KR100843353B1 - 번-인 장치 - Google Patents

번-인 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR100843353B1
KR100843353B1 KR1020060114645A KR20060114645A KR100843353B1 KR 100843353 B1 KR100843353 B1 KR 100843353B1 KR 1020060114645 A KR1020060114645 A KR 1020060114645A KR 20060114645 A KR20060114645 A KR 20060114645A KR 100843353 B1 KR100843353 B1 KR 100843353B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
current
burn
output
unit
electrically connected
Prior art date
Application number
KR1020060114645A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20080045476A (ko
Inventor
안순태
Original Assignee
안순태
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 안순태 filed Critical 안순태
Priority to KR1020060114645A priority Critical patent/KR100843353B1/ko
Publication of KR20080045476A publication Critical patent/KR20080045476A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100843353B1 publication Critical patent/KR100843353B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855—Environmental, reliability or burn-in testing
    • G01R31/286—External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
    • G01R31/2863—Contacting devices, e.g. sockets, burn-in boards or mounting fixtures
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0433—Sockets for IC's or transistors
    • G01R1/0441—Details
    • G01R1/0458—Details related to environmental aspects, e.g. temperature
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855—Environmental, reliability or burn-in testing
    • G01R31/2872—Environmental, reliability or burn-in testing related to electrical or environmental aspects, e.g. temperature, humidity, vibration, nuclear radiation
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L22/00—Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
    • H01L22/30—Structural arrangements specially adapted for testing or measuring during manufacture or treatment, or specially adapted for reliability measurements

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

본 발명은 본체와 본체의 일측에 설치되어 디바이스의 출력전압 레벨에 따른 각각의 출력전류를 검출하는 전류 검출부와 전류 검출부의 하부에 설치되고, 전류 검출부와 전기적으로 연결되어 각각의 출력전류에 번-인용 검출전류를 인가하는 번-인용 전류인가부와 번-인용 전류인가부의 상부에 설치되고, 전류 검출부 및 번-인용 전류인가부와 전기적으로 연결되어 각각의 출력전류에 대한 전류값 또는 각각의 출력전류에 인가된 번-인용 검출전류를 포함하는 전류값이 표시되는 전류계와 본체의 외곽 일부분에 설치되고, 전류 검출부와 번-인용 전류인가부 및 전류계와 전기적으로 각각 연결되어 과전류를 자동적으로 차단하는 퓨즈 및 본체의 외곽 다른 부분에 설치되고, 전류 검출부 및 번-인용 전류인가부, 전류계 및 퓨즈를 제어하여 온/오프(ON/OFF) 동작에 의해 전원을 인가시키는 전원부를 포함하는 번-인 장치를 제공한다.
번-인 장치, 전류 검출부, 번-인용 전류인가부

Description

번-인 장치{Burn-In Apparatus}
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 번-인(Burn-In) 장치를 나타낸 정면도.
도 2 및 도 3은 본 발명의 실시예에 따른 번-인(Burn-In) 장치를 나타낸 평면도 및 배면도.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 번-인(Burn-In) 장치를 나타낸 내부 회로도.
*도면의 주요부분에 대한 설명*
100 : 번-인(Burn-In) 장치 102 : 본체
104 : 전류 검출부 104a1, 104a2 : 디바이스용 와퍼 단자
104b : 전류검출용 와퍼 단자 104b1 : 내부단자
104c : 디바이스전압 확인부 106 : 번-인용 전류인가부
108 : 전류계 110 : 퓨즈
112 : 전원부 114 : 냉각부
403 : 저항기 405 : 션트 저항기
본 발명은 번-인(Burn-In) 장치에 관한 것이다.
일반적으로, 구동소자를 갖는 디바이스들은 출고되기 직전에 신뢰성 테스트를 했었다.
즉, 구동소자를 갖는 디바이스들은 전기적인 특성시험인 번-인(Burn-In) 공정을 통하여 시험판정의 결과, 양품이라고 판정된 것들만이 출고되었다.
이러한, 번-인(Burn-In) 공정은 구동소자가 받는 스트레스를 가혹한 조건하에서 지속적으로 가속화시키는 공정으로, 스트레스를 받은 구동소자가 열화되었는지를 검사하는 공정을 말한다.
그러나, 종래의 번-인(Burn-In) 공정은 구동소자를 갖는 디바이스들의 출력 채널 커넥터에 프로우브(probe) 단자를 선택적으로 각각 접촉시키고, 디바이스들의 출력전압에 맞춰 전압 레벨을 임의적으로 상승시켜 구동소자가 열화되었는지를 검사하였다.
따라서, 종래의 번-인(Burn-In) 공정은 디바이스들의 열화특성을 검사하는 번-인(Burn-In) 테스트 시간이 증가하는 문제점이 있었다.
상술한 문제점을 해결하기 위하여, 본 발명은 디바이스의 구동소자의 열화상태를 대량으로 측정할 수가 있으므로, 번-인(Burn-In) 테스트 시간을 단축시킬 수가 있어 제품의 신뢰성을 향상시킬 수 있는 번-인(Burn-In)장치를 제공하는데 그 목적이 있다.
이러한 목적을 달성하기 위하여 본 발명은 본체와 본체의 일측에 설치되어 디바이스의 출력전압 레벨에 따른 각각의 출력전류를 검출하는 전류 검출부와 전류 검출부의 하부에 설치되고, 전류 검출부와 전기적으로 연결되어 각각의 출력전류에 번-인용 검출전류를 인가하는 번-인용 전류인가부와 번-인용 전류인가부의 상부에 설치되고, 전류 검출부 및 번-인용 전류인가부와 전기적으로 연결되어 각각의 출력전류에 대한 전류값 또는 각각의 출력전류에 인가된 번-인용 검출전류를 포함하는 전류값이 표시되는 전류계와 본체의 외곽 일부분에 설치되고, 전류 검출부와 번-인용 전류인가부 및 전류계와 전기적으로 각각 연결되어 과전류를 자동적으로 차단하는 퓨즈 및 본체의 외곽 다른 부분에 설치되고, 전류 검출부 및 번-인용 전류인가부, 전류계 및 퓨즈를 제어하여 온/오프(ON/OFF) 동작에 의해 전원을 인가시키는 전원부를 포함한다.
본 발명의 다른 특징에 따르면, 전류 검출부, 번-인용 전류인가부, 퓨즈, 전원부는 하나 이상으로 설치되는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 또 다른 특징에 따르면, 전류 검출부는 디바이스의 출력전압을 측정하기 위하여 디바이스에 연결된 하나 이상의 출력채널 커넥터와 전기적으로 연결되도록 설치된 디바이스용 와퍼 단자 및 디바이스용 와퍼 단자의 하부에 설치되고, 디바이스용 와퍼 단자에 연결된 하나 이상의 출력채널 커넥터와 전기적으로 연결되며, 하나 이상의 출력채널 커넥터를 통해 출력되는 디바이스의 출력전압 레벨에 따른 각각의 출력전류를 검출하는 전류검출용 와퍼를 포함한다.
본 발명의 또 다른 특징에 따르면, 디바이스용 와퍼 단자의 상부에 설치되고, 전류검출용 와퍼 단자와 전기적으로 연결되어 전류검출용 와퍼 단자에 하나 이상의 출력채널 커넥터가 전기적으로 연결될 때, 연결된 하나 이상의 출력채널 커넥터를 통해 출력되는 디바이스의 출력전압 레벨이 외부로 표시되는 디바이스전압 확인부가 더 설치되는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 또 다른 특징에 따르면, 본체의 상부면 또는 배면에 마련되어, 본체의 내부에서 발생하는 열을 냉각시키도록 냉각부가 더 설치되는 것을 특징으로 한다.
이하에서는 첨부된 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예를 보다 상세히 설명하기로 한다.
<실시예>
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 번-인(Burn-In) 장치를 나타낸 정면도이고,도 2 및 도 3은 본 발명의 실시예에 따른 번-인(Burn-In) 장치를 나타낸 평면도 및 배면도이다.
도 1 내지 도 3을 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 번-인(Burn-In) 장치(100)는 본체(102), 전류 검출부(104), 번-인용 전류인가부(106), 전류계(108), 퓨즈(110), 전원부(112), 냉각부(114)등을 포함한다.
본체(102)는 외형을 이루는 것으로, 이후에 진술할 전류 검출부(104), 번-인용 전류인가부(106), 전류계(108), 퓨즈(110), 전원부(112), 냉각부(114)에 해당하는 각각의 구동소자들이 실장되어 설치된다.
전류 검출부(104 : 104a, 104b, 104c)는 본체(102)의 일측에 설치된다. 이러 한, 전류 검출부(104)는 PDP나 LCD등과 같은 디바이스의 출력전압 레벨에 따른 각각의 출력전류를 검출한다. 여기서, 디바이스는 설명의 편의상 PDP나 LCD장치를 말한다. 그러나, 본 발명은 이에 한정하지 않고 구동소자의 열화상태를 측정할 수 있는 기록재생장치도 가능하다.
이때, 전류 검출부(104 : 104a, 104b, 104c)는 디바이스용 와퍼 단자(104a : 104a1, 104a2), 전류검출용 와퍼 단자(104b), 디바이스전압 확인부(104c)를 포함한다.
디바이스용 와퍼 단자(104a : 104a1, 104a2)는 디바이스의 출력전압을 측정하기 위하여 디바이스에 연결된 하나 이상의 출력채널 커넥터와 전기적으로 연결되도록 설치된다.
여기서, 디바이스에 연결된 하나 이상의 출력채널 커넥터는 이후에 진술할 전류검출용 와퍼 단자(104b)에 형성된 내부단자(104b1)에 연결되며, 하나 이상의 출력채널 커넥터를 통해 출력되는 디바이스의 출력전압 레벨에 따른 각각의 출력전류를 검출하기 위한 커넥터이다.
이때, 디바이스용 와퍼 단자(104a : 104a1, 104a2)는 설명의 편의상 PDP 와퍼 단자 (104a1)또는 LCD 와퍼 단자(104a2)로 한정한다. 그러나, 본 발명은 이에 한정하지 않고 구동소자의 열화상태를 측정할 수 있는 기록재생장치의 와퍼 단자로도 가능하다.
전류검출용 와퍼 단자(104b)는 디바이스용 와퍼 단자(104a : 104a1, 104a2)의 하부에 설치되고, 디바이스용 와퍼 단자(104a : 104a1, 104a2)에 연결된 하나 이상의 출력채널 커넥터와 전기적으로 연결되며, 하나 이상의 출력채널 커넥터를 통해 출력되는 디바이스의 출력전압 레벨에 따른 각각의 출력전류를 검출한다.
이때, 전류검출용 와퍼 단자(104b)의 내부단자(104b1)에는 하나 이상의 출력채널 커넥터를 통해 출력되는 디바이스의 출력전압인 DC3.3V, DC5VA, DC5VB, DC8V, DC12VA, DC12VB, DC18V, DC24V, DC60V, DC190V가 인가된다.
여기서, 디바이스의 출력전압은 설명의 편의상 출력채널에 따른 각각의 PDP 출력전압과 LCD 출력전압으로 한정한다. 그러나, 본 발명은 이에 한정하지 않고 구동소자의 열화상태를 측정할 수 있는 기록재생장치의 출력전압 레벨에 따라 다른 출력전압이 인가될 수도 있다.
디바이스전압 확인부(104c)는 디바이스용 와퍼 단자(104a : 104a1, 104a2)의 상부에 설치된다. 이때, 디바이스전압 확인부(104c)는 빛을 발광하는 LED로 설치된다. 그러나, 본 발명은 이에 한정하지 않고 디바이스전압 확인부(104c)가 빛을 발광시킬 수 있는 다른 조명수단들도 설치가능하다.
이러한, 디바이스전압 확인부(104c)는 전류검출용 와퍼 단자(104b)와 전기적으로 연결되어 전류검출용 와퍼 단자(104b)에 하나 이상의 출력채널 커넥터가 전기적으로 연결될 때, 연결된 하나 이상의 출력채널 커넥터를 통해 출력되는 디바이스의 출력전압 레벨이 LED의 발광으로 인식된다.
번-인용 전류인가부(106)는 전류 검출부(104)의 하부에 설치되고, 전류 검출부(104)와 전기적으로 연결되어 디바이스의 출력전류에 번-인용 검출전류를 인가한다.
더욱 자세하게 말하면, 번-인용 전류인가부(106)는 디바이스의 출력전압 레벨에 따른 디바이스의 출력전류에 번-인용 검출전류를 인가하여 구동소자의 열화상 태를 측정한다. 이때, 번-인용 전류인가부(106)는 선택적으로 전류신호를 인가시킬 수 있는 스위칭 소자로 설치된다.
여기서, 각각의 스위칭 소자가 인가하는 번-인용 검출전류는 임의적으로 0.1A, 0.2A, 0.5A, 1A, 2A가 셋팅된다. 그러나, 본 발명은 이에 한정하지 않고 번-인용 검출전류를 다르게 셋팅시킬 수도 있다. 이러한, 번-인용 검출전류를 전류레벨에 따라 선택적으로 인가하면, PDP 또는 LCD와 같은 디바이스의 구동소자의 열화상태를 측정할 수가 있게 된다.
전류계(108)는 번-인용 전류인가부(106)의 상부에 설치된다.
이때, 전류계(108)는 전류 검출부(104) 및 번-인용 전류인가부(106)와 전기적으로 연결된다. 이러한, 전류계(108)는 디바이스의 출력전류에 대한 전류값이 표시되거나, 디바이스의 출력전류에 대한 전류값에 번-인용 검출전류에 대한 전류값이 포함되어 표시된다.
퓨즈(110)는 본체(102)의 외곽 일부분에 설치되고, 전류 검출부(104)와 번-인용 전류인가부(106) 및 전류계(108)와 전기적으로 각각 연결되어 과전류를 자동적으로 차단한다.
전원부(112)는 본체(102)의 외곽 다른 부분에 설치되고, 전류 검출부(104) 및 번-인용 전류인가부(106), 전류계(108) 및 퓨즈(110)를 제어하여 온/오프(ON/OFF) 동작에 의해 전원을 인가시킨다.
냉각부(114)는 본체(102)의 상부면 또는 배면에 마련되어, 본체(102)의 내부에서 발생하는 열을 냉각시키도록 설치된다. 이러한, 냉각부(114)는 번-인(Burn- In) 테스트시에 발열현상이 잘 일어나기 때문에 설치된다. 따라서, 냉각부(114)는 디바이스의 구동소자의 열화상태를 정확하게 측정할 수 있도록 도와주는 역할을 한다.
이때, 냉각부(114)는 냉각시킬 수 있는 냉각팬으로 설치된다. 그러나, 본 발명은 이에 한정하지 않고 냉각부(114)가 냉각시킬 수 있는 냉각수단이면 모두 설치가능하다.
한편, 전류 검출부(104), 번-인용 전류인가부(106), 퓨즈(110), 전원부(112)는 하나 이상으로 설치된다. 따라서, PDP 또는 LCD와 같은 디바이스의 출력채널 커넥터를 다수개로 배치시키는 것이 가능하게 된다.
이에 따라, 디바이스의 구동소자의 열화상태를 대량으로 측정할 수가 있어 번-인(Burn-In) 테스트 시간을 단축시킬 수가 있게 된다.
다음은, 본 발명의 실시예에 따른 번-인(Burn-In) 장치를 이용하여 번-인 테스트 하는 방법을 도 4를 참조하여 설명하기로 한다.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 번-인(Burn-In) 장치를 나타낸 내부 회로도이다.
도 4를 참조하면, 번-인 테스트를 위하여 작업자는 전원부(112)를 온(ON)시킨다. 이때, 4개의 냉각부(114)가 작동되어 본체(102)의 내부를 냉각시키게 된다.
이 후, 디바이스용 와퍼 단자(104a : 104a1, 104a2)에는 PDP 또는 LCD등과 같은 디바이스의 출력전압을 측정하기 위하여 디바이스에 연결된 하나 이상의 출력채널 커넥터와 전기적으로 연결되도록 설치된다.
이 후, 전류검출용 와퍼 단자(104b)에는 디바이스용 와퍼 단자(104a : 104a1, 104a2)에 연결된 하나 이상의 출력채널 커넥터가 전기적으로 연결되며, 하나 이상의 출력채널 커넥터를 통해 출력되는 디바이스의 출력전압 레벨에 따른 각각의 출력전류를 검출한다.
여기서, 전류검출용 와퍼 단자(104b)의 내부단자(104b1)에는 하나 이상의 출력채널 커넥터를 통해 출력되는 디바이스의 출력전압인 DC3.3V, DC5VA, DC5VB, DC8V, DC12VA, DC12VB, DC18V, DC24V, DC60V, DC190V가 인가된다. 또한, 각각의 디바이스의 출력전압과 전기적으로 저항기(resistor, 403)들 및 션트 저항기(shunt resistor, 405)들이 연결된다.
이때, PDP 또는 LCD등과 같은 디바이스의 출력전류에 해당하는 출력전류값이 전류계(108)를 통하여 표시되고, 연결된 디바이스의 출력전압 레벨에 해당하는 디바이스전압 확인부(104c)의 LED가 발광하게 된다.
이 후, 번-인용 전류인가부(106)에 구비된 각각의 스위칭 소자로 디바이스의 출력전압 레벨에 따른 디바이스의 출력전류에 번-인용 검출전류를 선택적으로 인가하여 구동소자의 열화상태를 측정한다.
이때, 번-인용 전류인가부(106)는 0.1A, 0.2A, 0.5A, 1A, 2A등의 번-인용 검출전류가 선택적으로 인가되고, 각각의 스위칭 소자와 저항기(resistor, 407)들이 전기적으로 연결된다. 한편, 필요에 따라 번-인용 전류인가부(106)에 4A, 6A등의 번-인용 검출전류를 설정하여 선택적으로 인가시킴으로써, 구동소자의 열화상태를 더욱 세밀하게 측정하는 것도 가능하다.
이와 같은, 본 발명의 실시예에 따른 번-인(Burn-In) 장치는 디바이스의 구동소자의 열화상태를 대량으로 측정할 수가 있으므로, 번-인(Burn-In) 테스트 시간을 단축시킬 수가 있어 제품의 신뢰성을 향상시킬 수가 있게 된다.
본 발명이 속하는 기술분야의 당업자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예는 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로서 이해되어야 하고, 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.
상기한 바와 같이 이루어진 본 발명의 번-인(Burn-In) 장치에 따르면, 다음과 같은 효과를 얻을 수 있다.
디바이스의 구동소자의 열화상태를 대량으로 측정할 수가 있으므로, 번-인(Burn-In) 테스트 시간을 단축시킬 수가 있어 제품의 신뢰성을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.

Claims (5)

  1. 본체와;
    상기 본체의 일측에 설치되어 디바이스의 출력전압 레벨에 따른 각각의 출력전류를 검출하는 전류 검출부와;
    상기 전류 검출부의 하부에 설치되고, 상기 전류 검출부와 전기적으로 연결되어 상기 각각의 출력전류에 번-인용 검출전류를 인가하는 번-인용 전류인가부와;
    상기 번-인용 전류인가부의 상부에 설치되고, 상기 전류 검출부 및 상기 번-인용 전류인가부와 전기적으로 연결되어 상기 각각의 출력전류에 대한 전류값 또는 상기 각각의 출력전류에 인가되는 번-인용 검출전류를 포함하는 전류값이 표시되는 전류계와;
    상기 본체의 외곽 일부분에 설치되고, 상기 전류 검출부와 상기 번-인용 전류인가부 및 상기 전류계와 전기적으로 각각 연결되어 과전류를 자동적으로 차단하는 퓨즈; 및
    상기 본체의 외곽 다른 부분에 설치되고, 상기 전류 검출부 및 상기 번-인용 전류인가부, 상기 전류계 및 상기 퓨즈를 제어하여 온/오프(ON/OFF) 동작에 의해 전원을 인가시키는 전원부를 포함하는 번-인 장치.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 전류 검출부, 상기 번-인용 전류인가부, 상기 퓨즈, 상기 전원부는 하 나 이상으로 설치되는 것을 특징으로 하는 번-인 장치.
  3. 제 1항 또는 제 2항에 있어서,
    상기 전류 검출부는,
    상기 디바이스의 출력전압을 측정하기 위하여 상기 디바이스에 연결된 하나 이상의 출력채널 커넥터와 전기적으로 연결되도록 설치된 디바이스용 와퍼 단자; 및
    상기 디바이스용 와퍼 단자의 하부에 설치되고, 상기 디바이스용 와퍼 단자에 연결된 상기 하나 이상의 출력채널 커넥터와 전기적으로 연결되며, 상기 하나 이상의 출력채널 커넥터를 통해 출력되는 디바이스의 출력전압 레벨에 따른 각각의 출력전류를 검출하는 전류검출용 와퍼 단자를 포함하는 번-인 장치.
  4. 제 3항에 있어서,
    상기 디바이스용 와퍼 단자의 상부에 설치되고, 상기 전류검출용 와퍼 단자와 전기적으로 연결되어 상기 전류검출용 와퍼 단자에 상기 하나 이상의 출력채널 커넥터가 전기적으로 연결될 때, 연결된 상기 하나 이상의 출력채널 커넥터를 통해 출력되는 디바이스의 출력전압 레벨이 외부로 표시되는 디바이스전압 확인부가 더 설치되는 것을 특징으로 하는 번-인 장치.
  5. 제 1항 또는 제 2항에 있어서,
    상기 본체의 상부면 또는 배면에 마련되어, 상기 본체의 내부에서 발생하는 열을 냉각시키도록 냉각부가 더 설치되는 것을 특징으로 하는 번-인 장치.
KR1020060114645A 2006-11-20 2006-11-20 번-인 장치 KR100843353B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020060114645A KR100843353B1 (ko) 2006-11-20 2006-11-20 번-인 장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020060114645A KR100843353B1 (ko) 2006-11-20 2006-11-20 번-인 장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20080045476A KR20080045476A (ko) 2008-05-23
KR100843353B1 true KR100843353B1 (ko) 2008-07-03

Family

ID=39662881

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020060114645A KR100843353B1 (ko) 2006-11-20 2006-11-20 번-인 장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100843353B1 (ko)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9470720B2 (en) * 2013-03-08 2016-10-18 Sandisk Technologies Llc Test system with localized heating and method of manufacture thereof

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5146160A (en) * 1990-09-04 1992-09-08 Pinkston Rodney G Auxiliary power unit test kit
KR100500888B1 (ko) * 2001-09-28 2005-07-14 미쓰비시덴키 가부시키가이샤 평균전압산출회로를 갖는 번인장치

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5146160A (en) * 1990-09-04 1992-09-08 Pinkston Rodney G Auxiliary power unit test kit
KR100500888B1 (ko) * 2001-09-28 2005-07-14 미쓰비시덴키 가부시키가이샤 평균전압산출회로를 갖는 번인장치

Also Published As

Publication number Publication date
KR20080045476A (ko) 2008-05-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101209082B1 (ko) 엘이디 실시간 수명평가 장치
CN104204827B (zh) Esd测试检查装置和esd测试检查方法
US9606162B2 (en) Insulation inspection method and insulation inspection apparatus
CN111044872A (zh) 一种半导体激光器件测试装置
KR20160116966A (ko) 각속도센서 점검장치
CN104297622A (zh) 检测显示面板缺陷的方法及装置
KR20080091693A (ko) 반도체 집적 회로의 시험 방법 및 ｉｃ 테스터
CN113066410B (zh) 线路检测设备及其线路检测方法
KR100843353B1 (ko) 번-인 장치
JP5032892B2 (ja) 回路基板検査方法及び装置
KR20080029430A (ko) 디지털 멀티미터
JP2007155640A (ja) 集積回路の検査方法と検査装置
US7443253B2 (en) Detection device for detecting oscillator
KR101965984B1 (ko) 멀티 테스터기
JP2011215007A (ja) 試験装置及び試験方法
KR20120004641A (ko) Ｎ5000 고압인버터 셀 유닛의 ｐｃｂ자동화 시험 장치
JP2001272434A (ja) 半導体素子の試験方法およびその試験装置
KR101183647B1 (ko) 번인보드 검사장치
JP2003194755A (ja) 半導体パッケージの試験方法
KR100277895B1 (ko) 형광 표시소자의 다목적 검사시스템
US20040108867A1 (en) System for and method of assessing chip acceptability and increasing yield
KR101144638B1 (ko) 유기 전계 발광 소자 테스트 방법
JP3979619B2 (ja) 半導体装置の内部配線断線検出方法
CN221631589U (zh) 一种多通道老化板及老化系统
KR100591757B1 (ko) 이디에스 검사 시스템

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
LAPS Lapse due to unpaid annual fee