JP2012002632A - 渦電流探傷方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】演算制御部40は、試験体20Aの平面に渦電流プローブ3を密着させるまでに発生する検出信号と試験体20Bの曲面に渦電流プローブ3を密着させる際に発生する検出信号からリサージュ平面上にリフトオフ許容領域Aを求める。さらに、演算制御部40は、渦電流プローブを被検査体に密着させる過程で発生するリサージュ平面上の信号とリフトオフ許容領域Aを比較して、任意曲面に渦電流プローブを押付けた際のリフトオフ量を評価する。
【選択図】図2
Description
かかる方法により、被検査面の曲率半径が不明な場合でも、被検査面にプローブを押付けた際の密着性を確認できるものとなる。
最初に、図1を用いて、本実施形態による渦電流探傷方法に用いる渦電流プローブの構成について説明する。
図1は、本発明の一実施形態による渦電流探傷方法に用いる渦電流プローブの構成図である。図1(A)は平面図であり、図1(B)は正面図である。
図2は、本発明の一実施形態による渦電流探傷方法を実施する渦電流探傷装置の構成を示すブロック図である。なお、図1と同一符号は、同一部分を示している。
励磁コイルと検出コイルを有する相互誘導形標準比較型の渦電流探傷プローブは、プローブと被検査面との距離(リフトオフ)に対応して検出信号が発生する。図1に示したように、可撓性基板2に複数のコイル1を規則的に取り付けたマルチコイルプローブ3は、プローブ自体が曲がることで被検査面の曲率に密着するが、曲がりによる信号が発生する。
図3及び図4は、本発明の一実施形態による渦電流探傷方法において、平板状の被検査面にプローブが近づく場合の説明図である。なお、図1と同一符号は、同一部分を示している。
図5〜図7は、本発明の一実施形態による渦電流探傷方法において、プローブが徐々に曲げられた場合の説明図である。なお、図1と同一符号は、同一部分を示している。
図8及び図9は、本発明の一実施形態による渦電流探傷方法において、被検査体の曲率が変化するような部分に対してプローブを走査した場合の説明図である。なお、図1と同一符号は、同一部分を示している。
図10及び図11は、本発明の一実施形態による渦電流探傷方法において、曲面部に密着したプローブを、徐々に被検査面から離した場合の説明図である。なお、図1と同一符号は、同一部分を示している。
図12は、本発明の一実施形態による渦電流探傷方法における、被検査体及びプローブの状態による検出信号の内容の説明図である。
図13は、本発明の一実施形態による渦電流探傷方法の内容を示すフローチャートである。図14は、本発明の一実施形態による渦電流探傷方法の説明図である。
図15は、本発明の他の実施形態による渦電流探傷方法を実施する渦電流探傷装置の構成を示すブロック図である。なお、図2と同一符号は、同一部分を示している。図16は、本発明の他の実施形態による渦電流探傷方法の内容を示すフローチャートである。
2…可撓性基板
3…マルチコイルプローブ
20…試験体
30…移動部
40…制御演算部
Claims (3)
- 複数のコイルを規則的に基板に配置した渦電流プローブと被検査体と同材であり、平面及び曲面を模擬した試験体を用いて、
該試験体の平面に前記渦電流プローブを密着させるまでに発生する検出信号と前記試験体の曲面に前記渦電流プローブを密着させる際に発生する検出信号からリサージュ平面上にリフトオフ許容領域を求め、
前記渦電流プローブを被検査体に密着させる過程で発生するリサージュ平面上の信号と前記リフトオフ許容領域を比較して、任意曲面に渦電流プローブを押付けた際のリフトオフ量を評価することを特徴とする渦電流探傷方法。 - 請求項1記載の渦電流探傷方法において、
前記リフトオフ許容領域は、
前記試験体の平面に前記渦電流プローブを密着させる際に発生する第一の検出信号と、
前記試験体の曲面に前記渦電流プローブを密着させる際に発生する第二の検出信号と、
前記リサージュ平面上の第一の検出信号の前記プローブが密着した位置の点と第二の検出信号の前記プローブが密着した位置での点とにより求められる直線と、
前記リサージュ平面上の前記試験体の平面に前記渦電流プローブをリフトオフXmmまで接近させた点と、前記試験体の曲面に前記渦電流プローブをリフトオフXmmまで接近させた点とより求められる直線近似とから求めることを特徴とする渦電流探傷方法。 - 請求項1記載の渦電流探傷方法において、
前記リフトオフ許容領域は、
前記試験体の平面に前記渦電流プローブを密着させる際に発生する第一の検出信号と、
前記試験体の平面にプローブを密着させ、密着(状態を維持し曲面部に向かって走査する際の第二の検出信号と、
前記試験体の曲面からにプローブを離す際に発生する第三の検出信号と、
試験体の平面にプローブをリフトオフXmmまで近づけ、この距離を維持し曲面に走査する際に発生する第四の検出信号とから求めることを特徴とする渦電流探傷方法。
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2010
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