JP2011131157A - 描画データ補正方法および描画データ補正装置 - Google Patents
描画データ補正方法および描画データ補正装置 Download PDFInfo
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Abstract
【解決手段】ワークWの温度を測定する温度測定工程S11と、ワークW上の離間した2点間の距離を測定する距離測定工程S12と、温度測定工程S11で測定した測定温度と、予め記憶されている描画時の基準温度D2とを比較し、ワークWが高温状態にあるか低温状態にあるかを判定する温度判定工程S13と、距離測定工程S12で測定した測定距離と、予め記憶されている2点間の設計上の基準距離とを比較し、ワークWが膨張状態にあるか収縮状態にあるかを判定する距離判定工程S14と、温度判定工程S13での判定結果および距離判定工程S14での判定結果が、高温状態且つ膨張状態にある場合および低温状態且つ収縮状態にある場合にのみ、描画データD1を補正するデータ補正工程S15と、を備えた。
【選択図】図8
Description
しかし、この構成によれば、ワークの給除材を妨げることなく、間接的にワークの温度を簡単に確認することができる。
続いて、図2ないし図4を参照して、第1実施形態に係る液滴吐出装置1について説明する。液滴吐出装置1は、石定盤に支持されたX軸支持ベース21上に配設され、主走査方向となるX軸方向に延在して、ワークWをX軸方向に移動させるX軸テーブル2と、複数本の支柱33を介してX軸テーブル2を跨ぐように架け渡された一対のY軸支持ベース31上に配設され、副走査方向となるY軸方向に延在するY軸テーブル3と、複数の機能液滴吐出ヘッド44が搭載された10個のキャリッジユニット4と、X軸テーブル2に給材されたワークWの位置校正(アライメント)を行うアライメントユニット5と、を備えている。また、液滴吐出装置1は、これらの装置を、温度および湿度が管理された雰囲気内に収容するチャンバー(図示省略)と、チャンバーを貫通して各機能液滴吐出ヘッド44に機能液を供給する機能液供給ユニット(図示省略)と、装置全体を統括制御する制御装置6と、を備えている。チャンバーの側壁の一部には、機能液供給ユニットの主要部を為す複数のメインタンクユニット(図示省略)が配設されている。
また、他のプリアライメントの方法(手段)として、視野角の広いプリアライメントカメラ(図示省略)を、ブリッジフレーム51またはY軸支時ベース31等に配設し、このカメラでの画像認識結果を用いてプリアライメントを実施してもよい。
しかし、画像認識では、例えば、各アライメントマークAMの形成時(ワークW製造時)の誤差を、温度変化による伸縮であると、誤った判断がされる虞があった。この場合、誤った描画データD1の補正が行われ、ワークWに対する描画処理は不良となる。
なお、位置座標とは、X座標およびY座標の直交座標を指すものであり、各座標の値は、1つのアライメントマークAMからのX軸方向およびY軸方向の差をいうものとする。本実施形態では図2または図3において左上のアライメントマークAMを基準としている。
一方、制御装置6(CPU67)は、X軸寸法差とY軸寸法差との平均値(寸法差)をパラメーターBとして算出し、これをRAM64に一時記録する。これにより、ワークWのX軸方向とY軸方向との膨張状態または収縮状態が異なる場合であっても、平均的な補正を行うことができる。
また、第1実施形態では、パラメーターAとパラメーターBとの単純な平均値をパラメーターCとしているが、パラメーターAおよびパラメーターBに各々重み付けをしてパラメーターCを算出してもよい。すなわち、所定の割合で案分した値をパラメーターCと設定してもよい。例えば、寸法差に基づくパラメーターBを重視するのであれば、重み付けを、パラメーターBを「6」、パラメーターAを「4」の割合に案分して算出したパラメーターCを用いて描画データD1を補正する。これにより、熱電対26やアライメントカメラ52の精度に応じてパラメーターCを算出することができ、より正確な描画データD1の補正を担保することができる。
第3実施形態では、X軸寸法差とY軸寸法差との平均値であるパラメーターBを算出せず、X軸寸法差をパラメーターB1とし、Y軸寸法差をパラメーターB2としている。また、パラメーターB1(X軸方向)用およびパラメーターB2(Y軸方向)用の補正テーブルD6が個別に用意されている。この場合、制御装置6は、温度差に基づくパラメーターAとパラメーターB1とからパラメーターC1を算出すると共に、パラメーターAとパラメーターB2とからパラメーターC2を算出する。そして、制御装置6は、パラメーターC1に対応する補正値により描画データD1のX軸方向の補正を行い、パラメーターC2に対応する補正値により描画データD1のY軸方向の補正を行う。これにより、X軸方向およびY軸方向について個別に補正を行うことができるため、より精密な描画データD1の補正を行うことができる。
Claims (8)
- 描画データに基づいて、インクジェット方式により機能液滴を吐出して、ワーク上に描画を行う液滴吐出装置における描画データ補正方法であって、
前記ワークの温度を測定する温度測定工程と、
前記ワーク上の離間した2点間の距離を測定する距離測定工程と、
前記温度測定工程で測定した測定温度と、予め記憶されている描画時の基準温度とを比較し、前記ワークが高温状態にあるか低温状態にあるかを判定する温度判定工程と、
前記距離測定工程で測定した測定距離と、予め記憶されている2点間の設計上の基準距離とを比較し、前記ワークが膨張状態にあるか収縮状態にあるかを判定する距離判定工程と、
前記温度判定工程での判定結果および前記距離判定工程での判定結果が、
前記高温状態且つ前記膨張状態にある場合および前記低温状態且つ前記収縮状態にある場合にのみ、前記描画データを補正するデータ補正工程と、を備えたことを特徴とする描画データ補正方法。 - 前記データ補正工程では、前記測定温度と前記基準温度との温度差、および前記測定距離と前記基準距離との寸法差、の少なくとも一方のパラメーターに基づいて、前記描画データを補正することを特徴とする請求項1に記載の描画データ補正方法。
- 前記温度差の前記パラメーターと前記寸法差の前記パラメーターとを所定の割合で案分した値を前記パラメーターとすることを特徴とする請求項2に記載の描画データ方法。
- 前記パラメーターと前記描画データの補正値とを対応付けた補正テーブルが定められ、
前記データ補正工程では、前記補正テーブルに基づいて、前記描画データを補正することを特徴とする請求項2に記載の描画データ補正方法。 - 前記温度測定工程では、前記ワークの複数箇所の温度を計測し、
前記温度判定工程では、前記複数箇所の温度の平均値を用いて比較、判定を行うことを特徴とする請求項1ないし4のいずれかに記載の描画データ補正方法。 - 前記距離測定工程では、前記ワーク上の平面内で任意の1の方向であるX軸方向において離間した2点間の距離と、前記X軸方向に直交するY軸方向において離間した2点間の距離と、を各々計測し、
前記距離判定工程では、前記ワークの前記X軸方向について前記膨張状態か前記収縮状態かを判定すると共に、前記ワークの前記Y軸方向について前記膨張状態か前記収縮状態かを判定し、
前記描画補正工程では、前記X軸方向と前記Y軸方向とについて前記描画データを補正することを特徴とする請求項1ないし5のいずれかに記載の描画データ補正方法。 - 前記温度測定工程では、前記ワークに代えて、前記ワークをセットするテーブルの温度を測定することを特徴とする請求項1ないし6のいずれかに記載の描画データ補正方法。
- 描画データに基づいて、インクジェット方式により機能液滴を吐出して、ワーク上に描画を行う液滴吐出装置における描画データ補正装置であって、
前記ワークの温度を測定する温度測定手段と、
前記ワーク上の離間した2点間の距離を測定する距離測定手段と、
前記温度測定手段が測定した測定温度と、予め記憶されている描画時の基準温度とを比較し、前記ワークが高温状態にあるか低温状態にあるかを判定する温度判定手段と、
前記距離測定手段が測定した測定距離と、予め記憶されている描画時の基準距離とを比較し、前記ワークが膨張状態にあるか収縮状態にあるかを判定する距離判定手段と、
前記温度判定手段の判定結果および前記距離判定手段の判定結果が、
前記高温状態且つ前記膨張状態にある場合および前記低温状態且つ前記収縮状態にある場合にのみ、前記描画データを補正するデータ補正手段と、を備えたことを特徴とする描画データ補正装置。
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JP2009292666A JP2011131157A (ja) | 2009-12-24 | 2009-12-24 | 描画データ補正方法および描画データ補正装置 |
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Citations (3)
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---|---|---|---|---|
JP2007130605A (ja) * | 2005-11-11 | 2007-05-31 | Seiko Epson Corp | 描画方法、および電気光学装置の製造方法、電気光学装置、ならびに電子機器 |
JP2007144375A (ja) * | 2005-11-30 | 2007-06-14 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 塗布装置および塗布方法 |
JP2008135600A (ja) * | 2006-11-29 | 2008-06-12 | Seiko Epson Corp | パターン形成方法及びパターン形成装置 |
-
2009
- 2009-12-24 JP JP2009292666A patent/JP2011131157A/ja not_active Withdrawn
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