JP2011525701A - 光学モジュールへの力作用を調節可能な光学装置 - Google Patents
光学モジュールへの力作用を調節可能な光学装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2011525701A JP2011525701A JP2011512973A JP2011512973A JP2011525701A JP 2011525701 A JP2011525701 A JP 2011525701A JP 2011512973 A JP2011512973 A JP 2011512973A JP 2011512973 A JP2011512973 A JP 2011512973A JP 2011525701 A JP2011525701 A JP 2011525701A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- coupling
- gap
- force
- contact surface
- coupling portion
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70058—Mask illumination systems
- G03F7/70141—Illumination system adjustment, e.g. adjustments during exposure or alignment during assembly of illumination system
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/02—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for lenses
- G02B7/028—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for lenses with means for compensating for changes in temperature or for controlling the temperature; thermal stabilisation
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/003—Alignment of optical elements
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/708—Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
- G03F7/70808—Construction details, e.g. housing, load-lock, seals or windows for passing light in or out of apparatus
- G03F7/70816—Bearings
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/708—Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
- G03F7/70808—Construction details, e.g. housing, load-lock, seals or windows for passing light in or out of apparatus
- G03F7/70833—Mounting of optical systems, e.g. mounting of illumination system, projection system or stage systems on base-plate or ground
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/708—Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
- G03F7/70975—Assembly, maintenance, transport or storage of apparatus
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Epidemiology (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Public Health (AREA)
- Environmental & Geological Engineering (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Mounting And Adjusting Of Optical Elements (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Lens Barrels (AREA)
- Optical Couplings Of Light Guides (AREA)
Abstract
Description
図1〜図3を参照して、以下に本発明によるマイクロリソグラフィのための光学結像装置101で使用する本発明による光学装置の好ましい実施形態を説明する。
K1−1=K2−1≠0 (1)
が成り立つ。
K1−2=K2−2=0 (2)
が成り立つ。
K3−1=K4−1=0 (3)
が成り立つ。
以下に、図1〜図4を参照して本発明による光学装置201.1の別の好ましい実施形態を説明する。図1に示したマイクロリソグラフィ装置101で光学装置101.1の代わりに光学装置201.1を使用することができる。光学装置201.1は、その構成および機能において、第1実施例による光学装置101.1に基本的に対応しており、ここでは主に相違点を説明する。特に同じ構成部分には100を加えた同じ符号を付す。以下では特に述べない限り、これらの構成部分の特徴および機能に関しては上記説明を参照されたい。
次に図1〜図5を参照して、本発明による光学装置301.1の別の好ましい実施例を説明する。光学装置301.1は、図1に示した光学装置101.1のマイクロリソグラフィ装置101で使用することができる。光学装置301.1は、その構成および機能において、第1実施例による光学装置101.1に基本的に対応おり、ここでは主に相違点を説明する。特に同じ構成部分には200を加えた同じ符号を付す。以下では特に述べない限り、これらの構成部分の特徴および機能に関しては上記説明を参照されたい。
K1−1=K2−1≠0
が成り立つ。
K1−2=K2−2≠0
が成り立つ。
K1−1=K2−1=K1−2=K2−2
が成り立つ。
次に図6〜図8Bを参照して、本発明による光学装置401.1を備える本発明によるマイクロリソグラフィ装置401の別の好ましい実施例を説明する。マイクロリソグラフィ装置401は、その構成および機能において、第1実施例によるマイクロリソグラフィ装置101に基本的に対応おり、光学装置401.1の構成におけるここでは主に相違点を説明する。さらに光学装置401.1は、図1によるマイクロリソグラフィ装置においても光学装置101.1の代わりに使用することができる。光学装置401.1は、その構成および機能形式において、第1実施例による光学装置101.1に基本的に対応おり、ここでは主に相違点を説明する。特に同じ構成部分には300を加えた同じ符号を付す。以下では特に述べない限り、これらの構成部分の特徴および機能に関しては上記説明を参照されたい。
Claims (62)
- 光学モジュールと、
支持構造部と、
結合装置と
を備える、特にマイクロリソグラフィ用の光学装置であって、
前記結合装置が、第1結合部と第2結合部とを有する少なくとも1つの結合ユニットを備え、
前記第1結合部が前記光学モジュールに結合されており、前記第2結合部が前記支持構造部に結合されており、
前記第1結合部が、第1主曲率を有する第1接触面を備え、前記第1主曲率は第1主曲率軸線を規定し、
前記第2結合部が、第2主曲率を有する第2接触面を備え、前記第2主曲率は第2主曲率軸線を規定し、
前記第2主曲率が前記第1主曲率に適合されており、組付け状態で前記第1接触面が前記第2接触面に接触する光学装置において、
前記結合装置が、第1結合部および第2結合部に作用する位置決め装置の少なくとも一部を備え、
該位置決め装置が、組付け状態となる前の調整状態で前記第1接触面と前記第2接触面との間の狭い間隙を非接触に保持するように構成されており、前記第1接触面と前記第2接触面との間における前記第1主曲率軸線を中心とした補償のための移動が、前記第1結合部と前記第2結合部との間に前記補償のための移動により力作用が生じることなしに可能となることを特徴とする光学装置。 - 請求項1に記載の光学装置において、
前記第1接触面と前記第2接触面との間の狭い間隙を保持するための前記位置決め装置が、力発生装置を有し、
該力発生装置が、前記狭い間隙を保持するために前記光学モジュールと前記支持構造部との間、特に前記第1結合部と前記第2結合部との間に前記間隙を拡大する力に対する反力として作用する引っ張り力を加えるように構成されている光学装置。 - 請求項2に記載の光学装置において、
前記間隙を拡大する力が、少なくとも部分的に、前記光学モジュールおよび/または少なくとも1つの前記結合部に作用する反力により生じる光学装置。 - 請求項1に記載の光学装置において、
前記第1接触面と前記第2接触面との間の狭い間隙を保持するための前記位置決め装置が、力発生装置を有し、
該力発生装置が、前記狭い間隙を保持するために前記光学モジュールと前記支持構造部との間、特に前記第1結合部と前記第2結合部との間に前記間隙を縮小する力に対する反力として作用する当接力を加えるように構成されている光学装置。 - 請求項4に記載の光学装置において、
前記間隙を縮小する力が、少なくとも部分的に、前記光学モジュールおよび/または少なくとも1つの前記結合部に作用する重量により生じる光学装置。 - 請求項1から5までのいずれか一項に記載の光学装置において、
前記第1接触面と前記第2接触面との間の狭い間隙を保持するための前記位置決め装置が、力発生装置を有し、
該力発生装置が、前記狭い間隙を保持するために前記光学モジュールと前記支持構造部との間、特に前記第1結合部と前記第2結合部との間に電気式作動原理および/または磁気式作動原理および/または流体力学式作動原理にしたがって力作用を加えるように構成されている光学装置。 - 請求項6に記載の光学装置において、
前記力発生装置が、前記狭い間隙を保持するために前記光学モジュールと前記支持構造部との間、特に前記第1結合部と前記第2結合部との間に電磁式作動原理にしたがって力作用を生成し、
前記光学モジュールおよび/または前記支持構造部、特に少なくとも1つの結合部が、前記力発生装置の導電性部分を有し、該導電性部分に、前記狭い間隙を保持する力作用を生成するために電流を印可可能である光学装置。 - 請求項6または7に記載の光学装置において、
前記力発生装置が、前記狭い間隙を保持するために前記光学モジュールと前記支持構造部との間、特に前記第1結合部と前記第2結合部との間に静電式作動原理にしたがって力作用を生成し、
前記光学モジュールおよび/または前記支持構造部、特に前記少なくとも1つの結合部が、前記力発生装置の導電性部分を有し、該導電性部分に、前記狭い間隙を保持する力作用を生成するために電荷を印可可能である光学装置。 - 請求項6から8までのいずれか一項に記載の光学装置において、
前記力発生装置が、前記狭い間隙を保持するために前記光学モジュールと前記支持構造部との間、特に前記第1結合部と前記第2結合部との間に流体力学式作動原理にしたがって力作用を生成し、
前記少なくとも1つの結合部が供給装置を備え、該供給装置によって、前記狭い間隙を保持する力作用を生成するために流体流、特にクリーンルーム・圧縮空気流を前記間隙に供給可能である光学装置。 - 請求項1から9までのいずれか一項に記載の光学装置において、
前記位置決め装置が、力発生装置、検出装置、前記力発生装置および前記検出装置に接続された制御装置を備え、
前記検出装置が、前記第1結合部と前記第2結合部との間の間隙の寸法を表す値を検出し、適宜な測定信号を前記制御装置に伝達するように構成されており、
前記制御装置が、前記測定信号および目標値から、前記力発生装置のための制御信号を生成し、前記力発生装置に伝達するように構成されており、
該力発生装置が、前記狭い間隙を保持するために、前記制御信号に関連して、前記第1結合部と前記第2結合部との間に力作用を生成するように構成されている光学装置。 - 請求項1から10までのいずれか一項に記載の光学装置において、
前記第1結合部または前記第2結合部が、第1結合素子および第2結合素子を備え、
前記第1結合素子が、第3主曲率を有する第3接触面を備え、前記第3主曲率は第3主曲率軸線を規定し、
前記第2結合素子が、第4主曲率を有する第4接触面を備え、前記第4主曲率は第4主曲率軸線を規定し、
前記第4主曲率が前記第3主曲率に適合されており、組付け状態で前記第3接触面が前記第4接触面に接触し、
前記結合装置が、前記第1結合素子および前記第2結合素子に作用する前記位置決め装置の少なくとも一部を備え、
該位置決め装置が、調整状態で前記第3接触面と前記第4接触面との間の狭い第2間隙を非接触に保持するように構成されており、前記第3接触面と前記第4接触面との間における前記第3主曲率軸線を中心とした第2の補償のための移動が、前記第1結合素子と前記第2結合素子との間に前記第2の補償のための移動により力作用が生じることなしに可能となる光学装置。 - 請求項11に記載の光学装置において、
前記位置決め装置が、前記第3接触面と前記第4接触面との間の狭い第2間隙を保持するために力発生装置を有し、
該力発生装置が、前記光学モジュールと前記支持構造部との間、特に前記第1結合素子と前記第2結合素子との間に前記第2間隙を拡大する力に対する反力として作用する引っ張り力を加えるように構成されている光学装置。 - 請求項12に記載の光学装置において、
前記第2間隙を拡大する力が、少なくとも部分的に、前記光学モジュールおよび/または少なくとも1つの前記結合素子に作用する重量により生じる光学装置。 - 請求項11に記載の光学装置において、
前記第3接触面と前記第4接触面との間の狭い第2間隙を保持するための前記位置決め装置が、力発生装置を有し、
該力発生装置が、前記光学モジュールと前記支持構造部との間、特に前記第1結合素子と前記第2結合素子との間に、前記第2間隙を縮小する力に対する反力として作用する当接力を加えるように構成されている光学装置。 - 請求項14に記載の光学装置において、
前記第2間隙を縮小する力が、少なくとも部分的に、前記光学モジュールおよび/または少なくとも1つの前記結合素子に作用する重量により生じる光学装置 - 請求項1から15までのいずれか一項に記載の光学装置において、
第3接触面と第4接触面との間の狭い第2間隙を保持するための前記位置決め装置が、力発生装置を有し、
該力発生装置が、前記狭い第2間隙を保持するために前記光学モジュールと前記支持構造部との間、特に第1結合素子と第2結合素子との間に電気式作動原理および/または磁気式作動原理および/または流体力学式作動原理にしたがって保持するように構成されている光学装置。 - 請求項16に記載の光学装置において、
前記力発生装置が、前記狭い第2間隙を保持するために前記光学モジュールと前記支持構造部との間、特に前記第1結合素子と前記第2結合素子との間に電磁式作動原理にしたがって力作用を生成し、
前記光学モジュールおよび/または前記支持構造部、特に少なくとも1つの結合素子が、前記力発生装置の導電性部分を有し、該導電性部分に、前記狭い第2間隙を保持する力作用を生成するために電流を印可可能である光学装置。 - 請求項16または17に記載の光学装置において、
前記力発生装置が、前記狭い第2間隙を保持するために前記光学モジュールと前記支持構造部との間、特に前記第1結合素子と前記第2結合素子との間に静電式作動原理にしたがって力作用を生成し、
前記光学モジュールおよび/または前記支持構造部、特に前記少なくとも1つの結合素子が、前記力発生装置の導電性部分を有し、該導電性部分に、前記狭い第2間隙を保持する力作用を生成するために電荷を印可可能である光学装置。 - 請求項16から18までのいずれか一項に記載の光学装置において、
前記力発生装置が、前記狭い第2間隙を保持するために前記光学モジュールと前記支持構造部との間、特に前記第1結合素子と前記第2結合素子との間に流体力学式作動原理にしたがって力作用を生成し、
前記光学モジュールおよび/または前記支持構造部、特に少なくとも1つの前記結合素子が供給装置を備え、該供給装置によって、前記狭い第2間隙を保持する力作用を生成するために流体流、特にクリーンルーム・圧縮空気流を前記間隙に供給可能である光学装置。 - 請求項11から19までのいずれか一項に記載の光学装置において、
前記位置決め装置が、力発生装置、検出装置、前記力発生装置および前記検出装置に接続された制御装置を備え、
前記検出装置が、前記第1結合素子と前記第2結合素子との間の第2間隙の寸法を表す値を検出し、適宜な第2測定信号を前記制御装置に伝達し、
前記制御装置が、前記第2測定信号および第2目標値から、前記力発生装置のための第2制御信号を生成し、前記力発生装置に伝達し、
該力発生装置が、前記狭い第2間隙を保持するために、前記第2制御信号に関連して、前記第1結合素子と前記第2結合素子との間に力作用を生成する光学装置。 - 請求項1から20までのいずれか一項に記載の光学装置において、
前記結合装置が、別の結合ユニットを備え、該別の結合ユニットが、前記光学モジュールに結合された第3結合部および前記支持構造部に結合された第4結合部を備え、
前記第3結合部が、第5主曲率を有する第5接触面を備え、前記第5主曲率は第5主曲率軸線を規定し、
前記第4結合部が、第6主曲率を有する第6接触面を備え、前記第6主曲率は第6主曲率軸線を規定し、
前記第6主曲率が前記第5主曲率に適合されており、組付け状態で前記第5接触面が前記第6接触面に接触し、
前記結合装置が、前記第3結合部および前記第4結合部に作用する前記位置決め装置の少なくとも一部を備え、
該位置決め装置が、調整状態で前記第5接触面と前記第6接触面との間の狭い第3間隙を非接触に保持するように構成されており、前記第5接触面と前記第6接触面との間における前記第5主曲率軸線を中心とした第3の補償のための移動が、前記第3結合部と前記第4結合部との間に前記第3の補償のための移動により力作用が生じることなしに可能となる光学装置。 - 請求項21に記載の光学装置において、
前記位置決め装置が、前記第1結合部と前記第2結合部との間の狭い間隙および前記第3結合部と前記第4結合部との間の狭い間隙をほぼ同期的に縮小するように構成されている光学装置。 - 請求項21または22に記載の光学装置において、
前記位置決め装置が、前記第1結合部と前記第2結合部との間の狭い間隙および前記第3結合部と前記第4結合部との間の狭い間隙を縮小し、前記第1接触面および前記第2接触面ならびに前記第5接触面および第6接触面がほぼ同時に相互に接触させるように構成されている光学装置。 - 請求項21から23までのいずれか一項に記載の光学装置において、
前記位置決め装置が、力発生装置、検出装置、前記力発生装置および前記検出装置に接続された制御装置を備え、
前記検出装置が、前記第1結合部と前記第2結合部との間の間隙の寸法を表す第1の値を検出し、適宜な第1測定信号を前記制御装置に伝達し、前記第3結合部と前記第4結合部との間の間隙の寸法を表す第2の値を検出し、適宜な第2測定信号を前記制御装置に伝達し、
前記制御装置が、前記第1測定信号、第2測定信号および少なくとも1つの目標値から、前記力発生装置のための制御信号を生成し、前記力発生装置に伝達し、
該力発生装置が、前記第1結合部と前記第2結合部との間の間隙のあらかじめ規定可能な変更ならびに前記第3結合部と前記第4結合部との間の間隙のあらかじめ規定可能な変更を行うために、前記光学モジュールと前記支持構造部との間、特に前記第1結合部と前記第2結合部との間に第1力作用を生成し、前記光学モジュールと前記支持構造部との間、特に前記第3結合部と前記第4結合部との間に第2力作用を生成する光学装置。 - 請求項1から24までのいずれか一項に記載の光学装置において、
前記光学モジュールが周方向および半径方向を規定し、
前記第1主曲率軸線が、少なくとも1つの構成素子を前記周方向および/または前記半径方向に備える方向に延在している光学装置。 - 請求項1から25までのいずれか一項に記載の光学装置において、
少なくとも1つの前記結合部が、前記第1主曲率軸線の方向に弾性的な減結合部を有し、
前記第1主曲率軸線の方向に作用する力を分離するための前記減結合部が、前記光学モジュールと前記支持構造部との間に構成された光学装置。 - 請求項1から26までのいずれか一項に記載の光学装置において、
前記結合ユニットが、調整状態で、前記補償のための移動により前記結合ユニットの構成素子間に力作用が生じることなしに、少なくとも2つの自由度、特に3つの自由度で補償のための移動を可能とする光学装置。 - 請求項1から27までのいずれか一項に記載の光学装置において、
固定手段が設けられており、該固定手段によって、組付け状態で前記第1結合部と前記第2結合部とが相互に固定可能である光学装置。 - 請求項1から28までのいずれか一項に記載の光学装置において、
前記光学モジュールが光学素子を備える光学装置。 - 第1光学素子群を有する照明手段と、
投影パターンを有するマスクを収容するためのマスク装置と、
第2光学素子群を有する投影装置と
を備える、特にマイクロリソグラフィのための光学結像装置であって、
前記照明装置が、前記第1光学素子群を使用して前記投影パターンを照明するように構成されており、
前記第2光学素子群が、前記投影パターンを基板に結像するように構成されており、
前記照明装置および/または投影装置が、光学モジュール、支持構造部および結合装置を備え、
該結合装置が、少なくとも第1結合部と第2結合部とを備え、
前記第1結合部が前記光学モジュールに結合されており、前記第2結合部が前記支持構造部に結合されており、
前記第1結合部が、第1主曲率を有する第1接触面を備え、前記第1主曲率は第1主曲率軸線を規定し、
前記第2結合部が、第2主曲率を有する第2接触面を備え、前記第2主曲率は第2主曲率軸線を規定し、
前記第2主曲率が前記第1主曲率に適合されており、組付け状態で前記第1接触面が前記第2接触面に接触する光学装置において、
前記結合装置が、第1結合部および第2結合部に作用する位置決め装置の少なくとも一部を備え、
該位置決め装置が、組付け状態となる前の調整状態で前記第1接触面と前記第2接触面との間の狭い間隙を非接触に保持するように構成されており、前記第1接触面と前記第2接触面との間における前記第1主曲率軸線を中心とした補償のための移動が、前記第1結合部と前記第2結合部との間に前記補償のための移動により力作用が生じることなしに可能となることを特徴とする光学装置。 - 特にマイクロリソグラフィのための、光学モジュールを支持構造部に結合する方法であって、
光学モジュールが結合装置を介して支持構造部に結合され、
前記結合装置が、第1結合部および第2結合部を有する少なくとも1つの結合ユニットを備え、
前記第1結合部が前記光学モジュールに結合されており、前記第2結合部が前記支持構造部に結合されており、
前記第1結合部が、第1主曲率を有する第1接触面を備え、前記第1主曲率が第1主曲率軸線を規定し、
前記第2結合部が、前記第1主曲率軸線に適合された第2主曲率を備え、該第2主曲率は第2主曲率軸線を規定し、
前記光学モジュールと前記支持構造部とが、組付け状態で第1接触面が第2接触面に接触するように相互に接近させられる方法において、
組付け状態となる前の調整状態で第1接触面と第2接触面との間の狭い間隙を非接触に保持し、前記第1接触面と前記第2接触面との間における前記第1主曲率軸線を中心とした補償のための移動を、前記第1結合部と前記第2結合部との間に補償のための移動により力作用が生じることなしに可能とすることを特徴とする方法。 - 請求項31に記載の方法において、
前記狭い間隙を保持するために、前記光学モジュールと前記支持構造部との間、特に前記第1結合部と前記第2結合部との間に、前記間隙を拡大する力に対する反力として作用する引っ張り力を加える方法。 - 請求項32に記載の方法において、
前記間隙を拡大する力を、少なくとも部分的に、前記光学モジュールおよび/または少なくとも1つの前記結合部に作用する重量により生成する方法。 - 請求項31に記載の方法において、
前記狭い間隙を保持するために、前記光学モジュールと前記支持構造部との間、特に前記第1結合部と前記第2結合部との間に、前記間隙を縮小する力に対する反力として作用する当接力を加える方法。 - 請求項32に記載の方法において、
前記間隙を縮小する力を、少なくとも部分的に、前記光学モジュールおよび/または少なくとも1つの前記結合部に作用する重量により生成する方法。 - 請求項31から35のいずれか一項に記載の方法において、
前記狭い間隙を保持するために、前記光学モジュールと前記支持構造部との間、特に前記第1結合部と前記第2結合部との間に、電気式作動原理および/または磁気式作動原理および/または流体力学式作動原理にしたがって力作用を加える方法。 - 請求項36に記載の方法において、
前記狭い間隙を保持するために、前記光学モジュールと前記支持構造部との間、特に前記第1結合部と前記第2結合部との間に電磁式作動原理にしたがって力作用を生成し、
前記光学モジュールおよび/または前記支持構造部、特に少なくとも1つの前記結合部に、前記力発生装置の導電性部分を設け、該導電性部分に、前記狭い間隙を保持する力作用を生成するために電流を印可する方法。 - 請求項36または37に記載の方法において、
前記狭い間隙を保持するために、前記光学モジュールと前記支持構造部との間、特に前記第1結合部と前記第2結合部との間に静電式作動原理にしたがって力作用を生成し、
前記光学モジュールおよび/または前記支持構造部、特に前記少なくとも1つの結合部に、前記力発生装置の導電性部分を設け、該導電性部分に、前記狭い間隙を保持する力作用を生成するために電荷を印可する方法。 - 請求項36から38までのいずれか一項に記載の方法において、
前記狭い間隙を保持するために、前記光学モジュールと前記支持構造部との間、特に前記第1結合部と前記第2結合部との間に流体力学式作動原理にしたがって力作用を生成し、
前記狭い間隙を保持する力作用を生成するために、流体流、特にクリーンルーム・圧縮空気流を前記間隙に供給する方法。 - 請求項31から39までのいずれか一項に記載の方法において、
前記検出装置によって、前記第1結合部と前記第2結合部との間の間隙の寸法を表す値を検出し、適宜な測定信号を制御装置に伝達し、
前記制御装置により、前記測定信号および目標値から制御信号を生成し、前記力発生装置に伝達し、
該力発生装置により、前記狭い間隙を保持するために、前記制御信号に関連して、前記第1結合部と前記第2結合部との間に力作用を生成する方法。 - 請求項31から40までのいずれか一項に記載の方法において、
前記第1結合部または前記第2結合部に、第1結合素子および第2結合素子を設け、
前記第1結合素子に、第3主曲率を有する第3接触面を設け、前記第3主曲率により第3主曲率軸線を規定し、
前記第2結合素子に、第4主曲率を有し、前記第3主曲率に適合された第4接触面を設け、前記第4主曲率により第4主曲率軸線を規定し、
前記光学モジュールと前記支持構造部とを、組付け状態で前記第3接触面が前記第4接触面に接触するように相互に接近させ、
調整状態で前記第3接触面と前記第4接触面との間の狭い第2間隙を非接触に保持し、前記第3接触面と前記第4接触面との間における前記第3主曲率軸線を中心とした第2の補償のための移動を、前記第1結合素子と前記第2結合素子との間に前記第2の補償のための移動により力作用が生じることなしに可能とする方法。 - 請求項41に記載の方法において、
前記狭い第2間隙を保持するために、前記光学モジュールと前記支持構造部との間、特に前記第1結合部と前記第2結合部との間に、前記第2間隙を拡大する力に対する反力として作用する引っ張り力を加える方法。 - 請求項42に記載の方法において、
前記第2間隙を拡大する力を、少なくとも部分的に、少なくとも1つの前記結合部に作用する重量により生成する方法。 - 請求項41に記載の方法において、
前記光学モジュールと前記支持構造部との間、特に前記第1結合部と前記第2結合部との間に、前記第2間隙を縮小する力に対する反力として作用する当接力を加える方法。 - 請求項44に記載の方法において、
前記第2間隙を縮小する力を、少なくとも部分的に、前記光学モジュールおよび/または少なくとも1つの前記結合素子に作用する重量により生成する方法。 - 請求項41から45のいずれか一項に記載の方法において、
前記狭い第2間隙を保持するために、前記光学モジュールと前記支持構造部との間、特に前記第1結合部と前記第2結合部との間に、電気式作動原理および/または磁気式作動原理および/または流体力学式作動原理にしたがって力作用を加える方法。 - 請求項46に記載の方法において、
前記狭い間隙を保持するために、前記光学モジュールと前記支持構造部との間、特に前記第1結合素子と前記第2結合素子との間に電磁式作動原理にしたがって力作用を生成し、
前記光学モジュールおよび/または前記支持構造部、特に少なくとも1つの前記結合素子に、前記力発生装置の導電性部分を設け、該導電性部分に、前記狭い間隙を保持する力作用を生成するために電流を印可する方法。 - 請求項46または47に記載の方法において、
前記狭い第2間隙を保持するために、前記光学モジュールと前記支持構造部との間、特に前記第1結合素子と前記第2結合素子との間に静電式作動原理にしたがって力作用を生成し、
前記光学モジュールおよび/または前記支持構造部、特に前記少なくとも1つの結合素子に、前記力発生装置の導電性部分を設け、該導電性部分に、前記狭い第2間隙を保持する力作用を生成するために電荷を印可する方法。 - 請求項46から48までのいずれか一項に記載の方法において、
前記狭い第2間隙を保持するために、前記光学モジュールと前記支持構造部との間、特に前記第1結合素子と前記第2結合素子との間に流体力学式作動原理にしたがって力作用を生成し、
前記光学モジュールおよび/または前記支持構造部、特に前記少なくとも1つの結合素子に供給装置を設け、該供給装置により、前記狭い第2間隙を保持する力作用を生成するために、流体流、特にクリーンルーム・圧縮空気流を前記第2間隙に供給する方法。 - 請求項41から49までのいずれか一項に記載の方法において、
前記検出装置によって、前記第1結合素子と前記第2結合素子との間の間隙の寸法を表す値を検出し、適宜な第2測定信号を前記制御装置に伝達し、
前記制御装置により、前記第2測定信号および第2目標値から第2制御信号を生成し、前記力発生装置に伝達し、
該力発生装置により、前記狭い第2間隙を保持するために、前記第2制御信号に関連して、前記光学モジュールと前記支持構造部との間、特に前記第1結合部と前記第2結合部との間に力作用を生成する方法。 - 請求項31から50までのいずれか一項に記載の方法において、
前記結合装置に、前記光学モジュールに結合した第3結合部および前記支持構造部に結合した第4結合部を設け、
前記第3結合部に、第5主曲率を有する第5接触面を設け、前記第5主曲率により第5主曲率軸線を規定し、
前記第4結合部に、前記第5主曲率に適合した第6主曲率を有する第6接触面を設け、前記第6主曲率により第6主曲率軸線を規定し、
前記光学モジュールと前記支持構造部とを、組付け状態で前記第5接触面が前記第6接触面に接触するように相互に接近させ、
調整状態で、前記第5接触面と前記第6接触面との間の狭い第3間隙を非接触に保持し、前記第5接触面と前記第6接触面との間における前記第5主曲率軸線を中心とした第3の補償のための移動を、前記第3結合部と前記第4結合部との間における前記第3の補償のための移動により力作用が生じることなしに可能とする方法。 - 請求項51に記載の方法において、
前記第1結合部と前記第2結合部との間の狭い間隙および前記第3結合部と前記第4結合部との間の狭い間隙をほぼ同期的に縮小する方法。 - 請求項51または52に記載の方法において、
前記第1結合部と前記第2結合部との間の狭い間隙および前記第3結合部と前記第4結合部との間の狭い間隙を、前記第1接触面および前記第2接触面ならびに前記第5接触面および第6接触面がほぼ同時に相互に接触するように縮小する方法。 - 請求項51から53までのいずれか一項に記載の方法において、
前記検出装置によって、前記第1結合部と前記第2結合部との間の間隙の寸法を表す第1の値を検出し、適宜な第1測定信号を制御装置に伝達し、前記第3結合部と前記第4結合部との間の間隙の寸法を表す第2の値を検出し、適宜な第2測定信号を前記制御装置に伝達し、
前記制御装置により、前記第1測定信号、第2測定信号および少なくとも1つの目標値から少なくとも1つの制御信号を生成し、前記力発生装置に伝達し、
該力発生装置により、少なくとも1つの制御信号に関係して、前記第1結合部と前記第2結合部との間の間隙のあらかじめ規定可能な変更ならびに前記第3結合部と前記第4結合部との間の間隙のあらかじめ規定可能な変更を行うために、前記光学モジュールと前記支持構造部との間、特に前記第1結合部と前記第2結合部との間に第1力作用を生成し、前記光学モジュールと前記支持構造部との間、特に前記第3結合部と前記第4結合部との間に第2力作用を生成する方法。 - 請求項31から54までのいずれか一項に記載の方法において、
前記光学モジュールにより、周方向および半径方向を規定し、
前記第1主曲率軸線を、少なくとも1つの構成素子を前記周方向および/または前記半径方向に備える方向に延在させる方法。 - 請求項31から55までのいずれか一項に記載の光学装置において、
少なくとも1つの前記結合部に、前記第1主曲率軸線の方向に弾性的な減結合部を設け、
前記第1主曲率軸線の方向に作用する力を分離するための前記減結合部を、前記光学モジュールと前記支持構造部との間に構成する方法。 - 請求項31から56までのいずれか一項に記載の方法において、
調整状態で、前記補償のための移動により前記結合ユニットの構成素子間に力作用が生じることなしに、少なくとも2つの自由度、特に3つの自由度で補償のための移動を可能とする方法。 - 請求項31から57までのいずれか一項に記載の方法において、
組付け状態で前記第1結合部と前記第2結合部とを相互に固定する方法。 - 光学モジュールと、
支持構造部と、
結合装置と
を備える、特にマイクロリソグラフィのための光学装置であって、
前記結合装置が、複数の結合ユニットを備え、
それぞれの結合ユニットが、光学モジュールに結合されたモジュール結合部、および前記支持構造部に結合された構造部結合部を備え、前記モジュール結合部および前記構造部結合部が組付け状態で相互に接触する光学装置において、
前記結合装置が、位置決め装置の少なくとも一部を備え、
該位置決め装置が、組付け状態となる前の調整状態で、それぞれの前記モジュール結合部と、対応した前記構造部結合部との間の間隙を非接触に縮小するように構成されており、前記モジュール結合部と、前記対応した構造部結合部とが相互にほぼ同時に接触することを特徴とする光学装置。 - 請求項59に記載の光学装置において、
前記位置決め装置が、力発生装置、検出装置、前記力発生装置および前記検出装置に接続された制御装置を備え、
前記検出装置が、前記モジュール結合部と、前記対応した構造部結合部との間におけるそれぞれの間隙の寸法を表す値を検出し、適宜な測定信号を前記制御装置に伝達するように構成されており、
前記制御装置が、それぞれの前記測定信号および少なくとも1つの目標値から、前記力発生装置のための少なくとも1つの制御信号を生成し、前記力発生装置に伝達するように構成されており、
該力発生装置が、前記モジュール結合部と、前記対応した構造部結合部との間の間隙のあらかじめ規定可能な変更を行うために、前記光学モジュールと前記支持構造部との間、特に前記それぞれのモジュール結合部と前記対応した構造部結合部との間に力作用を生成するように構成されている光学装置。 - 特にマイクロリソグラフィ用の光学モジュールを支持構造部に結合する方法であって、
前記光学モジュールが結合装置によって支持構造部に結合され、
前記結合装置が、複数の結合ユニットを備え、
それぞれの結合ユニットが、光学モジュールに結合されたモジュール結合部、および前記支持構造部に結合された構造部結合部を備え、
前記光学モジュールと前記支持構造部とが、前記それぞれのモジュール結合部と、対応した前記構造部結合部とを、組付け状態で相互に接触するように相互に接近させる方法において、
組付け状態となる前の調整状態で、それぞれのモジュール結合部と、前記対応した構造部結合部との間にそれぞれ設けられた間隙を非接触に縮小し、前記モジュール結合部と、前記対応した構造部結合部とを相互にほぼ同時に接触させることを特徴とする方法。 - 請求項60に記載の方法において、
前記検出装置によって、前記モジュール結合部と、前記対応した構造部結合部との間のそれぞれの間隙の寸法を表す値を検出し、適宜な測定信号を制御装置に伝達し、
前記制御装置により、前記それぞれの測定信号および少なくとも1つの目標値から少なくとも1つの制御信号を生成し、前記力発生装置に伝達し、
該力発生装置により、前記モジュール結合部と、前記対応した構造部結合部との間の間隙のあらかじめ規定可能な変更を行うために、前記光学モジュールと前記支持構造部との間、特に前記それぞれのモジュール結合部と、前記対応した構造部結合部との間に力作用を生成する方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102008027540 | 2008-06-10 | ||
DE102008027540.9 | 2008-06-10 | ||
PCT/EP2009/057183 WO2009150178A1 (de) | 2008-06-10 | 2009-06-10 | Optische einrichtung mit einstellbarer kraftwirkung auf ein optisches modul |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014141620A Division JP5932902B2 (ja) | 2008-06-10 | 2014-07-09 | 光学モジュールへの力作用を調節可能な光学装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011525701A true JP2011525701A (ja) | 2011-09-22 |
JP2011525701A5 JP2011525701A5 (ja) | 2012-04-05 |
JP5580298B2 JP5580298B2 (ja) | 2014-08-27 |
Family
ID=40956196
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011512973A Expired - Fee Related JP5580298B2 (ja) | 2008-06-10 | 2009-06-10 | 光学モジュールへの力作用を調節可能な光学装置 |
JP2014141620A Expired - Fee Related JP5932902B2 (ja) | 2008-06-10 | 2014-07-09 | 光学モジュールへの力作用を調節可能な光学装置 |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014141620A Expired - Fee Related JP5932902B2 (ja) | 2008-06-10 | 2014-07-09 | 光学モジュールへの力作用を調節可能な光学装置 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (3) | US8964165B2 (ja) |
JP (2) | JP5580298B2 (ja) |
KR (1) | KR101439591B1 (ja) |
CN (1) | CN102119364B (ja) |
DE (1) | DE102009024870A1 (ja) |
WO (1) | WO2009150178A1 (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102009024870A1 (de) | 2008-06-10 | 2009-12-31 | Carl Zeiss Smt Ag | Optische Einrichtung mit einstellbarer Kraftwirkung auf ein optisches Modul |
DE102012102566B4 (de) * | 2012-03-26 | 2019-02-21 | Trumpf Werkzeugmaschinen Gmbh + Co. Kg | Übertragungselement für eine Stellbewegung eines optischen Elementes, Positioniereinrichtung sowie Bearbeitungskopf für eine Laserbearbeitungsmaschine |
DE102012206545A1 (de) * | 2012-04-20 | 2013-03-21 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optische Anordnung mit einstellbarer Kraftwirkung auf ein optisches Modul |
DE102014215452A1 (de) | 2014-08-05 | 2016-04-07 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verkippen eines optischen Elements |
US9449805B2 (en) * | 2014-09-23 | 2016-09-20 | Agilent Technologies Inc. | Isolation of charged particle optics from vacuum chamber deformations |
DE102021208628A1 (de) * | 2021-08-09 | 2023-02-09 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Abstützung eines optischen elements |
DE102022134544B3 (de) | 2022-12-22 | 2023-11-02 | Sick Ag | Justage-Vorrichtung und Justage-Verfahren |
Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06300955A (ja) * | 1993-04-14 | 1994-10-28 | Nikon Corp | 鏡筒支持装置 |
JPH09148237A (ja) * | 1995-11-24 | 1997-06-06 | Canon Inc | 投影露光装置およびこれを用いた露光方法ならびに半導体製造方法 |
JPH10186196A (ja) * | 1996-12-20 | 1998-07-14 | Canon Inc | 光学素子支持装置およびこれを備えた光学機器、露光装置 |
WO2001022480A1 (fr) * | 1999-09-20 | 2001-03-29 | Nikon Corporation | Mecanisme a attelages paralleles, systeme d'exposition et procede de fabrication, et procede de fabrication de dispositifs |
JP2001126977A (ja) * | 1999-10-27 | 2001-05-11 | Nikon Corp | ステージ装置および露光装置ならびに回路デバイス製造方法 |
JP2001343576A (ja) * | 2000-03-30 | 2001-12-14 | Canon Inc | 光学要素の支持構造、それを用いた露光装置及び半導体デバイスの製造方法 |
JP2002107595A (ja) * | 2000-08-10 | 2002-04-10 | Nikon Corp | 光学取付組立体 |
JP2006135230A (ja) * | 2004-11-09 | 2006-05-25 | Canon Inc | 圧電アクチュエータ |
WO2007040254A1 (ja) * | 2005-10-05 | 2007-04-12 | Nikon Corporation | 露光装置及び露光方法 |
WO2007077920A1 (ja) * | 2005-12-28 | 2007-07-12 | Nikon Corporation | 露光装置及びその製造方法 |
JP2008515219A (ja) * | 2004-09-30 | 2008-05-08 | 株式会社ニコン | 投影光学装置及び露光装置 |
Family Cites Families (27)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2720955B2 (ja) * | 1989-12-18 | 1998-03-04 | キヤノン株式会社 | 像ぶれ防止装置 |
JPH03214114A (ja) * | 1990-01-18 | 1991-09-19 | Canon Inc | カメラの像ブレ抑制装置 |
JP2952110B2 (ja) * | 1992-06-30 | 1999-09-20 | キヤノン株式会社 | 画像読取装置 |
JPH0764006A (ja) * | 1993-08-27 | 1995-03-10 | Canon Inc | 走査光学装置の光学系調整方法 |
US5784277A (en) * | 1993-09-10 | 1998-07-21 | Rca Thomson Licensing Corporation | Real-time audio packet layer encoder |
JPH10206714A (ja) * | 1997-01-20 | 1998-08-07 | Canon Inc | レンズ移動装置 |
JP3969871B2 (ja) * | 1998-12-17 | 2007-09-05 | キヤノン株式会社 | 露光装置およびデバイス製造方法 |
TWI242111B (en) * | 1999-04-19 | 2005-10-21 | Asml Netherlands Bv | Gas bearings for use in vacuum chambers and their application in lithographic projection apparatus |
TW569055B (en) * | 2000-06-17 | 2004-01-01 | Zeiss Stiftung | Device for mounting an optical element, for example a lens element in a lens |
JP4552337B2 (ja) * | 2000-12-28 | 2010-09-29 | 株式会社ニコン | 投影光学系の製造方法及び露光装置の製造方法 |
US6487491B1 (en) | 2001-11-21 | 2002-11-26 | United Technologies Corporation | System and method of controlling clearance between turbine engine blades and case based on engine components thermal growth model |
JP4022062B2 (ja) | 2001-12-20 | 2007-12-12 | 京セラ株式会社 | 積層型圧電素子およびそれを用いた噴射装置 |
JP2003229350A (ja) * | 2002-02-01 | 2003-08-15 | Nikon Corp | ステージ装置及び露光装置 |
TWI307526B (en) * | 2002-08-06 | 2009-03-11 | Nikon Corp | Supporting device and the mamufacturing method thereof, stage device and exposure device |
JP2004363559A (ja) * | 2003-05-14 | 2004-12-24 | Canon Inc | 光学部材保持装置 |
DE102004018656A1 (de) * | 2004-04-13 | 2005-11-03 | Carl Zeiss Smt Ag | Optisches Element |
JP2006018755A (ja) | 2004-07-05 | 2006-01-19 | Stardust Promotion:Kk | 情報配信装置及び情報配信方法 |
JP2006140366A (ja) * | 2004-11-15 | 2006-06-01 | Nikon Corp | 投影光学系及び露光装置 |
US20070030462A1 (en) * | 2005-08-03 | 2007-02-08 | Nikon Corporation | Low spring constant, pneumatic suspension with vacuum chamber, air bearing, active force compensation, and sectioned vacuum chambers |
US7433050B2 (en) * | 2005-10-05 | 2008-10-07 | Nikon Corporation | Exposure apparatus and exposure method |
US7936443B2 (en) * | 2006-05-09 | 2011-05-03 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
CN101681008A (zh) * | 2007-05-11 | 2010-03-24 | 株式会社尼康 | 光学元件驱动装置、镜筒、曝光装置及器件的制造方法 |
WO2009031656A1 (ja) * | 2007-09-07 | 2009-03-12 | Nikon Corporation | 吊り下げ装置及び露光装置 |
US8421994B2 (en) * | 2007-09-27 | 2013-04-16 | Nikon Corporation | Exposure apparatus |
US20090201484A1 (en) * | 2007-10-29 | 2009-08-13 | Nikon Corporation | Utilities supply member connection apparatus, stage apparatus, projection optical system support apparatus and exposure apparatus |
DE102009024870A1 (de) | 2008-06-10 | 2009-12-31 | Carl Zeiss Smt Ag | Optische Einrichtung mit einstellbarer Kraftwirkung auf ein optisches Modul |
JP2010206714A (ja) | 2009-03-05 | 2010-09-16 | Panasonic Electric Works Co Ltd | 機器制御システム |
-
2009
- 2009-06-09 DE DE102009024870A patent/DE102009024870A1/de not_active Withdrawn
- 2009-06-10 KR KR1020117000402A patent/KR101439591B1/ko active IP Right Grant
- 2009-06-10 WO PCT/EP2009/057183 patent/WO2009150178A1/de active Application Filing
- 2009-06-10 JP JP2011512973A patent/JP5580298B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2009-06-10 CN CN200980129546.4A patent/CN102119364B/zh active Active
-
2010
- 2010-12-08 US US12/963,317 patent/US8964165B2/en active Active
-
2014
- 2014-07-09 JP JP2014141620A patent/JP5932902B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2015
- 2015-02-12 US US14/620,589 patent/US9766549B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2017
- 2017-09-07 US US15/697,724 patent/US10175581B2/en active Active
Patent Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06300955A (ja) * | 1993-04-14 | 1994-10-28 | Nikon Corp | 鏡筒支持装置 |
JPH09148237A (ja) * | 1995-11-24 | 1997-06-06 | Canon Inc | 投影露光装置およびこれを用いた露光方法ならびに半導体製造方法 |
JPH10186196A (ja) * | 1996-12-20 | 1998-07-14 | Canon Inc | 光学素子支持装置およびこれを備えた光学機器、露光装置 |
WO2001022480A1 (fr) * | 1999-09-20 | 2001-03-29 | Nikon Corporation | Mecanisme a attelages paralleles, systeme d'exposition et procede de fabrication, et procede de fabrication de dispositifs |
JP2001126977A (ja) * | 1999-10-27 | 2001-05-11 | Nikon Corp | ステージ装置および露光装置ならびに回路デバイス製造方法 |
JP2001343576A (ja) * | 2000-03-30 | 2001-12-14 | Canon Inc | 光学要素の支持構造、それを用いた露光装置及び半導体デバイスの製造方法 |
JP2002107595A (ja) * | 2000-08-10 | 2002-04-10 | Nikon Corp | 光学取付組立体 |
JP2008515219A (ja) * | 2004-09-30 | 2008-05-08 | 株式会社ニコン | 投影光学装置及び露光装置 |
JP2006135230A (ja) * | 2004-11-09 | 2006-05-25 | Canon Inc | 圧電アクチュエータ |
WO2007040254A1 (ja) * | 2005-10-05 | 2007-04-12 | Nikon Corporation | 露光装置及び露光方法 |
WO2007077920A1 (ja) * | 2005-12-28 | 2007-07-12 | Nikon Corporation | 露光装置及びその製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2009150178A1 (de) | 2009-12-17 |
JP5580298B2 (ja) | 2014-08-27 |
CN102119364B (zh) | 2014-03-12 |
US20180129138A1 (en) | 2018-05-10 |
US20110085239A1 (en) | 2011-04-14 |
US8964165B2 (en) | 2015-02-24 |
KR20110026471A (ko) | 2011-03-15 |
DE102009024870A1 (de) | 2009-12-31 |
US9766549B2 (en) | 2017-09-19 |
JP2014239234A (ja) | 2014-12-18 |
KR101439591B1 (ko) | 2014-09-11 |
US10175581B2 (en) | 2019-01-08 |
CN102119364A (zh) | 2011-07-06 |
JP5932902B2 (ja) | 2016-06-08 |
US20150227055A1 (en) | 2015-08-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5932902B2 (ja) | 光学モジュールへの力作用を調節可能な光学装置 | |
KR101129119B1 (ko) | 광학 요소의 조작을 위한 장치 | |
US9798243B2 (en) | Optical device having a deformable optical element | |
JP5960806B2 (ja) | ファセットミラーデバイス | |
US8416392B2 (en) | Optical imaging arrangement | |
JP6832844B2 (ja) | 特にマイクロリソグラフィ投影露光装置用のミラーモジュール | |
US20090225297A1 (en) | Projection exposure apparatus and optical system | |
JP2008519456A (ja) | 精密ステージのz支持装置 | |
WO2002054459A1 (fr) | Systeme optique de projection et son procede de production, systeme d'exposition et son procede de production et procede de production d'un microdispositif | |
TWI245971B (en) | Lithographic apparatus and device manufacturing method | |
TW202036172A (zh) | 用於半導體微影的具有半主動間隔件的投影曝光設備的模組以及使用該半主動間隔件的方法 | |
US9645388B2 (en) | Facet mirror device | |
JP6008468B2 (ja) | 調整可能な光学素子を有する光学モジュール | |
CN107003623B (zh) | 光刻系统的连接配置 | |
JP6357505B2 (ja) | ファセットミラーデバイス | |
US11422469B2 (en) | Supporting an optical element | |
KR20230082682A (ko) | 광학 구성요소 및 광학 구성요소를 정렬하기 위한 방법, 및 투영 노광 장치 | |
KR20210043686A (ko) | 광학 요소 지지 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120220 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20120220 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130222 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130305 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20130605 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20130612 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20130618 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20130625 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130903 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140218 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140515 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140610 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140710 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5580298 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |