JP2011169779A - 光ファイバ測定装置及び光ファイバ測定方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本願発明の光ファイバ測定装置11は、変調光LK及びパルス光LPが重ね合わされた合波光LFを発生する光出力部21と、光出力部21の発生するパルス光LPが光ファイバ100aで反射された戻り光LBを受光する受光部22と、受光部22の受光する戻り光LBの光量及びパルス光LPが光ファイバ100aに出力されてから戻り光LBを受光するまでの時間を測定する演算部23と、を備える。
【選択図】図1
Description
芯線対照は、波高値の低い変調光であっても行うことができる。一方、OTDR測定を行うためには、波高値の高いパルス光が必要である。そこで、変調光の光強度がパルス光の光強度よりも小さいことで、OTDR測定におけるノイズを減少させることができる。
本発明により、変調光及びパルス光が重ね合わされた合波光を発生させることができる。
本発明により、変調光及びパルス光が重ね合わされた合波光を発生させることができる。また、1つの光源で合波光を発生させることができ、合波部を省略することができるため、簡易な構成で光出力部を実現することができる。
本発明により、戻り光が光ファイバ内でパルス光のように振舞い、OTDR波形上に重畳することを避けることができる。
芯線対照は、波高値の低い変調光であっても行うことができる。一方、OTDR測定を行うためには、波高値の高いパルス光が必要である。そこで、変調光の光強度がパルス光の光強度よりも小さいことで、OTDR測定におけるノイズを減少させることができる。
本発明により、変調光及びパルス光が重ね合わされた合波光を発生させることができる。
本発明により、変調光及びパルス光が重ね合わされた合波光を発生させることができる。また、1つの光源で合波光を発生させることができるため、簡易な構成で合波光を発生させることができる。
本発明により、戻り光が光ファイバ内でパルス光のように振舞い、OTDR波形上に重畳することを避けることができる。
12:光合分波器
13:変調光受光器
14:反射フィルタ
21:光出力部
22:受光部
23:演算部
31:変調光発生部
32:パルス光発生部
33:合波部
34:連続光発生部
35:変調部
36:変調信号発生部
51:OLT
52:ONU
53:OTDR測定装置
54:変調光源
55:光カプラ
56:光カプラ
57、58:PD
59:光コネクタ
61:LD
62:APD
63:光方向性結合器
91:通信設備ビル
100、100a、100b:光ファイバ
Claims (11)
- 変調光及びパルス光が重ね合わされた合波光を発生する光出力部と、
前記光出力部の発生する前記パルス光が光ファイバで反射された戻り光を受光する受光部と、
前記受光部の受光する戻り光の光量及び前記パルス光が前記光ファイバに出力されてから前記戻り光を受光するまでの時間を測定する演算部と、
を備える光ファイバ測定装置。 - 前記変調光の光強度は、前記パルス光の光強度よりも小さい
ことを特徴とする請求項1に記載の光ファイバ測定装置。 - 前記光出力部は、
前記変調光を発生する変調光発生部と、
前記パルス光を発生するパルス光発生部と、
前記変調光発生部からの前記変調光及び前記パルス光発生部からの前記パルス光を合波する合波部と、
を備えることを特徴とする請求項1又は2に記載の光ファイバ測定装置。 - 前記光出力部は、
連続光を発生する連続光発生部と、
前記変調光及び前記パルス光が重ね合わされた波形を有する変調信号で、前記連続光発生部からの連続光を変調する変調部と、
を備えることを特徴とする請求項1又は2に記載の光ファイバ測定装置。 - 前記合波光の前記パルス光の間隔は、前記光ファイバの長さの4倍以上の距離を光が伝搬する時間であることを特徴とする請求項1から4のいずれかに記載の光ファイバ測定装置。
- 請求項1から5のいずれかに記載の光ファイバ測定装置と、
前記光ファイバ測定装置からの前記合波光を前記光ファイバに挿入するとともに、前記光ファイバで反射された前記戻り光を前記光ファイバ測定装置に分離する光合分波器と、
前記光ファイバの外皮から漏洩する前記変調光を受光する変調光受光器と、
を備えることを特徴とする光ファイバ測定システム。 - 変調光及びパルス光が重ね合わされた合波光を、継続的に前記光ファイバの一端に入力する合波光出力手順と、
前記光ファイバの任意の位置で前記合波光に合波されている前記変調光を受光する変調光検出手順と、
前記変調光検出手順で前記変調光を受光した前記光ファイバを前記光ファイバの途中で切断し、前記合波光出力手順で出力した前記合波光のうちの前記パルス光が前記光ファイバで反射されて前記光ファイバの前記一端に戻った戻り光を受光し、前記光ファイバが切断されたか否かを判定する光ファイバ切断手順と、
前記光ファイバ切断手順で切断した前記光ファイバのうちの前記一端に近い光ファイバを他の光ファイバに接続し、前記合波光出力手順で出力した前記合波光のうちの前記パルス光が前記光ファイバで反射されて前記光ファイバの前記一端に戻った戻り光を受光し、前記光ファイバが接続されたか否かを判定する光ファイバ接続手順と、
を順に有する光ファイバ測定方法。 - 前記変調光の光強度は、前記パルス光の光強度よりも小さい
ことを特徴とする請求項7に記載の光ファイバ測定方法。 - 前記合波光出力手順において、前記変調光を発生するとともに前記パルス光を発生し、前記変調光及び前記パルス光を合波する
ことを特徴とする請求項7又は8に記載の光ファイバ測定方法。 - 前記合波光出力手順において、連続光を発生し、前記変調光及び前記パルス光が重ね合わされた波形を有する変調信号で前記連続光を変調する
ことを特徴とする請求項7又は8に記載の光ファイバ測定方法。 - 前記合波光の前記パルス光の間隔は、前記光ファイバの長さの4倍以上の距離を光が伝搬する時間であることを特徴とする請求項7から10のいずれかに記載の光ファイバ測定方法。
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Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63212907A (ja) * | 1987-03-02 | 1988-09-05 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光フアイバ心線対照方法および装置 |
JPH06201482A (ja) * | 1992-12-29 | 1994-07-19 | Ando Electric Co Ltd | 光パルス試験器 |
JPH08265264A (ja) * | 1995-03-20 | 1996-10-11 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 分岐光線路網及びその建設・保守用心線対照装置 |
JP2009204490A (ja) * | 2008-02-28 | 2009-09-10 | Fujikura Ltd | 心線対照方法及び心線対照装置 |
JP2009244610A (ja) * | 2008-03-31 | 2009-10-22 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光ファイバ心線対照方法および装置 |
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2010
- 2010-02-19 JP JP2010034312A patent/JP5392914B2/ja active Active
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