JP2011065502A - 抵抗膜式タッチパネルの検査・評価装置 - Google Patents
抵抗膜式タッチパネルの検査・評価装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2011065502A JP2011065502A JP2009216567A JP2009216567A JP2011065502A JP 2011065502 A JP2011065502 A JP 2011065502A JP 2009216567 A JP2009216567 A JP 2009216567A JP 2009216567 A JP2009216567 A JP 2009216567A JP 2011065502 A JP2011065502 A JP 2011065502A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inspection
- contact
- contact rod
- evaluation apparatus
- sample
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 78
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 title claims abstract description 33
- 238000003491 array Methods 0.000 claims abstract description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 5
- 238000003825 pressing Methods 0.000 abstract description 9
- 238000012360 testing method Methods 0.000 abstract description 7
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 238000011161 development Methods 0.000 description 2
- 238000011160 research Methods 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000003100 immobilizing effect Effects 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Position Input By Displaying (AREA)
Abstract
【解決手段】(a)検査支持基盤上に、多数の触圧棒が一列に直線状に配置された触圧棒配列かつ、この触圧棒配列が多段に配置された触圧棒多段配列を有し、(b)各触圧棒は、触圧棒多段配列の上部に設置された、プレート板の孔を通して、検査面に下方から上方に向けて突出すように支持基盤上に設置され、(c)被検査試料の検査面が下方に向けて、触圧棒と対向するように配置しうる試料配置手段を有し、(d)各触圧棒は、所定の間隔で打点するようにした制御手段および(e)各触圧棒の接触位置と検査結果とを判定する判断手段を有する抵抗膜式タッチパネルの高速検査・評価装置。
【選択図】図1
Description
タッチパネルの検査・評価の1つとして、ペン入力に対する応答特性試験がある。具体的な検査方法は、所定の位置をペン(触圧棒)で触圧し、それにより検出された電気的位置信号をコンピューターに入力して、算出によりリニアリティーなどを調べることである。
タッチパネルを高速で検査・評価するための装置として特許文献1が提案されている。この装置は、往復運動するシリンダ部材と一体に連動し、被検査試料の平面を所定の間隔で打点する触圧棒と、その触圧ペンが二次元的にマトリックス状に複数個配列されている評価装置である。この評価装置は、被検査試料が固定支持台上に固定され、シリンダ部材を駆動させながら、触圧ペンで試料表面を打点させる方式であり、可成の高速で試験をすることが可能である。
この装置は、シリンダ部材の駆動とシリンダ部材と一体化して連動する触圧ペンの駆動の2つの駆動部分を有し、評価すべき全面を検査するためには、一定の時間を要する。
従来の検査装置では、固定支持盤上に被検査試料(タッチパネル)を、検査面を上にして固定し、その検査面上に触圧棒を移動させながら、検査位置を制御していた。この従来の方式とは異なり、固定支持盤上に複数の触圧棒を上方に向けて一定の配列状態で配置すると共に、この配列された触圧棒群の上に、被検査試料の検査面が対向し接触するように配置した装置は、可動部分が各触圧棒の上下運動のみであり、故障が少なく極めて短時間で検査・評価を実施できることが見出された。
(1)
(a)検査支持基盤上に、多数の触圧棒が一列に直線状に配置された触圧棒配列かつ、この触圧棒配列が多段に配置された触圧棒多段配列を有し、
(b)各触圧棒は、触圧棒多段配列の上部に設置された、プレート板の孔を通して、検査面に下方から上方に向けて突出すように支持基盤上に設置され、
(c)被検査試料の検査面が下方に向けて、触圧棒と対向するように配置しうる試料配置手段を有し、
(d)各触圧棒は、所定の間隔で打点するようにした制御手段および
(e)各触圧棒の接触位置と検査結果とを判定する判断手段
を有する抵抗膜式タッチパネルの高速検査・評価装置。
前記触圧棒多段配列は、被検査試料の検査面の全面を覆っている前記(1)記載の検査・評価装置。
(3)
前記触圧棒配列は、各触圧棒が一定の等間隔で配置されている前記(1)記載の検査・評価装置。
(4)
前記触圧棒多段配列は、各触圧棒配列が一定の等間隔で配置されている前記(1)記載の検査・評価装置。
(5)
各触圧棒は、各触圧棒配列において、一端から他端へ順次突出すように制御されている前記(1)記載の検査・評価装置。
(6)
各触圧棒配列において、触圧棒はソレノイド方式により上下に作動する前記(1)記載の検査・評価装置。
(7)
各触圧棒配列において、触圧棒はピエゾ方式により上下に作動する前記(1)記載の検査・評価装置。
(8)
各触圧棒配列において、各触圧棒は、3〜15mmの間隔で配置されている前記(1)記載の検査・評価装置。
本発明において、触圧棒多段配列とは、多数の触圧棒が一列に直線状に配列された触圧棒配列が、多段で重ねられた状態で配列されたものを言う。触圧棒多段配列は、図1ではプレート板2と支持基盤1との間に配置されており、そのため図面上は示されていない。プレート板2の多数の孔3に対応して触圧棒が配置されている。図1では、説明を簡単にするために、支持基盤1、プレート板2およびプレート板2に設けられた孔の平面図が示されている。図1のプレート板2の多数の孔3の配置の状態から理解されるように、図1の場合、10個の触圧棒が一列(左右横方向)に直線状に配置された触圧棒配列が6段(上下縦方向)で配置されていることを示している。
次にプレート板2について説明する。プレート板2の上面には、被検査試料(タッチパネル)の検査面が密着した状態で設置される。プレート板2のそれぞれの孔3から触圧棒が突出し検査面を押圧する。そのためプレート板2の孔3は、触圧棒が貫通することができるに充分な孔径を有しており、通常は、径が0.7mm〜1.5mm好ましくは0.8mm〜1.2mmが適当である。
因みに、触圧棒の直径は、一般に0.9mm〜1.1mm程度であり、触圧棒の形状は円柱状であって、その最先端(頂部)はフラットでもよく、また半円形乃至ドーム形であってもよい。プレート板2に設けられている孔の位置は、検査面の位置を決める役割を負っている。そのため、プレート板2の孔3の配列位置は、触圧棒多段配列の位置に合致している。プレート板2はタッチパネルのリニアリティーの検査・評価のために、孔3が直線状でかつ等間隔で配置され、また多段配列においても同じ間隔となるように孔が設けられていることが望ましい。最も好ましくは、検査面の全体が覆われるようにかつ縦と横が同じ間隔となるように孔の位置を配列する。隣接する孔の間隔(ピッチ間隔)は3mm〜15mm、好ましくは4mm〜13mmであるのが有利である。このように孔の配列が直線状であり、縦方向および横方向の間隔が一定であるように配列することによって、触圧棒で触圧することにより発生する電気的信号から被検査試料の判別を容易に行うことができる。
図2は、触圧棒配列の部分断面拡大図を示す。
図2では、触圧棒配列における隣り合う2つの触圧棒の部分拡大図を示す。
プレート板2の下部には、触圧棒が上下運動し検査面の表面を押圧できるアクチュエーターが設置されている。触圧棒を上下運動させるアクチュエーターは、例えばソレノイド方式(電磁式)やピエゾ素子方式(圧電素子方式)を採用することができる。図2ではソレノイド方式で、触圧棒5を上下運動する態様が示されている。図2では触圧棒5に対応して、ソレノイド6が横方向に配列した状態が示されている。
1個の触圧棒が検査面に押圧した時の接圧時間は、約0.1秒であれば充分である。従って本発明の装置において、1列が10個の触圧棒配列の場合、1列の検査に要する時間は約1秒である。図1のように6段に配列した場合60個の触圧棒を連続して作動させると約6秒で全面を検査できることになる。仮に100個の触圧棒を設置した場合、約10秒で検査をすることができる。かくして本発明の検査・評価装置は、製品の機能が適格に作動するか否かの判別には極めて短時間で完了することになる。
被検査試料8は、支持基盤の端部に設けられた固定台のヒンジ11を介して上下に(矢印方向に)開閉できる試料保持アーム10内に収納されている。図3は、検査・評価装置に、被検査試料8が配置されている状態を示し、被検査試料8は、検査面とプレート板2が密着した状態で水平に設置されている。
図2は、触圧棒配列の部分断面拡大図を示す。図2では隣り合う2つの触圧棒配列とプレート板との位置関係が示されている。図2の触圧棒配列においては触圧棒の上下運動にソレノイド方式(電磁式)を使用した例が示されている。各触圧棒は、それぞれのソレノイドにより電磁的に上下する。触圧棒の上端部はプレート板が配置されそのプレート板の孔を通して触圧棒がプレート板の上面へ突出し、被検査試料の検査面を押圧する構造となっている。前述したように、試料の検査面はプレート板の上面と密接して設置されるが、図2では被検査試料は示されていない。
本発明の検査・評価装置を用いて、被検査試料(タッチパネル)を試験するに当たっては、プレート板2に設けられた孔の位置に対応してX軸およびY軸に基づいて、触圧棒を一端部から他端部へ、また一段目から多段へ連続的に押圧し、得られた電気的位置信号の結果をコンピューターによって算出し、所定の基準値と対比して判別することによって、リニアリティーの適否を評価することができる。
2 プレート板
3 孔
4 触圧棒配列
5 触圧棒
6 ソレノイド
7 ソレノイド支持体
8 被検査試料
9 触圧棒多段配列
10 試料保持アーム
11 ヒンジ
Claims (8)
- (a)検査支持基盤上に、多数の触圧棒が一列に直線状に配置された触圧棒配列かつ、この触圧棒配列が多段に配置された触圧棒多段配列を有し、
(b)各触圧棒は、触圧棒多段配列の上部に設置された、プレート板の孔を通して、検査面に下方から上方に向けて突出すように支持基盤上に設置され、
(c)被検査試料の検査面が下方に向けて、触圧棒と対向するように配置しうる試料配置手段を有し、
(d)各触圧棒は、所定の間隔で打点するようにした制御手段および
(e)各触圧棒の接触位置と検査結果とを判定する判断手段
を有する抵抗膜式タッチパネルの高速検査・評価装置。
- 前記触圧棒多段配列は、被検査試料の検査面の全面を覆っている請求項1記載の検査・評価装置。
- 前記触圧棒配列は、各触圧棒が一定の等間隔で配置されている請求項1記載の検査・評価装置。
- 前記触圧棒多段配列は、各触圧棒配列が一定の等間隔で配置されている請求項1記載の検査・評価装置。
- 各触圧棒は、各触圧棒配列において、一端から他端へ順次突出すように制御されている請求項1記載の検査・評価装置。
- 各触圧棒配列において、触圧棒はソレノイド方式により上下に作動する請求項1記載の検査・評価装置。
- 各触圧棒配列において、触圧棒はピエゾ素子方式により上下に作動する請求項1記載の検査・評価装置。
- 各触圧棒配列において、各触圧棒は、3〜15mmの間隔で配置されている請求項1記載の検査・評価装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009216567A JP5474467B2 (ja) | 2009-09-18 | 2009-09-18 | 抵抗膜式タッチパネルの検査・評価装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009216567A JP5474467B2 (ja) | 2009-09-18 | 2009-09-18 | 抵抗膜式タッチパネルの検査・評価装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011065502A true JP2011065502A (ja) | 2011-03-31 |
JP5474467B2 JP5474467B2 (ja) | 2014-04-16 |
Family
ID=43951661
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009216567A Expired - Fee Related JP5474467B2 (ja) | 2009-09-18 | 2009-09-18 | 抵抗膜式タッチパネルの検査・評価装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5474467B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013025780A (ja) * | 2011-07-20 | 2013-02-04 | Touch Panel Kenkyusho:Kk | 静電容量式タッチパネルの検査・評価装置 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003347752A (ja) * | 2002-05-28 | 2003-12-05 | Mitsubishi Electric Corp | タッチパネル配設機構 |
JP2005310093A (ja) * | 2004-04-23 | 2005-11-04 | Touch Panel Kenkyusho:Kk | 抵抗膜式タッチパネルの評価装置 |
JP2006004089A (ja) * | 2004-06-16 | 2006-01-05 | Mitsubishi Electric Corp | タッチパネル自動補正装置およびタッチパネル自動補正方法 |
JP2006046997A (ja) * | 2004-08-02 | 2006-02-16 | Mitsutoyo Corp | 材料特性評価装置及び材料特性評価方法 |
-
2009
- 2009-09-18 JP JP2009216567A patent/JP5474467B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003347752A (ja) * | 2002-05-28 | 2003-12-05 | Mitsubishi Electric Corp | タッチパネル配設機構 |
JP2005310093A (ja) * | 2004-04-23 | 2005-11-04 | Touch Panel Kenkyusho:Kk | 抵抗膜式タッチパネルの評価装置 |
JP2006004089A (ja) * | 2004-06-16 | 2006-01-05 | Mitsubishi Electric Corp | タッチパネル自動補正装置およびタッチパネル自動補正方法 |
JP2006046997A (ja) * | 2004-08-02 | 2006-02-16 | Mitsutoyo Corp | 材料特性評価装置及び材料特性評価方法 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013025780A (ja) * | 2011-07-20 | 2013-02-04 | Touch Panel Kenkyusho:Kk | 静電容量式タッチパネルの検査・評価装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5474467B2 (ja) | 2014-04-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR20070092477A (ko) | 터치판넬의 터치기능 검사방법 및 검사장치 | |
TWI528040B (zh) | Printed board inspection device | |
KR102235573B1 (ko) | 터치 패널 검사 장치 | |
US8420965B2 (en) | Button assembly with drive assembly | |
CN1745308A (zh) | 用于限制探针卡总成中的超程的装置及方法 | |
US9291538B2 (en) | Hardness tester and program | |
US20080257058A1 (en) | Automatic keyboard inspection apparatus | |
CN109357936A (zh) | 空间梯度应力再造装置、方法及煤岩力学特性实验方法 | |
CN103364292A (zh) | 硬度测试器 | |
TWI591347B (zh) | A probe unit, a substrate inspection apparatus, and a probe unit manufacturing method | |
LT6315B (lt) | Įrenginys fretinginio medžiagos paviršiaus nusidėvėjimo charakteristikoms matuoti | |
TW201418729A (zh) | 基板檢查裝置及基板檢查方法 | |
JP5970218B2 (ja) | プローブ装置 | |
JP5474467B2 (ja) | 抵抗膜式タッチパネルの検査・評価装置 | |
JP5734783B2 (ja) | 静電容量式タッチパネルの検査・評価装置 | |
JP2009300231A (ja) | バッテリーセルの検査装置 | |
JP6303575B2 (ja) | タッチパネルのタッチ位置検出方法、タッチパネル検査方法、及びタッチパネル検査装置 | |
JP5474688B2 (ja) | 抵抗膜式タッチパネルの高速検査・評価方法 | |
JP2005310093A (ja) | 抵抗膜式タッチパネルの評価装置 | |
JP5523974B2 (ja) | 抵抗膜式タッチパネルの高速検査・評価装置 | |
JP2015219007A (ja) | 位置決め装置、及び処理装置 | |
JP4978417B2 (ja) | 表示検査システム | |
JP5312971B2 (ja) | 粒子圧縮試験機及び粒子圧縮試験機用試料台 | |
JP2010262358A (ja) | 入力装置用の検査装置 | |
JP2001014975A (ja) | マトリクススイッチの接点検査方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20120823 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130220 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130312 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130507 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130618 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20130723 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20131015 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20131022 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140128 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140205 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Ref document number: 5474467 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |