JP2011227409A - レーザ走査光学装置 - Google Patents

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義和 渡邊
Takatoshi Hamada
孝利 浜田
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Abstract

【課題】少ない発光点を有する光源を用いて高速描画、高解像度に対応できるレーザ走査光学装置を得る。
【解決手段】ビームAを放射する光源11と、光源11から放射されたビームAをビームA1,A2に分割するビームスプリッタ12と、分割されたビームA1,A2を主走査方向Yに偏向するポリゴンミラー20と、偏向されたビームA1,A2を感光体ドラム102上に結像する走査レンズ21、集光ミラー22と、を備えたレーザ走査光学装置。ポリゴンミラー20は、90°の回転位相を有する偏向面20a,20bを備え、ビームA1は偏向面20aで偏向され、ビームA2は偏向面20bで偏向され、それぞれ、感光体ドラム102上において副走査方向Zに略同一位置に結像される。
【選択図】図2

Description

本発明は、レーザ走査光学装置、特に、電子写真方式による複写機、プリンタなどの画像形成装置に画像書込み手段として搭載されるレーザ走査光学装置に関する。
近年、画像形成の高精細化に伴って複数の発光点を有するマルチビーム光源を用いて、感光体上を複数のビームで同時に走査するレーザ走査光学装置が種々開発されており、ビームの本数は増加の傾向にある。しかし、マルチビーム光源はビーム本数が増加するに伴って高価につき、故障の頻度も高くなる。
そこで、特許文献1では、一つの発光点から放射されたビームを分割し、多段の偏向面を有するポリゴンミラーの各偏向面に入射させ、偏向された複数のビームによって複数の感光体を露光/走査する走査装置及び画像形成装置が記載されている。しかし、この走査装置では一の感光体を露光/走査するビームは一つであり、一の感光体を複数のビームで露光/走査することはなく、高速描画、高解像度を達成することまでも意図していない。
特開2007−279670号公報
そこで、本発明の目的は、一の発光点から放射されるビームを複数に分割して一の感光体を時分割で露光/走査することで高速描画、高解像度に対応できるレーザ走査光学装置を提供することにある。また、本発明の他の目的は、前記目的を達成しつつ、分割されたビームの副走査方向の間隔を補正可能なレーザ走査光学装置を提供することにある。
本発明の一形態であるレーザ走査光学装置は、
1又は複数のビームを放射する光源と、
前記光源から放射されたビームを複数に分割するビーム分割手段と、
分割されたビームを主走査方向に偏向する偏向手段と、
偏向されたビームを被走査面上に結像する結像光学手段と、
を備え、
前記偏向手段は、回転位相の異なる多段の偏向面を有し、分割されたビームが多段の偏向面のそれぞれに入射され、
分割されたビームは被走査面上において副走査方向に略同一位置に結像されること、
を特徴とする。
前記レーザ走査光学装置においては、ビーム分割手段によって一のビームを複数に分割する。そして、分割されたビームを回転位相の異なる多段の偏向面のそれぞれに入射させることで、一の被走査面を時分割で露光/走査することが可能になる。即ち、見掛け上ビーム本数を増大させて一の被走査面を露光/走査することで高速描画、高解像度に対応できる。
前記レーザ走査光学装置において、ビーム分割手段は分割したビームの副走査方向の出射位置を調整可能であること、あるいは、分割したビームを偏向手段の一の偏向面への副走査方向の入射位置を調整可能であること、が好ましい。これにて、多段の偏向面の回転位相の誤差に起因する、分割されたビームの副走査方向の間隔を補正することができる。
本発明によれば、一の発光点から放射されるビームを複数に分割して一の感光体を時分割で露光/走査することで高速描画、高解像度に対応することができる。また、分割されたビームの副走査方向の間隔を補正することができる。
第1実施例であるレーザ走査光学装置を搭載した画像形成装置の概略構成図である。 第1実施例であるレーザ走査光学装置を示し、(A)は副走査方向の断面で見た光路を示す説明図、(B)は概略平面図である。 感光体ドラム上でのビームの走査状態を示す説明図である。 光源の二つの発光点から放射されたビームをそれぞれ分割した場合の走査状態を示す説明図である。 分割されたビームの他の光路を示す説明図である。 ポリゴンミラーの多段偏向面での回転位相の精度による印字画像の状態を示す説明図である。 第2実施例であるレーザ走査光学装置を示し、(A)は副走査方向の断面で見た光路を示す説明図、(B)は概略平面図である。 同期信号を示すチャート図である。 感光体ドラム上でのビームの結像状態を示す説明図である。 第2実施例であるレーザ走査光学装置の制御手順を示すフローチャート図である。
以下、本発明に係るレーザ走査光学装置の実施例について添付図面を参照して説明する。なお、各図において、共通する部品、部分は同じ符号を付し、重複する説明は省略する。
(画像形成装置の概略構成、図1参照)
画像形成装置は、図1に示すように、シアン、マゼンタ、イエロー、ブラックの画像を形成する画像形成ステーション101を並設した、タンデム方式を採用したものである。各ステーション101は、感光体ドラム102を中心として構成され、帯電器103、現像器104、転写器105を備えている。また、各ステーション101の直下には中間転写ベルト120が無端状に矢印Z方向に回転駆動可能に設置されている。なお、図1において、各符号の末尾に付されたC,M,Y,Kはそれぞれシアン、マゼンタ、イエロー、ブラックの画像を形成するための部材であることを示している。
各ステーション101においては、レーザ走査光学装置1によって感光体ドラム102上に静電潜像が形成され、現像されたトナー像は中間転写ベルト120上に1次転写されて合成される。その後、合成画像は、給紙部130から1枚ずつ搬送されてきた用紙上に転写ローラ122から付与される電界によって2次転写される。このような電子写真法による画像形成プロセスは周知であり、詳細な説明は省略する。
(第1実施例、図2〜図3参照)
第1実施例であるレーザ走査光学装置1は、図2(A),(B)に示すように、概略、光源11、ビーム分割手段としてのビームスプリッタ12、ポリゴンミラー20、走査レンズ21、集光ミラー22、主走査方向Yの同期信号を生成するためのビーム検出センサ(フォトダイオード)31などで構成されている。なお、光路を折り曲げるための図示しないミラーも適宜配置されている。感光体ドラム102上に画像(静電潜像)を形成するためのこれらの光学系の基本的な構成は周知である。
光源11は、単一の発光点を有するレーザダイオードであり、放射されたビームAは発散光であるため、図示しないコリメータレンズによって平行光に整形される。ビームスプリッタ12は入射したビームAを透過するビームA1と反射されたビームA2とに分割する。反射/分割されたビームA2はミラー13で反射され、透過したビームA1と同方向に進行する。ポリゴンミラー20は、90°の回転位相を有する2段の偏向面20a,20bを有している。ビームA1は偏向面20aに入射し、ビームA2は偏向面20bに入射し、それぞれ、主走査方向Yに等角速度で偏向される。その後、ビームA1,A2は走査レンズ21を透過し、集光ミラー22で光路を折り曲げかつ集光されて感光体ドラム102上で副走査方向Zに同一位置で結像した状態で走査/露光する。走査レンズ21は主に主走査方向Yにパワーを有するfθ光学素子である。また、ビームスプリッタ12の後段には、図示しないが、ビームA1,A2を副走査方向Zに集光するシリンドリカルレンズが配置されている。
また、ビーム検出センサ31は、主走査方向Yの始端側であって走査レンズ21を透過したビームA1,A2を検出する。ビーム検出センサ31からの検出信号は図示しない制御部に入力され、主走査方向Yの同期信号(SOS信号とも称する)が生成される。
ビームスプリッタ12で分割されたビームA1,A2は、図3(A)に示すように、感光体ドラム102上を主走査方向Yに関して時分割されて走査する。そして、ビームA1,A2は、感光体ドラム102の副走査方向Zへの回転により、図3(B)に示すように、副走査方向ZにピッチPで結像し、感光体ドラム102上に2次元の画像(静電潜像)を形成する。
本第1実施例においては、見掛け上、一つのビームをビームA1,A2に分割し、90°の回転位相を有する偏向面20a,20bに入射させることで、時分割して感光体ドラム102上を露光/走査する。これにて、2倍の高速描画、2倍の高解像度とすることができる。
(変形例、図4及び図5参照)
なお、光源11は必ずしも単一のビームを放射するものに限らず、複数のビームを同時に放射するマルチビーム光源であってもよい。例えば、光源から2ビームが放射され、二つずつのビームA1,A2,B1,B2に分割された場合は、図4(A)に示すように、感光体ドラム102上を主走査方向Yに関して時分割されて走査する。そして、ビームA1,A2,B1,B2は、感光体ドラム102の副走査方向Zへの回転により、図4(B)に示すように、副走査方向ZにピッチPで結像し、感光体ドラム102上に2次元の画像(静電潜像)を形成する。
また、図5に示すように、ビームスプリッタ12のミラー13によって傾斜した状態で反射してもよい。この場合は、結像位置が一致する箇所Dに感光体ドラム102の表面を配置すればよい。
(偏向面の面位相誤差、図6参照)
ところで、前記ポリゴンミラー20にあっては、偏向面20a,20bの回転位相が90°で誤差なく製作されている場合、感光体ドラム102上に形成された画像は、図6(A)に示すように、副走査方向ZにビームA1,A2の順序で隙間なく形成される。しかし、製造誤差で回転位相が例えば86.4°となった場合、図6(B)に示すように、ビームA2,A1とに隙間が生じ、ピッチむらとして画像劣化となる。次に、このようなピッチむらを解消するための第2実施例を説明する。
(第2実施例、図7〜図10参照)
第2実施例としてのレーザ走査光学装置1は、基本的には前記第1実施例と同様の構成からなり、異なる点を図7(A),(B)に示す。即ち、図7(A)に示すように、ビームスプリッタ12のミラー13をねじ部材14に取り付け、ねじ部材14をステッピングモータ15で回転駆動することにより、ミラー13を副走査方向Zに微調整可能にした。ミラー13の反射位置を副走査方向Zに可変することで、分割されたビームA2の感光体ドラム102上での結像位置が副走査方向Zに補正される。
また、図7(B)に示すように、ポリゴンミラー20で偏向されたビームA1,A2を二つのビーム検出センサ32,33で検出するようにした。センサ32はビームA1を検出して検出信号SOS1を制御部40に出力する。センサ33はビームA2を検出して検出信号SOS2を制御部40に出力する。
制御部40は、図8に示すように、信号SOS1及び信号SOS2から両者の間隔比率を以下の式(1)から求める。
SOS間隔比率=SOS間隔A/SOS間隔B …(1)
SOS間隔A:SOS1からSOS2までの時間T1に相当
SOS間隔B:SOS2からSOS1までの時間T2に相当
偏向面20a,20bの回転位相が90°に精度よく製作されている場合、前記式(1)による計算の結果、SOS間隔比率は0.5になる。この場合、図9に示すように、感光体ドラム102上でのビームA1,A2は所定ピッチPで結像する。しかし、0.5以外であれば、例えば、0.48であれば、ピッチP’となってピッチむらが発生する。この場合は、ステッピングモータ15を時計回り方向(以下、CWと記す)に所定ステップ数回転させ、ミラー13を13’(図7(A)参照)位置まで移動させることにより、ピッチPに補正することができる。仮に、算出されたSOS間隔比率が0.5を超えている場合は、ステッピングモータ15を反時計回り方向(以下、CCWと記す)に所定ステップ数回転させ、ミラー13を図7(A)中下方に移動させ、ピッチPとなるように補正する。
制御部40による制御手順を図10に示す。まず、信号SOS1,SOS2を検出し(ステップS1)、前記式(1)を用いてSOS間隔比率を算出する(ステップS2)。次に、SOS間隔比率が所定値0.5であるか否かを判断し(ステップS3)、0.5であれば、ステッピングモータ15を駆動することなく、そのまま終了する。比率が0.5以下であると(ステップS4でYES)、ステッピングモータ15の回転方向をCWに設定し(ステップS5)、算出された比率と0.5との差に基づいてモータ15を駆動するステップ数を算出する(ステップS6)。次に、ステッピングモータ15を算出されたステップ数だけCW方向に駆動する(ステップS7)。
一方、比率が0.5以上であると(ステップS4でNO)、ステッピングモータ15の回転方向をCCWに設定し(ステップS8)、算出された比率と0.5との差に基づいてモータ15を駆動するステップ数を算出する(ステップS9)。次に、ステッピングモータ15を算出されたステップ数だけCCW方向に駆動する(ステップS10)。
以上の制御によって、多段の偏向面20a,20bの回転位相の誤差に起因する、分割されたビームA1,A2の副走査方向ZのピッチPを補正することができる。
(他の実施例)
なお、本発明に係るレーザ走査光学装置は前記実施例に限定するものではなく、その要旨の範囲内で種々に変更できることは勿論である。
以上のように、本発明は、レーザ走査光学装置に有用であり、特に、少ない発光点を有する光源を用いて高速描画、高解像度に対応できる点で優れている。
1…レーザ走査光学装置
11…光源
12…ビームスプリッタ
13…ミラー
15…ステッピングモータ
20…ポリゴンミラー
21…走査レンズ
22…集光ミラー
31,32,33…ビーム検出センサ(SOSセンサ)
40…制御部
102…感光体ドラム
A,A1,A2…ビーム
Y…主走査方向
Z…副走査方向

Claims (5)

  1. 1又は複数のビームを放射する光源と、
    前記光源から放射されたビームを複数に分割するビーム分割手段と、
    分割されたビームを主走査方向に偏向する偏向手段と、
    偏向されたビームを被走査面上に結像する結像光学手段と、
    を備え、
    前記偏向手段は、回転位相の異なる多段の偏向面を有し、分割されたビームが多段の偏向面のそれぞれに入射され、
    分割されたビームは被走査面上において副走査方向に略同一位置に結像されること、
    を特徴とするレーザ走査光学装置。
  2. 前記ビーム分割手段は分割したビームの副走査方向の出射位置を調整可能であること、を特徴とする請求項1に記載のレーザ走査光学装置。
  3. 前記ビーム分割手段は分割したビームを前記偏向手段の一の偏向面への副走査方向の入射位置を調整可能であること、を特徴とする請求項1に記載のレーザ走査光学装置。
  4. 前記偏向手段によって偏向された複数のビームをそれぞれ検出する検出手段と、
    前記検出手段の検出信号に基づいて主走査方向の同期信号を制御する制御手段と、
    を備えたことを特徴とする請求項1ないし請求項3のいずれかに記載のレーザ走査光学装置。
  5. 前記制御手段は、前記同期信号に基づいて各ビームの相対位置を算出し、算出された相対位置に基づいて分割したビームの副走査方向の出射位置又は分割したビームの前記偏向手段の一の偏向面への副走査方向の入射位置を変更すること、を特徴とする請求項4に記載のレーザ走査光学装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101925301B1 (ko) * 2016-12-19 2018-12-05 애니모션텍 주식회사 멀티 라인 이미징 시스템

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