JP2011146466A - パワーモジュール - Google Patents

パワーモジュール Download PDF

Info

Publication number
JP2011146466A
JP2011146466A JP2010004851A JP2010004851A JP2011146466A JP 2011146466 A JP2011146466 A JP 2011146466A JP 2010004851 A JP2010004851 A JP 2010004851A JP 2010004851 A JP2010004851 A JP 2010004851A JP 2011146466 A JP2011146466 A JP 2011146466A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cooler
power module
circuit unit
heat
semiconductor element
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2010004851A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5365529B2 (ja
Inventor
Yuji Yoshida
裕次 吉田
Tomoshi Tachibana
知志 橘
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toyota Motor Corp
Original Assignee
Toyota Motor Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toyota Motor Corp filed Critical Toyota Motor Corp
Priority to JP2010004851A priority Critical patent/JP5365529B2/ja
Publication of JP2011146466A publication Critical patent/JP2011146466A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5365529B2 publication Critical patent/JP5365529B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L24/33Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of a plurality of layer connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73265Layer and wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/13Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
    • H01L2924/1304Transistor
    • H01L2924/1305Bipolar Junction Transistor [BJT]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/13Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
    • H01L2924/1304Transistor
    • H01L2924/1305Bipolar Junction Transistor [BJT]
    • H01L2924/13055Insulated gate bipolar transistor [IGBT]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/35Mechanical effects
    • H01L2924/351Thermal stress

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Electrical Apparatus (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

【課題】高放熱性、かつ高剛性であり、熱膨張差による反りや変形等を効果的に抑止して、これらに起因するはんだ層や半導体素子に生じ得るクラック等の損傷を抑止でき、もって高耐久なパワーモジュールを提供する。
【解決手段】少なくとも基板2と半導体素子1とからなる回路ユニット4が第1の冷却器11の一側面に載置固定され、該一側面上に回路ユニット4を封止する封止樹脂体7が形成されてなるパワーモジュールにおいて、回路ユニット4の側方に第2の冷却器12が配設され、第1の冷却器11の前記一側面と熱連通している。
【選択図】図1

Description

本発明は、放熱性能に優れたパワーモジュールに関するものである。
IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)等の半導体素子を搭載したパワーモジュールにおいては、該素子からの発熱を効率よく放熱し、発熱時においても基準温度以下となるような調整が図られている。
ここで、従来のパワーモジュールの実装構造を図7に基づいて説明すると、窒化アルミニウム(AlN)板や純アルミニウム板の積層体等からなる絶縁基板b(DBA(Direct Brazed Aluminum)ともいう)の一側面に半導体素子aがはんだ層cを介して固定されて回路ユニットdを成し、絶縁基板bの他側面には半導体素子aからの熱を絶縁基板bを介して放熱するための放熱板e(ヒートシンク)、および冷却器fがはんだ付けもしくは接着剤にて接合されてパワーモジュールPが形成されている。ここで、この冷却器fは、冷水等の冷媒を還流させる流路f1を備え、流路f1内を還流する冷媒によって放熱板eからの放熱とクーリングを図っている。
上記のごとく、従来のパワーモジュールは各種構成部材の多層積層構造となっているが、たとえば半導体素子の熱膨張率が3ppm/K程度、絶縁基板の熱膨張率が4〜5ppm/K程度、ヒートシンクアルミ板の熱膨張率が25ppm/K程度と構成部材ごとに熱膨張率が非常に異なっている。
ところで、上記するパワーモジュールがハイブリッド自動車や電気自動車に搭載される場合には、長期に亘り、しかも寒暖差が極めて激しい冷熱サイクルに対してその耐久性の確保が要求される。しかし、上記のごとく構成部材ごとに熱膨張率が大きく異なっていることから、それぞれの部材を直付けした場合には、温度変化に起因する熱膨張差によって熱応力が構成部材間の接合部に生じ、たとえば構造弱部であるはんだ層等の界面でクラックが生じ、これがパワーモジュールの耐久性を低下させる大きな要因となり得る。
特に、近時のパワーモジュールはその小型化が進んでおり、このパワーモジュールの小型化に伴って素子が発する熱もより大きなものとなり、かつ単位面積当りの熱量が増大していること、小型化に伴って構成部材の熱拡散面積が低下していること、冷却器による冷却性能には自ずと限界があること、などから、発熱を許容しながらも、回路ユニットに発熱に伴う変形や応力が作用し難い構造を有するパワーモジュールの開発が急務の課題となっている。
なお、上記するパワーモジュールの冷却器に関する従来技術として特許文献1に開示の技術を挙げることができるが、本発明者等は、パワーモジュール全体の構造を改良することにより、小型化とそれに伴う熱応力の増大に対して優れた放熱性能と応力緩和性能を発揮できるパワーモジュールの発案に至った。
特開2007−258352号公報
本発明は、上記する問題に鑑みてなされたものであり、パワーモジュール全体の構造を改良することにより、該パワーモジュールの小型化とそれに伴う熱応力の増大に対して優れた放熱性能と応力緩和性能を発揮できるパワーモジュールを提供することを目的とする。
前記目的を達成すべく、本発明によるパワーモジュールは、少なくとも基板と半導体素子とからなる回路ユニットが第1の冷却器の一側面に載置固定され、該一側面上に該回路ユニットを封止する封止樹脂体が形成されてなるパワーモジュールにおいて、前記回路ユニットの側方に第2の冷却器が配設され、第1の冷却器の前記一側面と熱連通しているものである。
本発明において、「基板」とは、回路基板、もしくは回路基板と絶縁基板の組み合わせ、もしくはそれらと放熱板の組み合わせなど、のすべてを総称するものである。また、この絶縁基板は、たとえば純アルミニウムからなる基板と窒化アルミニウムからなる基盤とを積層してなる積層体(DBA)であってもよいことは勿論のことである。
また、このパワーモジュールは、半導体素子、上記基板等の積層体が、絶縁素材(セラミックス、熱硬化性もしくは熱可塑性の樹脂素材、アルミニウムやその合金素材など)のケース内に収容されるものであっても、ケースレス構造のものであってもよい。
本発明のパワーモジュールは、熱源である半導体素子からの熱を放熱する従来構造の第1の冷却器に加えて、回路ユニットの側方に第2の冷却器を配設し、それを第1の冷却器と熱連通させることで、半導体素子を含む回路ユニットから側方へ放熱される熱が第2の冷却器を介して第1の冷却器へ伝熱され、第1の冷却器から冷媒を介して外部へ放熱される。すなわち、従来構造のパワーモジュールが、半導体素子に対して下方向へ向かう放熱のみに依存するのに対して、本発明のパワーモジュールは、下方向へ向かう放熱に加えて、左右方向へ向かう放熱をも期待できることで、その放熱性能が高まるというものである。
また、第1の冷却器のみを有する従来のパワーモジュールと比較して、本発明のパワーモジュールは、この第1の冷却器に加えてさらに第2の冷却器を有することから、その曲げ剛性は格段に向上する。
したがって、放熱性能および曲げ剛性が向上することで、温度変化に起因する熱膨張差が抑制され、構成部材間の接合部に生じる熱応力が減少し、たとえば構造弱部であるはんだ層等の界面でのクラックの発生を抑制することが可能となり、パワーモジュールの耐久性の向上に繋がる。
また、上記する第2の冷却器が回路ユニットと当接する形態とすることで、回路ユニットから側方へ放熱される熱が直接的に第2の冷却器へ伝熱されることとなり、放熱性能が一層向上する。
さらに、第2の冷却器と回路ユニットが離れて配設される形態においては、第2の冷却器と回路ユニットが、たとえば高放熱絶縁樹脂等の放熱性能に優れた部材を介して接合されることで、優れた放熱性能を保証することができる。
ここで、第2の冷却器は第1の冷却器の一部から形成されることが好ましい。すなわち、第2の冷却器と第1の冷却器が一体成形されることで、第2の冷却器を第1の冷却器に接合する工程が不要となり、冷却器の製造効率が向上する。
また、本発明のパワーモジュールは、第1の冷却器の前記一側面で前記回路ユニットを囲繞するハウジングを有することで、第1の冷却器上に封止樹脂体を形成する領域が画成され、その内部に半導体素子や基板等を一体として封止することができる。さらに、ハウジングを第1の冷却器に接合することで、パワーモジュール全体の曲げ剛性が向上し、第1の冷却器上の接合部でのクラックの発生が抑制され、さらなるパワーモジュールの高耐久性に繋がる。
また、本発明によるパワーモジュールの他の実施の形態は、前記回路ユニットのうち、前記第1の冷却器側と反対側に第3の冷却器が配され、該第3の冷却器は、該回路ユニットの側方に該第3の冷却器と熱連通している別途の第2の冷却器を具備しており、該第1の冷却器と該第3の冷却器とで挟まれた領域であって、該回路ユニットの側方に封止樹脂体が形成されてなるものである。
上記する形態によれば、半導体素子から放熱される熱が、第1の冷却器側のみならず、第1の冷却器と反対側の第3の冷却器側へも伝熱できることに加えて、第3の冷却器と別途の第2の冷却器が熱連通していることで、半導体素子を含む回路ユニットから側方へ放熱される熱が、別途の第2の冷却器を介して第3の冷却器へも伝熱され、冷媒を介して外部へ放熱できる。すなわち、半導体素子の上下方向および左右方向への放熱によって、さらに優れた放熱性能を有するものとなる。
また、前記第3の冷却器と前記第1の冷却器が同一の構造を呈していることで、半導体素子を含む回路ユニットから放熱される熱が、第1の冷却器側と第3の冷却器側へ略均一に伝熱される。したがって、半導体素子から放熱される熱であって、第1の冷却器と第3の冷却器で挟まれた領域に篭もり得る熱を、半導体素子の上下方向へ略均一に放熱させることができる。
本発明のパワーモジュールは、上記のごとく、優れた放熱性能を有しており、かつ高剛性であることより、熱膨張量自体を抑制できることに加えて、構成部材間の熱膨張差に起因する変形や反りを抑制することができ、特に構造弱部であるはんだ層や半導体素子にクラック等が生じることを効果的に抑止できる。これらのことから、本発明のパワーモジュールは、高耐久性や高放熱性が要求される、近時のハイブリッド車や電気自動車に車載されるインバータ等に好適である。
以上の説明から理解できるように、本発明のパワーモジュールによれば、高放熱性、かつ高剛性であり、熱膨張差による反りや変形等を効果的に抑止することができるため、該反りや変形等に起因するはんだ層や半導体素子に生じ得るクラック等の損傷を抑止でき、もって高耐久なパワーモジュールを提供することができる。
本発明のパワーモジュールを示した縦断面図である。 図1で示すパワーモジュールの基板を変更した図である。 本発明のパワーモジュールの他の実施の形態を示した縦断面図である。 図3で示すパワーモジュールの基板を変更した図である。 半導体素子の両面側に冷却器を有する本発明のパワーモジュールを示した縦断面図である。 実験で使用した比較例のパワーモジュールを示した縦断面図である。 従来構造のパワーモジュールを示した縦断面図である。
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。
図1は本発明のパワーモジュールを模式的に示した縦断面図である。このパワーモジュール100は、冷水もしくは冷風、冷油などの冷媒が流れる冷媒還流路11aを具備する第1の冷却器11の上に、回路基板と放熱板を具備する基板2が放熱性に優れた絶縁樹脂5を介して接合され、この基板2の上にはんだ層3を介して半導体素子1が載置固定されている。ここで、半導体素子1と基板2との接合体を回路ユニット4という。そして、回路ユニット4を囲繞するハウジング8が載置固定され、半導体素子1とハウジング8は導線6(ボンディングワイヤ)によって電気的に接続される。また、回路ユニット4の側方には、第2の冷却器12が第1の冷却器11の上にろう付けされており、絶縁樹脂5を介して回路ユニット4が第2の冷却器12と接合されている。そして、これらの構成部材が第1の冷却器11とハウジング8とで画成された領域内に収容され、封止樹脂体7で封止されてその全体が構成されている。
ここで、上記する第2の冷却器12は、第1の冷却器11と一体に成形されるものでも、別体で成形されたものを接合するものでもよいが、前者のほうが製造工数が少ないことから好ましい。
次に、パワーモジュール100の使用時における、熱源である半導体素子1からの伝熱の態様を説明する。
半導体素子1から放熱される熱は、はんだ層3を介して基板2へ伝熱され(矢印A)、その熱の一部が絶縁樹脂5を介して第1の冷却器11へ伝熱されて(矢印B)、その下方を流れる冷媒を介してパワーモジュール100の外部へ放熱されることになる。また、回路ユニット4の側方へ放熱される熱は、絶縁樹脂5を介して第2の冷却器12へ伝熱され、接合部を介して第1の冷却器11へ伝熱されて(矢印C)、冷媒を介してその外部へ放熱されることになる。
また、図示するように、第1の冷却器1の上に第2の冷却器12がろう付けされて配されることで、これが構成部材の熱膨張時に生じ得る曲げモーメントに対する補強フランジとして機能し、第1の冷却器のみを有するパワーモジュールと比較して、相対的に曲げ剛性が向上することから、熱膨張差に起因する反りや変形を抑制することができる。
また、基板2は、2枚の純アルミニウム板の間に窒化アルミニウム板が介在された、いわゆるDBAからなるものであってもよい。図2は、図1で示すパワーモジュールの基板2をDBAに変更したものである。なお、図1と同じ構成に関する詳細な説明は省略する。
図示するように、純アルミニウム板14の間に窒化アルミニウム板13が介在されたDBA2Aは、第1の冷却器11Aの上にはんだ層9Aを介して接合され、DBA2Aの反対側の面の上にはんだ層3Aを介して半導体素子1Aが載置固定されている。また、DBA2Aを含む回路ユニット4Aの側方面が、絶縁樹脂5Aを介して第2の冷却器12Aと接合されている。
したがって、図1で示す実施例と同様に、回路ユニット4Aの側方へ放熱される熱は、絶縁樹脂5Aを介して第2の冷却器12Aへ伝熱され、接合部を介して第1の冷却器11Aへ伝熱されて、その下方を流れる冷媒を介して外部へ放熱されることになる。
また、図3は本発明のパワーモジュールの他の実施の形態を示した縦断面図である。図示するように、第2の冷却器12Bと回路ユニット4Bが離れて配設されているが、放熱性能に優れた封止樹脂体7Bでそれらを封止することで、第2の冷却器12Bと回路ユニット4Bが封止樹脂体7Bを介して熱連通可能となり、優れた放熱性能を保証することができる。
ここで、高放熱性を有する封止樹脂体7Bとしては、シリカ、アルミナ、窒化ホウ素、窒化ケイ素、炭化ケイ素、酸化マグネシウム等のフィラーを混合した封止樹脂体を挙げることができる。
また、上記する他の実施の形態において、図2と同様に、基板2BをDBAに変更できることは言うまでもない。つまり、図4で示すパワーモジュールは、図3と同様の伝熱効果を有するものである。
次に、図5は、第3の冷却器を有するパワーモジュールを示した縦断面図である。
このパワーモジュール200は、冷媒が流れる冷媒還流路31aを具備する第1の冷却器31の上に回路基板を具備する基板22がグリス層25を介して接合され、この基板22の上にはんだ層23を介して半導体素子21が載置固定され、半導体素子21の反対側にこれらの構成部材と同様の構成部材を有し、第1の冷却器31に対応する位置に第3の冷却器33が配されているものである。ここで、半導体素子21と基板22,22’との接合体を回路ユニット24という。そして、回路ユニット24の側方には、第1の冷却器31の上に第2の冷却器32がろう付けされており、グリス層25を介して回路ユニット24が第2の冷却器32と接合されている。また、第3の冷却器33の上には、第2の冷却器32に対応する別途の第2の冷却器(以下、「第4の冷却器」という)34がろう付けされており、グリス層26を介して回路ユニット24が第4の冷却器34と接合されている。そして、上記する構成部材が第1の冷却器31、第2の冷却器32、第3の冷却器33、および第4の冷却器34で挟まれた領域内に収容され、封止樹脂体27で封止されてその全体が構成されている。
ここで、基板22は、放熱ブロック28,30の間に高放熱性の絶縁樹脂29が介在されたものである。また、グリス層25,26は、たとえば放熱性能に優れたシリコングリス、セラミックグリス、熱伝導接着剤等から形成されるものである。
上記する形態によれば、半導体素子21から放熱される熱が、半導体素子21に対して上下方向および左右方向で各々の冷却器へ伝熱されることが可能となり、第1の冷却器31のみならず、第3の冷却器33を介してパワーモジュール200の外部へ放熱されることができる。すなわち、第1の冷却器31と第3の冷却器33で挟まれた領域に篭もり得る熱が、半導体素子21の上下方向や左右方向へ伝熱され、効率的にその外部へ放熱されることで、パワーモジュール200内部の温度上昇を抑制することが可能となる。
[パワーモジュールの放熱性能を評価するための実験とその結果]
本発明者等は、図1で示す実施の形態に関し、絶縁樹脂5の熱伝導率とその厚さを変更したテストピース(以下、「実施例1,2,3」という)を製作し、熱抵抗と絶縁樹脂5に働く応力を測定した。ここで、「厚さ」とは、基板2と第1の冷却器11の距離D1、および基板2と第2の冷却器12の距離D2を示称している。また、図6には、実施例と比較するためのパワーモジュール(以下、「比較例」という)を示している。図示する比較例において、絶縁樹脂5と第2の冷却器12以外の構成部材は実施例と同様の構成部材を使用している。
ここで、上記するテストピースは、以下に述べる手順に基づいて作成された。つまり、第2の冷却器12を一体に成形した第1の冷却器11と、はんだ層3を介して半導体素子1と接合している基板2(それらの結合体を、「回路ユニット4」という)を予め準備し、第2の冷却器12と第1の冷却器11で形成された領域に絶縁樹脂5を注入し、回路ユニット4を絶縁樹脂5部分に挿入して、絶縁樹脂5を硬化する。そして、ハウジング8を組み付け、ハウジング8と半導体素子1をボンディングワイヤ6で接続し、ハウジング8と第1の冷却器11とで画成された領域内に収容されたこれらの構成部材を、封止樹脂体7で封止するものである。
実験の測定結果を以下の表1に示す。
Figure 2011146466
表1で示すように、実施例1,2,3は比較例に対して、定常状態における放熱性能がそれぞれ35%、18%、15%向上している。また、3000サイクル後の熱抵抗に関し、比較例の熱抵抗が定常状態に対して38%増加している一方で、実施例1の増加率はわずか9%のみに抑制され、実施例2,3は熱抵抗が増加しないという結果が得られている。このことは、すなわち、比較例に対して3000サイクル後における実施例1,2,3の放熱性能がそれぞれ49%、38%、36%向上したことを意味するものである。
また、歪みゲージを用いて絶縁樹脂5に働く応力を測定した結果、定常状態では、比較例に対して、実施例1,2,3はそれぞれ27%、34%、29%の応力が改善されることが実証された。
この実験結果より、各実施例のパワーモジュールにおいては、構成部材間の熱膨張差による反りや変形等が抑制され、これに起因して生じ得るクラック等の発生を効果的に抑止できると結論付けられる。
このように高品質で高性能、高耐久なパワーモジュールは、搭載機器に高放熱性と高耐久性を要求する近時のハイブリッド車や電気自動車等に車載されるインバータ等への適用に最適である。
以上、本発明の実施の形態を図面を用いて詳述してきたが、具体的な構成はこの実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲における設計変更等があっても、それらは本発明に含まれるものである。
1,21…半導体素子、2,22…基板、3,9,23…はんだ層、4,24…回路ユニット、5,29…絶縁樹脂、6…導線、7,27…封止樹脂体、8…パッケージ、25,26…グリス層、11,31…第1の冷却器、12,32…第2の冷却器、33…第3の冷却器、34…第4の冷却器、100,200…パワーモジュール

Claims (7)

  1. 少なくとも基板と半導体素子とからなる回路ユニットが第1の冷却器の一側面に載置固定され、該一側面上に該回路ユニットを封止する封止樹脂体が形成されてなるパワーモジュールにおいて、
    前記回路ユニットの側方に第2の冷却器が配設され、第1の冷却器の前記一側面と熱連通している、パワーモジュール。
  2. 前記第2の冷却器と前記回路ユニットが当接している、請求項1に記載のパワーモジュール。
  3. 前記第2の冷却器と前記回路ユニットが離れて配設されている、請求項1に記載のパワーモジュール。
  4. 前記第2の冷却器が、前記第1の冷却器の一部からなる、請求項1〜3のいずれか一項に記載のパワーモジュール。
  5. 第1の冷却器の前記一側面で前記回路ユニットを囲繞するハウジングが載置固定され、該ハウジング内に封止樹脂体が形成されてなる、請求項1〜4のいずれか一項に記載のパワーモジュール。
  6. 前記回路ユニットのうち、前記第1の冷却器側と反対側に第3の冷却器が配され、該第3の冷却器は、該回路ユニットの側方に該第3の冷却器と熱連通している別途の第2の冷却器を具備しており、該第1の冷却器と該第3の冷却器とで挟まれた領域であって、該回路ユニットの側方に封止樹脂体が形成されている、請求項1〜5のいずれか一項に記載のパワーモジュール。
  7. 前記第3の冷却器と前記第1の冷却器が同一の構造を呈している、請求項6に記載のパワーモジュール。
JP2010004851A 2010-01-13 2010-01-13 パワーモジュール Expired - Fee Related JP5365529B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010004851A JP5365529B2 (ja) 2010-01-13 2010-01-13 パワーモジュール

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010004851A JP5365529B2 (ja) 2010-01-13 2010-01-13 パワーモジュール

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2011146466A true JP2011146466A (ja) 2011-07-28
JP5365529B2 JP5365529B2 (ja) 2013-12-11

Family

ID=44461077

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010004851A Expired - Fee Related JP5365529B2 (ja) 2010-01-13 2010-01-13 パワーモジュール

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5365529B2 (ja)

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003031732A (ja) * 2001-07-19 2003-01-31 Hitachi Ltd 絶縁型半導体装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003031732A (ja) * 2001-07-19 2003-01-31 Hitachi Ltd 絶縁型半導体装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP5365529B2 (ja) 2013-12-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6409690B2 (ja) 冷却モジュール
US8198539B2 (en) Heat radiator and power module
JP6199397B2 (ja) 半導体装置およびその製造方法
JP6257478B2 (ja) 電力用半導体装置
JP5472498B2 (ja) パワーモジュールの製造方法
US20100187680A1 (en) Heat radiator
TWI758579B (zh) 附散熱座功率模組用基板及功率模組
JP2006294971A (ja) パワーモジュール用基板及びその製造方法
JP2020072106A (ja) 半導体装置
JP2006245479A (ja) 電子部品冷却装置
JP2011159662A (ja) 半導体装置
US20100180441A1 (en) Method of brazing heat sink
JP2011216564A (ja) パワーモジュール及びその製造方法
JP4994123B2 (ja) パワー半導体モジュール
JP2009200258A (ja) 半導体モジュール
JP2012138475A (ja) 半導体モジュールおよび半導体モジュールの製造方法
JP4935783B2 (ja) 半導体装置および複合半導体装置
JP6218856B2 (ja) 電力変換装置
JP5772179B2 (ja) 半導体装置
JP5365529B2 (ja) パワーモジュール
WO2016079970A1 (ja) 冷却モジュール
JP2009224556A (ja) 印刷版及びそれを用いたパワーモジュールの組み付け方法
JP2008277317A (ja) パワーモジュール及び車両用インバータ
JP5963912B1 (ja) 半導体モジュール
JP2007081201A (ja) 絶縁回路基板および冷却シンク部付き絶縁回路基板

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20120312

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120828

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130326

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130515

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130813

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130826

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 5365529

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees