JP2011501123A - フロー材料の流体温度を求めるための振動式フローメータおよび方法 - Google Patents

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Abstract

本発明に係るフロー材料の導出流体温度を求めるための振動式フローメータ(5)が提供されている。この振動式フローメータ(5)は、一または複数のフロー導管(103)を有するフローメータ組立体(10)と、メータ温度Tを測定するように構成されたメータ温度センサ(204)と、外部環境温度Tを測定するための外部環境温度センサ(208)と、これらのメータ温度センサ(204)および外部環境温度センサ(208)へ結合されたメータ電子機器(20)とを備えている。メータ電子機器(20)は、メータ温度Tおよび外部環境温度Tを受信し、これらのメータ温度Tおよび外部環境温度Tを用いて振動式フローメータ(5)内のフロー材料の導出流体温度Tf−derivを求めるように構成されている。

Description

本発明は、振動式フローメータおよび方法に関するものであり、とくにフロー材料の流体温度を求めるための振動式フローメータおよび方法に関するものである。
コリオリ質量流量メータおよび振動式デンシトメータの如き振動導管センサは、フロー材料を含有している振動導管の運動を検出する動作をすることが一般的である。導管に接続された運動トランスデューサから受信する測定信号を処理することにより質量流量、密度などの如き導管内の材料に関する物性を求めることができる。材料が充填された振動システムの振動モードは、材料を収容している導管およびその導管に収容されている材料の質量、剛性およびダンピング特性からの影響を受けることが一般的である。典型的なコリオリ質量流量メータは、配管または他の輸送システムにインラインで接続されシステム内のたとえば流体、スラリーなどの材料を移送する一または複数の導管を有している。各導管は、たとえば単純曲げモード、ねじれモード、ラジアルモードおよび結合モード含む一組の固有の振動モードを有していると考えることが可能である。
コリオリ質量流量測定の典型的な用途では、材料が導管を流れている際に、導管が一または複数の振動モードで励振され、当該導管の運動が導管の複数の部位で間隔おいて測定される。この励振は、導管を周期的に摂動するボイスコイルタイプのドライバの如き電気機械デバイスのようなアクチュエータにより通常加えられる。複数のトランスデューサ位置における運動間の測定時間の遅れまたは位相差を測定することによって質量流量を求めることが可能である。このような2つのトランスデューサ(または、ピックオフセンサ)が、一または複数のフロー導管の震動応答を測定するために通常用いられており、また、アクチュエータの上流側または下流側の位置に通常設けられている。これらの2つのピックオフセンサは、独立した2対のワイヤーの如きケーブルにより電子装置に接続されている。この装置は、2つのピックオフセンサから信号を受信し、これらの信号を処理し、質量流量測定値を導出するようになっている。
コリオリメータおよび振動式デンシトメータの如き振動式フローメータは、これらの流体の特性が一または複数の振動するフロー導管に対して与える作用を通じて質量流量および密度を測定するようになっている。しかしながら、フロー導管の振動は、他の変数によっても影響を受けるので、これらの変数による影響がメータ内において補償されなければならない。
測定精度に対して影響を与えると知られている1つの変数が温度である。温度は、フロー導管(複数可)の材料特性および寸法特性に影響を与える。したがって、フロー材料の温度は流体の振動に影響を与えることになる。それに加えて、このメータは、時間の経過にともなってフロー材料温度に達し、また、この温度変化とともに動作特性が変化することになる。
関心の高い温度として振動するフロー導管の温度が挙げられる。しかしながら、熱容量が高い流体については、この温度は、実質的には流体温度と等しい。
フローセンサの温度を測定することは簡単なことではない。1つの問題は温度センサの取り付けである。温度センサの劣悪な取り付けは、メータからの熱伝導を低下させ、温度
測定に誤差を生じさせる。他の問題は、メータ温度がフロー材料の温度を正確に反映しているか否かである。メータ温度は、たとえばメータの熱伝達容量、外部環境温度、およびフロー材料とメータとの間の温度差に応じて、フロー材料の実際の温度より遅れることになる。それに加えて、フローメータの内部のコーティングも伝熱特性に影響を与える。
本発明によれば、フロー材料の導出流体温度Tf−derivを求めるための振動式フローメータが提供される。振動式フローメータは、一または複数のフロー導管を有するフローメータ組立体と、メータ温度Tを測定するように構成されたメータ温度センサと、外部環境温度Tを測定するための外部環境温度センサと、メータ温度センサと外部環境温度センサとに結合されたメータ電子機器とを備えている。メータ電子機器は、メータ温度Tおよび外部環境温度Tを受信し、これらのメータ温度Tおよび外部環境温度Tを用いて振動式フローメータ内のフロー材料の導出流体温度Tf−derivを求めるように構成されている。
本発明によれば、振動式フローメータ内のフロー材料の導出流体温度Tf−derivを求めるための方法が提供される。この方法は、メータ温度Tを測定することと、外部環境温度Tを測定することと、メータ温度Tおよび外部環境温度Tを用いて振動式フローメータ内のフロー材料の導出流体温度Tf−derivを求めることとを含んでいる。
本発明によれば、振動式フローメータ内のフロー材料の導出流体温度Tf−derivを求めるための方法が提供される。この方法は、メータ温度Tを測定することと、外部環境温度Tを測定することと、メータ温度Tおよび外部環境温度Tを用いて振動式フローメータ内のフロー材料の導出流体温度Tf−derivを求めることと、流体温度を用いてフロー材料の一または複数のフロー特性を求めることとを含んでいる。
本発明によれば、振動式フローメータ内のフロー材料の導出流体温度Tf−derivを求めるための方法が提供される。この方法は、メータ温度Tを測定することと、外部環境温度Tを測定することと、測定流体温度Tf−measを測定することとを含んでいる。また、この方法は、メータ温度Tおよび外部環境温度Tを用いて振動式フローメータ内のフロー材料の導出流体温度Tf−derivを求めることと、測定された流体温度Tf−measと導出流体温度Tf−derivとの間の差を用いて振動式フローメータの一または複数のフロー導管内のコーティングレベルを求めることとをさらに含んでいる。
[発明の態様]
振動式フローメータの1つの態様では、導出流体温度Tf−derivを求めることが、式[Tf−deriv=(T−T)/(1−C)]を用いることをさらに含んでおり、この式において、Cが温度誤差係数である。
振動式フローメータの他の態様では、メータ電子機器は、フロー材料の一または複数のフロー特性を求めるために導出流体温度Tf−derivを用いるようにさらに構成されている。
振動式フローメータのさらに他の態様では、メータ電子機器は、フロー導管の剛性を補償するために導出流体温度Tf−derivを用いるようにさらに構成されている。
振動式フローメータのさらに他の態様では、振動式フローメータは、フロー材料の測定流体温度Tf−measを測定するように構成された流体温度センサをさらに備えており
、メータ電子機器は、メータ温度Tおよび外部環境温度を用いて振動式フローメータ内のフロー材料の導出流体温度Tf−derivを求め、測定された流体温度Tf−measと導出流体温度Tf−derivとの間の差を用いて振動式フローメータの一または複数フロー導管内のコーティングレベルを求めるように構成されている。
振動式フローメータのさらに他の態様では、メータ電子機器は、Terror=|Tf−meas−Tf−deriv|である温度誤差ファクターTerrorを求め、前もって決められているコーティングしきい値と温度誤差ファクターTerrorを比較し、温度誤差ファクターTerrorが前もって決められているコーティングしきい値を超えている場合、コーティングを示す情報(coating indication)を生成するようにさらに構成されている。
振動式フローメータのさらに他の態様では、メータ電子機器は、Terror=|Tf−meas−Tf−deriv|である温度誤差ファクターTerrorを求め、前もって決められているコーティングしきい値と温度誤差ファクターTerrorを比較し、温度誤差ファクターTerrorが前もって決められているコーティングしきい値を超えている場合、Sterilization−In−Place(SIP、殺菌実施)および/またはClean−In−Place(CIP、洗浄実施)を示す情報(indication)を生成するようにさらに構成されている。
本発明の方法の1つの態様では、導出流体温度Tf−derivを求めることが、式[Tf−deriv=(T−T)/(1−C)]を用いることをさらに含んでおり、この式において、Cが温度誤差係数である。
本発明の方法の他の態様では、本発明の方法は、フロー材料の一または複数のフロー特性を求めるために導出流体温度Tf−derivを用いることをさらに含んでいる。
本発明の方法のさらに他の態様では、本発明の方法は、導管の剛性を補償するために導出流体温度Tf−derivを用いることをさらに含んでいる。
本発明の方法のさらに他の態様では、本発明の方法は、流体温度Tf−measを測定することと、Terror=|Tf−meas−Tf−deriv|である温度誤差ファクターTerrorを求めることと、温度誤差ファクターTerrorを前もって決められているコーティングしきい値と比較することと、温度誤差ファクターTerrorが前もって決められているコーティングしきい値を超えている場合、コーティングを示す情報を生成することとを含んでいる。
本発明の方法のさらに他態様では、本発明の方法は、測定流体温度Tf−measを測定することと、Terror=|Tf−meas−Tf−deriv|である温度誤差ファクターTerrorを求めることと、温度誤差ファクターTerrorを前もって決められているコーティングしきい値と比較することと、温度誤差ファクターTerrorが前もって決められているコーティングしきい値を超えている場合、Sterilization−In−Place(SIP)および/またはClean−In−Place(CIP)を示す情報を生成することとをさらに含んでいる。
フローメータ組立体およびメータ電子機器を有する振動式フローメータを示す図である。 本発明の実施形態に係る振動式フローメータを示す図である。 本発明の実施形態に係るフローメータ温度誤差を示すグラフである。 本発明の実施形態に係る振動式フローメータ内のフロー材料の導出流体温度Tf−derivを求めるための方法を示すフローチャートである。 本発明の実施形態に係る振動式フローメータを示す図である。 本発明の実施形態に係る振動式フローメータ内のフロー材料の導出流体温度(T−Tf−deriv)を求めるための方法を示すフローチャートである。
図1〜図6および下記記載には、本発明の最良のモードを作成および利用する方法を当業者に教示する特定の実施形態が示されている。本発明の原理を教示するため、従来技術の一部は単純化または省略されている。当業者にとって明らかなように、これらの実施形態の変形例も本発明の技術範囲内に含まれる。また、当業者にとって明らかなように、下記記載の構成要素をさまざまな方法で組み合わせて本発明の複数の変形例を形成することができる。したがって、本発明は、下記記載の特定の実施形態に限定されるのではなく、特許請求の範囲およびその均等物によってのみ限定される。
図1には、フローメータ組立体10およびメータ電子機器20を備えた振動式フローメータ5が示されている。メータ電子機器20は、リード線100を通じてメータ組立体10へ接続されており、密度、質量流量、体積流量、トータル質量流量、温度および他の情報のうちの一または複数の測定値を通信経路26を通じて提供するように構成されている。当業者にとって明らかなように、ドライバの数、ピックオフセンサの数、フロー導管の数または振動動作モードにかかわらず、本発明をいかなるタイプのコリオリ質量流量メータに用いてもよい。いうまでもなく、コリオリ質量流量メータに代えて、フローメータ5が振動式デンシトメータであってもよい。
フローメータ組立体10は、一対のフランジ101および101’と、マニホルド102および102’と、ドライバ104と、ピックオフセンサ105および105’と、フロー導管103Aおよび103Bとを備えている。ドライバ104、ピックオフセンサ105および105’は、フロー導管103Aおよび103Bに接続されている。
一実施形態では、フロー導管103Aおよび103Bは図示されているような略U字状のフロー導管であってもよい。それに代えて、他の実施形態では、フロー導管は略直線状のフロー導管であってもよい。しかしながら、他の形状のフロー導管が用いられてもよいし、この場合も本明細書および特許請求の範囲内に含まれる。
フランジ101および101’はマニホルド102および102’に固定されている。これらのマニホルド102および102’をスペーサ106の両端に固定することができる。スペーサ106は、フロー導管103Aおよび103B内の不要な振動を避けるためにマニホルド102とマニホルド102’との間の間隔を維持するようになっている。測定されるフロー材料を運ぶ導管システム(図示せず)の中にフローメータ組立体10が挿入されると、フロー材料が、フランジ101を通ってフローメータ組立体10の中に流入し、流入口マニホルド102を通り抜ける。ここで、フロー材料の全量が、フロー導管103Aおよび103Bへと向けられ、フロー導管103Aおよび103Bを流れ、流出口マニホルド102’の中へ流れ込み、ここで、フランジ101’からメータ組立体10の外へと流出する。
フロー導管103Aおよび103Bは、曲げ軸W−WおよびW’−W'に対して実質的に同一の質量分布、慣性モーメントおよび弾性モジュールを有するように、選択され、流入口マニホルド102および流出口マニホルド102’にそれぞれ対応して適切に取り付けられている。フロー導管103Aおよび103Bは、マニホルド102および102’から外側に向いてほぼ並列に延出している。
フロー導管103Aおよび103Bは、それぞれ対応する曲げ軸WおよびW’に対して反対方向にかつフローメータ5の第一の逆位相曲げモードと呼ばれるモードでドライバ104により動かされるようになっている。ドライバ104は、たとえばマグネットをフロー導管103Aに取り付けそれと対をなすコイルをフロー導管103Bに取り付ける構成の如き複数の公知の構成のうちの一つを有している。対をなすコイルに交流電流を流して両方の導管が振動させられる。また、メータ電子機器20により、適切な駆動信号がリード線110を通じてドライバ104へ加えられるようになっている。
メータ電子機器20は、リード線111および111’によりセンサ信号を受信する。メータ電子機器20はリード線110上に駆動信号を生成し、この信号はドライバ104にフロー導管103Aおよび103Bを振動させる。メータ電子機器20は、ピックオフセンサ105および105’からの左側速度信号および右側速度信号を処理して質量流量を計算する。通信経路26は、メータ電子機器20にオペレータとのまたは他の電子装置との通信を可能とさせる入力手段および出力手段を提供している。図1の記載は、単にコリオリフローメータまたはデンシトメータの動作の一例を提示することのみを意図したものであり、本発明の教示を限定することを意図したものではない。
図2には、本発明の実施形態に係る振動式フローメータ5が示されている。この振動式フローメータ5は、フローメータ組立体10と、メータ電子機器20と、メータ温度センサ204と、外部環境温度センサ208とを備えている。実施形態によっては、メータ温度センサ204と外部環境温度センサ208とをメータ電子機器20へ結合する場合もある。
メータ温度センサ204はフローメータ組立体10に結合されている。メータ温度センサ204は、メータの一部分の温度を測定することができ、したがってメータ温度Tを測定することができる。実施形態によっては、メータ温度センサ204を、たとえばフロー導管103Aもしくは103B上を含めるフローメータ組立体10の任意の適切な位置に設けてもよいし、または、マニホルド102もしくは102’に設けてもよい。
外部環境温度センサ208は、フローメータ組立体10とから離してかつ非接触な状態で設けられている。実施形態によっては、外部環境温度センサ208はフローメータ5のケースに取り付けられている場合もある。しかしながら、いうまでもなく、外部環境温度センサ208は適切ないかなる位置に設けられてもよい。外部環境温度センサ208はたとえば大気温度の如き外部環境温度Tを測定する。外部環境温度センサ208はメータ電子機器20に設けられてもよいしまたはそれから遠く離れて設けられてもよい。
外部環境温度は真の意味での外部環境温度である必要が厳密にはない。より正確にいえば、外部環境温度は、ケース温度、フィードスルー温度などの如き、外部環境温度に強く関連する温度測定値であればよい。メータ電子機器20は、メータ温度Tおよび外部環境温度Tを受信し、これらのメータ温度Tおよび外部環境温度Tを用いて振動式フローメータ5内のフロー材料の導出流体温度Tf−derivを求めるように構成されている。
一つの利点としては、フローメータユーザがメータ温度Tではなくて導出流体温度Tf−derivを知ることを希望する場合があるということが挙げられる。それに代えて、ユーザは両方の変数を知ることを希望してもよい。
実施形態によっては、導出流体温度Tf−derivを求めることは、下記の[数式1]を用いることを含む。
Figure 2011501123
この式で、Cは校正温度誤差係数である。通常、校正温度誤差係数Cは、工場での校正工程においてフローメータについて求められる。ここでは、外部環境温度Tおよび測定流体温度Tf−measが正確に測定される。
図3は、本発明の実施形態に係るフローメータ温度誤差を示すグラフである。温度誤差は、メータ温度−導出流体温度(T−Tf−deriv)vs導出流体温度(T−Tf−deriv)−外部環境温度(Tf−T)の関数としてプロットされている。このグラフは、外部環境温度を考慮に入れた場合、導出流体温度Tf−derivがメータ温度Tと直線の関係があることを示している。このグラフは、下記の[数式2]で表すことができる。
Figure 2011501123
は測定メータ温度であり、Tf−derivは導出流体温度であり、Tは測定外部環境温度であり、Cは校正温度誤差係数である。上記の[数式1]は[数式2]から導出することができる。
図2をさらに参照すると、実施形態によっては、メータ電子機器20は、フロー材料の一または複数のフロー特性を求めるために導出流体温度Tf−derivを用いるように構成されている場合もある。たとえば、フロー材料の質量流量(m)および密度(ρ)を入力値として導出流体温度Tf−derivを用いて求めることができる。それに加えて、実施形態によっては、メータ電子機器20は、フロー導管の剛性を補償するために導出流体温度Tf−derivを用いるようにさらに構成されている場合もある。
一組のフローメータの条件(たとえば、温度、取り付け(mount)、外部負荷など)において、質量流量は、ピックオフセンサ間の遅延時間(Δt)に直線的に比例する。この関係は、以下の[数式3]で与えられている。
Figure 2011501123
FCF項は、比例定数であり、一般的にフロー校正ファクターと呼ばれている。zeroの値は実験的に導出されたフローオフセット量である。
FCFは、フローメータのフロー導管の剛性および幾何形状に主として依存している。幾何学形状には、二つの位相測定または時間測定が行われた位置の如き特徴が含まれている。剛性は、フロー導管の材料特性およびフロー導管103Aおよび103Bの幾何学形状に依存している。個々のフローメータについて、2つの既知の質量流量および特定の校正温度で流れる校正用流体を用いて行なわれる校正作業を通じてFCF値およびzero値が求められる。
フローメータの剛性または幾何学形状が最初に校正したときから動作中に変われば、FCFも変わることになる。たとえば、動作温度が校正温度よりも高いあるレベルまで上昇すると、フローメータの剛性にも変化が生じる場合がある。正確な質量流量測定を担保するためには、FCF値およびzero値がほとんど一定のままであることが必要となる。これを達成するのは非常に難しい。もう一つの方法としては、質量流量を正確に測定するには、FCF値および/またはzero値の変化を考慮するロバスト法の使用が必要となる。
通常、従来技術のフローメータは、特定の基準温度(T)で校正されるようになっている。しかしながら、使用時には、フローメータは基準温度とは異なる温度で動作させられることが多い。
弾性係数が温度とともに変化することが知られている。したがって、従来技術においては、質量流量および密度の式は弾性係数に対するこの影響を考慮するように改良されている。弾性係数(E)またはヤング率に対する温度補償を含む従来技術における質量流量の式の典型的な構造は、下記の[数式4]で与えられている。
Figure 2011501123
ヤング率項Ε=(l−φ・ΔT)は、FCFがフローメータ温度の基準温度(T)からの変化に応じてどのように変わるかを定義しており、この式において、(ΔT)は(T−T)である。
上述の関数φの傾きは、個々のフローメータ設計またはフローメータファミリーについて実験により通常求められる。(φ)項は、それがあたかも本質的に温度に対する弾性係数(E)の傾きと同一かのように扱われる場合がある。しかしながら、弾性係数は、フローメータが動作する全温度範囲にわたって必ずしも線形だとは限らない。この非線形性を考慮に入れて、この変更をより良好に補償するために下記の[数式5]の如き高次多項式が用いられている。
Figure 2011501123
高次多項式(1−φ・ΔT−φ・ΔT …)項は、FCFがフローメータ温度の変化とともにどのように変化するかを定義している。したがって、質量流量測定値を補償しかつ質量流量測定値が非常に正確であることを担保するために導出流体温度Tf−derivを用いることができる。さらに、フロー導管の剛性特性を補償するために導出流体温度Tf−derivを用いることができる。
コリオリフローメータは、基準振動フレーム内のプロセス流体の密度(ρ)を測定することもできる。2乗された振動周期は、振動システムの質量をその剛性で割ったものに直線的に比例する。フロー導管の個々の条件の下において、剛性および質量が一定であり、また、流体密度(ρ)が、2乗された周期に直線的に比例する。この関係は、下記の[数式6]で与えられる。
Figure 2011501123
項は比例定数であり、C項はオフセット値である。これらの係数CおよびCは、フロー導管の剛性に依存し、また、フローメータ内の流体の質量および容積に依存する。これらの係数CおよびCは、既知の密度を有する2つの流体を用いてフローメータを校正することにより求められる。
密度計算についても温度補償することができる。弾性係数に対する温度補償を含む密度式の典型的な形が下記の[数式7]により与えられている。
Figure 2011501123
(φ)項は、先に記載したようにフロー導管の周期を2乗したものが流体温度Tの基準温度(T)からの変化(すなわち、T−T)とともにどのように変化するのかを定義している。(φ)関数の傾きは、フローメータの個々の設計または個々のフローメータファミリーについて実験的に通常求められている。いうまでもなく、密度温度補償工程における温度の影響を精緻化するために高次関数を用いることができる。(φ)項があたかも温度に対する弾性係数の傾きと同一であるかのように、この項を扱うことができる。
有益なことには、補償において導出流体温度Tf−derivを用いると、質量流量および測定濃度における誤差を最小限に抑えることができる。メータ温度Tを用いる代わりに導出流体温度Tf−derivを用いることにより質量流量測定および密度測定が向上される。導出流体温度Tf−derivを用いた補償は、メータ温度Tを用いたものより周囲環境条件の変化に対してより正確である。
図4は、本発明の実施形態に係る振動式フローメータ内のフロー材料の導出流体温度Tf−derivを求めるための方法を示すフローチャート400である。ステップ401で、メータ温度Tを得るためにフローメータの温度が測定される。
ステップ402で、先に記載のように、外部環境温度が測定される。
ステップ403で、先に記載のように、導出流体温度Tf−derivがメータ温度Tおよび外部環境温度から求められる。
ステップ404で、先に記載のように、導出流体温度Tf−derivを用いて一または複数の流量特性が求められる。
図5には、本発明の実施形態に係る振動式フローメータ5が示されている。他の実施形態と共通の部品は参照番号を共有している。この実施形態では、フローメータ5は流体温度センサ210をさらに備えている。流体温度センサ210は、フロー導管9の中に向けて少なくとも部分的に延出したセンサ素子209を有し、フロー導管9内のフロー材料の温度を検出することができるようになっている。したがって、フローメータ5は、先に記載のように、メータ温度T、外部環境温度Tおよび導出流体温度Tf−derivに加えて、測定流体温度を提供する。メータ電子機器20は、格納されたまたは既知の前もって決められたコーティングしきい値をさらに有することができる。
測定流体温度Tf−measと導出流体温度Tf−derivとから温度誤差ファクターTerrorを生成することができる。ここで、Terrorは|Tf−meas−Tf−deriv|である。次いで、一または複数のフロー導管内のコーティングを求めるために、温度誤差ファクターTerrorを用いることができる。
温度誤差ファクターTerrorは、測定流体温度Tf−measと導出流体温度Tf−derivとの間の実質的に瞬時の差を反映している。導出流体温度Tf−derivは、測定流体温度Tf−measの変化に遅れを生じさせる。有利には、この遅れを求めて定量化するために温度誤差ファクターTerrorを用いることができる。たとえばコーティングによるフローメータ5の熱伝導性の変化を検出するために遅れを用いることができるので、遅れが注目されている。
コーティングは、フローメータ5の内面へのフロー材料の付着および堆積を含む。コーティングは、流量の減少、フロー特性の変化、フロー測定結果の劣悪化、およびフローメータ5のドレインおよび/または洗浄を行うことができなくなるというような他の問題をもたらしうる。したがって、コーティングはフローメータ5にとって不要なものである。
コーティングを検出する従来の方法は、密度誤差測定値を生成すること、フロー導管ダンピングレベルを求めることなどの如き工程を有している。残念なことには、コーティングを検出する従来の方法は、プロセス流体についてのさらなる知識に依存している。
コーティングは、プロセス流体とフロー導管との間に断熱バリアーを堆積させる。この断熱により、温度誤差ファクターTerrorが、もはや正確ではなくなり、理想的な動作および理想的なzero値からは著しく外れることになる。したがって、導出流体温度Tf−derivと流体温度センサ210により提供される実際の測定流体温度Tf−measとを比較することによりコーティングを求めることができる(下記の図6および付随するテキストを参照)。この比較をメータ電子機器20内で行うことができる。それに代えて、この比較を外部デバイスにより行うようにしてもよい。
図6は、本発明の実施形態に係る振動式フローメータ内のフロー材料の導出流体温度Tf−derivを求めるための方法を示すフローチャート600である。ステップ601で、先に記載のように、フローメータの温度が測定される。
ステップ602で、先に記載のように、外部環境温度が測定される。
ステップ603で、測定流体温度Tf−measを提供するために、流体温度が測定される。寸法流体温度Tf−measは、フローメータ5内のまたはその近傍のいかなる位置において測定されてもよいし、また、いかなる手法の温度測定デバイスまたは温度測定プロセスにより測定されてもよい。
ステップ604で、先に記載のように、導出流体温度Tf−derivがメータ温度Tおよび外部環境温度Tから求められる。
ステップ605で、先に記載のように、一または複数のフロー特性が導出流体温度Tf−derivを用いて求められる。
ステップ606で、フローメータ5の一つのフロー導管(または、複数のフロー導管)内のコーティングレベルが求められる。コーティングレベルは、先のステップ604からの導出流体温度Tf−derivと照らして、測定流体温度Tf−measを用いて求め
られる。測定流体温度と算出流体温度とから温度誤差ファクターTerrorが計算される。ここで、Terrorは|Tf−meas−Tf−deriv|である。温度誤差ファクターTerrorが前もって決められているコーティングしきい値と比較される。温度誤差ファクターTerrorが前もって決められているコーティングしきい値を超えていない場合、コーティングが一または複数のフロー導管内に存在していないと判断される。温度誤差ファクターTerrorが前もって決められているコーティングしきい値を超えている場合、コーティングが一または複数のフロー導管内に存在していると判断される。
コーティングが確定されると、コーティングを示す何らかの情報が生成される。このコーティングを示す情報(coating indication)は、何らかのアラームまたは他のものを示す何らかの情報を生成することを含みうる。このコーティングを示す情報により、適切ならば、一または複数のフロー導管に対するSIP/CIPプロセスを促すことを含む、何らかの方法での必要な洗浄動作が引き起こされることになる。
ステップ607で、コーティングを示す情報が生成されない場合、Sterilize−In−Place(SIP)および/またはClean−In−Place(CIP)の成功を示す情報が生成される。そうではなくてコーティングを示す情報が生成される場合には、SIP/CIPの成功を示す情報が生成されなくてもよい。
SIP/CIPの成功を示す情報は、SIP/CIPのプロセスが成功したことを示す。SIPまたはCIPのプロセスが実行されていない場合であって、SIP/CIPの成功を示す情報が生成される場合には、SIPまたはCIPのプロセスが行なわれる必要がないと判断されうる。SIPまたはCIPのプロセスが既に実行されている場合であって、SIP/CIPの成功を示す情報が生成されない場合には、SIPまたはCIPのプロセスが失敗したと判断されうる。

Claims (24)

  1. フロー材料の導出流体温度Tf−derivを求めるための振動式フローメータ(5)であって、
    一または複数のフロー導管(103)を有したフローメータ組立体(10)と、
    メータ温度Tを測定するように構成されたメータ温度センサ(204)と、
    外部環境温度Tを測定するための外部環境温度センサ(208)と、
    前記メータ温度センサ(204)および前記外部環境温度センサ(208)に結合され、前記メータ温度Tおよび前記外部環境温度Tを受信し、前記メータ温度Tおよび前記外部環境温度を用いて、前記振動式フローメータ(5)内の前記フロー材料の前記導出流体温度Tf−derivを求めるように構成されたメータ電子機器(20)とを備えてなる、振動式フローメータ(5)。
  2. 前記導出流体温度Tf−derivを求めることが、式[Tf−deriv=(T−T)/(1−C)]を用いることをさらに含んでおり、この式において、Cは温度誤差係数である、請求項1に記載の振動式フローメータ(5)。
  3. 前記メータ電子機器(20)が、前記フロー材料の一または複数のフロー特性を求めるために前記導出流体温度Tf−derivを用いるようにさらに構成されてなる、請求項1に記載の振動式フローメータ(5)。
  4. 前記メータ電子機器(20)が、フロー導管の剛性を補償するために前記導出流体温度Tf−derivを用いるようにさらに構成されてなる、請求項1に記載の振動式フローメータ(5)。
  5. 前記フロー材料の流体温度Tf−measを測定するように構成された流体温度センサ(210)をさらに備えており、前記メータ電子機器(20)が、前記メータ温度Tおよび前記外部環境温度を用いて前記振動式フローメータ内の前記フロー材料の前記導出流体温度Tf−derivを求め、測定された前記流体温度Tf−measと前記導出流体温度Tf−derivとの間の差を用いて前記振動式フローメータの一または複数フロー導管内のコーティングレベルを求めるように構成されてなる、請求項1に記載の振動式フローメータ(5)。
  6. 前記メータ電子機器(20)が、Terror=|Tf−meas−Tf−deriv|である温度誤差ファクターTerrorを求め、前もって決められているコーティングしきい値と前記温度誤差ファクターTerrorを比較し、前記温度誤差ファクターTerrorが前記前もって決められているコーティングしきい値を超えている場合、コーティングを示す情報を生成するようにさらに構成されてなる、請求項5に記載の振動式フローメータ(5)。
  7. 前記メータ電子機器(20)が、Terror=|Tf−meas−Tf−deriv|である温度誤差ファクターTerrorを求め、前もって決められているコーティングしきい値と前記温度誤差ファクターTerrorを比較し、前記温度誤差ファクターTerrorが前記前もって決められているコーティングしきい値を超えている場合に、Sterilization−In−Place(SIP)および/またはClean−In−Place(CIP)を示す情報を生成するようにさらに構成されてなる、請求項5に記載の振動式フローメータ(5)。
  8. 振動式フローメータ内のフロー材料の導出流体温度Tf−derivを求めるための方法であって、
    メータ温度Tを測定することと、
    外部環境温度Tを測定することと、
    前記メータ温度Tおよび前記外部環境温度Tを用いて、前記振動式フローメータ内の前記フロー材料の前記導出流体温度Tf−derivを求めることとを含む、方法。
  9. 前記導出流体温度Tf−derivを求めることが、式[Tf−deriv=(T−T)/(1−C)]を用いることをさらに含んでおり、この式においてCは温度誤差係数である、請求項8に記載の方法。
  10. 前記フロー材料の一または複数のフロー特性を求めるために前記導出流体温度Tf−derivを用いることをさらに含む、請求項8に記載の方法。
  11. フロー導管の剛性を補償するために前記導出流体温度Tf−derivを用いることをさらに含む、請求項8に記載の方法。
  12. 測定流体温度Tf−measを測定することと、
    error=|Tf−meas−Tf−deriv|である温度誤差ファクターTerrorを求めることと、
    前記温度誤差ファクターTerrorを前もって決められているコーティングしきい値と比較することと、
    前記温度誤差ファクターTerrorが前記前もって決められているコーティングしきい値を超えている場合に、コーティングを示す情報を生成することとをさらに含む、請求項8に記載の方法。
  13. 測定流体温度Tf−measを測定することと、
    error=|Tf−meas−Tf−deriv|である温度誤差ファクターTerrorを求めることと、
    前記温度誤差ファクターTerrorを前もって決められているコーティングしきい値と比較することと、
    前記温度誤差ファクターTerrorが前記前もって決められているコーティングしきい値を超えている場合に、Sterilization−In−Place(SIP)および/またはClean−In−Place(CIP)を示す情報を生成することとをさらに含む、請求項8に記載の方法。
  14. 振動式フローメータ内のフロー材料の導出流体温度Tf−derivを求めるための方法であって、
    メータ温度Tを測定することと、
    外部環境温度Tを測定することと、
    前記メータ温度Tおよび前記外部環境温度Tを用いて、前記振動式フローメータ内の前記フロー材料の前記導出流体温度Tf−derivを求めることと、
    前記流体温度を用いて、前記フロー材料の一または複数のフロー特性を求めることとを含む、方法。
  15. 前記導出流体温度Tf−derivを求めることが、式[Tf−deriv=(T−T)/(1−C)]を用いることをさらに含んでおり、この式においてCは温度誤差係数である、請求項14に記載の方法。
  16. フロー導管の剛性を補償するために前記導出流体温度Tf−derivを用いることをさらに含む、請求項14に記載の方法
  17. 測定流体温度Tf−measを測定することと、
    error=|Tf−meas−Tf−deriv|である温度誤差ファクターTerrorを求めることと、
    前記温度誤差ファクターTerrorを前もって決められているコーティングしきい値と比較することと、
    前記温度誤差ファクターTerrorが前記前もって決められているコーティングしきい値を超えている場合に、コーティングを示す情報を生成することとを含む、請求項14に記載の方法。
  18. 測定流体温度Tf−measを測定することと、
    error=|Tf−meas−Tf−deriv|である温度誤差ファクターTerrorを求めることと、
    前記温度誤差ファクターTerrorを前もって決められているコーティングしきい値と比較することと、
    前記温度誤差ファクターTerrorが前記前もって決められているコーティングしきい値を超えている場合に、Sterilization−In−Place(SIP)および/またはClean−In−Place(CIP)を示す情報を生成することとをさらに含む、請求項14に記載の方法。
  19. 振動式フローメータ内のフロー材料の導出流体温度Tf−derivを求めるための方法であって、
    メータ温度Tを測定することと、
    外部環境温度Tを測定することと、
    流体温度Tf−measを測定することと、
    前記メータ温度Tおよび前記外部環境温度Tを用いて、前記振動式フローメータ内の前記フロー材料の前記導出流体温度Tf−derivを求めることと、
    測定された前記流体温度Tf−measと前記導出流体温度Tf−derivとの間の差を用いて、前記振動式フローメータの一または複数のフロー導管内のコーティングレベルを求めることとを含む、方法。
  20. 前記導出流体温度Tf−derivを求めることが、式[Tf−deriv=(T−T)/(1−C)]を用いることをさらに含んでおり、この式においてCは温度誤差係数である、請求項19に記載の方法
  21. 前記フロー材料の一または複数のフロー特性を求めるために前記導出流体温度Tf−derivを用いることをさらに含む、請求項19に記載の方法。
  22. フロー導管の剛性を補償するために前記導出流体温度Tf−derivを用いることをさらに含む、請求項19に記載の方法。
  23. 前記コーティングレベルを求めることが、Terror=|Tf−meas−Tf−deriv|である温度誤差ファクターTerrorを求めることと、
    前記温度誤差ファクターTerrorを前もって決められているコーティングしきい値と比較することと、
    前記温度誤差ファクターTerrorが前記前もって決められているコーティングしきい値を超えている場合に、コーティングを示す情報を生成することとを含む、請求項19に記載の方法。
  24. error=|Tf−meas−Tf−deriv|である温度誤差ファクターTerrorを求めることと、
    前記温度誤差ファクターTerrorを前もって決められているコーティングしきい値と比較することと、
    前記温度誤差ファクターTerrorが前記前もって決められているコーティングしきい値を超えている場合に、Sterilization−In−Place(SIP)および/またはClean−In−Place(CIP)を示す情報を生成することとをさらに含む、請求項19に記載の方法。
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