JP2011187697A - 半導体パッケージの組立方法 - Google Patents

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Abstract

【目的】少ない接着剤で樹脂ケースと樹脂キャップを機密性よく固着できる半導体パッケージの組立方法を提供する。
【解決手段】樹脂ケース1に形成された溝2に樹脂キャップ4の外周部のリブ5を嵌合させ、接着剤10で両者を固着させて形成される半導体パッケージにおいて、リブ5に傾斜面6を設けて接着空間12を逆三角形(上部が広く下部が狭い)にし、さらにリブ5の底面8と溝2の底面7に隙間9を設けて接着剤10aを逆三角形の接着空間12の底に押し出し塗布した接着剤10aを溜め、さらに溜まった接着剤10aが毛管管現象で隙間9に侵入した後、接着剤10aを硬化させる。これによって、少ない接着剤10aで樹脂キャップ4のリブ5と樹脂ケース1の溝2を硬化させた接着剤10で強固に固着させることができる。
【選択図】 図1

Description

この発明は、圧力センサなどの半導体装置に用いられる半導体パッケージの組立方法に係わり、特に、半導体パッケージを構成する蓋(キャップ)を機密性よくハウジング(ケース)に固着できる半導体パッケージの組立方法に関する。
図10は、圧力センサに用いられる半導体パッケージ500の構成図であり、同図(a)は要部平面図、同図(b)は同図(a)のX−X線で切断した要部断面図である。
半導体パッケージ500は樹脂ケース51と樹脂キャップ54で構成される。樹脂ケース51には半導体チップ70と接続するリード72が設けられている。圧力センサの樹脂ケース51には凹部71が形成され、圧力センサチップ(半導体チップ70)を凹部71の底に固着し、上から樹脂キャップ54が被せられる。この樹脂キャップ54の外周部は樹脂ケース51に形成された凹部71を囲む溝52に嵌合され、この溝52に接着剤を充填し、硬化させた接着剤60で樹脂キャップ54は樹脂ケース51に機密性よく固着される。
図11は、半導体パッケージの樹脂ケースと樹脂キャップの固着部分の拡大図である。樹脂ケース51の溝52に樹脂キャップ54が配置され、樹脂ケース51の溝52の内側の側壁53aに樹脂キャップ54の凸部であるリブ55の内側の側壁63が接触している(図では分かり易くするため離して示している)。このリブ54の外側の側壁56と樹脂ケース51の溝52の外側の側壁53は離れていることで断面形状が四角形の接着空間62がつくられている。
この接着空間62に液状の接着剤を充填し、この液状の接着剤を硬化させることで、リブ55の外側の側壁56と樹脂ケース51の溝54の外側の側壁53は接着剤60で固着される。
図12は、接着剤を接着空間に充填する様子を示した図である。塗布装置66のノズル67を接着空間62の上方に配置し、ノズル67の先端から液状の樹脂剤10aが接着空間62に押し出し塗布される。この接触空間62は平面形状が環状の溝52の上で樹脂ケース51の外側の側壁53と樹脂キャップ54のリブ55の外側の側壁56に挟まれた箇所に形成される。そのため、ノズル66はこの環状に形成された接続空間62上を掃引する。
図13は、接着剤の塗布後の状態を示す図である。液状の接着剤60aを接着空間62に押し出し塗布する。この液状の接着剤60aの上部の断面形状はリブ55の外側の側壁56と樹脂ケース51の溝52の外側の側壁53に接触している箇所が高くなり接着剤60aの中心は低くなる。これは硬化した後の接着剤60の形状でもある。この後で液状の接着剤60aを硬化させ接着剤60で樹脂キャップ54と樹脂ケース51を固着する。
特許文献1には、図14に示すように、樹脂からなるハウジング81に開口部の幅が底部の幅よりも広い溝83が設けられ、この溝83において樹脂からなるフタ82の縁部84と接着剤85により固着することが記載されている。
また、特許文献2には、図15に示すように、絶縁基体86の上面外周に凸部87を有し、上面外周部に傾斜部88を有し、この87と88との間に接着剤89を塗布して固着することが記載されている。
また、特許文献3には、図16に示すように、傾斜を有する溝91を備えたケース92と蓋93を接着剤94を塗布して固着することが記載されている。
特許第3427523号公報 特開2006−185956号公報 特開2002−334944号公報
しかし、前記した図13の組立方法ではつぎのような不具合が生じる。
図17は、ノズルの先端が位置ずれを起こした場合の図であり、同図(a)はノズルの先端が樹脂キャップ寄りに位置した場合の図、同図(b)はノズルの先端が樹脂ケース寄り位置した場合の図である。
ノズル67の先端が、同図(a)に示すように樹脂キャップ54の外周部上に位置したとき、接着剤60aの一部は樹脂キャップ64の外周部上に押し出し塗布されることになる。また同図(b)に示すように樹脂ケース51寄りに位置した場合は接着剤60aの一部が樹脂ケース51上に塗布されることになる。いずれの場合も接着剤60aが余分に必要になり、また接着剤60aによる樹脂キャップ54と樹脂ケース51の接着箇所に充分に接着剤60aが行き渡らないという不具合を生じる。
また、特許文献1は、構成としては本発明と同じであるが、方法は溝84に接着剤85を入れた後に蓋82の端部を挿入するものであり、本発明の工程とは異なる。
また、特許文献2では、蓋90の上面に傾斜を設けており、開口部を広げることにより、塗布できる接着剤89の量を増やし、機密性を向上し、生産性も良好な装置となるとしているが、本発明のように毛細管現象を用いて蓋90の下に接着剤89を入れ込み、少ない接着剤89で固着することについては記載されていない。
また、特許文献3では、本発明と同様に溝91の底部に行くほど幅が狭くなることが記載されており、本発明と同様に接着剤94を少なくできるという効果を奏することが記載されているが、本発明のようには接着剤94が塗布し易い傾斜になっていない。また本発明のように毛細管現象を利用して接着剤94を接着面に付着させることについては記載されていない。
この発明の目的は、前記の課題を解決して、少ない接着剤で樹脂ケースと樹脂キャップを機密性よく固着できる半導体パッケージの組立方法を提供することにある。
前記の目的を達成するために、特許請求の範囲の請求項1に記載の発明によれば、ケースに形成された環状の溝にキャップの外周部に形成されたリブを嵌合し接着剤で前記溝と前記リブを接着させる半導体パッケージであって、前記リブの表側または前記環状の溝の外側の側壁もしくは両者の表面に傾斜面を設け、前記リブと前記溝で囲まれる接着空間の断面形状を逆三角形にし、前記リブの底面と前記溝の底面の間に隙間を設け、該隙間より高く前記接触空間に液状の接着剤を溜め、前記隙間に前記液状の接着剤が毛細管現象により侵入した後、前記接着剤を硬化させることで前記キャップと前記ケースを固着することを特徴とする半導体パッケージの組立方法とする。
また、特許請求の範囲の請求項2記載の発明によれば、請求項1に記載の発明において、前記ケースおよび前記キャップが樹脂で形成されるとよい。
また、特許請求の範囲の請求項3に記載の発明によれば、請求項1に記載の発明において、前記隙間の間隔が、0.01mm〜0.5mmであるとよい。
また、特許請求の範囲の請求項4に記載の発明によれば、請求項1に記載の発明において、前記リブの底面の幅が、0.5mm〜2mmであるとよい。
また、特許請求の範囲の請求項5に記載の発明によれば、請求項1に記載の発明において、前記傾斜面の角度が、前記ケースの裏面の平坦面を基準とした垂直線に対して30°〜60°であるとよい。
この発明によれば、ケースに形成された溝にキャップの外周部のリブを嵌合させ、接着剤で両者を固着させて形成される半導体パッケージにおいて、リブ(または溝もしくは両者)に傾斜面を設けて接着空間を逆三角形(上部が広く下部が狭い)にし、さらにリブの底面と溝の底面に隙間を設けて接着剤を逆三角形の接着空間の底に押し出し塗布した接着剤を溜め、さらに溜まった接着剤を毛細管現象で隙間に侵入させて接着剤を硬化させる。これによって、少ない接着剤でキャップのリブとケースの溝を強固に固着させることができる。
その結果、機密性のよい固着が出来ると同時に接着剤の量を減らすことで、製造コストを低減できる。
また、傾斜面を設けることで、塗布装置のノズルの先端と接着空間の位置あわせずれの許容量を大きくすることができる。
本発明の組立方法で組み立てられた半導体パッケージ100の要部断面図である この発明の第1実施例の半導体パッケージの組立方法を示す要部工程断面図である。 図2に続く、半導体パッケージの組立方法を示す要部工程断面図である。 図3に続く、半導体パッケージの組立方法を示す要部工程断面図である。 図4に続く、半導体パッケージの組立方法を示す要部工程断面図である。 図5に続く、半導体パッケージの組立方法を示す要部工程断面図である。 図6に続く、半導体パッケージの組立方法を示す要部工程断面図である。 この発明の第2実施例の半導体パッケージ200の要部工程断面図である。 この発明の第3実施例の半導体パッケージ300の要部工程断面図である。 圧力センサに用いられる半導体パッケージ500の構成図であり、(a)は要部平面図、(b)は(a)のX−X線で切断した要部断面図である。 半導体パッケージの樹脂ケースと樹脂キャップの固着部分の拡大図である。 接着剤を接着空間に充填する様子を示した図である。 接着剤の塗布後の状態を示す図である。 特許文献1に示される半導体パッケージの要部断面図である。 特許文献2に示される半導体パッケージの要部断面図である。 特許文献3に示される半導体パッケージの要部断面図である。 ノズルの先端が位置ずれを起こした場合の図であり、(a)はノズルの先端が樹脂キャップ寄りに位置した場合の図、(b)はノズルの先端が樹脂ケース寄り位置した場合の図である。
実施の形態を以下の実施例で説明する。
図1は、図2〜図7の本発明の組立方法で組み立てられた半導体パッケージ100の要部断面図である。この図は樹脂ケース1に形成された溝2と樹脂キャップ4のリブ5の箇所を拡大した図である。
この半導体パッケージ100は、図10で示した、半導体パッケージ500の溝52と同様に平面形状が環状の溝2を有する樹脂ケース1と傾斜面6があるリブ5を有する樹脂キャップ4で構成され、溝2の底面7にリブ5の底面8は接着剤10で固着される。リブ5に傾斜面6があるため、リブ5の傾斜面6と溝2の側壁3(外側)および底面7で囲まれる接着空間12(液状の接着剤10aが溜まる空間)の断面形状は上部の開口部11が広い逆三角形となる。また、溝2の底面7とリブ5の底面8の間には毛細管現象を起こす隙間9が設けられる。樹脂ケース1には図示しない半導体チップが固着する凹部が形成され、この凹部を囲む環状の溝2が形成される。この溝2は垂直な側壁3(外側)と側壁3a(内側)および平坦な底面7からなる凹部である。
樹脂キャップ4の外周部に形成されるリブ5(凸部)を溝2に嵌合し、リブ5の底面8と溝2の底面7の間には隙間9が形成されるように設計する。この隙間9に点線で示す液状の接着剤10aを侵入させて、液状の接着剤10aを硬化させ、斜線で示す硬化した接着剤10で溝2の底面7とリブ5の底面8を固着する。この溝2の底面7とリブ5の底面8の互いに対向する面積が大きいほど接着強度が増すが、その分樹脂ケース2の大きさが増大しコスト高になる。
また、接着空間12の底の付近に溜まった液状の接着剤10aはリブ5の傾斜面6と溝2の側壁3に接触して更に樹脂ケース1と樹脂キャップ4の接着強度は強化される。
リブ5の底面8と溝2の底面7を接着剤10で固着させるので、接着剤10(10a)の量は極めて少ない量にできる。
また、リブ5の表側に傾斜面6を設けているので、図示しない塗布装置のノズル位置が多少ずれても、確実にノズル先端を接着空間12上に位置させることができる。
また、傾斜面6を設けたため、塗布装置のノズルから押し出し塗布された液状の接着剤10aが傾斜面6に接触しても重力により接着空間12の底に向って流れ、接着空間12の底に到達した液状の接着剤10aは底に溜まり、リブ5の底面8と溝2の底面7との間に設けた隙間9に毛細管現象により侵入し、底面同士を確実に固着する。このとき、隙間9に侵入する前の液状の接着剤10aの溜まりの高さは接着空間12の1/3以下で隙間9以上にする。隙間9に侵入した接着剤10aで底面同士が接着していれば樹脂ケース1と樹脂キャップ4の接着強度は得られるが、溜まり箇所での接着はこれを補強する。補強の程度は接着空間12の1/3以下で充分である。また溜まりの高さが隙間9より狭い場合は毛細管現象を利用しても充分隙間9に接着剤10aが侵入しなくなる。
この底面同士の隙間9は、液状の接着剤10aが毛細管現象が起こる大きさにする必要があり、隙間9の間隔を0.01mm〜0.5mmとする。好ましくは0.3mm程度がよい。隙間9間隔が0.01mm未満では隙間9が狭すぎてこの隙間9に侵入する接着剤10aの量が少なすぎて接着強度が低下する。0.5mmを超えると毛細管現象が起こりにくくなり、接着剤10aが隙間9全域に侵入しなくなりやはり接着強度が低下する。
前記の液状の接着剤10aの粘度は0.1PaS(パスカル秒)程度である。
また、リブ5の底面8の幅Wは、0.5mm〜2mmの範囲にするとよく、好ましくは1.5mm程度がよい。この幅Wは0.5mm未満ではリブ5の樹脂成型が困難になることと、接着強度が弱くなり過ぎる。また2mmを超えるとリブ5の厚さが厚過ぎて熱膨張によりリブ5にクラックが入り易くなる。
また、傾斜面6の角度θは、接着剤10aが重力で接着空間12の底に流れてゆく角度にする必要があり、前記ケースの裏面の平坦面を基準とした垂直線(溝2の側壁3)に対して30°〜60°にする。好ましくは45°程度がよい。角度θが30°未満では、接着空間12の上側の面積が小さくなり、図示しない塗布装置のノズルの位置ずれの許容量が小さくなり、高い位置合わせ精度が必要になり塗布装置のコストが高くなる。また、角度θが60°を超えると接着剤10aが傾斜面6を滑り落ちにくくなり、環状の溝に均一に接着剤を滴下・塗布させることが困難になる。
また、リブ5の裏面側の外周部にも傾斜面を設けることで、リブ5を溝2に嵌合し易くすることができる。このとき、溝2の内側の側壁3aにリブ5の内側の傾斜面13と平坦面14の交わる箇所15が接触して樹脂ケース1と樹脂キャップ4が位置決めされる。
図2〜図7は、この発明の第1実施例の半導体パッケージの組立方法を示す要部組立工程断面図である。尚、半導体パッケージの詳細な説明は図1に記載されている。
樹脂ケース1の環状の溝2に樹脂キャップ4のリブ5を嵌合する(図2)。
つぎに、塗布装置16のノズル17の先端部18を接着空間12の上部の開口部11内に位置させる(図3)。
つぎに、塗布装置16のノズル17から液状の接着剤10aをリブ5の傾斜面6に押し出し塗布する。このときノズル17は環状の溝2上を掃引するようにする(図4)。
つぎに、押し出し塗布された接着剤10aは重力により傾斜面6を滑り落ちてゆき接着空間12の底に溜まる(図5)。
つぎに、溜まった接着剤10aは毛細管現象でリブ5の底面8と溝2の底面8の隙間9に侵入する(図6)。
つぎに、液状の接着剤10aを固化して、リブ5の底面8と溝2の底面7を固化した接着剤10で固着する(図7)。
本発明は、圧力センサ以外の半導体パッケージにも適用できて、塗布装置16のノズル17に位置ずれがあった場合でも、確実に接着空間12にノズル17から液状の接着剤10aが押し出し塗布され、接着空間12の底面に液状の接着剤10aを溜めることができ、且つ、樹脂ケース1の溝2の底面7と樹脂キャップ4外周のリブ5の底面8との隙間9に液状の接着剤10aを毛細管現象で侵入させ、接着剤10aで樹脂ケース1と樹脂キャップ4を確実に固着できる半導体パッケージ100およびその組立方法を提供できる。
図8は、この発明の第2実施例の半導体パッケージ200の組立方法を示す要部組立工程断面図である。この工程断面図は組立終了後の断面図である。第1実施例との違いは、傾斜面6,6aを樹脂キャップ4と樹脂ケース1aの双方に設けた点である。
傾斜面6,6aをリブ5と溝2a(外側の側壁)の双方に設けることで、実施例1の場合より塗布装置16のノズル17の位置合わせの範囲が広くなり、ノズル17の位置ずれの許容量が大きくできる。この場合も傾斜面の角度は実施例1と同じにするとよい。その他の効果は図1の場合と同じである。但し、第1実施例の場合より溝2aの開口部11aが広くなるので樹脂ケース1aが大きくなる。
図9は、この発明の第3実施例の半導体パッケージ300の組立方法を示す要部組立工程断面図である。この工程断面図は組立終了後の断面図である。実施例1との違いは、傾斜面をリブ5aに設けず、傾斜面6bを樹脂ケース1b側に設けた点である。この場合も傾斜面の角度は実施例1と同じにするとよい。この場合も実施例1と同様の効果を得ることができる。尚、開口部11bの広さが図1の場合と同じであるので、樹脂ケース1bの溝2bに樹脂キャップ4aのリブ5aを嵌合するときの位置ずれの許容度も実施例1の場合と同じにできる。
1,1a,1b 樹脂ケース
2,2a,2b 溝
3 側壁(外側)
3a 側壁(内側)
4,4a 樹脂キャップ
5,5a リブ
6,6a,6b 傾斜面
7 溝の底面
8 リブの底面
9 隙間
10 接着剤(硬化後)
10a 液状の接着剤
11,11a,11b 開口部
12 接着空間
13 内側の傾斜面
14 平坦面
15 交わる箇所
16 塗布装置
17 ノズル
18 先端部
100,200,300 半導体パッケージ

Claims (5)

  1. ケースに形成された環状の溝にキャップの外周部に形成されたリブを嵌合し接着剤で前記溝と前記リブを接着させる半導体パッケージであって、前記リブの表側または前記環状の溝の外側の側壁もしくは両者の表面に傾斜面を設け、前記リブと前記溝で囲まれる接着空間の断面形状を逆三角形にし、前記リブの底面と前記溝の底面の間に隙間を設け、該隙間より高く前記接触空間に液状の接着剤を溜め、前記隙間に前記液状の接着剤が毛細管現象により侵入した後、前記接着剤を硬化させることで前記キャップと前記ケースを固着することを特徴とする半導体パッケージの組立方法。
  2. 前記ケースおよび前記キャップが樹脂で形成されることを特徴とする請求項1に記載の半導体パッケージの組立方法。
  3. 前記隙間の間隔が、0.01mm〜0.5mmであることを特徴とする請求項1に記載の半導体パッケージの組立方法。
  4. 前記リブの底面の幅が、0.5mm〜2mmであることを特徴とする請求項1に記載の半導体パッケージの組立方法。
  5. 前記傾斜面の角度が、前記ケースの裏面の平坦面を基準とした垂直線に対して30°〜60°であることを特徴とする請求項1に記載の半導体パッケージの組立方法。
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