻り光Ｐ_Ｂ２が発生する。受光部１４は、パルス光Ｐ_Ｆ２がダミーファイバ１３及び被測定光ファイバ１００で散乱された第２の戻り光Ｐ_Ｂ２を受光する。

図４に、第２の戻り光Ｐ_Ｂ２の光レベルの一例を示す。入出力ポート１２からの距離Ｄ_１における第２の戻り光Ｐ_Ｂ２の光レベルがＬ_１であり、入出力ポート１２からの距離Ｄ_２おける第２の戻り光Ｐ_Ｂ２の光レベルがＬ_２であり、入出力ポート１２からの距離Ｄ_Ｔおける第２の戻り光Ｐ_Ｂ２の光レベルがＬ_Ｔである。第２のパルス幅が広いため、第２の戻り光Ｐ_Ｂ２の光レベルのうちの第２のパルス光Ｐ_Ｆ２がダミーファイバ１３で散乱された入出力端の戻り光の光レベルＬ_０Ｈは、パルス波形のなかに埋もれて判別できない。また、第２の戻り光Ｐ_Ｂ２の光レベルのうちの被測定光ファイバ１００に入射する地点における第２の戻り光Ｐ_Ｂ２の光レベルＬ_０Ｌも、パルス波形のなかに埋もれて判別できない。そこで、入出力端戻り光レベル算出手順Ｓ１０３を実行する。

入出力端戻り光レベル算出手順Ｓ１０３では、演算部１５−１の入出力端戻り光レベル算出部５１は、第２の戻り光Ｐ_Ｂ２の光レベルのうちの第２のパルス光Ｐ_Ｆ２がダミーファイバ１３で散乱された入出力端の戻り光の光レベルＬ_０Ｈを算出する。

例えば、演算部１５−１の入出力端戻り光レベル算出部５１は、第１のパルス幅、第２のパルス幅及び第１の戻り光Ｐ_Ｂ１の光レベルを用いて、第１のパルス光Ｐ_Ｆ１の光パワーに対する第２のパルス光Ｐ_Ｆ２の光パワーの比を算出する。そして、入出力端戻り光レベル算出部５１は、この比を第１の戻り光Ｐ_Ｂ１の光レベルに積算する。これにより、入出力端戻り光レベル算出部５１は、入出力端の戻り光の光レベルＬ_０Ｈを算出することができる。

全損失値算出手順Ｓ１１１では、演算部１５−１の全損失値算出部５２は、第２の測定手順Ｓ１０２で測定した第２の戻り光Ｐ_Ｂ２の光レベルＬ_Ｔ及び入出力端戻り光レベル算出手順Ｓ１０３で算出した入出力端の戻り光の光レベルＬ_０Ｈを用いて、被測定光ファイバ１００での光の損失値ΔＬ_Ｔを算出する。例えば、光レベルＬ_Ｔと光レベルＬ_０Ｈの差分を算出する。

全損失値表示手順Ｓ１１２では、表示部１６−１の全損失値表示部６２は、全損失値算出手順Ｓ１１１で算出した被測定光ファイバ１００での光の損失値ΔＬ_Ｔを表示する。

しきい値判定手順Ｓ１１３では、全損失値算出手順Ｓ１１１で算出した光の損失値ΔＬ_Ｔが予め定められたしきい値を超えているか否かを判定し、判定結果を表示する。

例えば、演算部１５−１に任意の閾値を設定しておく。演算部１５−１のしきい値判定部５３は、全損失値算出部５２の算出する損失値ΔＬ_Ｔがしきい値を超えているか否かを判定する。表示部１６−１の判定結果表示部６３は、しきい値判定部５３の判定結果を表示する。これにより、光線路の開通時に、被測定光ファイバ１００に障害がないか否かを迅速に判定することができる。

マーカ表示手順Ｓ１２１では、表示部１６−１のマーカ表示部６１が、入出力端戻り光レベル算出手順Ｓ１０３で算出した入出力端戻り光の光レベルＬ_０Ｈにマーカを表示する。

（実施形態２）
図５に、本実施形態に係る光パルス試験装置の一例を示す。本実施形態に係る光パルス試験装置１０２は、実施形態１で説明した演算部１５−１及び表示部１６−１に代えて、演算部１５−２及び表示部１６−２を備える。

図６に、実施形態２に係る光パルス試験方法の一例を示す。本実施形態に係る光パルス試験方法は、実施形態１で説明した入出力端戻り光レベル算出手順Ｓ１０３の後に、被測定光ファイバ入射光レベル算出手順Ｓ１３１と、接続損失値算出手順Ｓ１３２と、接続損失値表示手順Ｓ１３３と、第２の戻り光推定直線表示手順Ｓ１３４と、を有する。

被測定光ファイバ入射光レベル算出手順Ｓ１３１では、第２の測定手順Ｓ１０２で測定した第２の戻り光Ｐ_Ｂ２の光レベルを用いて、被測定光ファイバ１００の第２のパルス光Ｐ_Ｆ２の入射端における第２の戻り光Ｐ_Ｂ２の光レベルを算出する。

このとき、演算部１５−２の接続損失値算出部５４は、受光部１４の受光する第２の戻り光Ｐ_Ｂ２の光レベルを用いて入出力ポート１２での光レベルＬ_０Ｌを算出する。例えば、距離Ｄ_１における光レベルＬ_１と距離Ｄ_２における光レベルＬ_２とを通る直線を用いて、被測定光ファイバ１００の入射端における光レベルＬ_０Ｌを算出する。

接続損失値算出手順Ｓ１３２では、入出力端戻り光レベル算出手順Ｓ１０３で算出した光レベルＬ_０Ｈ及び被測定光ファイバ入射光レベル算出手順Ｓ１３１で算出した光レベルＬ_０Ｌを用いて、ダミーファイバ１３と被測定光ファイバ１００との間の接続損失値ΔＬ_０を算出する。

このとき、演算部１５−２の接続損失値算出部５４は、算出した入出力ポート１２での光レベルＬ_０Ｌ及び入出力端の戻り光の光レベルＬ_０Ｈを用いて入出力ポート１２の接続損失値を算出する。例えば、光レベルＬ_０Ｈから光レベルＬ_０Ｌを減算する。

接続損失値表示手順Ｓ１３３では、接続損失値算出手順Ｓ１３２で算出した接続損失値を表示する。例えば、表示部１６−２の接続損失値表示部６４は、接続損失値算出部５４の算出する接続損失値を表示する。

第２の戻り光推定直線表示手順Ｓ１３４では、第２の測定手順Ｓ１０２で測定した第２の戻り光Ｐ_Ｂ２の光レベルと被測定光ファイバ入射光レベル算出手順Ｓ１３１で算出した光レベルをつなぐ直線（図４の符号９１）を表示する。

このとき、演算部１５−２の入出力端近傍光レベル算出部５５は、受光部１４の受光する第２の戻り光Ｐ_Ｂ２の光レベルを用いて入出力ポート１２から所定距離までの光レベルを算出する。例えば、距離Ｄ_１における光レベルＬ_１と距離Ｄ_２における光レベルＬ_２とを通る直線を用いて、入出力ポート１２から距離Ｄ_１までの光レベルを算出する。所定距離は、任意であるが、例えば第２の戻り光Ｐ_Ｂ２の光レベルが明確になっている距離Ｄ_１である。入出力端近傍光レベル表示部６５は、入出力端近傍光レベル算出部５５の算出する光レベルを表示する。

なお、本実施形態に係る光パルス試験装置１０２は、実施形態１に係る光パルス試験装置１０１と組み合わせてもよい。例えば、演算部１５−２は、図１に示す入出力端戻り光レベル算出部５１、全損失値算出部５２、しきい値判定部５３をさらに備えていてもよい。この場合、表示部１６−２は、図１に示すマーカ表示部６１、全損失値表示部６２及び判定結果表示部６３をさらに備える。

また、本実施形態に係る光パルス試験方法は、実施形態１に係る光パルス試験方法と組み合わせてもよい。例えば、本実施形態に係る光パルス試験方法は、図２に示す全損失値算出手順Ｓ１１１、全損失値表示手順Ｓ１１２、しきい値判定手順Ｓ１１３及びマーカ表示手順Ｓ１２１をさらに実行してもよい。

本発明は、情報通信産業に適用することができる。

１１：光源
１２：入出力ポート
１３：ダミーファイバ
１４：受光部
１５−１、１５−２：演算部
１６−１、１６−２：表示部
１７：タイミング発生部
１８：ＡＤＣ
１９：光カプラ
５１：入出力端戻り光レベル算出部
５２：全損失値算出部
５３：しきい値判定部
５４：接続損失値算出部
５５：入出力端近傍光レベル算出部
６１：マーカ表示部
６２：全損失値表示部
６３：判定結果表示部
６４：接続損失値表示部
６５：入出力端近傍光レベル表示部
１００：被測定光ファイバ
１０１、１０２：光パルス試験装置

Claims

デッドゾーンがダミーファイバ長に相当する時間以下になる第１のパルス幅を有する第１のパルス光を前記ダミーファイバに入射し、前記第１のパルス光が前記ダミーファイバで散乱された第１の戻り光の光レベルを測定する第１の測定手順（Ｓ１０１）と、
前記ダミーファイバに被測定光ファイバが接続された状態で、前記第１のパルス幅よりもパルス幅の広い第２のパルス幅を有する第２のパルス光を前記ダミーファイバに入射し、前記第２のパルス光が前記ダミーファイバ及び前記被測定光ファイバで散乱された第２の戻り光の光レベルを測定する第２の測定手順（Ｓ１０２）と、
前記第１のパルス幅、前記第２のパルス幅及び前記第１の戻り光の光レベルを用いて、前記第２の戻り光の光レベルのうちの前記第２のパルス光が前記ダミーファイバで散乱された前記被測定光ファイバが接続される側の前記ダミーファイバの端である入出力端の戻り光の光レベルを算出する入出力端戻り光レベル算出手順（Ｓ１０３）と、
を順に有する光パルス試験方法。
前記第２の測定手順で測定した第２の戻り光の光レベル及び前記入出力端戻り光レベル算出手順で算出した前記入出力端の戻り光の光レベルを用いて、前記被測定光ファイバでの光の損失値を算出する全損失値算出手順（Ｓ１１１）を、
前記入出力端戻り光レベル算出手順の後にさらに有することを特徴とする請求項１に記載の光パルス試験方法。
前記全損失値算出手順で算出した前記被測定光ファイバでの光の損失値を表示する全損失値表示手順（Ｓ１１２）を、
前記全損失値算出手順の後にさらに有することを特徴とする請求項２に記載の光パルス試験方法。
前記全損失値算出手順で算出した前記光の損失値が予め定められたしきい値を超えているか否かを判定し、判定結果を表示するしきい値判定手順（Ｓ１１３）を、前記全損失値算出手順の後にさらに有する
ことを特徴とする請求項２又は３に記載の光パルス試験方法。
前記入出力端戻り光レベル算出手順で算出した前記入出力端の戻り光の光レベルにマーカを表示するマーカ表示手順（Ｓ１２１）を、
前記入出力端戻り光レベル算出手順の後にさらに有することを特徴とする請求項１から４のいずれかに記載の光パルス試験方法。
前記第２の測定手順で測定した前記第２の戻り光の光レベルを用いて、前記被測定光ファイバの前記第２のパルス光の入射端における前記第２の戻り光の光レベルを算出する被測定光ファイバ入射光レベル算出手順（Ｓ１３１）を、前記第２の測定手順の後にさらに有し、
前記入出力端戻り光レベル算出手順で算出した光レベル及び前記被測定光ファイバ入射光レベル算出手順で算出した光レベルを用いて、前記ダミーファイバと前記被測定光ファイバとの間の接続損失値を算出する接続損失値算出手順（Ｓ１３２）を、前記入出力端戻り光レベル算出手順の後にさらに有する
ことを特徴とする請求項１から５のいずれかに記載の光パルス試験方法。
前記接続損失値算出手順で算出した前記接続損失値を表示する接続損失値表示手順（Ｓ１３３）を、前記接続損失値算出手順の後にさらに有する
ことを特徴とする請求項６に記載の光パルス試験方法。
前記第２の測定手順で測定した第２の戻り光の光レベルと前記被測定光ファイバ入射光レベル算出手順で算出した光レベルをつなぐ直線を表示する第２の戻り光推定直線表示手順（Ｓ１３４）を、前記入出力端戻り光レベル算出手順の後にさらに有する
ことを特徴とする請求項６又は７に記載の光パルス試験方法。
パルス光を出力する光源（１１）と、
被測定光ファイバ（１００）に接続可能な入出力ポート（１２）と、
前記入出力ポートに接続され、前記光源からのパルス光を前記入出力ポートに接続されている前記被測定光ファイバに出力するダミーファイバ（１３）と、
前記パルス光が前記ダミーファイバで散乱された第１の戻り光又は前記パルス光が前記ダミーファイバ及び前記被測定光ファイバで散乱された第２の戻り光を受光する受光部（１４）と、
前記受光部の受光する前記第１の戻り光及び前記第２の戻り光の光レベルを用いて演算を行う演算部（１５）と、
前記演算部の演算結果を表示する表示部（１６）と、
を備え、
前記光源は、デッドゾーンが前記ダミーファイバ長に相当する時間以下になる第１のパルス幅を有する第１のパルス光を出力するとともに、前記第１のパルス幅よりもパルス幅の広い第２のパルス幅を有する第２のパルス光を出力し、
前記受光部は、前記第１のパルス光が前記ダミーファイバで散乱された第１の戻り光を受光するとともに、前記第２のパルス光が前記ダミーファイバ及び前記被測定光ファイバで散乱された第２の戻り光を受光し、
前記演算部は、前記第１のパルス幅、前記第２のパルス幅及び前記受光部の受光する前記第１の戻り光の光レベルを用いて、前記第２の戻り光の光レベルのうちの前記第２のパルス光が前記ダミーファイバで散乱された前記被測定光ファイバが接続される側の前記ダミーファイバの端である入出力端の戻り光の光レベルを算出する入出力端戻り光レベル算出部（５１）を備える
光パルス試験装置。
前記演算部は、前記第２の戻り光の光レベル及び前記入出力端の戻り光の光レベルを用いて、前記被測定光ファイバにおける前記第２のパルス光の損失値を算出する全損失値算出部（５２）を備えることを特徴とする請求項９に記載の光パルス試験装置。
前記表示部は、前記全損失値算出部の算出する損失値を表示する全損失値表示部（６２）をさらに備えることを特徴とする請求項９又は１０に記載の光パルス試験装置。
前記演算部は、前記全損失値算出部の算出する損失値が予め定められたしきい値を超えているか否かを判定するしきい値判定部（５３）を備え、
前記表示部は、前記しきい値判定部の判定結果を表示する判定結果表示部（６３）を備える
ことを特徴とする請求項１０又は１１に記載の光パルス試験装置。
前記表示部は、前記入出力端の戻り光の光レベルにマーカを表示するマーカ表示部（６１）を備えることを特徴とする請求項９から１１のいずれかに記載の光パルス試験装置。
前記演算部は、前記受光部の受光する前記第２の戻り光の光レベルを用いて前記被測定光ファイバの前記第２のパルス光の入射端における光レベルを算出し、算出した光レベル及び前記入出力端の戻り光の光レベルを用いて前記ダミーファイバと前記被測定光ファイバとの間の接続損失値を算出する接続損失値算出部（５４）を備えることを特徴とする請求項９から１３のいずれかに記載の光パルス試験装置。
前記表示部は、前記接続損失値算出部の算出する接続損失値を表示する接続損失値表示部（６４）を備えることを特徴とする請求項１４に記載の光パルス試験装置。
前記演算部は、前記受光部の受光する前記第２の戻り光の光レベルを用いて前記入出力ポートから所定距離までの光レベルを算出する入出力端近傍光レベル算出部（５５）を備え、
前記表示部は、前記第２の戻り光の光レベルと前記入出力端近傍光レベル算出部の算出する光レベルをつなぐ直線を表示する入出力端近傍光レベル表示部（６５）を備える
ことを特徴とする請求項９から１５のいずれかに記載の光パルス試験装置。