JP2011090094A - 電子写真感光体の製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】硬化性材料を含有する塗料を被塗布体に塗布する塗布工程、該被塗布体上に形成された塗布膜を硬化する硬化工程、および該硬化工程後に該塗布膜を加熱する加熱工程を経て製造される電子写真感光体の製造方法において、該硬化工程と該加熱工程との間に該塗布膜を粗面化する粗面化工程を行う。
【選択図】なし
Description
また電荷移動能の向上のために電荷移動材の濃度を高くすると、架橋密度が低くなり十分な機械的強度を確保することが出来ない。更には重合時に必要とされる開始剤類の電子写真特性への影響も懸念される。
更に本発明は、連続通紙時の初期における明部電位変動を減少させることにより、濃度変動の少ない安定した画像が得られる電子写真感光体の製造方法を提供することを目的とする。
本発明の電子写真感光体の製造方法は、電子写真感光体の表面層の製造工程を有する。
本発明に係る電子写真感光体は、導電性支持体上に電荷発生層、電荷輸送層および表面層を有する。
・ 硬化性材料を含有する塗料を被塗布体に塗布する塗布工程
・ 該被塗布体上に形成された塗布膜を硬化する硬化工程
・ 該硬化された塗布膜を粗面化する粗面化工程
・ 該粗面化された塗布膜を加熱する加熱工程
レフライト(株)製 MAXIMA、MAXIMA Tタイプ
(株)KOVAX製 ラピカ
住友3M(株)製 マイクロフィニッシングフィルム、ラッピングフィルム
三共理化学(株)製 ミラーフィルム、ラップングフィルム
日本ミクロコーティング(株)製 ミポックス
本発明の電子写真感光体は、導電性支持体上に電荷発生層、電荷輸送層および表面層を有する。
下引き層は感光層の接着性改良、塗工性改良、支持体の保護、基体上の欠陥の被覆、支持体からの電荷注入性改良、感光層の電気的破壊に対する保護などのために形成される。下引き層の材料としては、ポリビニルアルコール、ポリ−N−ビニルイミダゾール、ポリエチレンオキシド、エチルセルロース、エチレン−アクリル酸共重合体、カゼイン、ポリアミド、N−メトキシメチル化6ナイロン、共重合ナイロン、にかわ、ゼラチンが挙げられる。これらはそれぞれに適した溶剤に溶解されて支持体上に塗布される。その際の膜厚としては0.1μm〜2μmが好ましい。
電荷輸送物質は電子輸送物質と正孔輸送物質に大別される。電子輸送物質としては、例えば2,4,7−トリニトロフルオレノン、2,4,5,7−テトラニトロフルオレノン、クロラニル及びテトラシアノキノジメタンのような電子吸引性物質やこれらの電子吸引性物質を高分子化したものが挙げられる。
表面層については前述したとおりである。
直径30mm、長さ370mmのアルミニウムシリンダーを支持体(円筒状支持体)とした。
次に、以下の成分からなる溶液を約20時間、ボールミルで分散し導電層用塗料を調製した。
酸化スズの被覆層を有する硫酸バリウム粒子からなる粉体 60部
(商品名:パストランPC1、三井金属鉱業(株)製)
酸化チタン 15部
(商品名:TITANIX JR、テイカ(株)製)
レゾール型フェノール樹脂 43部
(商品名:フェノライト J−325、大日本インキ化学工業(株)製、固形分70%)
シリコーンオイル 0.015部
(商品名:SH28PA、東レシリコーン(株)製)
シリコーン樹脂 3.6部
(商品名:トスパール120、東芝シリコーン(株)製)
2−メトキシ−1−プロパノール 50部
メタノール 50部
このようにして調製した導電層用塗料をアルミニウムシリンダー上に浸漬法によって塗布し、温度140℃のオーブンで1時間加熱硬化することにより、膜厚が15μmの樹脂層を形成した。
共重合ナイロン樹脂 10部(商品名:アミランCM8000、東レ(株)製)
メトキシメチル化6ナイロン樹脂 30部
(商品名:トレジンEF−30T、帝国化学(株)製)
次に、以下の成分を、直径1mmガラスビーズを用いたサンドミル装置で4時間分散した後、酢酸エチル700部を加えて電荷発生層用分散液を調製した。
ヒドロキシガリウムフタロシアニン 20部
(CuKα特性X線回折において、7.4°及び28.2°(ブラッグ角2θ±0.2°))に強いピークを有するもの)
下記構造式(1)のカリックスアレーン化合物 0.2部
(商品名:エスレックBX−1、積水化学製)
シクロヘキサノン 600部
これを浸漬コーティング法で塗布し、温度80℃のオーブンで15分間加熱乾燥することにより、膜厚が0.170μmの電荷発生層を形成した。
下記構造式(2)の正孔輸送性化合物 120部
(ユーピロンZ400、三菱エンジニアリングプラスチックス(株)社製)
塗布工程:
下記式(3)で示される構造を有する化合物(重合性官能基を有する正孔輸送性化合物)30部
上記被塗布体に、窒素雰囲気(酸素濃度10ppm)下で電子線(加速電圧80kV、線量1.5×104Gy)を照射し、その後、同雰囲気下で電子写真感光体(電子線の被照射体)の温度が120℃になる条件で90秒間硬化処理を行い、被塗布体上に形成された塗布膜の硬化を行った。
次に図2に示されるような粗面化手段により、以下に示す条件で、上記で硬化された塗布膜の表面の粗面化を行った。
研磨シ−ト:品名:GC#2000(レフライト社(株)製)
研磨砥粒:SiC(平均粒径:7μm)
研磨シート送りスピード:300mm/sec
押し当て圧:7.5N/m2
処理時間:120秒
粗面化後の該塗布膜の3次元表面粗さの算術平均粗さSaは0.03μmであった。粗面化後の該塗布膜の3次元表面粗さの算術平均粗さSaは、本発明においては、非接触3次元表面測定機(商品名:マイクロマップ557N、(株)菱化システム製)を用いて測定された。この測定機は、高精度レーザー顕微鏡であり、観察している面内の面粗さを3次元化することができる。以下に、測定方法の具体例を示す。
また、3次元表面粗さの算術平均粗さSaを導出する計算式は次のとおりである。
3次元表面粗さの算術平均粗さ
Sa=1/Lx・Ly∬|f(x、y)|dx、dy
(Lx:x方向測定長、Ly:y方向測定長)
上記粗面化された塗布膜を、大気中で110℃に調整された熱風乾燥機中で20分間加熱乾燥処理を行うことによって、膜厚が5μmの硬化性材料を用いた表面層を形成した。
加熱工程の加熱温度を120℃とした以外は実施例1と同様に感光体を作製し、評価した結果、明部電位変動(1枚目と100枚目の差)は20Vであり、連続通紙時の初期における明部電位変動が少なく、非常に安定した良好な電子写真特性を示していた。結果は表1に示した。
加熱工程の加熱温度を130℃とした以外は実施例1と同様に感光体を作製し、評価した結果、明部電位変動(1枚目と100枚目の差)は25Vであり、連続通紙時の初期における明部電位変動が少なく、非常に安定した良好な電子写真特性を示していた。結果は表1に示した。
加熱工程の加熱温度を135℃とした以外は実施例1と同様に感光体を作製し、評価した結果、明部電位変動(1枚目と100枚目の差)は40Vであり、連続通紙時の初期における明部電位変動が少なく、安定した電子写真特性を示していた。結果は表1に示した。
加熱工程の加熱温度を90℃とした以外は実施例1と同様に感光体を作製し、評価した結果、明部電位変動(1枚目と100枚目の差)は30Vであり、連続通紙時の初期における明部電位変動が少なく、非常に安定した良好な電子写真特性を示していた。結果は表1に示した。
加熱工程の加熱温度を80℃とした以外は実施例1と同様に感光体を作製し、評価した結果、明部電位変動(1枚目と100枚目の差)は40Vであり、連続通紙時の初期における明部電位変動が少なく、安定した電子写真特性を示していた。結果は表1に示した。
粗面化工程のバックアップローラの押し当て圧を5N/m2とした以外は実施例1と同様に感光体を作製したところ、粗面化後の該塗布膜の3次元表面粗さの算術平均粗さSaは0.029μmであった。作製した電子写真感光体を実施例1と同様に評価した結果、明部電位変動(1枚目と100枚目の差)は25Vであり、連続通紙時の初期における明部電位変動が少なく、非常に安定した良好な電子写真特性を示していた。結果は表1に示した。
粗面化工程の研磨シートを以下のものとした以外は実施例1と同様に感光体を作製したところ、粗面化後の該塗布膜の3次元表面粗さの算術平均粗さSaは0.029μmであった。
研磨シ−ト:品名:GC#3000(レフライト社(株)製)
研磨砥粒:SiC(平均粒径:5μm)
作製した電子写真感光体を実施例1と同様に評価した結果、明部電位変動(1枚目と100枚目の差)は25Vであり、連続通紙時の初期における明部電位変動が少なく、非常に安定した良好な電子写真特性を示していた。結果は表1に示した。
粗面化工程の研磨シート送りスピードを100mm/minとした以外は実施例1と同様に感光体を作製したところ、粗面化後の該塗布膜の3次元表面粗さの算術平均粗さSaは0.027μmであった。作製した電子写真感光体を実施例1と同様に評価した結果、明部電位変動(1枚目と100枚目の差)は30Vであり、連続通紙時の初期における明部電位変動が少なく、非常に安定した良好な電子写真特性を示していた。結果は表1に示した。
粗面化工程のバックアップローラの押し当て圧を2N/m2とした以外は実施例1と同様に感光体を作製したところ、粗面化後の該塗布膜の3次元表面粗さの算術平均粗さSaは0.027μmであった。作製した電子写真感光体を実施例1と同様に評価した結果、明部電位変動(1枚目と100枚目の差)は30Vであり、連続通紙時の初期における明部電位変動が少なく、非常に安定した良好な電子写真特性を示していた。結果は表1に示した。
粗面化工程の研磨シートを以下のものとした以外は実施例1と同様に感光体を作製したところ、粗面化後の該塗布膜の3次元表面粗さの算術平均粗さSaは0.027μmであった。
研磨シ−ト:品名:GC#4000(レフライト社(株)製)
研磨砥粒:SiC(平均粒径:3μm)
作製した電子写真感光体を実施例1と同様に評価した結果、明部電位変動(1枚目と100枚目の差)は30Vであり、連続通紙時の初期における明部電位変動が少なく、非常に安定した良好な電子写真特性を示していた。結果は表1に示した。
粗面化工程の研磨シート送りスピードを10mm/minとした以外は実施例1と同様に感光体を作製したところ、粗面化後の該塗布膜の3次元表面粗さの算術平均粗さSaは0.025μmであった。作製した電子写真感光体を実施例1と同様に評価した結果、明部電位変動(1枚目と100枚目の差)は40Vであり、連続通紙時の初期における明部電位変動が少なく、安定した電子写真特性を示していた。結果は表1に示した。
粗面化工程のバックアップローラの押し当て圧を10N/m2とした以外は実施例1と同様に感光体を作製したところ、粗面化後の該塗布膜の3次元表面粗さの算術平均粗さSaは0.05μmであった。作製した電子写真感光体を実施例1と同様に評価した結果、明部電位変動(1枚目と100枚目の差)は20Vであり、連続通紙時の初期における明部電位変動が少なく、非常に安定した良好な電子写真特性を示していた。結果は表1に示した。
粗面化工程の研磨シート送りスピードを400mm/minとした以外は実施例1と同様に感光体を作製したところ、粗面化後の該塗布膜の3次元表面粗さの算術平均粗さSaは0.07μmであった。作製した電子写真感光体を実施例1と同様に評価した結果、明部電位変動(1枚目と100枚目の差)は20Vであり、連続通紙時の初期における明部電位変動が少なく、非常に安定した良好な電子写真特性を示していた。結果は表1に示した。
粗面化工程の研磨シート送りスピードを400mm/min、バックアップローラの押し当て圧を12N/m2とした以外は実施例1と同様に感光体を作製したところ、粗面化後の該塗布膜の3次元表面粗さの算術平均粗さSaは0.09μmであった。作製した電子写真感光体を実施例1と同様に評価した結果、明部電位変動(1枚目と100枚目の差)は25Vであり、連続通紙時の初期における明部電位変動が少なく、非常に安定した良好な電子写真特性を示している。結果は表1に示した。
粗面化工程の研磨シート送りスピードを500mm/minとした以外は実施例1と同様に感光体を作製したところ、粗面化後の該塗布膜の3次元表面粗さの算術平均粗さSaは0.10μmであった。作製した電子写真感光体を実施例1と同様に評価した結果、明部電位変動(1枚目と100枚目の差)は30Vであり、連続通紙時の初期における明部電位変動が少なく、非常に安定した良好な電子写真特性を示していた。結果は表1に示した。
粗面化工程のバックアップローラの押し当て圧を15N/m2とした以外は実施例1と同様に感光体を作製したところ、粗面化後の該塗布膜の3次元表面粗さの算術平均粗さSaは0.10μmであった。作製した電子写真感光体を実施例1と同様に評価した結果、明部電位変動(1枚目と100枚目の差)は30Vであり、連続通紙時の初期における明部電位変動が少なく、非常に安定した良好な電子写真特性を示していた。結果は表1に示した。
粗面化工程の研磨シートを以下のものとした以外は実施例1と同様に感光体を作製したところ、粗面化後の該塗布膜の3次元表面粗さの算術平均粗さSaは0.10μmであった。
研磨シ−ト:品名:GC#1500(レフライト社(株)製)
研磨砥粒:SiC(平均粒径:9μm)
作製した電子写真感光体を実施例1と同様に評価した結果、明部電位変動(1枚目と100枚目の差)は30Vであり、連続通紙時の初期における明部電位変動が少なく、非常に安定した良好な電子写真特性を示していた。結果は表1に示した。
粗面化工程の研磨シートをGC#1500(レフライト社(株)製)とし、研磨シート送りスピードを500mm/min、バックアップローラの押し当て圧を15N/m2た以外は実施例1と同様に感光体を作製したところ、粗面化後の該塗布膜の3次元表面粗さの算術平均粗さSaは0.12μmであった。作製した電子写真感光体を実施例1と同様に評価した結果、明部電位変動(1枚目と100枚目の差)は40Vであり、連続通紙時の初期における明部電位変動が少なく、安定した電子写真特性を示していた。結果は表1に示した。
表面層作製工程を、塗布工程→硬化工程→粗面化工程とし、加熱工程を行わなかった以外は実施例1と同様に感光体を作製したところ、粗面化後の該塗布膜の3次元表面粗さの算術平均粗さSaは0.03μmであった。作製した電子写真感光体を実施例1と同様に評価した結果、明部電位変動(1枚目と100枚目の差)は60Vであり、連続通紙時の初期における明部電位変動が非常に大きく、非常に不安定な電子写真特性を示していた。これは、加熱工程を行わなかったために、塗布膜に含有されていた不純物の脱離が不十分であった。この不純物が、塗布膜中の電荷移動物質による電荷の移動を阻害してしまい不安定な電子写真特性を示したと推測される。結果は表1に示した。
表面層作製工程を、塗布工程→硬化工程→加熱工程とし、粗面化工程を行わなかった以外は実施例1と同様に感光体を作製したところ、硬化工程後の該塗布膜の3次元表面粗さの算術平均粗さSaは0.01μmであった。作製した電子写真感光体を実施例1と同様に評価した結果、明部電位変動(1枚目と100枚目の差)は60Vであり、連続通紙時の初期における明部電位変動が非常に大きく、非常に不安定な電子写真特性を示していた。これは、粗面化工程を行わなかったために、塗布膜の表面積が増えない状態で加熱を行った。このために、塗布膜内部に含有されている不純物の塗布膜外部への脱離が不十分であった。この不純物が、塗布膜中の電荷移動物質による電荷の移動を阻害してしまい不安定な電子写真特性を示したと推測される。結果は表1に示した。
表面層作製工程を、塗布工程→硬化工程→加熱工程→粗面化工程とし、加熱工程を粗面化工程の前に行った以外は実施例1と同様に感光体を作製したところ、粗面化後の該塗布膜の3次元表面粗さの算術平均粗さSaは0.03μmであったが、硬化工程後の該塗布膜の3次元表面粗さの算術平均粗さSaは0.01μmであった。作製した電子写真感光体を実施例1と同様に評価した結果、明部電位変動(1枚目と100枚目の差)は60Vであり、連続通紙時の初期における明部電位変動が非常に大きく、非常に不安定な電子写真特性を示していた。これは、加熱工程前に粗面化工程を行わなかったために、塗布膜の表面積が増えない状態で加熱を行った。このために、塗布膜内部に含有されている不純物の塗布膜外部への脱離が不十分であった。この不純物が、塗布膜中の電荷移動物質による電荷の移動を阻害してしまい不安定な電子写真特性を示したと推測される。結果は表1に示した。
表面層作製工程を、塗布工程→硬化工程→加熱工程→粗面化工程→加熱工程とし、加熱工程を粗面化工程の前後に行った以外は実施例1と同様に感光体を作製したところ、硬化工程後の該塗布膜の3次元表面粗さの算術平均粗さSaは0.01μm、粗面化後の該塗布膜の3次元表面粗さの算術平均粗さSaは0.03μmであった。作製した電子写真感光体を実施例1と同様に評価した結果、明部電位変動(1枚目と100枚目の差)は60Vであり、連続通紙時の初期における明部電位変動が非常に大きく、非常に不安定な電子写真特性を示していた。これは、加熱工程前に粗面化工程を行わなかったために、塗布膜の表面積が増えない状態で加熱を行った。このために、塗布膜内部に含有されている不純物の塗布膜外部への脱離が不十分であった。そして、粗面化工程後に再度加熱工程を行っても、塗布膜には不純物が含有されており、この不純物が、塗布膜中の電荷移動物質による電荷の移動を阻害してしまい不安定な電子写真特性を示したと推測される。結果は表1に示した。
Claims (5)
- 硬化性材料を含有する塗料を被塗布体に塗布する塗布工程と、
該被塗布体上に形成された塗布膜を硬化する硬化工程と、
該硬化工程後に該塗布膜を加熱する加熱工程の
少なくとも三つの工程を経て製造される電子写真感光体の製造方法において、
該硬化工程と該加熱工程の間に該塗布膜を粗面化する粗面化工程をおこなうことを特徴とする電子写真感光体の製造方法。 - 前記粗面化工程が、基材上に研磨砥粒が分散された層を有する研磨シートを前記塗布膜の表面に圧接することによっておこなわれ、粗面化後の該塗布膜の3次元表面粗さの算術平均粗さSaを0.027μm以上0.1μm以下にすることを特徴とする請求項1に記載の電子写真感光体の製造方法。
- 前記加熱工程の加熱温度が、90℃以上130℃以下であることを特徴とする請求項1または2に記載の電子写真感光体の製造方法。
- 前記硬化工程が、前記塗布膜に電子線を照射する事によっておこなわれることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の電子写真感光体の製造方法。
- 前記硬化性材料が正孔輸送性化合物であることを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の電子写真感光体の製造方法。
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