JP2011164407A - 露光装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】マスク保持部のフレームの熱変形を抑制して、露光精度を向上することができる露光装置を提供する。
【解決手段】マスクステージベース11は、複数の中空フレーム91〜94によって構成されており、中空フレーム91〜94の内部には、サーマルチャンバ80内に供給されるエアと共に温調されたエアが供給される。
【選択図】図2
【解決手段】マスクステージベース11は、複数の中空フレーム91〜94によって構成されており、中空フレーム91〜94の内部には、サーマルチャンバ80内に供給されるエアと共に温調されたエアが供給される。
【選択図】図2
Description
本発明は、露光装置に関する。
従来、液晶ディスプレイ装置やプラズマディスプレイ装置等のフラットパネルディスプレイ装置のカラーフィルタ基板やTFT(Thin Film Transistor)基板を製造する露光装置が種々考案されている。また、従来の露光装置では、露光環境の温度変化による露光精度の低下を防止する方法が提案されている(例えば、特許文献1〜3参照。)。
例えば、特許文献1に記載の露光装置を備えた露光システムでは、露光環境の温度を一定に保つべく、露光装置をサーマルチャンバ内に収容する。また、温度検出装置を露光ステージに取り付け、露光ステージに載置される基板の温度に応じて、露光ステージの移動量を補正している。
また、特許文献2に記載の露光装置では、ウェハステージ上で基準マークが形成された基準部材に温度センサが取り付けられ、温調装置によって基準部材の温度調整を行っている。さらに、特許文献3に記載の露光装置では、マスクフレームに導電性を有する材料を使用して、マスクフレームを通電加熱して、ウェハとマスクフレームとの温度差によってウェハとマスクとを位置合わせすることが記載されている。
ところで、マスクを保持するマスク保持部はフレーム構造で組まれた構造体であり、光源からの熱によりフレーム構造が伸縮して露光精度が損なわれる可能性がある。しかしながら、特許文献1及び2に記載の露光装置では、ワークを保持するワーク保持部の温度調整を行っているが、マスク保持部については考慮されていない。また、特許文献3に記載の露光装置では、積極的にマスクフレームの温度を変化させて露光精度を与えるものであり、マスクフレームが光源からの熱を受けてしまうような場合には、十分に対処することができなかった。
本発明は、前述した課題に鑑みてなされたものであり、その目的は、マスク保持部のフレームの熱変形を抑制して、露光精度を向上することができる露光装置を提供することにある。
本発明の上記目的は、下記の構成により達成される。
(1) マスクを保持するマスク保持部と、
該マスク保持部を水平方向に駆動可能に保持するマスクステージと、
被露光材としてのワークを保持するワーク保持部と、
前記ワーク保持部に保持された前記ワークに、露光用光を前記マスクを介して照射する照明光学系と、
を備える露光装置であって、
前記マスクステージは、複数の中空フレームによって構成されており、該中空フレームの内部には流体が供給されることを特徴とする露光装置。
(2) 前記マスクステージは、略矩形状のマスク保持部を囲うように配置された、互いに平行な一対の第1中空フレームと、該第1中空フレームより短い互いに平行な一対の第2中空フレームと、によって構成され、
前記第2中空フレームの両端部が対向する前記第1中空フレームの側壁には、前記流体が流通する連通孔が形成されることを特徴とする(1)に記載の露光装置。
(3) 少なくとも1本の前記中空フレームには、前記ワークの露光領域に向けて前記流体を供給するノズルが取り付けられることを特徴とする(1)又は(2)に記載の露光装置。
(4) 前記露光装置は、サーマルチャンバ内に収容され、
前記中空フレームに供給される前記流体は、前記サーマルチャンバ内に供給されるエアと共に温調されたエアであることを特徴とする(1)から(3)のいずれかに記載の露光装置。
(1) マスクを保持するマスク保持部と、
該マスク保持部を水平方向に駆動可能に保持するマスクステージと、
被露光材としてのワークを保持するワーク保持部と、
前記ワーク保持部に保持された前記ワークに、露光用光を前記マスクを介して照射する照明光学系と、
を備える露光装置であって、
前記マスクステージは、複数の中空フレームによって構成されており、該中空フレームの内部には流体が供給されることを特徴とする露光装置。
(2) 前記マスクステージは、略矩形状のマスク保持部を囲うように配置された、互いに平行な一対の第1中空フレームと、該第1中空フレームより短い互いに平行な一対の第2中空フレームと、によって構成され、
前記第2中空フレームの両端部が対向する前記第1中空フレームの側壁には、前記流体が流通する連通孔が形成されることを特徴とする(1)に記載の露光装置。
(3) 少なくとも1本の前記中空フレームには、前記ワークの露光領域に向けて前記流体を供給するノズルが取り付けられることを特徴とする(1)又は(2)に記載の露光装置。
(4) 前記露光装置は、サーマルチャンバ内に収容され、
前記中空フレームに供給される前記流体は、前記サーマルチャンバ内に供給されるエアと共に温調されたエアであることを特徴とする(1)から(3)のいずれかに記載の露光装置。
本発明の露光装置によれば、マスクステージは、複数の中空フレームによって構成されており、中空フレームの内部には流体が供給されるので、該中空フレームの熱変形を抑制して、露光精度を向上することができる。
以下、本発明に係る露光装置について、図面に基づいて詳細に説明する。
図1に示すように、近接露光装置1は、マスクMを保持するマスクステージ10と、ガラス基板(被露光材としてのワーク)Wを保持するワークステージ(ワーク保持部)20と、パターン露光用の光を照射する照射手段としての照明光学系30と、ワークステージ20をX軸,Y軸,Z軸方向に移動し、且つワークステージ20のチルト調整を行うワークステージ移動機構40と、マスクステージ10及びワークステージ移動機構40を支持する装置ベース50と、を備え、サーマルチャンバ80内に収容されている。
なお、ガラス基板W(以下、単に「ワークW」と称する。)は、マスクMに対向配置されており、このマスクMに描かれたマスクパターンを露光転写すべく表面(マスクMの対向面側)に感光剤が塗布されている。また、マスクMは、溶融石英からなり、長方形状に形成されている。
マスクステージ10は、図1〜図3に示すように、中央部に矩形形状の開口部11aが形成されるマスクステージベース11と、マスクステージベース11の開口部11aにX軸,Y軸,θ方向に移動可能に装着されるマスク保持枠(マスク保持部)12と、マスク保持枠12に取り付けられ、マスクMを吸着保持するチャック部14と、マスク保持枠12とチャック部とをX軸,Y軸,θ方向に移動させ、このマスク保持枠12に保持されるマスクMの位置を調整するマスク位置調整機構(マスク駆動部)16と、を備える。
マスクステージベース11は、装置ベース50上に立設される支柱51、及び支柱51の上端部に設けられるZ軸移動装置52によりZ軸方向に移動可能に支持され、ワークステージ20の上方に配置される。Z軸移動装置52は、例えば、モータ及びボールねじ等からなる電動アクチュエータ、或いは空圧シリンダ等を備え、単純な上下動作を行うことにより、マスクステージ10を所定の位置まで昇降させる。なお、Z軸移動装置52は、マスクMの交換や、ワークチャック21の清掃等の際に使用される。
マスク位置調整機構16は、マスク保持枠12のX軸方向に沿う一辺に取り付けられる1台のY軸方向駆動装置16yと、マスク保持枠12のY軸方向に沿う一辺に取り付けられる2台のX軸方向駆動装置16xと、を備える。
そして、マスク位置調整機構16では、1台のY軸方向駆動装置16yを駆動させることによりマスク保持枠12をY軸方向に移動させ、2台のX軸方向駆動装置16xを同等に駆動させることによりマスク保持枠12をX軸方向に移動させる。また、2台のX軸方向駆動装置16xのどちらか一方を駆動することによりマスク保持枠12をθ方向に移動(Z軸回りの回転)させる。
さらに、マスクステージベース11の上面には、図3に示すように、マスクMとワークWとの対向面間のギャップを測定するギャップセンサ17と、マスクMのアライメントマークとワークWのアライメントマークを撮像するためのアライメントカメラ18と、が設けられる。これらギャップセンサ17及びアライメントカメラ18は、移動機構19を介してX軸,Y軸方向に移動可能に保持され、マスク保持枠12内に配置される。
なお、マスクステージベース11の上面には、図3に示すように、マスクステージベース11の開口部11aのX軸方向の両端部に、マスクMの両端部を必要に応じて遮蔽するマスキングアパーチャ38が設けられる。このマスキングアパーチャ38は、モータ、ボールねじ、及びリニアガイド等からなるマスキングアパーチャ駆動機構39によりX軸方向に移動可能とされて、マスクMの両端部の遮蔽面積を調整する。なお、マスキングアパーチャ38は、開口部11aのX軸方向の両端部だけでなく、開口部11aのY軸方向の両端部に同様に設けてもよい。
ワークステージ20は、図1及び図2に示すように、ワークステージ移動機構40上に設置されており、ワークWをワークステージ20に保持するための吸着面22を上面に有するワークチャック21を備える。なお、ワークチャック21は、真空吸着によりワークWを保持している。
ワークステージ移動機構40は、図2及び図3に示すように、ワークステージ20をY軸方向に移動させるY軸送り機構41と、ワークステージ20をX軸方向に移動させるX軸送り機構42と、ワークステージ20のチルト調整を行うと共に、ワークステージ20をZ軸方向に微動させるZ−チルト調整機構43と、を備える。
Y軸送り機構41は、装置ベース50の上面にY軸方向に沿って設置される一対のリニアガイド44と、リニアガイド44によりY軸方向に移動可能に支持されるY軸テーブル45と、Y軸テーブル45をY軸方向に移動させるY軸送り駆動装置46と、を備える。そして、Y軸送り駆動装置46のモータ46cを駆動させ、ボールねじ軸46bを回転させることにより、ボールねじナット46aとともにY軸テーブル45をリニアガイド44の案内レール44aに沿って移動させて、ワークステージ20をY軸方向に移動させる。
また、X軸送り機構42は、Y軸テーブル45の上面にX軸方向に沿って設置される一対のリニアガイド47と、リニアガイド47によりX軸方向に移動可能に支持されるX軸テーブル48と、X軸テーブル48をX軸方向に移動させるX軸送り駆動装置49と、を備える。そして、X軸送り駆動装置49のモータ49cを駆動させ、ボールねじ軸49bを回転させることにより、不図示のボールねじナットとともにX軸テーブル48をリニアガイド47の案内レール47aに沿って移動させて、ワークステージ20をX軸方向に移動させる。
Z−チルト調整機構43は、X軸テーブル48上に設置されるモータ43aと、モータ43aによって回転駆動されるボールねじ軸43bと、くさび状に形成され、ボールねじ軸43bに螺合されるくさび状ナット43cと、ワークステージ20の下面にくさび状に突設され、くさび状ナット43cの傾斜面に係合するくさび部43dと、を備える。そして、本実施形態では、Z−チルト調整機構43は、X軸テーブル48のX軸方向の一端側(図1の手前側)に2台、他端側に1台(図1の奥手側、図2参照。)の計3台設置され、それぞれが独立して駆動制御されている。なお、Z−チルト調整機構43の設置数は任意である。
そして、Z−チルト調整機構43では、モータ43aによりボールねじ軸43bを回転駆動させることによって、くさび状ナット43cがX軸方向に水平移動し、この水平移動運動がくさび状ナット43c及びくさび部43dの斜面作用により高精度の上下微動運動に変換されて、くさび部43dがZ方向に微動する。従って、3台のZ−チルト調整機構43を同じ量だけ駆動させることにより、ワークステージ20をZ軸方向に微動することができ、また、3台のZ−チルト調整機構43を独立して駆動させることにより、ワークステージ20のチルト調整を行うことができる。これにより、ワークステージ20のZ軸,チルト方向の位置を微調整して、マスクMとワークWとを所定の間隔を存して平行に対向させることができる。
図4に示すように、照明光学系30は、紫外線照射用の光源である例えば高圧水銀ランプ31と、この高圧水銀ランプ31から照射された光を集光する凹面鏡32と、この凹面鏡32の焦点近傍に切替え自在に配置された二種類のオプチカルインテグレータ33と、光路の向きを変えるための平面ミラー35,36及び球面ミラー37と、この平面ミラー35とオプチカルインテグレータ33との間に配置されて照射光路を開閉制御する露光制御用シャッター34と、を備える。
さらに、近接露光装置1には、図1及び図2に示すように、ワークステージ20の位置を検出する位置測定装置であるレーザー測長装置60が設けられる。このレーザー測長装置60は、ワークステージ移動機構40の駆動に際して発生するワークステージ20の移動距離を測定するものである。
レーザー測長装置60は、ステー(不図示)に固定されてワークステージ20のX軸方向側面に沿うように配設されるX軸用ミラー64と、ステー71に固定されてワークステージ20のY軸方向側面に沿うように配設されるY軸用ミラー65と、装置ベース50のX軸方向端部に配設され、レーザー光(計測光)をX軸用ミラー64に照射し、X軸用ミラー64により反射されたレーザー光を受光して、ワークステージ20の位置を計測するX軸測長器(測長器)61及びヨーイング測定器(測長器)62と、装置ベース50のY軸方向端部に配設され、レーザー光をY軸用ミラー65に照射し、Y軸用ミラー65により反射されたレーザー光を受光して、ワークステージ20の位置を計測する1台のY軸測長器(測長器)63と、を備える。
そして、レーザー測長装置60では、X軸測長器61、ヨーイング測定器62、及びY軸測長器63からX軸用ミラー64及びY軸用ミラー65に照射されたレーザー光が、X軸用ミラー64及びY軸用ミラー65で反射されることにより、ワークステージ20のX軸,Y軸方向の位置が高精度に計測される。また、X軸方向の位置データはX軸測長器61により、θ方向の位置はヨーイング測定器62により測定される。なお、ワークステージ20の位置は、レーザー測長装置60により測定されたX軸方向位置、Y軸方向位置、及びθ方向の位置を加味して、適宜補正を加えることにより算出される。
図2に示すように、サーマルチャンバ80の側方には、近接露光装置1を収容するサーマルチャンバ80の内部環境(温度等)を一定に保つため加圧ファン81、冷却装置82、ヒーター83を備えた流体供給装置84が設けられている。これにより、サーマルチャンバ80内のエアを取り込み、冷却装置82、ヒーター83により温度制御されたエアをサーマルチャンバ80内に送り込む。
このように構成された近接露光装置1を用いて、ワークWを露光する際には、まず、プリアライメント後のワークWがワークステージ20に搬送されて、露光位置に保持される。そして、Z−チルト調整機構43及びギャップセンサ17によってマスクMの下面とワークWの上面とのすきま量が目標値となるように、ワークステージ20を上下微動させる後述するギャップ制御が行われる。
次に、すきま量が目標値となった状態で、マスクMのアライメントマークとワークWのアライメントマークとをアライメントカメラ18によって撮像しながら、ワークWとマスクMのアライメント調整を行う。
そして、必要に応じてマスキングアパーチャ38を駆動した後、照明光学系30では、露光制御用シャッター34を開制御し、高圧水銀ランプ31から照射された光が、図1に示す光路Lを経て、マスクステージ10に保持されるマスクM、さらにはワークステージ20に保持されるワークWの表面に対して垂直にパターン露光用の平行光として照射される。これにより、マスクMのマスクパターンがワークW上に露光転写が行われる。
そして、必要に応じてマスキングアパーチャ38を駆動した後、照明光学系30では、露光制御用シャッター34を開制御し、高圧水銀ランプ31から照射された光が、図1に示す光路Lを経て、マスクステージ10に保持されるマスクM、さらにはワークステージ20に保持されるワークWの表面に対して垂直にパターン露光用の平行光として照射される。これにより、マスクMのマスクパターンがワークW上に露光転写が行われる。
ここで、マスクステージベース11は、図3に示すように、略矩形状のマスク保持枠12を囲うように配置された複数の中空フレーム91〜94、即ち、互いに平行な一対の第1中空フレーム91,92と、第1フレーム91,92より短い、互いに平行な一対の第2中空フレーム93,94と、によって構成されている。一方の第1中空フレーム91の一端部91aは開口している一方、他端部91bは図示しない蓋によって密閉されている。また、他方の第1中空フレーム92の一端部92aは密閉される一方、他端部92bは開口している。そして、第1中空フレーム91の開口した一端部91aは、流体供給装置84によって温調されたエアを供給するためのダクト85が接続されている(図2参照。)。
また、第2中空フレーム93,94の両端部が対向する第1中空フレーム91,92の側壁には、エアが流通する連通孔91c,91d,92c,92dが形成されている。このため、サーマルチャンバ80内に供給されるエアと同じく温調された、ダクト85から供給されるエアは、図3に示すように、第1中空フレーム91の内部を流通し、第2中空フレーム93,94の内部、及び第1中空フレーム92の内部を通って、第1中空フレーム92の他端部92bから排出される。これにより、照明光学系30からの熱による、マスクステージベース11、即ち、これらのフレーム91〜94の撓み等の熱変形を防止することができる。なお、各中空フレーム91〜94の内部には、マスクステージベース11に取り付けられた各部材の配線が配索されていてもよい。
従って、本実施形態の近接露光装置1によれば、マスクステージベース11は、複数の中空フレーム91〜94によって構成されており、中空フレーム91〜94の内部には流体が供給されるので、中空フレーム91〜94の熱変形を抑制して、露光精度を向上することができる。
また、マスクステージベース11は、略矩形状のマスク保持枠12を囲うように配置された、互いに平行な一対の第1中空フレーム91,92と、第1中空フレーム91,92より短い互いに平行な一対の第2中空フレーム93,94と、によって構成され、第2中空フレーム93,94の両端部が対向する第1中空フレーム91,92の側壁には、エアが流通する連通孔91c,91d,92c,92dが形成されるので、取り込んだエアを第1及び第2中空フレーム91〜94内に流通させることができる。
さらに、近接露光装置1は、サーマルチャンバ80内に収容され、中空フレーム91〜94に供給されるエアは、サーマルチャンバ80内に供給されるエアと共に温調されたエアであるので、別途流体供給装置を設ける必要がなく、容易に構成することができる。
なお、本発明は前述した各実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において適宜変更可能である。
例えば、第1中空フレーム92の他端部92bに図示しない吸気ファンを取り付けて、サーマルチャンバ80内のエアを第1中空フレーム92の一端部91aから吸い込むようにしてもよい。また、マスクステージベースを構成する中空フレームの組み方や流体の流し方は任意であり、第1中空フレーム91,92の一端部91a,92aの両方からエアを内部に流通するようにしてもよい。さらに、中空フレーム内を流通させる流体もエアに限定されず、温調できるものであればよい。
また、図5に示す変形例のように、少なくとも1本の中空フレーム(図では、中空フレーム93,94)に、ワークの露光領域に向けてエアを供給する複数のノズル95、96を取り付け、図示しない温度センサで検出された温度に応じてノズル95,96を開閉させてもよい。
さらに、マスク保持枠12が中空フレームによって構成される場合には、中空フレーム91〜94と連通するように配管することで、マスク保持部12にも温調したエアを供給することができる。
1 近接露光装置
10 マスクステージ
12 マスク保持枠(マスク保持部)
14 チャック部
17 ギャップセンサ
20 ワークステージ
21 ワークチャック
22 吸着面
43 Z−チルト調整機構
84 流体供給装置
91,92 第1中空フレーム(中空フレーム)
93,94 第2中空フレーム(中空フレーム)
95,96 ノズル
M マスク
W ガラス基板(被露光材としてのワーク)
10 マスクステージ
12 マスク保持枠(マスク保持部)
14 チャック部
17 ギャップセンサ
20 ワークステージ
21 ワークチャック
22 吸着面
43 Z−チルト調整機構
84 流体供給装置
91,92 第1中空フレーム(中空フレーム)
93,94 第2中空フレーム(中空フレーム)
95,96 ノズル
M マスク
W ガラス基板(被露光材としてのワーク)
Claims (4)
- マスクを保持するマスク保持部と、
該マスク保持部を水平方向に駆動可能に保持するマスクステージと、
被露光材としてのワークを保持するワーク保持部と、
前記ワーク保持部に保持された前記ワークに、露光用光を前記マスクを介して照射する照明光学系と、
を備える露光装置であって、
前記マスクステージは、複数の中空フレームによって構成されており、該中空フレームの内部には流体が供給されることを特徴とする露光装置。 - 前記マスクステージは、略矩形状のマスク保持部を囲うように配置された、互いに平行な一対の第1中空フレームと、該第1中空フレームより短い互いに平行な一対の第2中空フレームと、によって構成され、
前記第2中空フレームの両端部が対向する前記第1中空フレームの側壁には、前記流体が流通する連通孔が形成されることを特徴とする請求項1に記載の露光装置。 - 少なくとも1本の前記中空フレームには、前記ワークの露光領域に向けて前記流体を供給するノズルが取り付けられることを特徴とする請求項1又は2に記載の露光装置。
- 前記露光装置は、サーマルチャンバ内に収容され、
前記中空フレームに供給される前記流体は、前記サーマルチャンバ内に供給されるエアと共に温調されたエアであることを特徴とする請求項1から3のいずれかに記載の露光装置。
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Date | Code | Title | Description |
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A711 | Notification of change in applicant |
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