JP2011179937A - Led寿命試験方法及び装置 - Google Patents
Led寿命試験方法及び装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2011179937A JP2011179937A JP2010043757A JP2010043757A JP2011179937A JP 2011179937 A JP2011179937 A JP 2011179937A JP 2010043757 A JP2010043757 A JP 2010043757A JP 2010043757 A JP2010043757 A JP 2010043757A JP 2011179937 A JP2011179937 A JP 2011179937A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- led
- current
- under test
- voltage
- test
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
【解決手段】被試験LED700をHAST装置500内に配置し、このHAST装置500がその試験条件に到達した後、被試験LED700に外部から定電流を供給し,このLEDの光量を光電素子910で受光し、その電流をHAST装置の外部に引き出して被試験LED700の輝度を計測し、且つ、LED700自体の電流と電圧との測定データをHAST装置500の外部に引き出し、被試験LED700の劣化傾向を予測する
【選択図】図1
Description
12、13、14、15、16、17、18、19 導線
100 LED定電流発生器
200 LED電圧/電流測定器
300 受光電流測定器
400 制御装置
500 HAST装置
600 LED受光器
610 密閉容器
700 被試験LED
900 導光デバイス
910 フォトダイオードの如き光電素子
1000 受光電流値
2000 LED電圧値
3000 LED電流値、
4000 初期値のLED電流電圧特性曲線
5000、6000 途中経過のLED電流電圧特性曲線
7000 最終のLED電流電圧曲線
Claims (5)
- 被試験LEDを高度加速寿命試験装置の容器内に配置し、前記被試験LEDに定電流を供給して発光し、前記被試験LEDを流れるLED電流とLED電圧とを検出して測定するするとともに、前記被試験LEDからの光を受光する光電素子からの受光電流を検出して測定し、前記LED電流とLED電圧との測定値と前記受光電流の測定値とから前記被試験LEDの劣化と輝度低下とから前記被試験LEDの寿命を確認することを特徴とするLED寿命試験方法。
- 被試験LEDを高度加速寿命試験装置の容器内に配置し、前記被試験LEDに一定時間単位毎に異なる定電流を供給して前記被試験LEDを発光し、前記被試験LEDを流れるLED電流とLED電圧とを検出して測定し、前記LED電流とLED電圧との測定値から得られる時系列的な電流電圧特性に基づく前記被試験LEDの劣化と、前記被試験LEDからの光を受光する光電素子からの受光電流を検出して得られる前記被試験LEDの輝度低下とから前記被試験LEDの寿命を確認することを特徴とするLED寿命試験方法。
- 被試験LEDを高度加速寿命試験装置の容器内に配置される被試験LEDに定電流を供給して前記被試験LEDを発光するLED定電流器と、前記被試験LEDを流れるLED電流とLED電圧とを検出して測定するLED電圧/電流測定器と、前記高度加速寿命試験装置の容器内に配置され前記被試験LEDからの光を受光してその受光量に相応する電流を発生する光電素子を含む受光器と、前記受光器からの受光電流を検出し測定する受光電流測定器と、前記LED定電流器に定電流を供給するように前記LED定電流器に指令する定電流供給指令信号を発生し、前記LED電圧/電流測定器と前記受光電流測定器とからの測定データを受けて前記被試験LEDの寿命を表示/又は記録する制御装置とを備えたことを特徴とするLED寿命試験装置。
- 請求項3に記載のLED寿命試験装置であって、前記定電流供給指令信号は、前記被試験LEDに所定時間単位毎に異なる定電流を供給するように前記LED定電流器に供給されるものであり、前記LED電圧/電流測定器は、前記被試験LEDの電圧電流特性を測定するものであることを特徴とするLED寿命試験装置。
- 請求項3又は4に記載のLED寿命試験装置であって、前記LED定電流発生器と前記LED電圧/電流測定器と前記受光電流測定器と前記制御装置とは、前記高度加速寿命試験装置の容器の外部にあり、前記LED定電流発生器と前記LED電圧/電流測定器と前記受光電流測定器とは、前記高度加速寿命試験装置の容器の装置口を介して前被試験LED、受光器に接続されるようにしたことを特徴とするLED寿命試験装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010043757A JP5596372B2 (ja) | 2010-03-01 | 2010-03-01 | Led寿命試験方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010043757A JP5596372B2 (ja) | 2010-03-01 | 2010-03-01 | Led寿命試験方法及び装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011179937A true JP2011179937A (ja) | 2011-09-15 |
JP5596372B2 JP5596372B2 (ja) | 2014-09-24 |
Family
ID=44691595
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010043757A Active JP5596372B2 (ja) | 2010-03-01 | 2010-03-01 | Led寿命試験方法及び装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5596372B2 (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102590763A (zh) * | 2012-03-05 | 2012-07-18 | 深圳市迈昂科技有限公司 | 一种led寿命测试系统及其测试方法 |
CN102854446A (zh) * | 2012-08-14 | 2013-01-02 | 蚌埠德豪光电科技有限公司 | Led器件寿命检测方法及检测电路及该检测电路的应用 |
JP2013221928A (ja) * | 2012-04-19 | 2013-10-28 | Kyushu Nissho:Kk | 恒温装置 |
CN103424718A (zh) * | 2013-08-08 | 2013-12-04 | 广州市光机电技术研究院 | 多灯具在线自动综合测试系统及方法 |
CN103852704A (zh) * | 2012-12-04 | 2014-06-11 | 株式会社九州日昌 | 恒温装置 |
CN105026941A (zh) * | 2013-03-08 | 2015-11-04 | 欧司朗光电半导体有限公司 | 用于测量和优化光电子组件的方法和设备 |
KR20200137958A (ko) * | 2019-05-31 | 2020-12-09 | 주식회사 아도반테스토 | 시험 장치, 시험 방법 및 프로그램 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105843122A (zh) * | 2016-04-18 | 2016-08-10 | 邵镜容 | 一种电子产品老化的监控装置及系统 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56120178A (en) * | 1980-02-28 | 1981-09-21 | Nec Corp | Test device of luminous semiconductor device |
JPH10321685A (ja) * | 1997-05-21 | 1998-12-04 | Toshiba Electron Eng Corp | 半導体素子の試験方法および試験装置 |
JP2005294449A (ja) * | 2004-03-31 | 2005-10-20 | Sharp Corp | 半導体装置の検査方法および検査装置 |
JP3151612U (ja) * | 2009-03-18 | 2009-07-02 | 理想計測株式会社 | 電子機器の試験装置 |
JP2009265095A (ja) * | 2009-04-09 | 2009-11-12 | Nittetsu Elex Co Ltd | 発光パネルのエイジング検査方法 |
-
2010
- 2010-03-01 JP JP2010043757A patent/JP5596372B2/ja active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56120178A (en) * | 1980-02-28 | 1981-09-21 | Nec Corp | Test device of luminous semiconductor device |
JPH10321685A (ja) * | 1997-05-21 | 1998-12-04 | Toshiba Electron Eng Corp | 半導体素子の試験方法および試験装置 |
JP2005294449A (ja) * | 2004-03-31 | 2005-10-20 | Sharp Corp | 半導体装置の検査方法および検査装置 |
JP3151612U (ja) * | 2009-03-18 | 2009-07-02 | 理想計測株式会社 | 電子機器の試験装置 |
JP2009265095A (ja) * | 2009-04-09 | 2009-11-12 | Nittetsu Elex Co Ltd | 発光パネルのエイジング検査方法 |
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102590763B (zh) * | 2012-03-05 | 2014-10-08 | 常州市产品质量监督检验所 | 一种led寿命测试系统及其测试方法 |
CN102590763A (zh) * | 2012-03-05 | 2012-07-18 | 深圳市迈昂科技有限公司 | 一种led寿命测试系统及其测试方法 |
JP2013221928A (ja) * | 2012-04-19 | 2013-10-28 | Kyushu Nissho:Kk | 恒温装置 |
CN103499781A (zh) * | 2012-04-19 | 2014-01-08 | 株式会社九州日昌 | 恒温装置 |
CN102854446A (zh) * | 2012-08-14 | 2013-01-02 | 蚌埠德豪光电科技有限公司 | Led器件寿命检测方法及检测电路及该检测电路的应用 |
CN103852704A (zh) * | 2012-12-04 | 2014-06-11 | 株式会社九州日昌 | 恒温装置 |
US10132855B2 (en) | 2013-03-08 | 2018-11-20 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Method and device for measuring and optimizing an optoelectronic component |
CN105026941A (zh) * | 2013-03-08 | 2015-11-04 | 欧司朗光电半导体有限公司 | 用于测量和优化光电子组件的方法和设备 |
JP2016510874A (ja) * | 2013-03-08 | 2016-04-11 | オスラム オプト セミコンダクターズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングOsram Opto Semiconductors GmbH | オプトエレクトロニクス部品を測定および最適化する方法および装置 |
CN105026941B (zh) * | 2013-03-08 | 2019-01-18 | 欧司朗光电半导体有限公司 | 用于测量和优化光电子组件的方法和设备 |
CN103424718A (zh) * | 2013-08-08 | 2013-12-04 | 广州市光机电技术研究院 | 多灯具在线自动综合测试系统及方法 |
KR20200137958A (ko) * | 2019-05-31 | 2020-12-09 | 주식회사 아도반테스토 | 시험 장치, 시험 방법 및 프로그램 |
KR102255736B1 (ko) | 2019-05-31 | 2021-05-26 | 주식회사 아도반테스토 | 시험 장치, 시험 방법 및 프로그램 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5596372B2 (ja) | 2014-09-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5596372B2 (ja) | Led寿命試験方法及び装置 | |
TWI345067B (en) | Devices and methods for led life test | |
JP2013011462A (ja) | Led寿命予測方法 | |
CN102012488A (zh) | Led测试 | |
US9271370B2 (en) | Method of characterising an LED device | |
KR101209082B1 (ko) | 엘이디 실시간 수명평가 장치 | |
US8773158B2 (en) | Inspection method | |
CN104459507A (zh) | 一种检测led芯片光学性能的多路检测系统 | |
CN106644401A (zh) | 一种半导体激光器的测试系统及测试方法 | |
JP2010133817A (ja) | 絶縁検査装置および絶縁検査方法 | |
US9110125B2 (en) | Method and apparatus for detecting relationship between thermal and electrical properties of semiconductor device | |
KR101048074B1 (ko) | 전자 부품 가속 수명 테스트 시스템 | |
CN104316170B (zh) | 一种指示灯亮度一致性测试方法及测试装置 | |
CN108174489A (zh) | 驱动装置及其驱动方法 | |
US9664557B2 (en) | Method and semiconductor component for identifying ambient light fluctuations | |
KR100866346B1 (ko) | 엘이디 모듈의 오류 판별장치 | |
JP2012216779A (ja) | 半導体発光素子の温度特性検査装置および温度特性検査方法 | |
CN104459506A (zh) | 一种led芯片的多路检测系统 | |
US20230397321A1 (en) | Traffic signal lamp, traffic signal system and lamp-state detection method using the same | |
KR100843353B1 (ko) | 번-인 장치 | |
CN102680872B (zh) | 灯管检测装置及灯管检测方法 | |
KR102217480B1 (ko) | 초전도케이블 시험용 전압·전류 인가장치 및 방법 | |
TW201616147A (zh) | 半導體電路測試裝置偵測熱切換之方法 | |
TWI533009B (zh) | 檢測方法及電源供應設備 | |
JPWO2018110333A1 (ja) | 色測定システム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20121030 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130520 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130729 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130806 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20131007 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140701 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140716 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140805 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140807 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5596372 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |