JP2011158489A - オシロスコープの校正方法 - Google Patents
オシロスコープの校正方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2011158489A JP2011158489A JP2011119166A JP2011119166A JP2011158489A JP 2011158489 A JP2011158489 A JP 2011158489A JP 2011119166 A JP2011119166 A JP 2011119166A JP 2011119166 A JP2011119166 A JP 2011119166A JP 2011158489 A JP2011158489 A JP 2011158489A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- response
- oscilloscope
- channel
- filter
- enhancement filter
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R13/00—Arrangements for displaying electric variables or waveforms
- G01R13/02—Arrangements for displaying electric variables or waveforms for displaying measured electric variables in digital form
- G01R13/0218—Circuits therefor
- G01R13/0272—Circuits therefor for sampling
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R13/00—Arrangements for displaying electric variables or waveforms
- G01R13/02—Arrangements for displaying electric variables or waveforms for displaying measured electric variables in digital form
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Abstract
【解決手段】各チャネル110は、アナログ・コンポーネント112と、デジタル・コンポーネント118〜124を含んでおり、強調フィルタ120が各チャネルの応答を強調する。校正信号を各チャネルに供給して得られるステップ応答と、オシロスコープの所望ステップ応答とから、強調フィルタのフィルタ係数を求めて、強調フィルタの特性を設定する。
【選択図】図1
Description
本発明の要旨は、特許請求の範囲に記載されているが、本発明の構成、動作方法、目的、特徴、利点は、添付図を参照した以下の詳細な説明から明らかになろう。なお、図を簡単且つ明瞭にするため、各図のブロックの大きさを考慮していない。例えば、いくつかのブロックを他のブロックよりも拡大して明瞭にしている。さらに、対応するブロック及び類似のブロックは、各図において同じ参照符号を用いている。
hchannel * hfilter =hdesired
この関係を用いて、校正期間中の測定の少なくとも一部により決まるチャネル110の応答に少なくとも部分的に基づいて、強調フィルタ係数316を決めてもよい。いくつかの技術により強調フィルタ120の応答が求まる。この方法には、例えば、相互相関、時間領域のディコンボリューション又は周波数領域のディコンボリューション、及び/又はホーモモラフィック(hormomorphic)ディコンボリューション方法を含むが、本発明はこれに限定されるものではない。
ychannel=ychannelr +nchannel
同様なチャネルのインパルス応答は、微分により求めることができ、次のようになる。
ychannel * hfilter = ydesired
ここで、ydesiredは、所望のステップ応答である。また、強調フィルタ120のインパルス応答により畳み込まれたチャネルのステップ応答ychannelは、この実施例において所望フィルタ応答314のステップ応答に影響される。よって、一実施例において、チャネル110のステップ応答の測定を用いて、強調フィルタ120のインパルス応答を得ることができる。ここで、チャネルのステップ応答が測定されるが微分されないので、チャネルの測定ノイズは、校正期間中のノイズ・エラー未満となるが、本発明はこれに限定されるものではない。
k:=L N+L-1
u:=0 N+L-1
m:=0 L-1
n:=0 L-1
実際のチャネル応答自己相関マトリクスは、Rにより次のように表せる。
W:=R-1P
オシロスコープ100用の帯域幅強調が動作中ならば、強調フィルタ係数316をオシロスコープ100に蓄積して、強調フィルタ120を導入できる。
110 チャネル
112 増幅器
114 トラック・ホールド回路
116 A/D変換器
118 デマルチプレクサ
120 強調フィルタ
122 専用DSP回路
124 取込みメモリ
126 トリガ・システム
128 システムDSP
130 表示DSP
200 チャネル回路
300 校正システム
310 ステップ発生器
312 インパルス発生器
314 所望フィルタ応答
316 強調フィルタ係数
Claims (1)
- オシロスコープの校正方法であって、
上記オシロスコープの所望フィルタ応答を選択するステップと、
上記オシロスコープのチャネルの応答と、上記選択されたフィルタ応答とに少なくとも部分的に基づいて、強調フィルタの応答を計算するステップと、
上記強調フィルタの応答を蓄積するステップと、
校正信号を上記オシロスコープのチャネルに供給するステップと、
上記校正信号の供給に応答して上記チャネルのステップ応答を測定するステップとを具え、
上記測定ステップは、等化時間サンプリング・モード及び補間取り込みモードの少なくとも一方にて上記オシロスコープを動作させ、実時間サンプリング・レートに対してデシメーションのためのアンチ・エリアシング・フィルタを用いることを特徴とするオシロスコープの校正方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US11/097,568 US7206722B2 (en) | 2005-04-01 | 2005-04-01 | Oscilloscope having an enhancement filter |
US11/097,568 | 2005-04-01 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006098729A Division JP2006284587A (ja) | 2005-04-01 | 2006-03-31 | オシロスコープ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011158489A true JP2011158489A (ja) | 2011-08-18 |
JP5523394B2 JP5523394B2 (ja) | 2014-06-18 |
Family
ID=37071653
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006098729A Pending JP2006284587A (ja) | 2005-04-01 | 2006-03-31 | オシロスコープ |
JP2011119166A Expired - Fee Related JP5523394B2 (ja) | 2005-04-01 | 2011-05-27 | オシロスコープの校正方法 |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006098729A Pending JP2006284587A (ja) | 2005-04-01 | 2006-03-31 | オシロスコープ |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7206722B2 (ja) |
JP (2) | JP2006284587A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101522360B1 (ko) * | 2013-11-15 | 2015-05-22 | 한국표준과학연구원 | 오실로스코프 위상특성 교정 시스템 및 방법 |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7890061B2 (en) * | 2006-06-27 | 2011-02-15 | Intel Corporation | Selective 40 MHz operation in 2.4 GHz band |
DE102006037221B4 (de) * | 2006-08-09 | 2018-07-19 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Vorrichtung und Verfahren zur Verarbeitung und Darstellung eines abgetasteten Signals |
GB0717840D0 (en) * | 2007-09-13 | 2007-10-24 | Nxp Bv | A signal sampling circuit |
US7945408B2 (en) * | 2007-09-20 | 2011-05-17 | Voxis, Inc. | Time delay estimation |
FR2927741B1 (fr) * | 2008-02-19 | 2011-08-05 | E2V Semiconductors | Procede et dispositif pour ameliorer la bande passante d'un systeme physique |
AR073129A1 (es) * | 2008-08-26 | 2010-10-13 | Spx Corp | Modulo de osciloscopio digital con deteccion de fallas en la recepcion de la senal. |
AR073128A1 (es) * | 2008-08-26 | 2010-10-13 | Spx Corp | Modulo de osciloscopio digital |
US8248282B2 (en) * | 2010-08-17 | 2012-08-21 | Texas Instruments Incorporated | Track and hold architecture with tunable bandwidth |
US8705601B2 (en) * | 2010-08-30 | 2014-04-22 | Tektronix, Inc. | Apparatus and method for varying inter symbol interference and bandwidth extension pre-emphasis on a high speed digital signal |
US8788234B2 (en) * | 2010-10-15 | 2014-07-22 | Tektronix, Inc. | Method of calibrating interleaved digitizer channels |
US9239343B2 (en) * | 2011-06-06 | 2016-01-19 | Tektronix, Inc. | Interleaved digital down-conversion on a test and measurement instrument |
DE102013221394A1 (de) * | 2013-10-22 | 2015-04-23 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Messgerät und Verfahren zur Messung eines Hochfrequenzsignals mit Deembedding |
CN106896251B (zh) * | 2015-12-17 | 2019-06-04 | 北京航天测控技术有限公司 | 一种示波器带内平坦度的自动修正方法 |
CN108254608B (zh) * | 2016-12-29 | 2022-04-05 | 北京普源精电科技有限公司 | 数字示波器及数字示波器的自校准方法 |
JP6939652B2 (ja) * | 2018-03-08 | 2021-09-22 | オムロン株式会社 | デジタルフィルタ設定装置、デジタルフィルタ設定装置の制御方法、および制御プログラム |
US11758308B2 (en) * | 2019-10-11 | 2023-09-12 | Schneider Electric USA, Inc. | Systems and methods for improving frequency response of a high-speed data acquisition device |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03238361A (ja) * | 1990-02-16 | 1991-10-24 | Yokogawa Electric Corp | デジタルオシロスコープ |
JPH10282153A (ja) * | 1997-04-04 | 1998-10-23 | Tektronix Inc | サンプリング方法及びチャンネル補償方法 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6234658B1 (en) * | 1996-06-07 | 2001-05-22 | Duality Semiconductor, Inc. | Method and apparatus for producing signal processing circuits in the delta sigma domain |
US6111400A (en) * | 1998-10-30 | 2000-08-29 | Agilent Technologies | Digital oscilloscope's automated parameter measurement cooperates with trigger reference |
US6473701B1 (en) * | 1999-11-22 | 2002-10-29 | Tektronix, Inc. | Alternate triggering in digital oscilloscopes |
US6459256B1 (en) * | 2000-05-17 | 2002-10-01 | Tektronix, Inc. | Digital storage oscilloscope |
US6542914B1 (en) | 2000-09-01 | 2003-04-01 | Lecroy Corporation | Method and apparatus for increasing bandwidth in sampled systems |
US6701335B2 (en) * | 2002-02-27 | 2004-03-02 | Lecroy Corporation | Digital frequency response compensator and arbitrary response generator system |
-
2005
- 2005-04-01 US US11/097,568 patent/US7206722B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2006
- 2006-03-31 JP JP2006098729A patent/JP2006284587A/ja active Pending
-
2011
- 2011-05-27 JP JP2011119166A patent/JP5523394B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03238361A (ja) * | 1990-02-16 | 1991-10-24 | Yokogawa Electric Corp | デジタルオシロスコープ |
JPH10282153A (ja) * | 1997-04-04 | 1998-10-23 | Tektronix Inc | サンプリング方法及びチャンネル補償方法 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101522360B1 (ko) * | 2013-11-15 | 2015-05-22 | 한국표준과학연구원 | 오실로스코프 위상특성 교정 시스템 및 방법 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20060224365A1 (en) | 2006-10-05 |
US7206722B2 (en) | 2007-04-17 |
JP2006284587A (ja) | 2006-10-19 |
JP5523394B2 (ja) | 2014-06-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5523394B2 (ja) | オシロスコープの校正方法 | |
US7408363B2 (en) | Signal analysis system and calibration method for processing acquires signal samples with an arbitrary load | |
US7460983B2 (en) | Signal analysis system and calibration method | |
US5930745A (en) | Front-end architecture for a measurement instrument | |
US7405575B2 (en) | Signal analysis system and calibration method for measuring the impedance of a device under test | |
EP2140280B1 (en) | Apparatus, method and computer program for obtaining a time-domain-reflection response-information | |
US20070041512A1 (en) | Calibration method and apparatus | |
JP2001526768A (ja) | 信号波形解析のための方法及び装置 | |
US20070276614A1 (en) | De-embed method for multiple probes coupled to a device under test | |
JPH07181204A (ja) | ロジック信号表示方法 | |
US20060182231A1 (en) | Apparatus and method for processing acquired signals for measuring the impedance of a device under test | |
US20060210022A1 (en) | Apparatus and method for processing acquired signals for arbitrary impedance loads | |
EP2442116A2 (en) | Method of calibrating interleaved digitizer channels | |
US20070041511A1 (en) | Apparatus and method for processing a signal under test for measuring the impedance of a device under test | |
US20110103451A1 (en) | System for Independently Modifying Jitter and Noise Components in a Signal Measurement Device | |
US20070276622A1 (en) | Calibration method and apparatus using a trigger signal synchronous with a signal under test | |
US10732222B2 (en) | Real-time oscilloscope with a built-in time domain reflectometry (TDR) and/or time-domain transmission (TDT) function | |
US20040236527A1 (en) | Method and apparatus for synchronous viewing of asynchronous waveforms | |
US20070273389A1 (en) | Apparatus and method for processing a signal under test using a trigger signal synchronous with the signal under test for arbitrary impedance loads | |
US7219025B2 (en) | Waveform measuring instrument using interpolated data | |
US10955441B2 (en) | Measurement system and method for operating a measurement system | |
JP3257769B2 (ja) | Ad変換器の評価装置 | |
US6998834B2 (en) | Real-time time drift adjustment for a TDR step stimulus | |
US6339389B1 (en) | Method of testing analog to digital converters | |
Pickerd | DSP in high performance oscilloscopes |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110527 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20111110 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130823 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130827 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20131125 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20131128 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20131226 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20140107 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20140124 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20140129 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140227 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140318 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140408 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5523394 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |