JP2011122888A - Icp発光分光分析装置 - Google Patents
Icp発光分光分析装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2011122888A JP2011122888A JP2009279590A JP2009279590A JP2011122888A JP 2011122888 A JP2011122888 A JP 2011122888A JP 2009279590 A JP2009279590 A JP 2009279590A JP 2009279590 A JP2009279590 A JP 2009279590A JP 2011122888 A JP2011122888 A JP 2011122888A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- slit
- wavelength
- analysis
- opening
- qualitative analysis
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Abstract
【解決手段】シーケンシャル型分光器を具備するICP発光分光分析装置において、従来と同様のスリット幅を有する第1スリット開口と、その10倍以上のスリット幅を有する第2スリット開口とが波長分散方向に離間して設けられた出口スリット38と、出口スリット38を波長分散方向に移動させるスリット駆動手段と、スリット駆動手段を制御することにより、前記スリット開口の何れかを波長分散素子34から光検出器41に至る光の光軸90上に切替配置するスリット切替制御手段60とを設け、操作者から高速定性分析が指定されたときに、前記高速定性分析用スリット開口が光軸90上に配置されるよう前記スリット切替制御手段を制御する。
【選択図】図1
Description
入口スリットと、該入口スリットを通して入射した光を波長分散させる波長分散素子と、分散光のうちの特定波長の光を外部へ取り出す出口スリットとを含むシーケンシャル型分光器を具備するICP発光分光分析装置において、
a)幅の異なる複数のスリット開口が波長分散方向に所定間隔離間して設けられた出口スリットと、
b)前記出口スリットの外側に配設された光検出器と、
c)前記波長分散素子を回転させる波長分散素子駆動手段と、
d)前記出口スリットを波長分散方向に移動させるスリット駆動手段と、
e)前記スリット駆動手段を制御することにより、前記波長分散素子から光検出器に至る光の光軸上に前記複数のスリット開口の何れかを切替配置するスリット切替制御手段と、
を有し、
前記複数のスリット開口の少なくとも1つが、波長分解能が0.1nm〜1.0nmとなる開口幅を有する高速定性分析用スリット開口であって、
前記スリット切替制御手段が、操作者から高速定性分析が指定されたときに、前記高速定性分析用スリット開口が前記光軸上に配置されるよう前記スリット駆動手段を制御することを特徴としている。
Δλ=D×w …(1)
但し、Dは逆線分散、wは出口スリットの開口幅である。なお、逆線分散Dは、出口スリット面上での単位長さ当たりの波長差であり、以下の式(2)で求められる。
D=cosβ/(N×m×f) …(2)
但し、βは回折角度、Nは回折格子の刻線数、mは回折次数、fは分光器の焦点距離である。
即ち、本発明に係るICP発光分光分析装置は、
f)前記光軸上に配置されたスリット開口を通過する光の波長が変化するように前記スリット駆動手段を制御するスリット走査制御手段、
を更に有するものとすることが望ましい。
20…オートサンプラ
30…分光部
31…レンズ
32…入口スリット
33…第1凹面鏡
34…平面回折格子
35…第2凹面鏡
37…マスク
36、38…出口スリット
38a…第1スリット開口
38b…第2スリット開口
40…検出部
41…検出器
50…データ処理部
60…制御部
61…主制御部
62…波長走査制御部
63…スリット切替制御部
81…回折格子駆動モータ
82…出口スリット駆動モータ
90…光軸
Claims (2)
- 入口スリットと、該入口スリットを通して入射した光を波長分散させる波長分散素子と、分散光のうちの特定波長の光を外部へ取り出す出口スリットとを含むシーケンシャル型分光器を具備するICP発光分光分析装置において、
a)幅の異なる複数のスリット開口が波長分散方向に所定間隔離間して設けられた出口スリットと、
b)前記出口スリットの外側に配設された光検出器と、
c)前記波長分散素子を回転させる波長分散素子駆動手段と、
d)前記出口スリットを波長分散方向に移動させるスリット駆動手段と、
e)前記スリット駆動手段を制御することにより、前記波長分散素子から光検出器に至る光の光軸上に前記複数のスリット開口の何れかを切替配置するスリット切替制御手段と、
を有し、
前記複数のスリット開口の少なくとも1つが、波長分解能が0.1nm〜1.0nmとなる開口幅を有する高速定性分析用スリット開口であって、
前記スリット切替制御手段が、操作者から高速定性分析が指定されたときに、前記高速定性分析用スリット開口が前記光軸上に配置されるよう前記スリット駆動手段を制御することを特徴とするICP発光分光分析装置。 - 更に、
f)前記光軸上に配置されたスリット開口を通過する光の波長が変化するように前記スリット駆動手段を制御するスリット走査制御手段、
を有することを特徴とする請求項1に記載のICP発光分光分析装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009279590A JP5353671B2 (ja) | 2009-12-09 | 2009-12-09 | Icp発光分光分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009279590A JP5353671B2 (ja) | 2009-12-09 | 2009-12-09 | Icp発光分光分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011122888A true JP2011122888A (ja) | 2011-06-23 |
JP5353671B2 JP5353671B2 (ja) | 2013-11-27 |
Family
ID=44286924
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009279590A Expired - Fee Related JP5353671B2 (ja) | 2009-12-09 | 2009-12-09 | Icp発光分光分析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5353671B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN114486773A (zh) * | 2021-12-29 | 2022-05-13 | 聚光科技(杭州)股份有限公司 | 多种气体的分析装置和方法 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05215604A (ja) * | 1992-02-03 | 1993-08-24 | Shimadzu Corp | 分光分析装置 |
JPH07128145A (ja) * | 1993-11-08 | 1995-05-19 | Jasco Corp | 分光器用スリット切替機構 |
JPH1030962A (ja) * | 1996-07-15 | 1998-02-03 | Shimadzu Corp | 発光分析装置 |
JP2003166878A (ja) * | 2001-12-04 | 2003-06-13 | Shimadzu Corp | 分光光度計 |
JP2008020418A (ja) * | 2006-07-14 | 2008-01-31 | Shimadzu Corp | 分光光度計及びそのスリット装置 |
WO2008105027A1 (ja) * | 2007-02-27 | 2008-09-04 | Fujitsu Limited | Wdm伝送装置 |
JP2010243348A (ja) * | 2009-04-07 | 2010-10-28 | Shimadzu Corp | Icp発光分析装置及びicp発光分析方法 |
-
2009
- 2009-12-09 JP JP2009279590A patent/JP5353671B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05215604A (ja) * | 1992-02-03 | 1993-08-24 | Shimadzu Corp | 分光分析装置 |
JPH07128145A (ja) * | 1993-11-08 | 1995-05-19 | Jasco Corp | 分光器用スリット切替機構 |
JPH1030962A (ja) * | 1996-07-15 | 1998-02-03 | Shimadzu Corp | 発光分析装置 |
JP2003166878A (ja) * | 2001-12-04 | 2003-06-13 | Shimadzu Corp | 分光光度計 |
JP2008020418A (ja) * | 2006-07-14 | 2008-01-31 | Shimadzu Corp | 分光光度計及びそのスリット装置 |
WO2008105027A1 (ja) * | 2007-02-27 | 2008-09-04 | Fujitsu Limited | Wdm伝送装置 |
JP2010243348A (ja) * | 2009-04-07 | 2010-10-28 | Shimadzu Corp | Icp発光分析装置及びicp発光分析方法 |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
JPN6013036692; 梅本雅夫 他: 'ICP発光分光分析における高分解能エシェル分光器のスリット条件の選択' 分光研究 Vol.39 No.2, 1990, pp.96-101 * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN114486773A (zh) * | 2021-12-29 | 2022-05-13 | 聚光科技(杭州)股份有限公司 | 多种气体的分析装置和方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5353671B2 (ja) | 2013-11-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4059403B2 (ja) | 時系列変換パルス分光計測装置の時系列信号取得のための光路差補償機構 | |
JP2011232106A (ja) | Icp発光分光分析装置 | |
JP2012198059A (ja) | 測定装置及び測定方法 | |
JP5353671B2 (ja) | Icp発光分光分析装置 | |
JP2002189004A (ja) | X線分析装置 | |
JPH05113418A (ja) | 表面分析装置 | |
JP3473524B2 (ja) | 分光分析装置 | |
WO2019069526A1 (ja) | 分光測定装置 | |
JP2006337290A (ja) | X線分光装置 | |
JPH11241948A (ja) | 分光測定装置 | |
JP2009244156A (ja) | 分光装置、及び分光共焦点顕微鏡 | |
US7903253B2 (en) | Microscope | |
JP2000329714A (ja) | 蛍光x線分析装置 | |
JP5206322B2 (ja) | 分光光度計 | |
JP4506524B2 (ja) | 発光分光分析装置 | |
JP3667397B2 (ja) | ラマン分光装置 | |
JP3591427B2 (ja) | 分光光度計 | |
CN112394079A (zh) | 电子束微区分析仪 | |
JP2000193616A (ja) | 蛍光x線分析装置 | |
JP4656009B2 (ja) | X線分析装置 | |
JP2005121522A (ja) | 蛍光画像/スペクトルを測定する蛍光測定装置 | |
JP2005172568A (ja) | 光学装置及びそれを有する測定装置 | |
JP5359681B2 (ja) | X線スペクトル表示処理装置 | |
US20230251130A1 (en) | Infrared raman microscope | |
US20230251187A1 (en) | Infrared raman microscope and data processing method |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20120222 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130517 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130528 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130704 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130730 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130812 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 5353671 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |