JP2011501123A5 - - Google Patents

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  1. フロー材料の導出流体温度Tf−derivを求めるための振動式フローメータ(5)であって、
    一または複数のフロー導管(103)を有したフローメータ組立体(10)と、
    メータ温度Tを測定するように構成されたメータ温度センサ(204)と、
    外部環境温度Tを測定するための外部環境温度センサ(208)と、
    前記メータ温度センサ(204)および前記外部環境温度センサ(208)に結合され、前記メータ温度Tおよび前記外部環境温度Tを受信し、前記メータ温度Tおよび前記外部環境温度を用いて、前記振動式フローメータ(5)内の前記フロー材料の前記導出流体温度Tf−derivを求めるように構成されたメータ電子機器(20)とを備えてなる、振動式フローメータ(5)。
  2. 前記メータ電子機器(20)が、前記フロー材料の一または複数のフロー特性を求めるために前記導出流体温度T f−deriv を用いるようにさらに構成されてなる、請求項1に記載の振動式フローメータ(5)。
  3. 前記導出流体温度T f−deriv を求めることが、式[T f−deriv =(T −T )/(1−C )]を用いることをさらに含んでおり、この式において、C は温度誤差係数である、請求項1に記載の振動式フローメータ(5)。
  4. 前記メータ電子機器(20)が、フロー導管の剛性を補償するために前記導出流体温度Tf−derivを用いるようにさらに構成されてなる、請求項1に記載の振動式フローメータ(5)。
  5. 前記フロー材料の流体温度Tf−measを測定するように構成された流体温度センサ(210)をさらに備えており、前記メータ電子機器(20)が、前記メータ温度Tおよび前記外部環境温度を用いて前記振動式フローメータ内の前記フロー材料の前記導出流体温度Tf−derivを求め、測定された前記流体温度Tf−measと前記導出流体温度Tf−derivとの間の差を用いて前記振動式フローメータの一または複数フロー導管内のコーティングレベルを求めるように構成されてなる、請求項1に記載の振動式フローメータ(5)。
  6. 前記メータ電子機器(20)が、Terror=|Tf−meas−Tf−deriv|である温度誤差ファクターTerrorを求め、前もって決められているコーティングしきい値と前記温度誤差ファクターTerrorを比較し、前記温度誤差ファクターTerrorが前記前もって決められているコーティングしきい値を超えている場合、コーティングを示す情報を生成するようにさらに構成されてなる、請求項5に記載の振動式フローメータ(5)。
  7. 前記メータ電子機器(20)が、Terror=|Tf−meas−Tf−deriv|である温度誤差ファクターTerrorを求め、前もって決められているコーティングしきい値と前記温度誤差ファクターTerrorを比較し、前記温度誤差ファクターTerrorが前記前もって決められているコーティングしきい値を超えている場合に、Sterilization−In−Place(SIP)および/またはClean−In−Place(CIP)を示す情報を生成するようにさらに構成されてなる、請求項5に記載の振動式フローメータ(5)。
  8. 振動式フローメータ内のフロー材料の導出流体温度Tf−derivを求めるための方法であって、
    メータ温度Tを測定することと、
    外部環境温度Tを測定することと、
    前記メータ温度Tおよび前記外部環境温度Tを用いて、前記振動式フローメータ内の前記フロー材料の前記導出流体温度Tf−derivを求めることとを含む、方法。
  9. 前記導出流体温度Tf−derivを求めることが、式[Tf−deriv=(T−T)/(1−C)]を用いることをさらに含んでおり、この式においてCは温度誤差係数である、請求項8に記載の方法。
  10. 前記フロー材料の一または複数のフロー特性を求めるために前記導出流体温度Tf−derivを用いることをさらに含む、請求項8に記載の方法。
  11. フロー導管の剛性を補償するために前記導出流体温度Tf−derivを用いることをさらに含む、請求項8に記載の方法。
  12. 流体温度f−measを測定することと、
    error=|Tf−meas−Tf−deriv|である温度誤差ファクターTerrorを求めることと、
    前記温度誤差ファクターTerrorを前もって決められているコーティングしきい値と比較することと、
    前記温度誤差ファクターTerrorが前記前もって決められているコーティングしきい値を超えている場合に、コーティングを示す情報を生成することとをさらに含む、請求項8に記載の方法。
  13. 流体温度f−measを測定することと、
    error=|Tf−meas−Tf−deriv|である温度誤差ファクターTerrorを求めることと、
    前記温度誤差ファクターTerrorを前もって決められているコーティングしきい値と比較することと、
    前記温度誤差ファクターTerrorが前記前もって決められているコーティングしきい値を超えている場合に、Sterilization−In−Place(SIP)および/またはClean−In−Place(CIP)を示す情報を生成することとをさらに含む、請求項8に記載の方法。
  14. 振動式フローメータ内のフロー材料の導出流体温度Tf−derivを求めるための方法であって、
    メータ温度Tを測定することと、
    外部環境温度Tを測定することと、
    前記メータ温度Tおよび前記外部環境温度Tを用いて、前記振動式フローメータ内の前記フロー材料の前記導出流体温度Tf−derivを求めることと、
    前記流体温度を用いて、前記フロー材料の一または複数のフロー特性を求めることとを含む、方法。
  15. 前記導出流体温度Tf−derivを求めることが、式[Tf−deriv=(T−T)/(1−C)]を用いることをさらに含んでおり、この式においてCは温度誤差係数である、請求項14に記載の方法。
  16. フロー導管の剛性を補償するために前記導出流体温度Tf−derivを用いることをさらに含む、請求項14に記載の方法。
  17. 流体温度f−measを測定することと、
    error=|Tf−meas−Tf−deriv|である温度誤差ファクターTerrorを求めることと、
    前記温度誤差ファクターTerrorを前もって決められているコーティングしきい値と比較することと、
    前記温度誤差ファクターTerrorが前記前もって決められているコーティングしきい値を超えている場合に、コーティングを示す情報を生成することとを含む、請求項14に記載の方法。
  18. 流体温度f−measを測定することと、
    error=|Tf−meas−Tf−deriv|である温度誤差ファクターTerrorを求めることと、
    前記温度誤差ファクターTerrorを前もって決められているコーティングしきい値と比較することと、
    前記温度誤差ファクターTerrorが前記前もって決められているコーティングしきい値を超えている場合に、Sterilization−In−Place(SIP)および/またはClean−In−Place(CIP)を示す情報を生成することとをさらに含む、請求項14に記載の方法。
  19. 振動式フローメータ内のフロー材料の導出流体温度Tf−derivを求めるための方法であって、
    メータ温度Tを測定することと、
    外部環境温度Tを測定することと、
    流体温度Tf−measを測定することと、
    前記メータ温度Tおよび前記外部環境温度Tを用いて、前記振動式フローメータ内の前記フロー材料の前記導出流体温度Tf−derivを求めることと、
    測定された前記流体温度Tf−measと前記導出流体温度Tf−derivとの間の差を用いて、前記振動式フローメータの一または複数のフロー導管内のコーティングレベルを求めることとを含む、方法。
  20. 前記導出流体温度Tf−derivを求めることが、式[Tf−deriv=(T−T)/(1−C)]を用いることをさらに含んでおり、この式においてCは温度誤差係数である、請求項19に記載の方法。
  21. 前記フロー材料の一または複数のフロー特性を求めるために前記導出流体温度Tf−derivを用いることをさらに含む、請求項19に記載の方法。
  22. フロー導管の剛性を補償するために前記導出流体温度Tf−derivを用いることをさらに含む、請求項19に記載の方法。
  23. 前記コーティングレベルを求めることが、Terror=|Tf−meas−Tf−deriv|である温度誤差ファクターTerrorを求めることと、
    前記温度誤差ファクターTerrorを前もって決められているコーティングしきい値と比較することと、
    前記温度誤差ファクターTerrorが前記前もって決められているコーティングしきい値を超えている場合に、コーティングを示す情報を生成することとを含む、請求項19に記載の方法。
  24. error=|Tf−meas−Tf−deriv|である温度誤差ファクターTerrorを求めることと、
    前記温度誤差ファクターTerrorを前もって決められているコーティングしきい値と比較することと、
    前記温度誤差ファクターTerrorが前記前もって決められているコーティングしきい値を超えている場合に、Sterilization−In−Place(SIP)および/またはClean−In−Place(CIP)を示す情報を生成することとをさらに含む、請求項19に記載の方法。
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