JP2011196809A - X線検査装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】輝度毎データLD2において被検査物に対応する階調情報から当該被検査物が載置されたベルトコンベアに対応する階調情報を減ずる補正が補正部260により行われる。当該補正は、素子配設方向の各位置に応じた補正量HRを用いて行われる。補正量HRは、素子配設方向の各位置におけるX線透過距離および当該素子配設方向の位置に対応するベルトコンベアの厚さに基づいて決定される。
【選択図】図3
Description
本実施形態では、被検査物900に対応する階調情報から当該被検査物900が載置されたベルトコンベア800に対応する階調情報を減ずる補正が補正部260により行われる。この場合、被検査物900の階調情報から当該被検査物900が載置されたベルトコンベア800の階調情報を減ずる補正を行うことによって、被検査物900に対応する正確な階調情報を得ることができる。よって、このような補正後の階調情報に基づいて、被検査物900の重量推定およびランク判定の処理を精度良く行うことができる。以下、効果の一例を説明する。
上記実施形態においては、X線検査装置100がX線検査装置に相当し、X線照射装置200がX線源に相当し、被検査物900が被検査物に相当し、X線210がX線に相当し、ベルトコンベア800が搬送部に相当し、検出データKDa、KDdおよび輝度毎データLD1、LD2が検出データに相当し、ラインセンサ220が検出器に相当し、補正部260が補正部に相当し、搬送方向d1が被検査物の搬送方向に相当し、素子配設方向d2が搬送方向と直交する方向に相当し、補正量HRが補正量に相当し、記憶部261が記憶部に相当し、エンコーダ101がエンコーダに相当し、重量推定部270が重量推定部に相当し、ランク判定部280がランク判定部に相当する。
なお、上述したように、ベルトコンベア800のベルト(図示せず)の厚さによってX線透過距離が異なるので、例えばベルト上の粉塵等の異物または当該ベルトに付された1または複数のマーカ等が存在する場合には、これらを考慮して補正量HRを決定することが好ましい。それにより、より正確な被検査物900の階調情報を得ることができる。
101 エンコーダ
200 X線照射装置
210 X線
220 ラインセンサ
220a、220b 検出素子
260 補正部
261 記憶部
270 重量推定部
280 ランク判定部
800 ベルトコンベア
900 被検査物
d1 搬送方向
d2 素子配設方向
HR、HR1 補正量
KDa、KDd 検出データ
LD1、LD2 輝度毎データ
MT 入力表示部
Claims (5)
- X線源から照射されるX線を用いて、搬送部により搬送される被検査物を検査するX線検査装置であって、
前記X線源から照射され、前記被検査物を透過したX線を検出して検出データを生成する検出器と、
前記被検査物に対応する前記検出データから当該被検査物が載置された前記搬送部に対応する階調情報を調整する補正を行う補正部と、を備えたことを特徴とするX線検査装置。 - 前記補正部は、前記被検査物の搬送方向と直交する方向の搬送位置に応じて前記補正を行うことを特徴とする請求項1に記載のX線検査装置。
- 前記補正部による補正量を予め記憶する記憶部をさらに備え、
前記補正部は、前記記憶部に記憶された前記補正量を用いて前記検出データの補正を行うことを特徴とする請求項1または請求項2に記載のX線検査装置。 - 前記搬送部は、ベルトコンベアからなり、
前記ベルトコンベアの移動量を検出するエンコーダをさらに備え、
前記補正部は、前記エンコーダの検出結果に基づいて前記補正量を再設定することを特徴とする請求項3に記載のX線検査装置。 - 前記補正部による補正後の検出データの階調情報に基づいて前記被検査物の重量を推定する重量推定部と、
前記重量推定部により推定された前記被検査物の重量が、予め設定された複数の階級のうちいずれの階級に属するものであるかについて判定するランク判定部と、をさらに備えたことを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか1項に記載のX線検査装置。
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015203574A (ja) * | 2014-04-11 | 2015-11-16 | イメージテック株式会社 | X線検査装置及びx線感度補正方法 |
JP2018004352A (ja) * | 2016-06-29 | 2018-01-11 | アンリツインフィビス株式会社 | X線検査装置 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63293450A (ja) * | 1987-05-27 | 1988-11-30 | Hitachi Plant Eng & Constr Co Ltd | かんきつ類の品質選別方法 |
JP2006081972A (ja) * | 2004-09-14 | 2006-03-30 | Ishida Co Ltd | 検査振分装置 |
JP2007051978A (ja) * | 2005-08-19 | 2007-03-01 | Futec Inc | X線透過法を用いた塗工シートの測定装置および測定方法 |
JP2008116465A (ja) * | 2007-12-03 | 2008-05-22 | Anritsu Sanki System Co Ltd | X線検査装置 |
WO2008096787A1 (ja) * | 2007-02-08 | 2008-08-14 | Ishida Co., Ltd. | 重量検査装置およびこれを備えた重量検査システム |
WO2009041393A1 (ja) * | 2007-09-26 | 2009-04-02 | Ishida Co., Ltd. | 検査装置 |
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Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63293450A (ja) * | 1987-05-27 | 1988-11-30 | Hitachi Plant Eng & Constr Co Ltd | かんきつ類の品質選別方法 |
JP2006081972A (ja) * | 2004-09-14 | 2006-03-30 | Ishida Co Ltd | 検査振分装置 |
JP2007051978A (ja) * | 2005-08-19 | 2007-03-01 | Futec Inc | X線透過法を用いた塗工シートの測定装置および測定方法 |
WO2008096787A1 (ja) * | 2007-02-08 | 2008-08-14 | Ishida Co., Ltd. | 重量検査装置およびこれを備えた重量検査システム |
WO2009041393A1 (ja) * | 2007-09-26 | 2009-04-02 | Ishida Co., Ltd. | 検査装置 |
JP2008116465A (ja) * | 2007-12-03 | 2008-05-22 | Anritsu Sanki System Co Ltd | X線検査装置 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015203574A (ja) * | 2014-04-11 | 2015-11-16 | イメージテック株式会社 | X線検査装置及びx線感度補正方法 |
JP2018004352A (ja) * | 2016-06-29 | 2018-01-11 | アンリツインフィビス株式会社 | X線検査装置 |
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