JP2011530195A - 熱交換構造およびそのような構造を備える冷却デバイス - Google Patents

熱交換構造およびそのような構造を備える冷却デバイス Download PDF

Info

Publication number
JP2011530195A
JP2011530195A JP2011523379A JP2011523379A JP2011530195A JP 2011530195 A JP2011530195 A JP 2011530195A JP 2011523379 A JP2011523379 A JP 2011523379A JP 2011523379 A JP2011523379 A JP 2011523379A JP 2011530195 A JP2011530195 A JP 2011530195A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
heat exchange
exchange structure
forming
hole
structure according
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2011523379A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5640008B2 (ja
Inventor
ジェローム・ガヴィレ
ナディア・カネー
ステファン・コラソン
フィリッペ・マルティ
ハイ・トリュー・ファン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Universite Joseph Fourier (Grenoble 1)
Original Assignee
Universite Joseph Fourier (Grenoble 1)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Universite Joseph Fourier (Grenoble 1) filed Critical Universite Joseph Fourier (Grenoble 1)
Publication of JP2011530195A publication Critical patent/JP2011530195A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5640008B2 publication Critical patent/JP5640008B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/46Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements involving the transfer of heat by flowing fluids
    • H01L23/473Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements involving the transfer of heat by flowing fluids by flowing liquids
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F28HEAT EXCHANGE IN GENERAL
    • F28DHEAT-EXCHANGE APPARATUS, NOT PROVIDED FOR IN ANOTHER SUBCLASS, IN WHICH THE HEAT-EXCHANGE MEDIA DO NOT COME INTO DIRECT CONTACT
    • F28D15/00Heat-exchange apparatus with the intermediate heat-transfer medium in closed tubes passing into or through the conduit walls ; Heat-exchange apparatus employing intermediate heat-transfer medium or bodies
    • F28D15/02Heat-exchange apparatus with the intermediate heat-transfer medium in closed tubes passing into or through the conduit walls ; Heat-exchange apparatus employing intermediate heat-transfer medium or bodies in which the medium condenses and evaporates, e.g. heat pipes
    • F28D15/04Heat-exchange apparatus with the intermediate heat-transfer medium in closed tubes passing into or through the conduit walls ; Heat-exchange apparatus employing intermediate heat-transfer medium or bodies in which the medium condenses and evaporates, e.g. heat pipes with tubes having a capillary structure
    • F28D15/046Heat-exchange apparatus with the intermediate heat-transfer medium in closed tubes passing into or through the conduit walls ; Heat-exchange apparatus employing intermediate heat-transfer medium or bodies in which the medium condenses and evaporates, e.g. heat pipes with tubes having a capillary structure characterised by the material or the construction of the capillary structure
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F28HEAT EXCHANGE IN GENERAL
    • F28FDETAILS OF HEAT-EXCHANGE AND HEAT-TRANSFER APPARATUS, OF GENERAL APPLICATION
    • F28F13/00Arrangements for modifying heat-transfer, e.g. increasing, decreasing
    • F28F13/18Arrangements for modifying heat-transfer, e.g. increasing, decreasing by applying coatings, e.g. radiation-absorbing, radiation-reflecting; by surface treatment, e.g. polishing
    • F28F13/185Heat-exchange surfaces provided with microstructures or with porous coatings
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F28HEAT EXCHANGE IN GENERAL
    • F28FDETAILS OF HEAT-EXCHANGE AND HEAT-TRANSFER APPARATUS, OF GENERAL APPLICATION
    • F28F13/00Arrangements for modifying heat-transfer, e.g. increasing, decreasing
    • F28F13/18Arrangements for modifying heat-transfer, e.g. increasing, decreasing by applying coatings, e.g. radiation-absorbing, radiation-reflecting; by surface treatment, e.g. polishing
    • F28F13/185Heat-exchange surfaces provided with microstructures or with porous coatings
    • F28F13/187Heat-exchange surfaces provided with microstructures or with porous coatings especially adapted for evaporator surfaces or condenser surfaces, e.g. with nucleation sites
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/36Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
    • H01L23/373Cooling facilitated by selection of materials for the device or materials for thermal expansion adaptation, e.g. carbon
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/36Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
    • H01L23/373Cooling facilitated by selection of materials for the device or materials for thermal expansion adaptation, e.g. carbon
    • H01L23/3732Diamonds
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/42Fillings or auxiliary members in containers or encapsulations selected or arranged to facilitate heating or cooling
    • H01L23/427Cooling by change of state, e.g. use of heat pipes
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F28HEAT EXCHANGE IN GENERAL
    • F28FDETAILS OF HEAT-EXCHANGE AND HEAT-TRANSFER APPARATUS, OF GENERAL APPLICATION
    • F28F2245/00Coatings; Surface treatments
    • F28F2245/02Coatings; Surface treatments hydrophilic
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F28HEAT EXCHANGE IN GENERAL
    • F28FDETAILS OF HEAT-EXCHANGE AND HEAT-TRANSFER APPARATUS, OF GENERAL APPLICATION
    • F28F2245/00Coatings; Surface treatments
    • F28F2245/04Coatings; Surface treatments hydrophobic
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Thermal Sciences (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Sustainable Development (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

本発明は、主表面(6)内に形成された止まり孔(8)を備える前記主表面(6)を具備する熱交換構造に関するものであり、孔(8)の内面および孔の外側の前記主表面の表面(10)はナノ粒子(12)で覆われ、孔(8)の内側は与えられた液体に関して非湿潤性の特性を有し、孔(8)の間の面の表面(10)は前記液体に関して湿潤性の特性を有する。

Description

本発明は、改善された熱交換構造、およびそのような構造、例えば、ヒートパイプを備える冷却デバイスに関するものであり、その前記構造物は蒸発器を形成する。
電子コンポーネント、および特に、パワーコンポーネントの小型化では、前記コンポーネントから出る熱を放散するためのデバイスを組み込むことが問題となる。マイクロエレクトロニクスおよびパワーエレクトロニクスの分野では、放散すべき熱流束は次第に高くなってゆき、熱抵抗のなおいっそうの低減を必要とする。放出される熱流束は、多くの場合、150〜200W/cm程度の平均値をとるが、1000W/cmに達しうる。これらの熱流束密度レベルについては、羽根付き放熱体(vaned dissipaters)または単相液体系などの、いわゆる受動的冷却法は、引き出される電力に対し限界電力にたちまち達してしまう。
そこで、気液二相流の熱伝達などの他の解決手段が、考えられた。これらの熱伝達を実現する技術は、ヒートパイプ、熱サイフォン、毛細管ループ、または二相流ポンプループ(diphasic pumped loops)である。冷却されるコンポーネントは、冷却デバイスの冷却領域、つまり、蒸発器上に配置される。
電子コンポーネントを冷却するための1つの解決手段は、コンポーネントのところの熱を吸収し、その熱を外部へ放出するヒートパイプを実現することであり、この解決手段は特に非特許文献1において説明されている。
ヒートパイプを使用することで、放熱体の熱伝導率を高めることが可能になる。ヒートパイプを使用することで、与えられた表面から出た熱出力を二次表面に伝達することが可能になり、多くの場合、放熱のために熱交換が利用しやすくなるか、または熱交換が効率的になる。ヒートパイプは、液体流体がその気体と平衡している閉鎖系である。ヒートパイプは、電子コンポーネントの側面に蒸発器を形成する領域を備え、放散される熱は、蒸気形成を通じて吸収される。蒸発させる発生した蒸気は、ヒートパイプの中心を通り、吸収された熱が蒸気の液化によって排出される凝縮領域へ移動し、したがって熱が放出される。凝縮液は、毛管力のせいで蒸発領域へと戻る。
ヒートパイプは、電子コンポーネントに取り付けるか、またはコンポーネント上に一体化することができ、マイクロエレクトロニクスチップの場合には、これは、シリコン基板上に直接チャネルのアレイを埋め込むことからなり、これにより、熱抵抗を減らす。
他の解決策は、流体が重力によって押しのけられ、蒸発器が凝縮器の下に配置される、熱サイフォンを製作することである。
さらに他の解決策は、モーターシステム、凝縮器、および蒸発器を使用する二相流ポンプシステムである。
したがって、これらの解決策はすべて、冷却されるコンポーネント上に取り付けられるか、または冷却されるコンポーネントの基板内に形成されるコンポーネントと接触する熱交換面を使用し、前記表面はコンポーネント内に発生する熱を引き出すことが意図されている。上で説明されているように、熱を引き出すには、液体の蒸発による相変化を利用する。
この交換面に関する大きな問題は、表面が乾燥する危険性であり、表面が乾燥すると熱交換係数が著しく減少し、したがって排出される熱の量が減少する。次いで、熱交換の温度が上昇し、さらにはコンポーネントの温度も上昇し、次いで、この温度がコンポーネントにとってクリティカルなものとなりうる。
このように乾燥することは、熱交換面に液体が存在しないことに対応しており、これはヒートパイプの場合には過剰に高い熱流束がチャネル内にブロックされた蒸気泡を発生することによって生じる可能性があり、その場合、蒸気泡が表面上にブロックされ、そこにはもはや液体が見られなくなり、熱が引き出されることがなくなる可能性がある。これは、チャネルの内面上に均一に分散されることが意図されている液膜の破裂によっても生じうる。
さらに、湿潤面は非常に良好な沸騰熱伝達能力を有することが示されている。例えば、非特許文献2において、TiOの堆積によって得られる親水性表面の熱交換係数が著しく増大し、その熱流が未処理表面に関してクリティカルなものとなることが示されている。
非特許文献3には、カーボンナノチューブの多少覆われた表面の熱交換特性の研究成果が記載されており、ナノチューブで完全に覆われた表面が部分的に覆われた表面に比べて良好な伝熱能力を有することが観察されている。
非特許文献4には、ミクロ構造とナノ構造とを組み合わせた表面により接触角度を83°から0°に減らし、臨界熱流束を200%増やすことが可能であることが示されている。
したがって、超湿潤面は、良好な伝熱能力を得る上で特に効果的であるように思われる。しかし、表面の湿潤性が高まれば高まるほど、蒸気の最初の核を形成するのに要するエネルギーが高くなる。その結果、湿潤面の場合には蒸気泡形成頻度が下がる。
「Conception and test of flat heat pipe for 3D packaging cooling」、Lora Kamenova、Yvan Avenas、Nathaliya Popova、Christian Schaeffer、Slavka Tzanova、1−4244−0755−9/07/2007 IEEE、787〜792頁 Y.Takata、S.Hidaka、J.M.Cao、T.Nakamura、H.Yamamoto、M.Masuda、T.Ito、「Effect of surface wettability on boiling and evaporation」、Energy 30 (2005年) 209〜220頁 S.Ujereh、T.Fisher、I.Mudawar、「Effects of carbon nanotube arrays on nucleate pool boiling」、Int.J.of Heat and Mass Transfer 50 (2007年)4023〜4038頁 S.Kim、H.Kim、H.D.Kim、H.S.Ahn、M.H.Kim、J.Kim、G.C.Park、「Experimental investigation of critical heat flux enhancement by micro/nanoscale surface modification in pool boiling」、ICNMM2008、2008年6月23〜25日、Darmstadt、Germany
そこで、本発明の一目的は、改善された伝熱能力を持つ熱交換デバイス、またはより一般的に、有効性を高めた熱交換構造を実現することである。
すでに述べた目的は、マイクロメートルサイズの表面上に重ね合わされたマイクロメートルサイズの構造とナノメートルサイズの構造を有する表面によって達成され、マイクロメートルサイズの表面はキャビティによって形成され、このキャビティの内面は低い湿潤性の特性を有し、キャビティ間領域は高い湿潤性の特性を有し、表面全体に対するキャビティの内面の比率は低い。
したがって、キャビティの底部および側壁は、蒸気核の生成に有益であり、これらのキャビティは蒸気泡を排出する動作および熱交換面の大半の湿潤を容易にする表面を持つ。
言い換えると、ナノ構造がミクロ構造を覆う構造的不均一性ならびに蒸気核生成を促す疎水性領域と蒸気泡の排出および再湿潤に都合のよい親水性領域とを備える物理化学的不均一性を持つ表面が形成されるということである。
有利には、キャビティの底部および壁は、15°未満の低湿潤ヒステリシスを有し、さらに、核を形成するための活性化エネルギーを低減する。
有利には、キャビティの分布は、1mm当たりキャビティ数が1〜100個の付近である。
そこで、本発明の主題は、一次面に形成された非貫通孔を備える前記一次面を具備する熱交換構造であり、前記面はミクロ構造を形成する孔を備え、孔の内面および孔の外側の前記一次面の表面はナノ構造を形成するような表面であり、孔の内側は与えられた液体に関して非湿潤性の特性を有し、孔と孔との間の面の表面は液体に関して湿潤性の特性を有する。
好ましい一例において、これらの孔は、1μmから10μmまでの範囲の寸法を有し、孔の個数が1mm当たり1個から1mm当たり100個となり、孔の深さが1μmから10μmまでの範囲となるように分布する。
孔の内面は、有利には、低いヒステリシスを有する、例えば、15°未満である。
ナノ構造は、サイズが1nmから100nmまでの範囲とすることができるナノ粒子を堆積することによって得られる。
本発明の主題は、蒸発器、凝縮器、および蒸発器において液相から気相へ、凝縮器において気相から液相へ遷移することができる流体を備える冷却システムでもあり、前記蒸発器は本発明による熱交換構造である。これは、ヒートパイプを伴うことがあり、これは液相の流体を凝縮器から蒸発器へ移動する毛細管のアレイである。
本発明の主題は、本発明による冷却システムを備える電子デバイスもしくはマイクロエレクトロニクスデバイスでもあり、冷却システムは前記デバイスの基板上に取り付けられるか、またはそれと一体化される。
本発明の主題は、本発明による冷却システムを備えるオンボードのデバイスもしくは携帯型デバイスでもある。
本発明の主題は、本発明による熱交換構造を製作するための方法でもあり、これは、
a)基板上の、または基板内の非貫通孔を備えるミクロ構造を形成する段階と、
b)ミクロ構造上にナノ構造を形成する段階と、
c)孔の内面が非湿潤性であり、孔と孔との間の表面が湿潤性であるように表面の物理化学的処理をする段階とを含む。
一実施形態において、段階a)は、
− 犠牲層を基板上に堆積するステップと、
− ハードマスクを犠牲層上に堆積するステップであって、後者は犠牲層の材料に関して高いエッチング選択度を有する、ステップと、
− ポジティブ型樹脂層をハードマスク上に堆積するステップと、
− 孔を印刷し、露出させるステップと、
− ハードマスクを開くステップと、
− 犠牲層をエッチングするステップと、
− 樹脂の層を除去するステップと、
を含む。
例えば、犠牲層は、DLC(「ダイヤモンド状炭素」)層である。
ハードマスクは、SiOまたはSiCとすることができる。
マスクは、例えば、フッ素化プラズマによって開けることができ、酸化プラズマを使用して犠牲層のエッチングを実行することができる。
段階b)は、例えば、孔の内面および孔間領域から形成されるミクロ構造全体にわたってナノ粒子を堆積させ、ナノ粒子の堆積によってナノ構造表面を形成するステップを含むことができる。
段階c)は、
c1)ナノ構造によって覆われているミクロ構造の表面全体の疎水性処理を行うステップと、
c2)孔間の領域の親水性処理を行うステップと、
を含むことができる。
ステップc1)は、例えば、SiOCなどの、疎水性材料の薄膜を堆積することによって行われる。
薄膜の厚さは、有利には構造化されていない表面の平均粗さより小さい。
一実施形態では、ステップc2)は、疎水性材料を空気に曝し、孔の内面を除いてナノ構造表面に光線、例えば、レーザー光線を当ててスキャンすることによって実行することができる。
他の実施形態では、ステップc2)は、疎水性材料を空気に曝し、ナノ構造表面にレーキング紫外線ビーム(raking ultraviolet beam)を当ててスキャンすることによって実行され、前記ビームは孔の内面をスキャンしないように表面に対して傾斜している。
本発明は、以下の説明および添付の図面を使用することによって、より理解が進むであろう。
本発明による熱交換面の断面図であり、図1A’及び図1A”は、図1Aの詳細図である。 図1Aの表面の上面図である。 断面図で示されている本発明による熱交換構造を製作するための異なるステップの概略図である。 断面図で示されている本発明による熱交換構造を製作するための異なるステップの概略図である。 断面図で示されている本発明による熱交換構造を製作するための異なるステップの概略図である。 断面図で示されている本発明による熱交換構造を製作するための異なるステップの概略図である。 断面図で示されている本発明による熱交換構造を製作するための異なるステップの概略図である。 断面図で示されている本発明による熱交換構造を製作するための異なるステップの概略図である。 断面図で示されている本発明による熱交換構造を製作するための異なるステップの概略図である。 断面図で示されている本発明による熱交換構造を製作するための異なるステップの概略図であり、図2H’は、図2Hの詳細を示す拡大図である。 断面図で示されている本発明による熱交換構造を製作するための異なるステップの概略図であり、図2I’は、図2Iの斜視図である。 断面図で示されている本発明による熱交換構造を製作するための異なるステップの概略図である。 本発明による表面上に蒸気泡を形成するための異なるステップの概略図である。 本発明による表面上に蒸気泡を形成するための異なるステップの概略図である。 本発明による表面上に蒸気泡を形成するための異なるステップの概略図である。 本発明による表面上に蒸気泡を形成するための異なるステップの概略図である。 本発明による表面上に蒸気泡を形成するための異なるステップの概略図である。 本発明によるヒートパイプの概略図である。
以下の説明では、蒸発させる液体は水溶液であり、したがって、ここでは、親水性または疎水性の表面を話題とする。しかし、本発明は、水溶液の使用に限定されず、例えば、油の使用も考えられ、この場合は、親油性または疎油性の表面を話題とする。より一般的には、湿潤性または非湿潤性の表面を話題とする。
図1Aおよび1Bは、冷却されるコンポーネントの反対側に配置されることが意図されている一次面6を備え、構造の他の面を貫通しない孔8を備える本発明による熱交換構造2の一部を示す。
示されている例では、この一次面は、平板4によって担持されている。
この構造は、任意の形状の、凹状の、凸状の、または平面、凹面、および/または凸面で構成される一次面を備えることができる。
孔8は、底部8.1および側壁8.2を備える。
示されている例において、孔8は円形部分を有し、ただし、他の形状、特に平行六面体、特に正方形の孔は、本発明の範囲から外れるものではない。
孔を備えていない、孔を囲む面6の残り部分10は、これ以降、「孔間領域」10として示される。
典型的には、孔は、1μm〜10μmの直径を有し、その分布は、およそ1孔/mmから100孔/mmである。孔の深さは、1μm〜10μmである。これらの孔密度およびサイズの条件の下で、疎水性または非湿潤表面の割合は、約15%未満である。
したがって、孔8はミクロ構造を形成する。
熱交換構造は、面4全体を覆うナノ粒子12によって形成されるナノ構造も含み、より具体的には、キャビティの底部8.1および側壁8.2はナノ粒子、さらには孔間領域10で覆われる。ナノ粒子を使用することによって、構造の比表面積を増やすことが可能である。これらは、1〜100nmの平均直径を有する。
ナノ粒子は、例えば、金属、金属合金、銀、銅、またはFe、酸化ケイ素、またはポリマーから作られる。
本発明によれば、孔8、より具体的にはそれぞれの孔の底部8.1および壁8.2は、非湿潤性であるか、または与えられた液体16、例えば、水に関して疎水性の特性を有し、孔間領域10は、液体16に関して湿潤性を有する。
底部8.1および孔8.2は、非ナノ構造表面と比べて大きな非湿潤性を有しているが、孔間領域は、非ナノ構造表面と比べて大きな湿潤性を備える。
図4は、蒸発器を形成する本発明による構造2を備えるヒートパイプを示しており、これは凝縮器13および断熱領域15も備える。断熱領域15は、凝縮された液体流体16を蒸発器へ移動させることによってヒートパイプ用の動力装置として使用される毛細管アレイ17によって形成される。矢印19は、蒸気流体19を記号化したものである。
従来技術と同等の方法において、本発明によるヒートパイプは、冷却されるコンポーネントの表面に関してさまざまな形態(チューブ、コイル)をとりうる。特に、これは、数ミリメートルから数センチメートルまでの範囲の長さを有するが、さまざまな形状(正方形、矩形、三角形、...)をとりうるヒートパイプのパイプ部分の寸法は、1ミリメートル以下、より好ましくは1/10ミリメートル程度の高さである。
次に、図3Aから3Eを使用して、本発明による熱交換構造2から蒸気核を生成するためのプロセスを説明する。
孔間領域10によって囲まれている孔8は見えている。
液体16、ここでは、水が、孔と孔間領域を覆っている。
図1A’は、キャビティの底8.1の拡大図を示しており、水はナノ粒子12の間で空気を捕捉しているナノ粒子の上を覆っている。この図は、カシー超撥水状態に対応している。
図1A”は、親水性孔間領域10の拡大図を示しており、水はナノ粒子を覆い、ナノ粒子の間の空間を満たしている。この図は、カシー超撥水状態に対応している。
孔8の底部8.1および壁8.2上に堆積されたナノ粒子は、蒸気が液体と平衡している空気を満たされた疎水性核形成部位を形成する。そこで、蒸気核を形成するための活性化エネルギーが低減される。その結果、これらは、親水性表面に比べてより容易であるように思われる。さらに、非常に大きな比表面積のせいで、核形成部位の数が非常に大きい。したがって、多数の蒸気核を生成することが容易になり、これらは、一緒にグループ化することによって、蒸気泡14の始まりを形成する(図3B)。
実際には、孔の中の蒸気膜の形成が有利に進む。しかし、これらの孔は、構造の全表面積に関して、したがって、親水性表面に関して比較的小さな表面積を占めており、その表面上の湿潤が促進される。そのため、局部的な乾燥は、冷却されるコンポーネントの温度の上昇を引き起こしえない。
次いで、蒸気泡14が拡大する(図3C)。孔間領域は親水性であり、液相気相界面における接触角度θは、90°より小さい。
蒸気泡は、膨張時に、孔に覆い被さり、孔を囲む孔間領域の部分と接触し、次いで、孔間領域の乾燥の始まりがある。
しかし、毛管現象の力によって、三重点がキャビティの方へ押し戻され、孔間領域の湿潤が確保される。
最後に、蒸気泡が離れる。
次いで、孔8が即座に再湿潤し、これにより、核形成頻度を高めることが可能になる。
孔間空間の親水性の特性により、蒸気泡の離脱と孔間領域の再湿潤が可能になる。熱の引き出しを妨げる蒸気膜の出現がこうして回避される。
本発明によれば、疎水性ナノ構造により核形成が容易に行われるとともに、親水性ミクロ構造により沸騰および再湿潤が容易に行われるようにすることが可能である。
次に、このような熱交換構造を形成するための方法について説明する。
この構造は、基板を構成する材料、例えば、シリコン、アルミニウム、または鋼鉄内に直接形成することできるか、または基板の小さな厚さ部分にあらかじめ堆積されている犠牲層内に形成することができる。
そこで、DLC(「ダイヤモンド状炭素」)タイプの犠牲層を使用するこの第2の可能性について詳しく説明する。図2Aから2Iは、異なる製造ステップ中における、孔8における本発明による構造の概略断面図である。
本発明による製造方法には、ミクロ構造化段階、ナノ構造化段階、および物理化学的処理段階の3つの段階があることがわかる。
第1に、ミクロ構造化段階が行われる。
図2Aは、基板20、例えば、シリコン、鋼鉄、またはアルミニウムの基板上に犠牲層18を堆積するための第1のステップを示している。犠牲層18は、プラズマ化学気相成長法(PECVD)によって堆積されうる。
犠牲層18は、基板上に均一に、かつ一様に、500nm〜2μmの厚さにわたって堆積される。この層は、基板20の熱伝達を変えない十分な細かさと粘着性を持つように形成される。
犠牲層は、プラズマによりエッチングできることと、その熱的特性との間の適切な妥協点をもたらす材料の薄い層を堆積することによっても形成されうる。この材料は、シリコン、酸化ケイ素、窒化ケイ素、または炭化ケイ素、アルミニウムもしくは銅などの金属とすることができる。
図2Bに示されている以下のステップにおいて、ハードマスク22は犠牲層18上に堆積される。マスク22は、例えば、50nm〜200nmの厚さを有する。マスク22の材料は、犠牲層に関して、より具体的には、酸化プラズマ条件の下でDLC層に関して、高いエッチング選択度を有する。例えば、このマスクは、酸化ケイ素SiO、炭化ケイ素、窒化ケイ素、または金属から作られる。マスク22は、PECVDでも堆積することができる。
図2Cに示されているその後のステップでは、感光性樹脂24の層が、0.5μm〜2μmの厚さで堆積される。
図2Dに示されているその後のステップ中に、従来のレーザーもしくはフォトリソグラフィによって孔8が印刷され、露出される。こうして形成された孔の直径は、1μm〜10μmである。これらの孔は、すでに説明されているように、任意の形状、例えば、正方形をとることができる。その密度は、1孔/mm〜100孔/mmである。孔の寸法は、蒸気泡の成長を可能にする最小の安定した半径である、核形成部位の臨界半径、および水に対するテイラー波長に基づいて選択され、これは数学的には式
Figure 2011530195
および
Figure 2011530195
として表される。
ここで、式中、
− rは核形成部位の臨界半径であり、
− λは水に対するテイラー波長であり、
− σは液体の表面電圧であり、
− ρおよびρはそれぞれ液相と気相の体積質量であり、
− h1vは潜熱であり、
− TおよびTsatは壁の温度および飽和温度である。
図2Eに示されているその後のステップにおいて、ハードマスク22がフッ素化プラズマによって開けられ、DLCから作られた犠牲層18が露出する。
図2Fに示されている他のステップ中に、犠牲層18は、酸化プラズマによってエッチングされる。
図2Gに示されているステップ中に、感光性樹脂層24が、溶剤への浸漬によって除去される。
次いで、ナノ構造化段階が行われ、この段階中に、ナノ粒子12が、図2Fに示されているステップ中に得られた表面上に均一に、かつ一様に堆積される。この堆積は、図2Hおよび斜視図としての図2H’に示されており、ナノ粒子の堆積は、孔8の底部8.1および壁8.2上、ならびに孔間領域10上に示されている。
ナノ粒子12は、1nm〜150nmの平均直径を有する。これらの粒子は、異なる技術を使用して堆積されたさまざまな材料から形成されうる。すでに示されているように、これらのナノ粒子は、その後のステップによって引き起こされる湿潤または非湿潤を高めるために、構造の比表面積を増やすことを意図されている。
これらの粒子は、通常の技術を使用して得られたカーボンナノチューブであってもよい。
これらは、Mantis法(Mantis procedure)を使用して堆積された、サイズが1nm〜10nmの金属もしくは金属合金のナノ粒子とすることができる。銀、白金、銅、Feナノ粒子の堆積は、DLI法、MOCBVD法、またはMPA法を使用して行うことができる。ナノメートル法を使用するサイズが100nm未満である酸化ケイ素またはポリマーの堆積を考えることも可能である。
次に、物理化学的処理段階が行われる。
図2Iに示されているステップにおいて、疎水性材料26の膜が、表面を均一に覆うように十分な厚さで堆積されるが、この材料は、(典型的には10nm未満の厚さの)ナノ粒子によって形成される凹凸形状を消すことなく、構造の表面全体にわたって低い湿潤ヒステリシス、好ましくは15°未満の湿潤ヒステリシスをもたらす。SiOCはこのような特性を備える。堆積26は、孔8のナノテクスチャ化に対して十分に細かく、したがってその役割を果たせる。図2Iの拡大図である図2I’では、ナノ粒子12は、膜26で覆われている孔間領域10上に見えており、この膜が個別にナノ粒子12をおぼれさせることなく覆い、したがってナノ構造化が保持されることが示されている。
湿潤ヒステリシスが20°〜40°ではあるが、テフロン(登録商標)も考慮することができる。
この疎水性層の堆積は、PECVDによって行うことができる。薄膜26(図2Iにおいて灰色で図式的に示されている)の厚さは、広い比表面積を維持するために、ナノ粒子12が堆積されている底部8.1および8.2の表面の平均的粗さより小さい。説明のため、図2Iに示されているような膜26の厚さは、実際の厚さに比べてかなり厚い。膜26は、例示されているのとは反対に、ナノ粒子のそれぞれをおぼれさせることなく覆い、それにより、表面のナノ構造化を維持する。
後のステップ(図2J)中に、孔間表面10は、孔の内面の疎水性の特性(図2Jに灰色で示されている)を維持しながら、親水性(図2Jに正方形で示されている)を備えるように処理される。
この親水性処理は、SiOC膜26を空気に曝し、光線を当ててスキャンすることによって行うことができ、これにより、その酸化が行われ、親水性官能基、例えば、OHもしくはヒドロキシルが形成される。スキャンするステップは、孔8を含まない。光線は、レーザーとすることができる。
この処理は、レーキング紫外線ビームの下でSiOCを空気に曝すことによって行うこともでき、これにより、前述のように、親水基が形成される。ビームを傾けることで、孔の内側を酸化反応から保護し、孔の疎水性の能力を保つことが可能になる。
したがって、本発明による熱交換構造は、ヒートパイプ、熱サイフォン、および二相流ポンプシステムなどの、冷却システムにおいて使用されるのに特に適しており、この構造は蒸発器を形成する。
例えば、ヒートパイプの場合、本発明による構造は、凝縮器から蒸発器へ液体を戻すことを意図されている毛細管の底部の一部を形成することができる。
本発明は、著しい流束による冷却の必要性を有し、嵩の大きいことが回避されなければならない分野において使用することができる。
例えば、本発明は、熱流束密度が1000W/cmに達しうるパワーエレクトロニクスの分野、例えば携帯電話、外部ハードドライブ用のコンポーネントを冷却することを目的として民間および軍用航空宇宙産業、および空間的な産業、およびモバイルシステムなどにおいて、例えばマイクロチップ、オンボード機器を冷却することを目的としてマイクロエレクトロニクス分野に特に適合する。
2 熱交換構造
4 平板
6 一次面
8 孔
8.1 底部
8.2 側壁
10 「孔間領域」
12 ナノ粒子
13 凝縮器
14 蒸気泡
15 断熱領域
16 液体
17 毛細管アレイ
18 犠牲層
19 蒸気流体
20 基板
22 ハードマスク
24 感光性樹脂層
26 疎水性材料

Claims (20)

  1. 一次面(6)に形成された非貫通孔(8)を備える前記一次面(6)を具備する熱交換構造であって、
    前記面(6)はミクロ構造を形成する孔(8)を備え、前記孔(8)の内面および前記孔(8)の外側の前記一次面(6)の表面(10)はナノ構造を形成するような表面であり、前記孔(8)の内側は所定の液体に関して非湿潤性の特性を有し、前記孔と孔との間の前記一次面(6)の前記表面(10)は前記液体に関して湿潤性の特性を有する熱交換構造。
  2. 前記孔(8)は、1μm〜10μmの寸法、1μm〜10μmの深さを有し、1孔/mm〜100孔/mm内となるように前記一次面(6)上に分散される請求項1に記載の熱交換構造。
  3. 前記疎水性表面積と全表面積との比は、約15%未満である請求項1または2に記載の熱交換構造。
  4. 前記孔(8)の前記内面は、低いヒステリシス、例えば、15°未満のヒステリシスを有する請求項1、2、または3に記載の熱交換構造。
  5. 前記ナノ構造は、サイズが1nm〜100nmであるナノ粒子(12)を堆積することによって得られる請求項1〜4のいずれか一項に記載の熱交換構造。
  6. 蒸発器、凝縮器、および前記蒸発器において液相から気相へ、前記凝縮器(13)において気相から液相へ遷移することができる流体を備える冷却システムであって、
    前記蒸発器は、請求項1〜5のいずれか一項に記載の熱交換構造(2)である冷却システム。
  7. 液相の前記流体を前記凝縮器(13)から前記蒸発器(4)へ移動する毛細管のアレイ(17)である、ヒートパイプを形成する請求項6に記載の冷却システム。
  8. 請求項6または7に記載の冷却システムを備え、前記冷却システムはデバイスの基板上に取り付けられるか、または前記デバイスと一体化される電子デバイスもしくはマイクロエレクトロニクスデバイス。
  9. 請求項6または7に記載の冷却システムを備えるオンボードデバイスまたは携帯型デバイス。
  10. a)基板上に、または基板内に非貫通孔(8)を備えるミクロ構造を形成する段階と、
    b)前記ミクロ構造上にナノ構造を形成する段階と、
    c)前記孔(8)の前記内面が非湿潤性であり、前記孔(8)と孔(8)との間の前記表面(10)が湿潤性であるように、前記表面の物理化学的処理をする段階と
    を含む請求項1〜5のいずれか一項に記載の熱交換構造(2)を形成するための方法。
  11. 前記段階a)は、
    − 犠牲層(18)を基板(20)上に堆積する段階と、
    − ハードマスク(22)を前記犠牲層(18)上に堆積するステップであって、ハード前記マスク(22)は前記犠牲層(18)の材料に対して高いエッチング選択度を有する、堆積するステップと、
    − ポジティブ型樹脂層(24)を前記ハードマスク(22)上に堆積するステップと、
    − 孔(8)を印刷し、露出させるステップと、
    − 前記ハードマスク(22)を開口するステップと、
    − 前記犠牲層(18)をエッチングするステップと、
    − 前記樹脂層(24)を除去するステップと、
    を含む請求項10に記載の熱交換構造を形成するための方法。
  12. 前記犠牲層(18)は、DLC(「ダイヤモンド状炭素」)層である請求項11に記載の熱交換構造を形成するための方法。
  13. 前記ハードマスク(22)は、SiOまたはSiCから作られる請求項11または12に記載の熱交換構造を形成するための方法。
  14. 前記マスク(22)は、フッ素化プラズマによって開口され、前記犠牲層(18)の前記エッチングは、酸化プラズマを使用して行われる請求項11〜13のいずれか一項に記載の熱交換構造を形成するための方法。
  15. 前記段階b)は、前記孔(8)の前記内面および孔間領域(10)から形成される前記ミクロ構造全体にわたってナノ粒子(12)を堆積させ、ナノ粒子(12)の堆積によってナノ構造表面を形成するステップを含む請求項10〜14のいずれか一項に記載の熱交換構造を形成するための方法。
  16. 前記段階c)は、
    c1)前記ナノ構造によって覆われている前記ミクロ構造の前記表面全体の疎水性処理を行うステップと、
    c2)前記孔間領域(10)の親水性処理を行うステップと、
    を含む請求項10〜15のいずれか一項に記載の熱交換構造を形成するための方法。
  17. 前記ステップc1)は、SiOCなどの、疎水性材料の薄膜(26)を堆積することによって行われる請求項16に記載の熱交換構造を形成するための方法。
  18. 前記膜(26)の厚さは、前記非構造化表面の平均的な粗さより小さい請求項17に記載の熱交換構造を形成するための方法。
  19. 前記ステップc2)は、前記疎水性材料を空気に曝し、前記孔(8)の前記内面を除いて前記ナノ構造表面に光線を当ててスキャンすることによって実行することができる請求項16〜18のいずれか一項に記載の熱交換構造を形成するための方法。
  20. 前記ステップc2)は、前記疎水性材料を空気に曝し、前記ナノ構造表面にレーキング紫外線ビームを当ててスキャンすることによって実行され、前記ビームは前記孔(8)の前記内面をスキャンしないように前記表面に対して傾斜している請求項19に記載の熱交換構造を形成するための方法。
JP2011523379A 2008-08-01 2009-07-30 熱交換構造およびそのような構造を備える冷却デバイス Expired - Fee Related JP5640008B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR0855336 2008-08-01
FR0855336A FR2934709B1 (fr) 2008-08-01 2008-08-01 Structure d'echange thermique et dispositif de refroidissement comportant une telle structure.
PCT/EP2009/059848 WO2010012798A1 (fr) 2008-08-01 2009-07-30 Structure d'echange thermique et dispositif de refroidissement comportant une telle structure

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2011530195A true JP2011530195A (ja) 2011-12-15
JP5640008B2 JP5640008B2 (ja) 2014-12-10

Family

ID=40432078

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011523379A Expired - Fee Related JP5640008B2 (ja) 2008-08-01 2009-07-30 熱交換構造およびそのような構造を備える冷却デバイス

Country Status (5)

Country Link
US (1) US9362201B2 (ja)
EP (1) EP2311086B1 (ja)
JP (1) JP5640008B2 (ja)
FR (1) FR2934709B1 (ja)
WO (1) WO2010012798A1 (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010243035A (ja) * 2009-04-03 2010-10-28 Sony Corp 熱輸送装置、電子機器及び熱輸送装置の製造方法
JP5759606B1 (ja) * 2014-09-30 2015-08-05 株式会社フジクラ ヒートパイプ
WO2016153040A1 (ja) * 2015-03-26 2016-09-29 株式会社村田製作所 ヒートポンプ
JP2018189349A (ja) * 2017-04-28 2018-11-29 株式会社村田製作所 ベーパーチャンバー
JP2019204899A (ja) * 2018-05-24 2019-11-28 現代自動車株式会社Hyundaimotor Company 沸騰冷却装置
WO2020226115A1 (ja) * 2019-05-09 2020-11-12 国立大学法人九州大学 伝熱部材及び冷却システム

Families Citing this family (47)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE112007003648T5 (de) * 2007-09-14 2010-08-26 Advantest Corp. Verbesserte Grenzfläche zur Temperaturkontrolle
FR2934709B1 (fr) * 2008-08-01 2010-09-10 Commissariat Energie Atomique Structure d'echange thermique et dispositif de refroidissement comportant une telle structure.
US9557117B2 (en) * 2008-10-29 2017-01-31 Nec Corporation Cooling structure, electronic device using same, and cooling method
US9163883B2 (en) 2009-03-06 2015-10-20 Kevlin Thermal Technologies, Inc. Flexible thermal ground plane and manufacturing the same
KR101044351B1 (ko) * 2010-05-26 2011-06-29 김선기 히트 쿨러
US8983019B2 (en) * 2010-08-31 2015-03-17 Massachusetts Institute Of Technology Superwetting surfaces for diminishing leidenfrost effect, methods of making and devices incorporating the same
TW201115070A (en) * 2011-01-13 2011-05-01 yao-quan Wu Heat dissipation substrate
FR2971581B1 (fr) 2011-02-11 2013-03-15 Commissariat Energie Atomique Dispositif absorbeur thermique a materiau a changement de phase
US20120267077A1 (en) * 2011-04-21 2012-10-25 Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America, Inc. Cooling apparatuses and power electronics modules comprising the same
GB2512752B (en) 2011-09-26 2015-11-04 Trane Int Inc Refrigerant management in HVAC systems
US8780559B2 (en) * 2011-12-29 2014-07-15 General Electric Company Heat exchange assembly for use with electrical devices and methods of assembling an electrical device
US8811014B2 (en) 2011-12-29 2014-08-19 General Electric Company Heat exchange assembly and methods of assembling same
US8842435B2 (en) 2012-05-15 2014-09-23 Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America, Inc. Two-phase heat transfer assemblies and power electronics incorporating the same
WO2013184210A2 (en) * 2012-06-03 2013-12-12 Massachusetts Institute Of Technology Hierarchical structured surfaces
WO2014011372A2 (en) * 2012-06-19 2014-01-16 The Board Of Trustees Of The University Of Illinois, A Body Corporate And Politic Of The State Of Illinois Refrigerant repelling surfaces
US20140238645A1 (en) * 2013-02-25 2014-08-28 Alcatel-Lucent Ireland Ltd. Hierarchically structural and biphillic surface energy designs for enhanced condensation heat transfer
US20140238646A1 (en) * 2013-02-25 2014-08-28 Alcatel-Lucent Ireland Ltd. Sloped hierarchically-structured surface designs for enhanced condensation heat transfer
EP2998687B1 (en) * 2013-05-17 2018-04-04 Hitachi, Ltd. Heat exchanger
FR3018631B1 (fr) 2014-03-11 2016-04-29 St Microelectronics Sa Caloduc et son procede de fabrication
US10867887B2 (en) * 2014-07-29 2020-12-15 Massachusetts Institute Of Technology Enhanced flow boiling heat transfer in microchannels with structured surfaces
WO2016044638A1 (en) 2014-09-17 2016-03-24 The Regents Of The University Of Colorado, A Body Corporate Micropillar-enabled thermal ground plane
US11598594B2 (en) 2014-09-17 2023-03-07 The Regents Of The University Of Colorado Micropillar-enabled thermal ground plane
US11988453B2 (en) 2014-09-17 2024-05-21 Kelvin Thermal Technologies, Inc. Thermal management planes
WO2016053325A1 (en) * 2014-10-01 2016-04-07 Georgia Tech Research Corporation Evaporation cooling devices and systems and methods of removing heat from hot spots
US20160106004A1 (en) * 2014-10-13 2016-04-14 Ntherma Corporation Carbon nanotubes disposed on metal substrates with one or more cavities
EP3213022A4 (en) * 2014-10-28 2018-06-13 Kelvin Thermal Technologies, Inc. Polymer-based microfabricated thermal ground plane
US10302367B2 (en) * 2015-12-04 2019-05-28 Intel Corporation Non-metallic vapor chambers
US10746478B2 (en) * 2015-12-11 2020-08-18 California Institute Of Technology Silicon biporous wick for high heat flux heat spreaders
CN106102414B (zh) * 2016-06-22 2019-01-15 西安交通大学 一种复合柱状微结构的亲/疏水强化沸腾换热片
CN109715298A (zh) 2016-09-19 2019-05-03 尼蓝宝股份有限公司 液滴喷射涂料
CN116936500A (zh) * 2016-11-08 2023-10-24 开尔文热技术股份有限公司 用于在热接地平面中散布高热通量的方法和设备
CN110418922B (zh) 2017-01-12 2022-08-16 尼蓝宝股份有限公司 温度和相对湿度控制器
US10159165B2 (en) * 2017-02-02 2018-12-18 Qualcomm Incorporated Evaporative cooling solution for handheld electronic devices
US11041665B1 (en) 2017-11-30 2021-06-22 Nelumbo Inc. Droplet-field heat transfer surfaces and systems thereof
US10718575B2 (en) * 2017-12-21 2020-07-21 Nokia Technolgies Oy Apparatus for coalescence induced droplet jumping
CN108167790A (zh) * 2018-02-11 2018-06-15 中国科学院工程热物理研究所 用于超高热流密度下的光热集成器件、散热器及led灯
CN108168345A (zh) * 2018-02-11 2018-06-15 中国科学院工程热物理研究所 用于超高热流密度下的热沉及其制造方法
CN108167671A (zh) * 2018-02-11 2018-06-15 中国科学院工程热物理研究所 侧发光led灯
US11181323B2 (en) * 2019-02-21 2021-11-23 Qualcomm Incorporated Heat-dissipating device with interfacial enhancements
US10648751B1 (en) * 2019-10-31 2020-05-12 Rockwell Automation Technologies, Inc Heat dissipating cladding
US11754343B2 (en) * 2019-11-05 2023-09-12 Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America, Inc. Phase change heat-storing mechanisms for substrates of electronic assemblies
JP7456185B2 (ja) 2019-12-18 2024-03-27 富士電機株式会社 沸騰冷却器
CN111076592A (zh) * 2019-12-31 2020-04-28 中国核动力研究设计院 一种碱金属热管吸液芯的处理方法
US20230292466A1 (en) 2020-06-19 2023-09-14 Kelvin Thermal Technologies, Inc. Folding Thermal Ground Plane
CN113154927B (zh) * 2021-05-25 2022-03-11 中国核动力研究设计院 一种微纳结构表面强化传热方法
US20230363111A1 (en) * 2022-05-08 2023-11-09 Amulaire Thermal Technology, Inc. Immersion-type liquid cooling heat dissipation structure
US11938414B1 (en) * 2022-10-04 2024-03-26 Honeywell Federal Manufacturing & Technologies, Llc Microfluidic film evaporation with femtosecond laser-patterned surface

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004028444A (ja) * 2002-06-25 2004-01-29 Sony Corp 冷却装置、電子機器装置及び冷却装置の製造方法
JP2004309002A (ja) * 2003-04-04 2004-11-04 Hitachi Cable Ltd プレート型ヒートパイプおよびその製造方法
JP2007150013A (ja) * 2005-11-29 2007-06-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd シート状ヒートパイプおよび電子機器冷却構造体
JP2008039378A (ja) * 2006-07-14 2008-02-21 Central Glass Co Ltd ヒートパイプ

Family Cites Families (41)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3301314A (en) * 1964-03-02 1967-01-31 Gen Electric Method and means for increasing the heat transfer coefficient between a wall and boiling liquid
US6371199B1 (en) * 1988-02-24 2002-04-16 The Trustees Of The University Of Pennsylvania Nucleate boiling surfaces for cooling and gas generation
US5453641A (en) * 1992-12-16 1995-09-26 Sdl, Inc. Waste heat removal system
KR100881472B1 (ko) * 1999-02-04 2009-02-05 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 소정 기판 상에 놓여져 있는 패턴화된 마스크 표면 위로 적층 구조물을 증착하기 위한 방법
US20010054495A1 (en) * 1999-09-27 2001-12-27 Yevin Oleg A. Surfaces having particle structures with broad range radiation absorptivity
AU2001286515A1 (en) * 2000-08-17 2002-02-25 Robert L. Campbell Heat exchange element with hydrophilic evaporator surface
JP3848070B2 (ja) * 2000-09-27 2006-11-22 株式会社東芝 パターン形成方法
CN100347608C (zh) * 2001-09-25 2007-11-07 米卢塔技术株式会社 利用毛细作用力在基体上形成微型图案的方法
US7579077B2 (en) * 2003-05-05 2009-08-25 Nanosys, Inc. Nanofiber surfaces for use in enhanced surface area applications
JP4871726B2 (ja) * 2003-04-28 2012-02-08 ナノシス・インク. 超疎液性表面、その作製法及び用途
TW577683U (en) * 2003-06-02 2004-02-21 Jiun-Guang Luo Heat sink
US20060000796A1 (en) * 2004-06-30 2006-01-05 Elliot Tan Method for controlling critical dimensions and etch bias
US8080289B2 (en) * 2004-09-30 2011-12-20 National Cheng Kung University Method for making an aligned carbon nanotube
US7204298B2 (en) * 2004-11-24 2007-04-17 Lucent Technologies Inc. Techniques for microchannel cooling
US20070028588A1 (en) * 2005-08-03 2007-02-08 General Electric Company Heat transfer apparatus and systems including the apparatus
WO2007019558A2 (en) * 2005-08-09 2007-02-15 The Regents Of The University Of California Nanostructured micro heat pipes
US20070235847A1 (en) * 2005-09-19 2007-10-11 Shriram Ramanathan Method of making a substrate having thermally conductive structures and resulting devices
CN101001515B (zh) * 2006-01-10 2011-05-04 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 板式散热管及其制造方法
US7531102B2 (en) * 2006-03-31 2009-05-12 Intel Corporation Simultaneous selective polymer deposition and etch pitch doubling for sub 50nm line/space patterning
US7829465B2 (en) * 2006-08-09 2010-11-09 Shouliang Lai Method for plasma etching of positively sloped structures
US20080105406A1 (en) * 2006-11-03 2008-05-08 Foxconn Technology Co., Ltd. Heat pipe with variable grooved-wick structure and method for manufacturing the same
EP1990212A1 (en) * 2007-05-07 2008-11-12 CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA Recherche et Développement Unique security device for the identification or authentication of valuable goods, fabrication process and method for securing valuable goods using such a unique security device
US8262920B2 (en) * 2007-06-18 2012-09-11 Lam Research Corporation Minimization of mask undercut on deep silicon etch
EP2188405B1 (de) * 2007-08-13 2013-08-14 Incoat GmbH Verfahren zur herstellung einer metalloxid-beschichteten werkstückoberfläche mit vorgebbarem hydrophoben verhalten
KR101336963B1 (ko) * 2007-09-04 2013-12-04 삼성전자주식회사 변형된 기판 구조를 갖는 탄소 나노튜브 막 및 그 제조방법
US8721901B2 (en) * 2007-10-05 2014-05-13 Micron Technology, Inc. Methods of processing substrates and methods of forming conductive connections to substrates
EP2077249A1 (en) * 2008-01-06 2009-07-08 Universiteit Twente A method for making a 3D nanostructure having a nanosubstructure, and an insulating pyramid having a metallic tip, a pyramid having a nano-apertures and horizontal and/or vertical nanowires obtainable by this method
JP5149083B2 (ja) * 2008-06-16 2013-02-20 富士フイルム株式会社 パターン形成方法、並びに基板加工方法、モールド構造体の複製方法、及びモールド構造体
FR2934709B1 (fr) * 2008-08-01 2010-09-10 Commissariat Energie Atomique Structure d'echange thermique et dispositif de refroidissement comportant une telle structure.
FR2934580B1 (fr) * 2008-08-01 2015-01-16 Kfm Technology Procede et dispositif d'encapsulation de microstructures
US9163883B2 (en) * 2009-03-06 2015-10-20 Kevlin Thermal Technologies, Inc. Flexible thermal ground plane and manufacturing the same
FR2950133B1 (fr) 2009-09-14 2011-12-09 Commissariat Energie Atomique Dispositif d'echange thermique a efficacite amelioree
FR2950134B1 (fr) 2009-09-14 2011-12-09 Commissariat Energie Atomique Dispositif d'echange thermique a ebullition convective et confinee a efficacite amelioree
JP5179455B2 (ja) * 2009-10-27 2013-04-10 Sppテクノロジーズ株式会社 プラズマエッチング方法
US8808558B2 (en) * 2010-02-04 2014-08-19 National Sun Yat-Sen University System and method for alignment of nanoparticles on substrate
US8790594B2 (en) * 2010-04-23 2014-07-29 Georgia Tech Research Corporation Patterning of surfaces to control the storage, mobility and transport of liquids for microfluidic applications
US8983019B2 (en) * 2010-08-31 2015-03-17 Massachusetts Institute Of Technology Superwetting surfaces for diminishing leidenfrost effect, methods of making and devices incorporating the same
FR2971581B1 (fr) * 2011-02-11 2013-03-15 Commissariat Energie Atomique Dispositif absorbeur thermique a materiau a changement de phase
FR2977121B1 (fr) * 2011-06-22 2014-04-25 Commissariat Energie Atomique Systeme de gestion thermique a materiau a volume variable
US20140238645A1 (en) * 2013-02-25 2014-08-28 Alcatel-Lucent Ireland Ltd. Hierarchically structural and biphillic surface energy designs for enhanced condensation heat transfer
US20140238646A1 (en) * 2013-02-25 2014-08-28 Alcatel-Lucent Ireland Ltd. Sloped hierarchically-structured surface designs for enhanced condensation heat transfer

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004028444A (ja) * 2002-06-25 2004-01-29 Sony Corp 冷却装置、電子機器装置及び冷却装置の製造方法
JP2004309002A (ja) * 2003-04-04 2004-11-04 Hitachi Cable Ltd プレート型ヒートパイプおよびその製造方法
JP2007150013A (ja) * 2005-11-29 2007-06-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd シート状ヒートパイプおよび電子機器冷却構造体
JP2008039378A (ja) * 2006-07-14 2008-02-21 Central Glass Co Ltd ヒートパイプ

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010243035A (ja) * 2009-04-03 2010-10-28 Sony Corp 熱輸送装置、電子機器及び熱輸送装置の製造方法
JP5759606B1 (ja) * 2014-09-30 2015-08-05 株式会社フジクラ ヒートパイプ
WO2016153040A1 (ja) * 2015-03-26 2016-09-29 株式会社村田製作所 ヒートポンプ
JPWO2016153040A1 (ja) * 2015-03-26 2017-12-14 株式会社村田製作所 ヒートポンプ
US10544994B2 (en) 2015-03-26 2020-01-28 Murata Manufacturing Co., Ltd. Sheet-shaped heat pipe
JP2018189349A (ja) * 2017-04-28 2018-11-29 株式会社村田製作所 ベーパーチャンバー
JP2019204899A (ja) * 2018-05-24 2019-11-28 現代自動車株式会社Hyundaimotor Company 沸騰冷却装置
CN110530181A (zh) * 2018-05-24 2019-12-03 现代自动车株式会社 沸腾冷却装置
KR20190134438A (ko) * 2018-05-24 2019-12-04 현대자동차주식회사 비등 냉각 장치
JP7185420B2 (ja) 2018-05-24 2022-12-07 現代自動車株式会社 沸騰冷却装置
KR102540540B1 (ko) * 2018-05-24 2023-06-05 현대자동차주식회사 비등 냉각 장치
WO2020226115A1 (ja) * 2019-05-09 2020-11-12 国立大学法人九州大学 伝熱部材及び冷却システム

Also Published As

Publication number Publication date
EP2311086B1 (fr) 2016-11-09
US9362201B2 (en) 2016-06-07
FR2934709B1 (fr) 2010-09-10
EP2311086A1 (fr) 2011-04-20
FR2934709A1 (fr) 2010-02-05
JP5640008B2 (ja) 2014-12-10
WO2010012798A1 (fr) 2010-02-04
US20110198059A1 (en) 2011-08-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5640008B2 (ja) 熱交換構造およびそのような構造を備える冷却デバイス
Liang et al. Review of pool boiling enhancement by surface modification
Mori et al. Critical heat flux enhancement by surface modification in a saturated pool boiling: A review
Patil et al. Review of the manufacturing techniques for porous surfaces used in enhanced pool boiling
Xu et al. Spray cooling on enhanced surfaces: A review of the progress and mechanisms
Kim et al. Review of boiling heat transfer enhancement on micro/nanostructured surfaces
Singh et al. Review of pool and flow boiling heat transfer enhancement through surface modification
Rishi et al. Improved wettability of graphene nanoplatelets (GNP)/copper porous coatings for dramatic improvements in pool boiling heat transfer
US10724804B2 (en) Method and device for spreading high heat fluxes in thermal ground planes
JP4354270B2 (ja) ベーパーチャンバー
Kousalya et al. Metal functionalization of carbon nanotubes for enhanced sintered powder wicks
JP5509318B2 (ja) 熱交換係数を向上させた熱交換装置およびその装置を製造する方法
JP2010522996A (ja) 沸騰を用いた薄型熱拡散液体チャンバ
US20110203772A1 (en) System and method for enhanced heat transfer using nanoporous textured surfaces
Khan et al. Pool boiling heat transfer enhancement by surface modification/micro-structures for electronics cooling: a review
US20240133643A1 (en) Single and multi-layer mesh structures for enhanced thermal transport
KR20030024916A (ko) 냉각장치와 그 제조방법
Krishnan et al. Evaluating the scale effects of metal nanowire coatings on the thermal performance of miniature loop heat pipe
Zhou et al. Advancements and challenges in ultra-thin vapor chambers for high-efficiency electronic thermal management: A comprehensive review
CN115900404B (zh) 加热平板沸腾强化微结构改性表面及其实现方法
Thompson et al. Recent advances in two-phase thermal ground planes
Hashimoto et al. Nano-structured two-phase heat spreader for cooling ultra-high heat flux sources
Soroush et al. A Hybrid Microporous Copper Structure for High Performance Capillary-Driven Liquid Film Boiling
Ho et al. Enhanced nucleate pool boiling from microstructured surfaces fabricated by selective laser melting
El-Genk et al. Saturation boiling on MPC: Effects of thickness, inclination angle, transient bubble growth, and nucleation site density

Legal Events

Date Code Title Description
A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20120710

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20120720

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120907

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20130307

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130312

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20130612

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20130619

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130912

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140219

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20140421

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140821

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20140903

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140929

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20141027

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5640008

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees