JP2011233466A - 電子顕微鏡の分解能評価方法、プログラム、及び情報記憶媒体 - Google Patents
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Abstract
【課題】撮像画像に評価精度を悪化させる要因がある場合であっても、高精度に分解能を評価することが可能な、電子顕微鏡の分解能評価方法、プログラム、及び情報記憶媒体を提供すること。
【解決手段】微粒子を蒸着させた試料を撮像した画像から電子顕微鏡の分解能を評価するためのプログラムであって、前記撮像した画像を複数の部分領域に分割する分割部と、前記撮像した画像の信号強度ヒストグラムと、前記各部分領域の信号強度ヒストグラムとに基づいて、前記複数の部分領域から、評価対象とする1又は複数の部分領域を抽出する抽出部と、前記抽出された1又は複数の部分領域を周波数解析することで分解能を算出する分解能算出部としてコンピュータを機能させる。
【選択図】図12
【解決手段】微粒子を蒸着させた試料を撮像した画像から電子顕微鏡の分解能を評価するためのプログラムであって、前記撮像した画像を複数の部分領域に分割する分割部と、前記撮像した画像の信号強度ヒストグラムと、前記各部分領域の信号強度ヒストグラムとに基づいて、前記複数の部分領域から、評価対象とする1又は複数の部分領域を抽出する抽出部と、前記抽出された1又は複数の部分領域を周波数解析することで分解能を算出する分解能算出部としてコンピュータを機能させる。
【選択図】図12
Description
本発明は、電子顕微鏡の分解能評価方法、プログラム、及び情報記憶媒体に関する。
従来から、微粒子を蒸着させた試料を撮像し、撮像された画像のデータを周波数解析して解析結果より分解能を定量評価する電子顕微鏡の分解能評価方法が知られている(例えば、特許文献1)。
しかしながら、従来の分解能評価方法では、撮像した画像において、粒子の径に極端なバラツキがある場合、粒子の配置が偏った領域がある場合、画像の強度信号が飽和している箇所がある場合、及びノイズがある場合等に評価精度が低下するといった問題点があった。
本発明は、以上のような問題点に鑑みてなされたものであり、本発明のいくつかの態様によれば、撮像画像に評価精度を低下させる要因がある場合であっても、高精度に分解能を評価することが可能な、電子顕微鏡の分解能評価方法、プログラム、及び情報記憶媒体を提供することができる。
本発明は、以上のような問題点に鑑みてなされたものであり、本発明のいくつかの態様によれば、撮像画像に評価精度を低下させる要因がある場合であっても、高精度に分解能を評価することが可能な、電子顕微鏡の分解能評価方法、プログラム、及び情報記憶媒体を提供することができる。
(1)本発明に係るプログラムは、微粒子を蒸着させた試料を撮像した画像から電子顕微鏡の分解能を評価するためのプログラムであって、
前記撮像した画像を複数の部分領域に分割する分割部と、
前記撮像した画像の信号強度ヒストグラムと、前記各部分領域の信号強度ヒストグラムとに基づいて、前記複数の部分領域から、評価対象とする1又は複数の部分領域を抽出する抽出部と、
前記抽出された1又は複数の部分領域を周波数解析することで分解能を算出する分解能算出部としてコンピュータを機能させる。また本発明は、コンピュータ読み取り可能な情報記憶媒体であって、上記各部としてコンピュータを機能させるためのプログラムを記憶した情報記憶媒体に関する。
前記撮像した画像を複数の部分領域に分割する分割部と、
前記撮像した画像の信号強度ヒストグラムと、前記各部分領域の信号強度ヒストグラムとに基づいて、前記複数の部分領域から、評価対象とする1又は複数の部分領域を抽出する抽出部と、
前記抽出された1又は複数の部分領域を周波数解析することで分解能を算出する分解能算出部としてコンピュータを機能させる。また本発明は、コンピュータ読み取り可能な情報記憶媒体であって、上記各部としてコンピュータを機能させるためのプログラムを記憶した情報記憶媒体に関する。
本発明によれば、評価精度を低下させる要因がある部分領域を評価対象から除外することが可能となり、高精度に分解能を評価することができる。
(2)本発明に係るプログラム及び情報記憶媒体では、
前記抽出部は、
前記撮像した画像の信号強度ヒストグラムに現れる2つのピークのそれぞれに対応する信号強度に基づき信号強度の閾値を求め、求めた閾値と、前記各部分領域の信号強度ヒストグラムとに基づいて、前記各部分領域内に粒子像が存在するか否かを判定し、粒子像が存在しないと判定された部分領域を評価対象から除外するようにしてもよい。
前記抽出部は、
前記撮像した画像の信号強度ヒストグラムに現れる2つのピークのそれぞれに対応する信号強度に基づき信号強度の閾値を求め、求めた閾値と、前記各部分領域の信号強度ヒストグラムとに基づいて、前記各部分領域内に粒子像が存在するか否かを判定し、粒子像が存在しないと判定された部分領域を評価対象から除外するようにしてもよい。
本発明によれば、粒子像が存在しないと判定された部分領域を評価対象から除外することで、高精度に分解能を評価することができる。
(3)本発明に係るプログラム及び情報記憶媒体では、
前記抽出部は、
前記撮像した画像の信号強度ヒストグラムに現れる2つのピークのそれぞれに対応する信号強度をSLO、SHOとすると、前記閾値STOを、次式
STO=(SLO+SHO)/2
に基づき求め、前記各部分領域の信号強度ヒストグラムにおいて、閾値STOより信号強度が小さい側の画素数の総和をS1とし、閾値STOより信号強度が大きい側の画素数の総和をS2とすると、次式に示す評価用パラメータSrに基づいて、前記各部分領域内に粒子像が存在するか否かを判定するようにしてもよい。
前記抽出部は、
前記撮像した画像の信号強度ヒストグラムに現れる2つのピークのそれぞれに対応する信号強度をSLO、SHOとすると、前記閾値STOを、次式
STO=(SLO+SHO)/2
に基づき求め、前記各部分領域の信号強度ヒストグラムにおいて、閾値STOより信号強度が小さい側の画素数の総和をS1とし、閾値STOより信号強度が大きい側の画素数の総和をS2とすると、次式に示す評価用パラメータSrに基づいて、前記各部分領域内に粒子像が存在するか否かを判定するようにしてもよい。
Sr=(S1−S2)/(S1+S2)
本発明によれば、粒子像が存在しないと判定された部分領域を評価対象から除外することで、高精度に分解能を評価することができる。
本発明によれば、粒子像が存在しないと判定された部分領域を評価対象から除外することで、高精度に分解能を評価することができる。
(4)本発明に係るプログラム及び情報記憶媒体では、
前記抽出部は、
前記撮像した画像の信号強度ヒストグラムに現れる2つのピークのそれぞれに対応する画素数の差と、前記各部分領域の信号強度ヒストグラムに現れる2つのピークのそれぞれに対応する画素数の差に基づいて、前記各部分領域において粒子像又は下地の面積が微小であるか否かを判定し、粒子像又は下地の面積が微小であると判定された部分領域を評価対象から除外するようにしてもよい。
前記抽出部は、
前記撮像した画像の信号強度ヒストグラムに現れる2つのピークのそれぞれに対応する画素数の差と、前記各部分領域の信号強度ヒストグラムに現れる2つのピークのそれぞれに対応する画素数の差に基づいて、前記各部分領域において粒子像又は下地の面積が微小であるか否かを判定し、粒子像又は下地の面積が微小であると判定された部分領域を評価対象から除外するようにしてもよい。
本発明によれば、粒子像又は下地の面積が微小であると判定された部分領域を評価対象から除外することで、高精度に分解能を評価することができる。
(5)本発明に係るプログラム及び情報記憶媒体では、
前記抽出部は、
前記撮像した画像の信号強度ヒストグラムに現れる2つのピークのそれぞれに対応する画素数をNLO、NHOとし、前記各部分領域の信号強度ヒストグラムに現れる2つのピークのそれぞれに対応する画素数をNL、NHとすると、次式に示す評価用パラメータCNLHに基づいて、前記各部分領域において粒子像又は下地の面積が微小であるか否かを判定するようにしてもよい。
前記抽出部は、
前記撮像した画像の信号強度ヒストグラムに現れる2つのピークのそれぞれに対応する画素数をNLO、NHOとし、前記各部分領域の信号強度ヒストグラムに現れる2つのピークのそれぞれに対応する画素数をNL、NHとすると、次式に示す評価用パラメータCNLHに基づいて、前記各部分領域において粒子像又は下地の面積が微小であるか否かを判定するようにしてもよい。
CNLH=(|NL−NH|−|NLO−NHO|)
本発明によれば、粒子像又は下地の面積が微小であると判定された部分領域を評価対象から除外することで、高精度に分解能を評価することができる。
本発明によれば、粒子像又は下地の面積が微小であると判定された部分領域を評価対象から除外することで、高精度に分解能を評価することができる。
(6)本発明に係るプログラム及び情報記憶媒体では、
前記抽出部は、
前記撮像した画像の信号強度ヒストグラムに現れる2つのピークのそれぞれに対応する信号強度の差と、前記各部分領域の信号強度ヒストグラムに現れる2つのピークのそれぞれに対応する信号強度の差に基づいて、前記各部分領域内に画像信号が飽和している箇所が存在するか否かを判定し、画像信号が飽和している箇所が存在すると判定された部分領域を評価対象から除外するようにしてもよい。
前記抽出部は、
前記撮像した画像の信号強度ヒストグラムに現れる2つのピークのそれぞれに対応する信号強度の差と、前記各部分領域の信号強度ヒストグラムに現れる2つのピークのそれぞれに対応する信号強度の差に基づいて、前記各部分領域内に画像信号が飽和している箇所が存在するか否かを判定し、画像信号が飽和している箇所が存在すると判定された部分領域を評価対象から除外するようにしてもよい。
本発明によれば、画像信号が飽和している箇所が存在すると判定された部分領域を評価対象から除外することで、高精度に分解能を評価することができる。
(7)本発明に係るプログラム及び情報記憶媒体では、
前記抽出部は、
前記撮像した画像の信号強度ヒストグラムに現れる2つのピークのそれぞれに対応する信号強度をSLO、SHOとし、前記各部分領域の信号強度ヒストグラムに現れる2つのピークのそれぞれに対応する信号強度をSL、SHとすると、次式に示す評価用パラメータCkに基づいて、前記各部分領域内に画像信号が飽和している箇所が存在するか否かを判定するようにしてもよい。
前記抽出部は、
前記撮像した画像の信号強度ヒストグラムに現れる2つのピークのそれぞれに対応する信号強度をSLO、SHOとし、前記各部分領域の信号強度ヒストグラムに現れる2つのピークのそれぞれに対応する信号強度をSL、SHとすると、次式に示す評価用パラメータCkに基づいて、前記各部分領域内に画像信号が飽和している箇所が存在するか否かを判定するようにしてもよい。
Ck=(|SL−SH|)/(|SLO−SHO|)
本発明によれば、画像信号が飽和している箇所が存在すると判定された部分領域を評価対象から除外することで、高精度に分解能を評価することができる。
本発明によれば、画像信号が飽和している箇所が存在すると判定された部分領域を評価対象から除外することで、高精度に分解能を評価することができる。
(8)本発明に係るプログラム及び情報記憶媒体では、
前記抽出部は、
前記撮像した画像の信号強度ヒストグラムにおいて、区間[0、SA0]における面積ΔSがΔS=k・L2(kは1未満の係数、Lは前記撮像した画像の一辺の画素数)を超えない当該区間の信号強度の最大値をSA0とし、区間[SB0、T](Tは信号強度の最大値)における面積ΔSがΔS=k・L2を越えない当該区間の信号強度の最小値をSB0とし、パラメータCRO、SLO、SHO、STOを、次式
前記抽出部は、
前記撮像した画像の信号強度ヒストグラムにおいて、区間[0、SA0]における面積ΔSがΔS=k・L2(kは1未満の係数、Lは前記撮像した画像の一辺の画素数)を超えない当該区間の信号強度の最大値をSA0とし、区間[SB0、T](Tは信号強度の最大値)における面積ΔSがΔS=k・L2を越えない当該区間の信号強度の最小値をSB0とし、パラメータCRO、SLO、SHO、STOを、次式
に基づき求め、
前記各部分領域の信号強度ヒストグラムにおいて、区間[0、SA]における面積ΔsがΔs=k・M2(Mは部分領域の一辺の画素数)を超えない当該区間の信号強度の最大値をSAとし、区間[SB、T]における面積ΔsがΔs=k・M2を越えない当該区間の信号強度の最小値をSBとし、パラメータCR、SL、SH、STを、次式
前記各部分領域の信号強度ヒストグラムにおいて、区間[0、SA]における面積ΔsがΔs=k・M2(Mは部分領域の一辺の画素数)を超えない当該区間の信号強度の最大値をSAとし、区間[SB、T]における面積ΔsがΔs=k・M2を越えない当該区間の信号強度の最小値をSBとし、パラメータCR、SL、SH、STを、次式
に基づき求め、
次式に示す評価用パラメータChに基づいて、前記各部分領域内に粒子像が存在するか否かを判定し、粒子像が存在しないと判定された部分領域を評価対象から除外するプログラム。
次式に示す評価用パラメータChに基づいて、前記各部分領域内に粒子像が存在するか否かを判定し、粒子像が存在しないと判定された部分領域を評価対象から除外するプログラム。
本発明によれば、撮像した画像の信号強度ヒストグラムにおいて2つのピークが現れない場合であっても、各部分領域内に粒子像が存在するか否かを判定することができる。
(9)本発明に係る電子顕微鏡の分解能評価方法は、
微粒子を蒸着させた試料を撮像した画像から電子顕微鏡の分解能を評価する電子顕微鏡の分解能評価方法であって、
前記撮像した画像を複数の部分領域に分割する分割手順と、
前記撮像した画像の信号強度ヒストグラムと、前記各部分領域の信号強度ヒストグラムとに基づいて、前記複数の部分領域から評価対象とする1又は複数の部分領域を抽出する抽出手順と、
前記抽出された1又は複数の部分領域を周波数解析することで分解能を算出する分解能算出手順とを含む。
微粒子を蒸着させた試料を撮像した画像から電子顕微鏡の分解能を評価する電子顕微鏡の分解能評価方法であって、
前記撮像した画像を複数の部分領域に分割する分割手順と、
前記撮像した画像の信号強度ヒストグラムと、前記各部分領域の信号強度ヒストグラムとに基づいて、前記複数の部分領域から評価対象とする1又は複数の部分領域を抽出する抽出手順と、
前記抽出された1又は複数の部分領域を周波数解析することで分解能を算出する分解能算出手順とを含む。
本発明によれば、評価精度を低下させる要因がある部分領域を評価対象から除外することが可能となり、高精度に分解能を評価することができる。
以下、本発明の好適な実施形態について図面を用いて詳細に説明する。なお、以下に説明する実施形態は、特許請求の範囲に記載された本発明の内容を不当に限定するものではない。また以下で説明される構成の全てが本発明の必須構成要件であるとは限らない。
1.構成
図1は、本実施形態に係る演算処理装置(コンピュータ)と、走査型電子顕微鏡の構成を模式的に示す図である。
図1は、本実施形態に係る演算処理装置(コンピュータ)と、走査型電子顕微鏡の構成を模式的に示す図である。
図1に示す走査型電子顕微鏡1(SEM)は、電子銃2から発せられる電子線を、図示しない電子レンズにより集束させ、偏向器4により偏向させて試料6の表面上を走査させることができる。電子線の照射により試料6の表面において発生する2次電子信号は、検出器8によって画像データとして検出され、演算処理装置10の画像入力部110に出力される。なお、図1では、走査型電子顕微鏡の例を示しているが、透過型電子顕微鏡(TEM)で撮像された画像を評価に用いるようにしてもよい。
図2に、試料6を撮像した走査型電子顕微鏡画像(SEM画像)の一例を示す。本実施形態では、電子顕微鏡の分解能を評価するための試料として、カーボン等の被蒸着材に金粒子等(微粒子)を蒸着させた試料を用いる。このような試料を撮像すると、図2に示すように、信号強度(輝度)の小さい部分である下地に、信号強度の大きい粒子像が点在する画像を得ることができる。
図1に示す演算処理装置10は、画像入力部110、処理部100、記憶部120、情報記憶媒体130、表示部140を含む。
画像取得部110は、検出器8から出力された画像データを取り込むことで走査型電子顕微鏡画像(以下、SEM画像という)を取得する処理を行う。取得したSEM画像は記憶部120に記憶される。
記憶部120は、処理部100などのワーク領域となるもので、その機能はRAMなどにより実現できる。
情報記憶媒体130(コンピュータにより読み取り可能な媒体)は、プログラムやデータなどを格納するものであり、その機能は、光ディスク(CD、DVD)、光磁気ディスク(MO)、磁気ディスク、ハードディスク、磁気テープ、或いはメモリ(ROM)などにより実現できる。処理部100は、情報記憶媒体130に格納されるプログラム(データ)に基づいて本実施形態の種々の処理を行う。情報記憶媒体130には、本実施形態の各部としてコンピュータを機能させるためのプログラムを記憶することができる。
表示部190は、例えば、画像取得部110によって取得されたSEM画像や、分解能の評価結果を示す画像を出力するものであり、その機能は、LCD、CRT、或いはタッチパネル型ディスプレイなどにより実現できる。
処理部100(プロセッサ)は、図示しない操作部からの操作データやプログラムなどに基づいて、SEM画像の画像処理、分解能の算出処理、描画処理などの処理を行う。この処理部100は記憶部120をワーク領域として各種処理を行う。処理部100の機能は各種プロセッサ(CPU、DSP等)、ASIC(ゲートアレイ等)などのハードウェアや、プログラムにより実現できる。処理部100は、分割部102、抽出部104、分解能算出部106を含む。
分割部102は、画像取得部110によって取得されたSEM画像を複数の部分領域に分割する処理を行う。なお、取得されたSEM画像が正方形でない場合には、SEM画像を正方形に切出す処理を行った後に、分割処理を行うようにしてもよい。
抽出部104は、画像取得部110によって取得されたSEM画像の信号強度ヒストグラムと、分割部102によって分割された各部分領域の信号強度ヒストグラムを生成する。ここで信号強度ヒストグラムとは、信号強度(画素の輝度信号のレベル)毎の画素数を示すデータである。また抽出部104は、SEM画像の信号強度ヒストグラムと、前記各部分領域の信号強度ヒストグラムとに基づいて、複数の部分領域から、評価対象とする1又は複数の部分領域を抽出する処理を行う。
また抽出部104は、SEM画像の信号強度ヒストグラムに現れる2つのピークのそれぞれに対応する信号強度に基づき信号強度の閾値を求め、求めた閾値と、前記各部分領域の信号強度ヒストグラムとに基づいて、前記各部分領域内に粒子像が存在するか否かを判定し、粒子像が存在しないと判定された部分領域を評価対象から除外するようにしてもよい。
また抽出部104は、SEM画像の信号強度ヒストグラムに現れる2つのピークのそれぞれに対応する画素数の差と、前記各部分領域の信号強度ヒストグラムに現れる2つのピークのそれぞれに対応する画素数の差に基づいて、前記各部分領域において粒子像又は下地の面積が微小であるか否かを判定し、粒子像又は下地の面積が微小であると判定された部分領域を評価対象から除外するようにしてもよい。
また抽出部104は、SEM画像の信号強度ヒストグラムに現れる2つのピークのそれぞれに対応する信号強度の差と、前記各部分領域の信号強度ヒストグラムに現れる2つのピークのそれぞれに対応する信号強度の差に基づいて、前記各部分領域内に画像信号が飽和している箇所が存在するか否かを判定し、画像信号が飽和している箇所が存在すると判定された部分領域を評価対象から除外するようにしてもよい。
分解能算出部106は、抽出部104によって抽出された1又は複数の部分領域(評価対象から除外されていない部分領域)を、2次元フーリエ変換等の手法により周波数解析を行って分解能を算出する。評価対象として抽出された部分領域が複数ある場合には、抽出された各部分領域について周波数解析を行って分解能を算出し、算出された分解能の平均値をもって分解能の最終的な評価結果とする。
2.本実施形態の手法
次に本実施形態の手法について図面を用いて説明する。
次に本実施形態の手法について図面を用いて説明する。
2−1.SEM画像の分割
図3は、本実施形態におけるSEM画像と、分割された複数の部分領域の一例を示す図である。図3に示すように、本実施形態では、画像取得部110によって取得された画像を、短辺の長さに合わせてトリミングすることで正方形のSEM画像SIを得る。そして、正方形のSEM画像SIを、16個の正方形の部分領域PAに分割する。ここでは、SEM画像SIの画像サイズを512×512ピクセルとし、各部分領域PAの画像サイズを128×128ピクセルとしている。SEM画像SIの画像サイズ、分割数、及び各部分領域PAの画像サイズは、これに限られず、SEM画像SI及び各部分領域PAのピクセル数は2N(Nは正の整数)ピクセルであればよい。
図3は、本実施形態におけるSEM画像と、分割された複数の部分領域の一例を示す図である。図3に示すように、本実施形態では、画像取得部110によって取得された画像を、短辺の長さに合わせてトリミングすることで正方形のSEM画像SIを得る。そして、正方形のSEM画像SIを、16個の正方形の部分領域PAに分割する。ここでは、SEM画像SIの画像サイズを512×512ピクセルとし、各部分領域PAの画像サイズを128×128ピクセルとしている。SEM画像SIの画像サイズ、分割数、及び各部分領域PAの画像サイズは、これに限られず、SEM画像SI及び各部分領域PAのピクセル数は2N(Nは正の整数)ピクセルであればよい。
2−2.粒子像の有無及び下地の有無の判定
本実施形態では、SEM画像の信号強度ヒストグラムと各部分領域の信号強度ヒストグラムとに基づいて、評価対象とする部分領域を抽出する。すなわち、複数の部分領域から、分解能評価精度を低下させる要因となり得る部分領域を評価対象から除外し、除外されずに残った部分領域を評価対象として抽出する。
本実施形態では、SEM画像の信号強度ヒストグラムと各部分領域の信号強度ヒストグラムとに基づいて、評価対象とする部分領域を抽出する。すなわち、複数の部分領域から、分解能評価精度を低下させる要因となり得る部分領域を評価対象から除外し、除外されずに残った部分領域を評価対象として抽出する。
図4(A)に、粒子像を含む部分領域を示し、図4(B)に、当該部分領域の信号強度ヒストグラムを示す。また、図5(A)に、粒子像を含まない部分領域を示し、図5(B)に、当該部分領域の信号強度ヒストグラムを示す。
図4(A)、図4(B)に示すように、部分領域PA7は、信号強度の小さい下地と、信号強度の大きい粒子像とを含むため、部分領域PA7の信号強度ヒストグラムには、下地に対応する信号強度の小さい第1のピークPK1と、粒子像に対応する信号強度の大きい第2のピークが現れる。
一方、図5(A)、図5(B)に示すように、部分領域PA12は、信号強度の小さい下地のみを含み、粒子像を含まないため、部分領域PA12の信号強度ヒストグラムには、下地に対応する信号強度の小さい第1のピークPK1のみが現れる。図5(A)に示す部分領域PA12のように粒子像を含まない部分領域や、粒子像のみを含み下地を含まない部分領域は、分解能評価精度を低下させる要因となるため、本実施形態では、粒子像を含まない部分領域、及び下地を含まない部分領域を評価対象から除外する。以下、その手法について説明する。
図6に、SEM画像の信号強度ヒストグラムの一例を示す。本実施形態では、SEM画像の信号強度ヒストグラムにおいて、下地に対応する第1のピークPK1の信号強度をSLOとし、粒子像に対応する第2のピークPK2に対応する信号強度をSHOとし、信号強度の閾値STOを、次式により求める。
STO=(SLO+SHO)/2 (1)
そして、各部分領域の信号強度ヒストグラムにおいて、閾値STOより信号強度が小さい側の画素数の総和S1と、閾値STOより信号強度が大きい側の画素数の総和S2とを
、次式により求める。
そして、各部分領域の信号強度ヒストグラムにおいて、閾値STOより信号強度が小さい側の画素数の総和S1と、閾値STOより信号強度が大きい側の画素数の総和S2とを
、次式により求める。
ここで、H(i)は、各部分領域の信号強度ヒストグラムでの信号強度iに対応する画素数を示し、Tは、信号強度の最大値(例えば、SEM画像の輝度深さが8ビットの場合は、T=255)を示す。
そして、各部分領域について求めた画素数の総和S1、S2から、次式に示す評価用パラメータSrを求め、各部分領域について求めた評価用パラメータSrの値に基づいて、各部分領域について、粒子像の有無及び下地の有無を判定する。
Sr=(S1-S2)/(S1+S2) (4)
すなわち、評価用パラメータSrの値が、Sr=1となる部分領域(S2=0となる部分領域)については、粒子像が存在しないと判定し、Sr=−1となる部分領域(S1=0となる部分領域)については、下地が存在しないと判定し、それぞれ評価対象から除外する。例えば、図5(A)に示す部分領域PA12については、図5(B)に示すように、閾値STOより信号強度が大きい側の画素数の総和S2が0であるため、評価用パラメータSrの値が1となり、粒子像が存在しないと判定されて評価対象から除外される。一方、図4(A)に示す部分領域PA7については、図4(B)に示すように、閾値STOより信号強度が小さい側の画素数の総和S1が0ではなく、また、閾値STOより信号強度が大きい側の画素数の総和S2も0ではないため、粒子像及び下地が存在すると判定される。
すなわち、評価用パラメータSrの値が、Sr=1となる部分領域(S2=0となる部分領域)については、粒子像が存在しないと判定し、Sr=−1となる部分領域(S1=0となる部分領域)については、下地が存在しないと判定し、それぞれ評価対象から除外する。例えば、図5(A)に示す部分領域PA12については、図5(B)に示すように、閾値STOより信号強度が大きい側の画素数の総和S2が0であるため、評価用パラメータSrの値が1となり、粒子像が存在しないと判定されて評価対象から除外される。一方、図4(A)に示す部分領域PA7については、図4(B)に示すように、閾値STOより信号強度が小さい側の画素数の総和S1が0ではなく、また、閾値STOより信号強度が大きい側の画素数の総和S2も0ではないため、粒子像及び下地が存在すると判定される。
このように、本実施形態によれば、SEM画像の信号強度ヒストグラムと各部分領域の信号強度ヒストグラムとに基づいて、各部分領域において粒子像及び下地が存在するか否かを判定することができ、分解能評価精度を低下させる要因なり得る、粒子像を含まない部分領域と下地を含まない部分領域とを評価対象から除外することができる。
なお、評価用パラメータSrの値がほぼ1となる部分領域(例えば、0.9≦Sr<1となる部分領域)や、評価用パラメータSrの値がほぼ−1となる部分領域(例えば、−1<Sr≦−0.9となる部分領域)についても、粒子像の面積が微小である、或いは下地の面積が微小であると判定して、評価対象から除外するようにしてもよい。
2−3.粒子像及び下地の面積が微小であるか否かの判定
図7(A)、図7(B)に、部分領域の画像の一例を示す。図7(A)に示す部分領域は、下地に対して粒子像の面積が極端に小さい。また、図7(B)に示す部分領域は、粒子像に対して下地の面積が極端に小さい。このような部分領域は、分解能評価精度を低下させる要因となるため、本実施形態では、粒子像と下地を含む部分領域であっても、粒子像の面積が微小な部分領域、及び下地の面積が微小な部分領域を評価対象から除外する。以下、その手法について説明する。
図7(A)、図7(B)に、部分領域の画像の一例を示す。図7(A)に示す部分領域は、下地に対して粒子像の面積が極端に小さい。また、図7(B)に示す部分領域は、粒子像に対して下地の面積が極端に小さい。このような部分領域は、分解能評価精度を低下させる要因となるため、本実施形態では、粒子像と下地を含む部分領域であっても、粒子像の面積が微小な部分領域、及び下地の面積が微小な部分領域を評価対象から除外する。以下、その手法について説明する。
図8(A)に、部分領域の信号強度ヒストグラムの一例を示し、図8(B)に、SEM画像の信号強度ヒストグラムの一例を示す。本実施形態では、各部分領域の信号強度ヒストグラムにおいて、下地に対応する第1のピークPK1の画素数(信号強度SLに対応する画素数)をNLとし、粒子像に対応する第2のピークPK2の画素数(信号強度SHに対応する画素数)をNHとし、NLとNHの差NLH(NLH=NL−NH)を求める。同様に、SEM画像の信号強度ヒストグラムにおいて、下地に対応する第1のピークPK1の画素数(信号強度SLOに対応する画素数)をNLOとし、粒子像に対応する第2のピークPK2の画素数(信号強度SHOに対応する画素数)をNHOとし、NLOとNHOの差NLHO(NLHO=NLO−NHO)を求める。
そして、各部分領域について求めたNLHと、SEM画像について求めたNLHOから、次式に示す評価用パラメータCNLHを求め、各部分領域について求めた評価用パラメータCNLHの値に基づいて、各部分領域について、粒子像又は下地の面積が微小であるか否かを判定する。
CNLH=|NLH|-|NLHO| (5)
すなわち、評価用パラメータCNLHの値が、所定値より大きな値となる部分領域については、粒子像又は下地の面積が微小であると判定し、評価対象から除外する。
すなわち、評価用パラメータCNLHの値が、所定値より大きな値となる部分領域については、粒子像又は下地の面積が微小であると判定し、評価対象から除外する。
ここで、SEM画像と部分領域は、画素数の差が大きいため、式(5)の両辺の対数をとって、
log10(CNLH)=log10(|NLH|)-log10(|NLHO|) (6)
とし、log10(CNLH)の値に基づき判定するようにしてもよい。例えば、log10(CNLH)の値がlog10(CNLH)>2となる部分領域については、粒子像又は下地の面積が微小であると判定するようにしてもよい。
log10(CNLH)=log10(|NLH|)-log10(|NLHO|) (6)
とし、log10(CNLH)の値に基づき判定するようにしてもよい。例えば、log10(CNLH)の値がlog10(CNLH)>2となる部分領域については、粒子像又は下地の面積が微小であると判定するようにしてもよい。
このように、本実施形態によれば、SEM画像の信号強度ヒストグラムと各部分領域の信号強度ヒストグラムとに基づいて、各部分領域において粒子像又は下地の面積が微小であるか否かを判定することができ、分解能評価精度を低下させる要因となり得る、粒子像の面積が微小な部分領域と下地の面積が微小な部分領域とを評価対象から除外することができる。
2−4.画像信号の飽和箇所が存在しているか否かの判定
図9に部分領域の画像の一例を示す。また、図10(A)に、当該部分領域の信号強度ヒストグラムを示し、図10(B)に、当該部分領域を含むSEM画像の信号強度ヒストグラムを示す。
図9に部分領域の画像の一例を示す。また、図10(A)に、当該部分領域の信号強度ヒストグラムを示し、図10(B)に、当該部分領域を含むSEM画像の信号強度ヒストグラムを示す。
図9に示す部分領域には、画像信号が飽和している箇所が存在する。そのため、図10(A)に示すように、この部分領域の信号強度ヒストグラムでは、強度信号の最大値付近に第2のピークPK2が現れており、第1のピークPK1の信号強度と、第2のピークPK2の信号強度の差が、SEM画像の信号強度ヒストグラムにおける信号強度の差と比べて大きくなっている。このような部分領域は、分解能評価精度を低下させる要因となるため、本実施形態では、画像信号が飽和している箇所が存在する部分領域を評価対象から除外する。以下、その手法について説明する。
本実施形態では、各部分領域の信号強度ヒストグラムにおいて、下地に対応する第1のピークPK1の信号強度をSLとし、粒子像に対応する第2のピークPK2に対応する信号強度をSHとし、SLとSHの差|SL−SH|を求める(図10(A)参照)。同様に、SEM画像の信号強度ヒストグラムにおいて、下地に対応する第1のピークPK1の信号強度をSLOとし、粒子像に対応する第2のピークPK2に対応する信号強度をSHOとし、SLOとSHOの差|SLO−SHO|を求める(図10(B)参照)。
そして、各部分領域について求めた|SL−SH|と、SEM画像について求めた|SLO−SHO|から、次式に示す評価用パラメータCkを求め、各部分領域について求めた評価用パラメータCkの値に基づいて、各部分領域について、画像信号が飽和している箇所が存在するか否かを判定する。
Ck=(|SL-SH|)/(|SLO-SHO|) (7)
すなわち、評価用パラメータCkの値が、所定の値より大きな値となる部分領域については、画像信号が飽和している箇所が存在すると判定し、評価対象から除外する。
すなわち、評価用パラメータCkの値が、所定の値より大きな値となる部分領域については、画像信号が飽和している箇所が存在すると判定し、評価対象から除外する。
このように、本実施形態によれば、SEM画像の信号強度ヒストグラムと各部分領域の信号強度ヒストグラムとに基づいて、画像信号が飽和している箇所が存在するか否かを判定することができ、分解能評価精度を低下させる要因となり得る、画像信号が飽和している箇所が存在する部分領域を評価対象から除外することができる。
2−5.ノイズが存在する場合における粒子像の有無の判定
図11に、ノイズを多く含み粒子像の面積が小さい(粒子数が少ない)SEM画像の信号強度ヒストグラムの一例を示す。図11に示す信号強度ヒストグラムは、粒子像と下地による2つのピークが現れないヒストグラムとなっている。このような場合には、上述した粒子像の有無の判定手法を用いることができないため、本実施形態では、以下に説明する手法によって、粒子像の有無を判定する。
図11に、ノイズを多く含み粒子像の面積が小さい(粒子数が少ない)SEM画像の信号強度ヒストグラムの一例を示す。図11に示す信号強度ヒストグラムは、粒子像と下地による2つのピークが現れないヒストグラムとなっている。このような場合には、上述した粒子像の有無の判定手法を用いることができないため、本実施形態では、以下に説明する手法によって、粒子像の有無を判定する。
まず、SEM画像の信号強度ヒストグラムにおいて、区間[0、SA0]における面積ΔSがΔS=k・L2を超えない当該区間の信号強度の最大値をSA0とし、区間[SB0、T]における面積ΔSがΔS=k・L2を越えない当該区間の信号強度の最小値をSB0として、SA0とSB0をそれぞれ求める(図11参照)。ここで、kは1未満の係数であり、本実施形態では、k=0.002としている。また、LはSEM画像の一辺の画素数であり、本実施形態では、L=512である。また、Tは、信号強度の最大値であり、本実施形態では、T=255である。このようにすると、SEM画像にノイズがある場合であっても、ヒストグラムの立ち上がり部分の信号強度(SA0に相当)と、立下り部分の信号強度(SB0に相当)を求めることができる。
次に、パラメータCRO、SLO、SHO、STOを、次式により求める。
同様に、各部分領域の信号強度ヒストグラムにおいて、区間[0、SA]における面積ΔSがΔS=k・M2を超えない当該区間の信号強度の最大値をSAとし、区間[SB、T]における面積ΔSがΔS=k・M2を越えない当該区間の信号強度の最小値をSBとして、SAとSBをそれぞれ求める。ここで、Mは部分領域の一辺の画素数であり、本実施形態では、M=128である。そして、パラメータCR、SL、SH、STを、次式により求める。
そして、SEM画像について求めたSA0、SB0、STOと、各部分領域について求めた、SA、SB、STから、次式に示す評価用パラメータChを求め、各部分領域について求めた評価用パラメータChの値に基づいて、粒子像の有無を判定する。
すなわち、評価用パラメータChの値が、Ch≧1/2となる部分領域については、粒子像が存在しないと判定し、評価対象から除外する。
このように、本実施形態によれば、SEM画像の信号強度ヒストグラムにおいて2つのピークが現れない場合であっても、各部分領域内に粒子像が存在するか否かを判定することができる。
3.処理
次に、本実施形態の処理の一例について図12のフローチャートを用いて説明する。
次に、本実施形態の処理の一例について図12のフローチャートを用いて説明する。
まず、画像取得部110は、検出器8から出力された画像データを取り込むことでSEM画像を取得する処理を行う(ステップS10)。次に、処理部100は、変数iに1をセットし(ステップS12)、変数M(評価対象領域数)に1をセットし(ステップS14)、変数N(分割領域数)に16をセットする(ステップS16)。次に、分割部102は、SEM画像をN個の部分領域に分割する処理を行う(ステップS18)。
次に、抽出部104は、i番目の部分領域において粒子像及び下地が存在するか否かを判定する(ステップS20)。すなわち、SEM画像の信号強度ヒストグラムとi番目の部分領域の信号強度ヒストグラムに基づいて、式(4)に示した評価用パラメータSrの値を求め、求めた評価用パラメータSrの値に基づき上記判定を行う。ここで、SEM画像の信号強度ヒストグラムに2つのピークが存在するか否かを判断し、2つのピークが存在しないと判断した場合には、式(16)に示した評価用パラメータChの値に基づき粒子像の有無を判定するようにしてもよい。
粒子像が存在しない、又は下地が存在しないと判定した場合(ステップS22のN)には、ステップS36の処理に進み、粒子像及び下地が存在すると判定した場合(ステップS22のY)には、抽出部104は、i番目の部分領域において粒子像又は下地の面積が微小であるか否かを判定する(ステップS24)。すなわち、式(5)に示した評価用パラメータCNLH、又は式(6)に示したlog10(CNLH)の値に基づき上記判定を行う。
粒子像の面積が微小である、又は下地の面積が微小であると判定した場合(ステップS26のY)には、ステップS36の処理に進み、粒子像及び下地の面積が微小でないと判定した場合(ステップS26のN)には、抽出部104は、i番目の部分領域において画像信号が飽和している箇所が存在するか否かを判定する(ステップS28)。すなわち、式(7)に示した評価用パラメータCkの値に基づき上記判定を行う。
画像信号が飽和している箇所が存在すると判定した場合(ステップS30のY)には、ステップS36の処理に進み、画像信号が飽和している箇所が存在しないと判定した場合(ステップS30のN)には、分解能算出部106は、i番目の部分領域について2次元フーリエ変換等の手法により周波数解析を行って、i番目の部分領域における分解能を算出する(ステップS32)。
次に、処理部100は、評価対象とする部分領域の数を示す変数Mに1を加算し(ステップS34)、変数iの値が分割領域数を示す変数Nの値に達したか否かを判断し(ステップS36)、達していない場合には、変数iに1を加算して(ステップS38)、ステップS20の処理に進む。以降、変数iの値が変数Nの値に達するまでステップS20以降の処理を繰り返す。
変数iの値が変数Nの値に達したと判断した場合には、分解能算出部106は、評価対象とするM個の部分領域における分解能の平均値を算出して、SEM画像全体における分解能を算出する。ステップS32の処理において算出されたM個の部分領域におけるそれぞれの分解能をRK(K=1〜M)とすると、SEM画像全体における分解能Rは、次式により求めることができる。
4.測定結果
図13(A)に示す画像を用いて分解能の測定を行った。図13(A)に示す画像SIは、信号強度の小さい背景に、信号強度の大きい1ピクセルの点を複数箇所に配置し、ガウス関数によるぼかし処理を施した画像である。画像SIでは、信号強度の小さい背景がSEM画像の下地に相当し、信号強度の大きい部分がSEM画像の粒子像に相当する。また、図13(A)に示す画像SIにおける分解能の理論値は2σ=4ピクセルである。
図13(A)に示す画像を用いて分解能の測定を行った。図13(A)に示す画像SIは、信号強度の小さい背景に、信号強度の大きい1ピクセルの点を複数箇所に配置し、ガウス関数によるぼかし処理を施した画像である。画像SIでは、信号強度の小さい背景がSEM画像の下地に相当し、信号強度の大きい部分がSEM画像の粒子像に相当する。また、図13(A)に示す画像SIにおける分解能の理論値は2σ=4ピクセルである。
画像SI全体を周波数解析する従来の手法により分解能を測定したところ、分解能の測定結果は、5.52ピクセルとなり、理論値との誤差は38パーセントであった。一方、画像SIを分割して評価対象とする部分領域を抽出する本実施形態の手法により分解能を測定したところ、分解能の測定結果は、4.02ピクセルとなり、理論値との誤差は0.5パーセントであった。従って、本実施形態の手法により、分解能を高精度に測定できることがわかる。なお、本実施形態の手法では、図13(B)に示すように、粒子像に相当する像が存在する3つの部分領域PA1〜PA3が評価対象として抽出され、部分領域PA1〜PA3について周波数解析が行われた。
なお、本発明は、上述の実施の形態に限定されるものではなく、種々の変形が可能である。本発明は、実施の形態で説明した構成と実質的に同一の構成(例えば、機能、方法及び結果が同一の構成、あるいは目的及び効果が同一の構成)を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成の本質的でない部分を置き換えた構成を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成と同一の作用効果を奏する構成又は同一の目的を達成することができる構成を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成に公知技術を付加した構成を含む。
10 演算処理装置、100 処理部、102 分割部、104 抽出部、106 分解能算出部、110 画像取得部、120 記憶部、130 情報記憶媒体、140 表示部
Claims (10)
- 微粒子を蒸着させた試料を撮像した画像から電子顕微鏡の分解能を評価するためのプログラムであって、
前記撮像した画像を複数の部分領域に分割する分割部と、
前記撮像した画像の信号強度ヒストグラムと、前記各部分領域の信号強度ヒストグラムとに基づいて、前記複数の部分領域から、評価対象とする1又は複数の部分領域を抽出する抽出部と、
前記抽出された1又は複数の部分領域を周波数解析することで分解能を算出する分解能算出部としてコンピュータを機能させるためのプログラム。 - 請求項1において、
前記抽出部は、
前記撮像した画像の信号強度ヒストグラムに現れる2つのピークのそれぞれに対応する信号強度に基づき信号強度の閾値を求め、求めた閾値と、前記各部分領域の信号強度ヒストグラムとに基づいて、前記各部分領域内に粒子像が存在するか否かを判定し、粒子像が存在しないと判定された部分領域を評価対象から除外するプログラム。 - 請求項2において、
前記抽出部は、
前記撮像した画像の信号強度ヒストグラムに現れる2つのピークのそれぞれに対応する信号強度をSLO、SHOとすると、前記閾値STOを、次式
STO=(SLO+SHO)/2
に基づき求め、前記各部分領域の信号強度ヒストグラムにおいて、閾値STOより信号強度が小さい側の画素数の総和をS1とし、閾値STOより信号強度が大きい側の画素数の総和をS2とすると、次式に示す評価用パラメータSrに基づいて、前記各部分領域内に粒子像が存在するか否かを判定するプログラム。
Sr=(S1−S2)/(S1+S2) - 請求項1乃至3のいずれかにおいて、
前記抽出部は、
前記撮像した画像の信号強度ヒストグラムに現れる2つのピークのそれぞれに対応する画素数の差と、前記各部分領域の信号強度ヒストグラムに現れる2つのピークのそれぞれに対応する画素数の差に基づいて、前記各部分領域において粒子像又は下地の面積が微小であるか否かを判定し、粒子像又は下地の面積が微小であると判定された部分領域を評価対象から除外するプログラム。 - 請求項4において、
前記抽出部は、
前記撮像した画像の信号強度ヒストグラムに現れる2つのピークのそれぞれに対応する画素数をNLO、NHOとし、前記各部分領域の信号強度ヒストグラムに現れる2つのピークのそれぞれに対応する画素数をNL、NHとすると、次式に示す評価用パラメータCNLHに基づいて、前記各部分領域において粒子像又は下地の面積が微小であるか否かを判定するプログラム。
CNLH=(|NL−NH|−|NLO−NHO|) - 請求項1乃至5のいずれかにおいて、
前記抽出部は、
前記撮像した画像の信号強度ヒストグラムに現れる2つのピークのそれぞれに対応する信号強度の差と、前記各部分領域の信号強度ヒストグラムに現れる2つのピークのそれぞれに対応する信号強度の差に基づいて、前記各部分領域内に画像信号が飽和している箇所が存在するか否かを判定し、画像信号が飽和している箇所が存在すると判定された部分領域を評価対象から除外するプログラム。 - 請求項6において、
前記抽出部は、
前記撮像した画像の信号強度ヒストグラムに現れる2つのピークのそれぞれに対応する信号強度をSLO、SHOとし、前記各部分領域の信号強度ヒストグラムに現れる2つのピークのそれぞれに対応する信号強度をSL、SHとすると、次式に示す評価用パラメータCkに基づいて、前記各部分領域内に画像信号が飽和している箇所が存在するか否かを判定するプログラム。
Ck=(|SL−SH|)/(|SLO−SHO|) - 請求項1乃至7のいずれかにおいて、
前記抽出部は、
前記撮像した画像の信号強度ヒストグラムにおいて、区間[0、SA0]における面積ΔSがΔS=k・L2(kは1未満の係数、Lは前記撮像した画像の一辺の画素数)を超えない当該区間の信号強度の最大値をSA0とし、区間[SB0、T](Tは信号強度の最大値)における面積ΔSがΔS=k・L2を越えない当該区間の信号強度の最小値をSB0とし、パラメータCRO、SLO、SHO、STOを、次式
前記各部分領域の信号強度ヒストグラムにおいて、区間[0、SA]における面積ΔsがΔs=k・M2(Mは部分領域の一辺の画素数)を超えない当該区間の信号強度の最大値をSAとし、区間[SB、T]における面積ΔsがΔs=k・M2を越えない当該区間の信号強度の最小値をSBとし、パラメータCR、SL、SH、STを、次式
次式に示す評価用パラメータChに基づいて、前記各部分領域内に粒子像が存在するか否かを判定し、粒子像が存在しないと判定された部分領域を評価対象から除外するプログラム。
- コンピュータ読み取り可能な情報記憶媒体であって、請求項1乃至8のいずれかに記載のプログラムを記憶したことを特徴とする情報記憶媒体。
- 微粒子を蒸着させた試料を撮像した画像から電子顕微鏡の分解能を評価する電子顕微鏡の分解能評価方法であって、
前記撮像した画像を複数の部分領域に分割する分割手順と、
前記撮像した画像の信号強度ヒストグラムと、前記各部分領域の信号強度ヒストグラムとに基づいて、前記複数の部分領域から評価対象とする1又は複数の部分領域を抽出する抽出手順と、
前記抽出された1又は複数の部分領域を周波数解析することで分解能を算出する分解能算出手順とを含む、電子顕微鏡の分解能評価方法。
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