JP5596372B2 - Led寿命試験方法及び装置 - Google Patents
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Description
被試験LEDの高度加速寿命試験装置の容器内に配置すること、および、
高度加速寿命試験装置の容器内に配置された被試験LEDに定電流を供給して当該被試験LEDを発光させること、および、
前記被試験LEDを流れるLED電流とLED電圧とを検出して測定するとともに、前記被試験LEDからの光を受光する光電素子からの受光電流を検出して測定すること、および、
測定されたLED電圧値が示す前記被試験LEDの劣化と、測定された受光電流値が示す前記被試験LEDの輝度劣化とから、前記被試験LEDの寿命を確認すること
を特徴とするLED寿命試験方法を提供するものである。
高度加速寿命試験装置の容器内に配置される被試験LEDに定電流を供給して前記被試験LEDを発光させるLED定電流発生器と、
前記被試験LEDを流れるLED電流とLED電圧とを検出して測定するLED電圧/電流測定器と、
前記高度加速寿命試験装置の容器内に配置され前記被試験LEDからの光を受光してその受光量に相応する電流を発生する光電素子を含む受光器と、
前記受光器からの受光電流を検出し測定する受光電流測定器と、
前記LED定電流発生器に前記被試験LEDへの定電流供給を指令する定電流供給指令信号を発生させ、前記LED電圧/電流測定器と前記受光電流測定器とからの測定データを受けて前記被試験LEDの寿命を表示/又は記録する制御装置と
を備えていることを特徴とするLED寿命試験装置提供するものである。
12 導線
13 導線
14 導線
15 導線
16 導線
17 導線
18 導線
19 導線
100 LED定電流発生器
200 LED電圧/電流測定器
300 受光電流測定器
400 制御装置
500 HAST装置
600 LED受光器
610 密閉容器
700 被試験LED
900 導光デバイス
910 フォトダイオードの如き光電素子
1000 受光電流値
2000 LED電圧値
3000 LED電流値、
4000 初期値のLED電流電圧特性曲線
5000 途中経過のLED電流電圧特性曲線
6000 途中経過のLED電流電圧特性曲線
7000 最終のLED電流電圧曲線
Claims (1)
- 被試験LEDの高度加速寿命試験装置の容器内に配置すること、および、
高度加速寿命試験装置の容器内に配置された被試験LEDに定電流を供給して当該被試験LEDを発光させること、および、
前記被試験LEDを流れるLED電流とLED電圧とを検出して測定するとともに、前記被試験LEDからの光を受光する光電素子からの受光電流を検出して測定すること、および、
測定されたLED電圧値が示す前記被試験LEDの劣化と、測定された受光電流値が示す前記被試験LEDの輝度劣化とから、前記被試験LEDの寿命を確認すること
を特徴とするLED寿命試験方法。
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JP2010043757A JP5596372B2 (ja) | 2010-03-01 | 2010-03-01 | Led寿命試験方法及び装置 |
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