JP2011065253A - ボケの抽出方法、位置決め方法及びマイクロマニピュレーションシステム - Google Patents
ボケの抽出方法、位置決め方法及びマイクロマニピュレーションシステム Download PDFInfo
- Publication number
- JP2011065253A JP2011065253A JP2009213358A JP2009213358A JP2011065253A JP 2011065253 A JP2011065253 A JP 2011065253A JP 2009213358 A JP2009213358 A JP 2009213358A JP 2009213358 A JP2009213358 A JP 2009213358A JP 2011065253 A JP2011065253 A JP 2011065253A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- end effector
- thickness
- processed
- difference
- image
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 66
- 238000000605 extraction Methods 0.000 title claims description 3
- 239000012636 effector Substances 0.000 claims abstract description 139
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims abstract description 6
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 26
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 17
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 9
- 238000013459 approach Methods 0.000 claims description 8
- 230000007704 transition Effects 0.000 claims description 8
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 9
- 241000196324 Embryophyta Species 0.000 description 5
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 5
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 3
- 241000282412 Homo Species 0.000 description 2
- 239000010419 fine particle Substances 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 208000019914 Mental Fatigue Diseases 0.000 description 1
- 238000009402 cross-breeding Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 206010016256 fatigue Diseases 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000001000 micrograph Methods 0.000 description 1
- 229910052755 nonmetal Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Image Processing (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Manipulator (AREA)
- Measuring Or Testing Involving Enzymes Or Micro-Organisms (AREA)
Abstract
【解決手段】花粉Pと、花粉Pに対して奥行き方向に移動可能なエンドエフェクタEとを含む元画像を撮影する手順(a)と、異なる二つの閾値を元画像に適用して得られる二つの二値化画像に基づき差分画像を作成する手順(b)と、差分画像における、花粉Pについての差分の領域の厚さをTp1、エンドエフェクタEについての差分の領域の厚さをTe1とすると、厚さTp1と厚さTe1の比率であるRtと、エンドエフェクタEの奥行き方向の移動距離Dzとの関係を示す下記近似式に基づいてエンドエフェクタEを第1の被処理体に向けて移動させる手順(e)と、を備える位置決め方法。
近似式:Dz=aRtb+c
【選択図】図1
Description
そこで本発明は、形状に制約のないエンドエフェクタ等の処理体を、花粉等の被処理体に対して正確に位置決めできる方法を提供することを目的とする。
花粉とエンドエフェクタについて撮影された画像において、花粉とエンドエフェクタの像が鮮明で両者ともに焦点が合っているか被写界深度の範囲内(以下、両者を含めて焦点が合っている、と表現する)であれば、花粉、エンドエフェクタそれぞれの奥行き方向の位置が一致していると言える。一方、焦点が合っていないと各像はボケる。そして、ボケの程度は、焦点距離からのずれ量に応じて変動する。したがって、両者のボケの程度を合わせれば、花粉とエンドエフェクタの奥行き方向の位置を合わせることができる。
図1において、(a)は取得した元画像である。この画像は、花粉Pには焦点が合っているのに対して、エンドエフェクタEには焦点がずれている。
元画像から二つの明度の異なる閾値を用いて、図1(b)、(c)に示すように、二つの二値化画像を得る。
作成した二つの二値化画像(b)、(c)の各画素を比較して差分を求め、その値から一つの差分画像(d)を得る。この差分画像には、花粉P及びエンドエフェクタEの各々についてボケに相当する差分の領域が白抜きで示されている。差分画像におけるこの白抜きの領域を、本願明細書ではボケと言い、その厚さをボケ厚さと言うことがある。
なお、花粉が被処理体に該当し、エンドエフェクタが処理体に該当するが、本発明の被処理体、エンドエフェクタがこれらに限定されないことは言うまでもない。
第1の形態は、被処理体についての差分の領域の厚さ(ボケ厚さ)をTp、処理体の差分の領域の厚さ(ボケ厚さ)をTeとすると、ボケ厚さTpとボケ厚さTeが一致するように、処理体を被処理体に向けて移動させる(手順(d))。
近似式:Dz=aRtb+c
(Rt:Tp1/Te1,Dz:処理体の奥行き方向の移動距離,a,b:定数、c:補正項)
一つ目は、上述した位置決め方法と同様の操作を先行して行うことで、上記本発明の近似式を求めるものである。すなわち、上記位置決めを行うのに先立って、第2の被処理体と、第2の被処理体に対して接近又は離間が可能な処理体とを含む第2の元画像を、前記接近又は離間する方向から撮影する手順(f)と、異なる二つの閾値を第2の元画像に適用して得られる二つの二値化画像に基づき第2の差分画像を作成する手順(g)と、第2の差分画像における、第2の被処理体についての差分の領域の厚さTp2と前記処理体についての差分の領域の厚さTe2が一致するように、処理体を第2の被処理体に向けて移動させる手順(h)と、手順(h)の移動過程における、第2の被処理体の厚さTp2の推移と処理体の厚さTe2の推移に基づいて近似式を求める手順(i)と、を行う。
一つ目の形態は、被処理体に対して実際に処理体を操作させることで本発明の近似式を求めるので、作成される近似式の精度が高い。
すなわち、二つ目の形態は、第1の被処理体と処理体とを含む元画像を撮影する領域内で、既知の距離を隔てて撮影の方向に配置される、第1及び第2の少なくとも二つの参照体を撮影して参照体画像を作成する手順(j)と、異なる二つの閾値を参照体画像に適用して作成される二つの二値化画像に基づき第3の差分画像を作成する手順(k)と、第3の差分画像における、第1の参照体についての差分の領域の厚さTr1及び第2の参照体についての差分の領域の厚さTr2と、前記既知の距離とに基づいて近似式を求める手順(l)と、を行う。
二つ目の形態は、被処理体に対して実際に処理体を操作させる必要がないので、一つ目の形態に比べて、本発明の近似式を迅速に作成することができる。
近似式:Dz=aRtb+c
(Rt:Tp1/Te1,Dz:エンドエフェクタの奥行き方向の移動距離,a,b:定数、c:補正項)
つまり、前述した一つ目の形態に対応するマイクロマニピュレーションシステムは、第2の被処理体とエンドエフェクタとを含む第2の元画像を、光軸方向から撮影する撮影部と、異なる二つの閾値を第2の元画像に適用して作成される二つの二値化画像に基づいて第2の差分画像を作成する画像作成部と、第2の差分画像における、第2の被処理体についての差分の領域の厚さTp2とエンドエフェクタについての差分の領域の厚さTe2が一致するように、エンドエフェクタを第2の被処理体に向けて移動させる指令部と、エンドエフェクタの移動過程における、厚さTp2の推移と厚さTe2の推移に基づいて近似式を生成する式生成部と、を備える。
以下、実施の形態に基づいて本発明を具体的に説明する。
第1実施形態に係るマイクロマニピュレーションシステム1は、図2に示すように、エンドエフェクタEを備えるマイクロマニピュレータ3(駆動部)と、エンドエフェクタEの駆動を指令するコントローラ(司令部)5とを備えている。エンドエフェクタEは、マイクロマニピュレータ3に備えられたアクチュエータ(図示省略)により、x軸,y軸及びz軸の3軸方向への駆動ができる。なおマイクロマニピュレーションシステム1は、マイクロマニピュレータ3を2台備えている。
マイクロマニピュレーションシステム1は、顕微鏡7を備えている。光の入射方向(光軸方向)と反対側から被処理体である花粉Pを撮影する倒立型顕微鏡は、取得画像に対する照り返しの影響が少ないので、花粉PとエンドエフェクタEのボケ抽出が容易である。そのため、本実施形態は、倒立型の顕微鏡7を用いる。ただし、このことが正立型の顕微鏡を本発明に用いることを制限するものではない。
顕微鏡7の光軸はz軸と方向が一致しており、この方向がマイクロマニピュレーションシステム1における奥行き方向となる。
はじめに、PC13からの指令により、デジタルカメラ11は、花粉PとエンドエフェクタEの画像を撮影する。PC13は撮影された画像(元画像)を取得する(図3 S101)。図1(a)に元画像の例を示すが、デジタルカメラ11の焦点が花粉Pには合っているが、エンドエフェクタEには合っていないため、エンドエフェクタEに対応する部分に大きなボケが生じている。花粉Pにデジタルカメラ11の焦点を合わせる方法については後述する。
PC13は、元画像に対して二つの閾値を適用することにより、二つの二値化画像を作成する(図3 S105)。
図1(b)、(c)に、図1(a)から作成した二つの二値化画像の例を示している。図1(b)に示す二値化画像はボケの外周まで含んでいるためエンドエフェクタEに対応する白抜きの領域が大きい。これに対して図1(c)は、エンドエフェクタEそのものを示している画像とみなされ、ボケをほとんど含んでいないから、白抜きの領域が小さい。二つの閾値は、図1(b)、(c)の例のように、一方の二値化画像はボケを多く含み、他方の二値化画像はボケが微小になるように設定することが肝要である。
図1(d)に二つの二値化画像から作成された差分画像の例を示すが、エンドエフェクタEに対応する白抜きの部分、つまり二つの二値化画像の差分の領域が、元画像のボケを示している。また、図1(d)において、花粉Pの周囲にも白抜きで示される差分の領域が薄く現れている。
なお、エンドエフェクタEのボケ厚さTeを特定する場合、マイクロマニピュレーションシステム1はエンドエフェクタEの先端を花粉Pに接触させることが目的であることから、先端部分の厚さTeを採用することが好ましい。花粉Pの厚さTpは、厚さがほぼ均一なので、花粉Pの周方向のいずれの部分で特定してもよい。
花粉Pに焦点が合っているか否かの確認にも、ボケ厚さTpを用いることができる。焦点が合っていなければ、図4(a)、(b)に示すように、ボケ厚さTpが大きくなる。そこから花粉Pが焦点に近づいていくと、図4(c)、(d)に示すように、ボケ厚さTpは小さくなる。そして、焦点を過ぎてしまうと、ボケ厚さTpはまた大きくなる。このことから、花粉Tpに対してデジタルカメラ11の焦点を変化させながら花粉Pの画像を取得し、ボケ厚さTpが最小になる点を見出すことにより花粉Pに焦点を合わせることができる。
なお、ここでは好ましい形態として、当初に焦点が合っている花粉P(被処理体)について説明したが、本発明の有用性はこれに限定されるものではない。
図6より、ボケの厚さ、ボケの面積が最小になる34ステップ目における元画像が鮮明であり、焦点が合っていることが確認された。
図8に、1ステップ目の元画像(a)、1ステップ目の元画像に基づいて作成した差分画像(b)、21ステップ目の元画像(c)、21ステップ目の元画像に基づいて作成した差分画像(d)を示す。なお、21ステップ目は、Rtが1を越えた次のステップに該当する。21ステップ目の画像は、花粉P、エンドエフェクタEともにボケが少なく鮮明である。また、実際にエンドエフェクタEの先端が花粉Pに触れた時の画像のエンドエフェクタEと花粉Pのボケの厚さを求めて図8(d)と比較したところ、ほぼ厚さが一致していることが確認できた。
次に、近似式を用いてエンドエフェクタEの位置決めを行う第2実施形態について説明する。
第2実施形態も、マイクロマニピュレーションシステム1により実行されるが、近似式の作成、作成された近似式によりエンドエフェクタEの位置決めが行われる点で、第1実施形態と相違する。以下、第1実施形態との相違点を中心に第2実施形態を説明する。
図9に示すように、第2実施形態の手順は、S111までは第1実施形態と同じであり、S111以降は以下のように進められる。
PC13は、ボケ厚さTp2とボケ厚さTe2が一致すれば、近似式を求める(図9 S121)。近似式は、厚さTp2と厚さTe2が一致するまでの過程で得られる、厚さTp2と厚さTe2の比率と奥行き方向の距離Dzの関係から、下記のように求められる。なお、ここまでの手順を、セットアップと言う。
近似式:Dz=aRtb+c
(Rt:Tp2/Te2,Dz:エンドエフェクタの奥行き方向の移動距離,
a,b:定数、c:補正項)
図7(b)において、Rtが1.0の位置で花粉PとエンドエフェクタEの厚さTp2(Tp)と厚さTe2(Te)が一致しており、エンドエフェクタEは花粉Pとz軸方向の位置が一致している。これを基準にして、例えば5ステップ目、10ステップ目、15ステップ目について観ると、Rt及びRtが1.0になるためにエンドエフェクタEが奥行き方向に移動すべき距離Dzは以下の通りである。これらの関係から上記近似式が求められる。
5ステップ目:Rt=0.042,Dz=87画素(ピクセル)
10ステップ目:Rt=0.097,Dz=37画素(ピクセル)
15ステップ目:Rt=0.25,Dz=13画素(ピクセル)
次の花粉Pが特定されたならば、Rt(Tp2/Te2)を算出する(図9 S125)。Rtは、次の花粉PとエンドエフェクタEについて、図9のS101〜S107を行うことで求められる厚さTp2と厚さTe2に基づいて算出される。なお、このRtの算出に先立って、エンドエフェクタEは、近似式を求める手順を開始するときの初期位置に復帰させておく。
エンドエフェクタEが次の花粉Pに位置決めされ、所定の操作を行った後、さらに操作すべき次の花粉Pがあれば、それを特定する(図9 S129,S123)。さらに操作すべき次の花粉Pがなければ、花粉Pへの操作は終了する。
花粉Pが載せられた次のスライドガラス9があり、それを今までのスライドガラス9と交換する場合には、交換された新たなスライドガラス9について、図9の手順に従って新たな近似式を求める。撮影環境の変動によって、近似式は変わり得るからである。
また、近似式を求めた後は、第1実施形態のように、エンドエフェクタEをz軸方向へ移動させる度に画像を取得し、ボケ厚さTpとボケ厚さTeを比較する必要がないので、演算処理の負荷が少ない分、高速な位置決めを実現できる。
以上では、本発明の近似式を求めるのに、花粉PとエンドエフェクタEを用いたが、本発明はこれに限定されない。つまり、既知の距離を隔ててz軸方向に配置される複数の参照体について、各々の参照体のボケ厚さを特定できれば、近似式を求めることができる。以下、図12に基づいて、参照体をエンドエフェクタEに設けた例について第3実施形態として説明する。
この参照体画像に異なる二つの閾値を適用して、二つの二値化画像を作成する。次いで、二つの二値化画像から差分画像を作成する。
第1実施形態と同様にして作成した差分画像の例を図12(c)に示す。エンドエフェクタ本体17の先端17T(参照体)、参照体19及び参照体21のz軸方向の位置が異なるので、エンドエフェクタ本体17の先端17T(参照体)、参照体19及び参照体21のボケ厚さも異なる。この差分画像における、エンドエフェクタ本体17(先端17T)についての差分の領域の厚さTr1、参照体19についての差分の領域の厚さTr2、及び、参照体21についての差分の領域の厚さTr3を特定し、先端17Tから参照体19までのz軸方向の既知の距離、参照体19から参照体21までのz軸方向の既知の距離に基づいて、近似式(Dz=aRtb+c)を求めることができる。
近似式が求められたならば、第2実施形態の図9のS123以降の手順に従って、エンドエフェクタEを花粉Pに対して位置決めをする。
この例では、3つの参照体を用いて近似式を求めているが、二つの参照体があれば近似式を求めることができることは言うまでもない。ただし、近似式の精度を向上させるためには、参照体が多いことが好ましい。
これ以外にも、本発明の主旨を逸脱しない限り、上記実施の形態で挙げた構成を取捨選択したり、他の構成に適宜変更することが可能である。
3…マイクロマニピュレータ、5…コントローラ
7…顕微鏡、9…スライドガラス、11…デジタルカメラ
13…パーソナルコンピュータ、15…表示ディスプレイ、
E…エンドエフェクタ、17…エンドエフェクタ本体、19,21…参照体
P…花粉
Claims (10)
- 被処理体と、前記被処理体に対して接近又は離間が可能な処理体とを含む元画像を、前記接近又は離間する方向から撮影する手順(a)と、
異なる二つの閾値を前記元画像に適用して得られる二つの二値化画像に基づき差分画像を作成する手順(b)と、
前記差分画像における、前記被処理体についての差分の領域、及び、前記処理体についての差分の領域を特定する手順(c)と、
を備えることを特徴とするボケの抽出方法。 - 被処理体と、前記被処理体に対して接近又は離間が可能な処理体とを含む元画像を、前記接近又は離間する方向から撮影する手順(a)と、
異なる二つの閾値を前記元画像に適用して得られる二つの二値化画像に基づき差分画像を作成する手順(b)と、
前記差分画像における、前記被処理体についての差分の領域の厚さをTp、及び、前記処理体についての差分の領域の厚さをTeとすると、
前記厚さTpと前記厚さTeが一致するように、前記処理体を前記被処理体に向けて移動させる手順(d)と、
を備えることを特徴とする位置決め方法。 - 第1の被処理体と、前記第1の被処理体に対して接近又は離間が可能な処理体とを含む第1の元画像を、前記接近又は離間する方向から撮影する手順(a)と、
異なる二つの閾値を前記第1の元画像に適用して得られる二つの二値化画像に基づき第1の差分画像を作成する手順(b)と、
前記第1の差分画像における、前記第1の被処理体についての差分の領域の厚さをTp1、前記処理体についての差分の領域の厚さをTe1とすると、
前記厚さTp1と前記厚さTe1の比率であるRtと、前記処理体の奥行き方向の移動距離Dzとの関係を示す下記近似式に基づいて前記処理体を前記第1の被処理体に向けて移動させる手順(e)と、
を備えることを特徴とする位置決め方法。
近似式:Dz=aRtb+c
(Rt:Tp1/Te1,Dz:処理体の奥行き方向の移動距離,a,b:定数、c:補正項) - 前記手順(a)に先立って、
第2の被処理体と、前記第2の被処理体に対して接近又は離間が可能な前記処理体とを含む第2の元画像を、前記接近又は離間する方向から撮影する手順(f)と、
異なる二つの閾値を前記第2の元画像に適用して得られる二つの二値化画像に基づき第2の差分画像を作成する手順(g)と、
前記第2の差分画像における、前記第2の被処理体についての差分の領域の厚さTp2と前記処理体についての差分の領域の厚さTe2が一致するように、前記処理体を前記第2の被処理体に向けて移動させる手順(h)と、
前記手順(h)の前記処理体の移動過程における、前記厚さTp2の推移と前記厚さTe2の推移に基づいて前記近似式を求める手順(i)と、
を行う請求項3に記載の位置決め方法。 - 前記手順(a)に先立って、
前記第1の被処理体と前記処理体とを含む元画像を撮影する領域内で、既知の距離を隔てて前記撮影の方向に配置される、第1及び第2の少なくとも二つの参照体を撮影して参照体画像を作成する手順(j)と、
異なる二つの閾値を前記参照体画像に適用して作成される二つの二値化画像に基づき第3の差分画像を作成する手順(k)と、
前記第3の差分画像における、前記第1の参照体についての差分の領域の厚さTr1及び前記第2の参照体についての差分の領域の厚さTr2と、前記既知の距離とに基づいて前記近似式を求める手順(l)と、
を行う請求項3に記載の位置決め方法。 - 前記参照体は、前記処理体に設けられる請求項5に記載の位置決め方法。
- 顕微鏡の視野内でエンドエフェクタにより被処理体を操作するマイクロマニピュレーションシステムにおいて、
前記エンドエフェクタを前記顕微鏡の光軸方向に移動させる駆動部と、
前記被処理体と、前記被処理体に対して前記光軸方向に移動が可能な前記エンドエフェクタとを含む元画像を、前記光軸方向から撮影する撮影部と、
異なる二つの閾値を前記元画像に適用して作成される二つの二値化画像に基づいて差分画像を作成する画像作成部と、
前記差分画像における、前記被処理体についての差分の領域の厚さTpと、前記エンドエフェクタについての差分の領域の厚さTeと、が一致するように、前記エンドエフェクタを前記被処理体に向けて移動するように前記駆動部に指令する指令部と、
を備えることを特徴とするマイクロマニピュレーションシステム。 - 顕微鏡の視野内でエンドエフェクタにより第1の被処理体を操作するマイクロマニピュレーションシステムにおいて、
前記エンドエフェクタを前記顕微鏡の光軸方向に移動させる駆動部と、
前記第1の被処理体と、前記第1の被処理体に対して前記光軸方向に移動が可能な前記エンドエフェクタとを含む第1の元画像を、前記光軸方向から撮影する撮影部と、
異なる二つの閾値を前記第1の元画像に適用して作成される二つの二値化画像に基づいて第1の差分画像を作成する画像作成部と、
前記第1の差分画像における、前記第1の被処理体についての差分の領域の厚さTp1と、前記エンドエフェクタについての差分の領域の厚さTe1の比率であるRtと、前記エンドエフェクタの奥行き方向の移動距離Dzとの関係を示す下記近似式に基づいて前記エンドエフェクタを前記第1の被処理体に向けて移動するように前記駆動部に指令する指令部と、
を備えることを特徴とするマイクロマニピュレーションシステム。
近似式:Dz=aRtb+c
(Rt:Tp1/Te1,Dz:エンドエフェクタの奥行き方向の移動距離,a,b:定数、c:補正項) - 第2の被処理体と前記エンドエフェクタとを含む第2の元画像を、前記光軸方向から撮影する前記撮影部と、
異なる二つの閾値を前記第2の元画像に適用して作成される二つの二値化画像に基づいて第2の差分画像を作成する前記画像作成部と、
前記第2の差分画像における、前記第2の被処理体についての差分の領域の厚さTp2と前記エンドエフェクタについての差分の領域の厚さTe2が一致するように、前記エンドエフェクタを前記第2の被処理体に向けて移動させる前記指令部と、
前記エンドエフェクタの移動過程における、前記厚さTp2の推移と前記厚さTe2の推移に基づいて前記近似式を生成する式生成部と、
を備える請求項8に記載のマイクロマニピュレーションシステム。 - 前記第1の被処理体と前記エンドエフェクタとを含む元画像を撮影する領域内で、既知の距離を隔てて前記撮影の方向に配置される、第1及び第2の少なくとも二つの参照体画像を撮影する前記撮影部と、
異なる二つの閾値を前記参照体画像に適用して作成される二つの二値化画像に基づき第3の差分画像を作成する前記画像作成部と、
前記第3の差分画像における、前記第1の参照体についての差分の領域の厚さTr1及び前記第2の参照体についての差分の領域の厚さTr2と、前記既知の距離とに基づいて前記近似式を生成する式生成部と、
を備える請求項8に記載のマイクロマニピュレーションシステム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009213358A JP5273734B2 (ja) | 2009-09-15 | 2009-09-15 | ボケの抽出方法、位置決め方法及びマイクロマニピュレーションシステム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009213358A JP5273734B2 (ja) | 2009-09-15 | 2009-09-15 | ボケの抽出方法、位置決め方法及びマイクロマニピュレーションシステム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011065253A true JP2011065253A (ja) | 2011-03-31 |
JP5273734B2 JP5273734B2 (ja) | 2013-08-28 |
Family
ID=43951461
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009213358A Expired - Fee Related JP5273734B2 (ja) | 2009-09-15 | 2009-09-15 | ボケの抽出方法、位置決め方法及びマイクロマニピュレーションシステム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5273734B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2017010397A1 (ja) * | 2015-07-15 | 2017-01-19 | 国立大学法人大阪大学 | 画像解析装置、画像解析方法、画像解析システム、画像解析プログラム、および記録媒体 |
JP7502606B2 (ja) | 2020-03-30 | 2024-06-19 | 澁谷工業株式会社 | 細胞観察装置及び細胞観察方法 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62204218A (ja) * | 1986-03-05 | 1987-09-08 | Yaskawa Electric Mfg Co Ltd | 合焦点検出方法 |
JPH10232343A (ja) * | 1996-12-18 | 1998-09-02 | Nachi Fujikoshi Corp | 自動焦点合わせ方法 |
JP2005258413A (ja) * | 2004-02-10 | 2005-09-22 | Olympus Corp | マイクロマニピュレーションシステム |
-
2009
- 2009-09-15 JP JP2009213358A patent/JP5273734B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62204218A (ja) * | 1986-03-05 | 1987-09-08 | Yaskawa Electric Mfg Co Ltd | 合焦点検出方法 |
JPH10232343A (ja) * | 1996-12-18 | 1998-09-02 | Nachi Fujikoshi Corp | 自動焦点合わせ方法 |
JP2005258413A (ja) * | 2004-02-10 | 2005-09-22 | Olympus Corp | マイクロマニピュレーションシステム |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2017010397A1 (ja) * | 2015-07-15 | 2017-01-19 | 国立大学法人大阪大学 | 画像解析装置、画像解析方法、画像解析システム、画像解析プログラム、および記録媒体 |
JPWO2017010397A1 (ja) * | 2015-07-15 | 2018-04-19 | 国立大学法人大阪大学 | 画像解析装置、画像解析方法、画像解析システム、画像解析プログラム、および記録媒体 |
US10475183B2 (en) | 2015-07-15 | 2019-11-12 | Osaka University | Image analysis device, image analysis method, image analysis system, and recording medium |
JP7502606B2 (ja) | 2020-03-30 | 2024-06-19 | 澁谷工業株式会社 | 細胞観察装置及び細胞観察方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5273734B2 (ja) | 2013-08-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP1336888B1 (en) | Microscopy imaging system and data acquisition method | |
JP4831972B2 (ja) | マイクロマニピュレーションシステム | |
JP6160187B2 (ja) | 分析装置、分析プログラム及び分析システム | |
JP4978093B2 (ja) | マイクロインジェクション装置及びマイクロインジェクション方法 | |
JP2014126417A (ja) | 硬さ試験機、及び硬さ試験方法 | |
CN105824076B (zh) | 光纤熔接装置以及光纤的熔接方法 | |
EP3248040B1 (en) | Method for laser microdissection, and laser microdissection system | |
JP2013142769A (ja) | 顕微鏡システム、オートフォーカスプログラムおよびオートフォーカス方法 | |
US10812701B2 (en) | High-speed tag lens assisted 3D metrology and extended depth-of-field imaging | |
JP5562653B2 (ja) | バーチャルスライド作成装置およびバーチャルスライド作成方法 | |
JP5273734B2 (ja) | ボケの抽出方法、位置決め方法及びマイクロマニピュレーションシステム | |
JP6563486B2 (ja) | 顕微鏡観察システム、顕微鏡観察方法、及び顕微鏡観察プログラム | |
JP6145133B2 (ja) | 荷電粒子線装置 | |
JP5430188B2 (ja) | 細胞画像解析装置及び細胞の画像を撮像する方法 | |
CN110197508B (zh) | 2d、3d共融视觉引导运动的方法及装置 | |
JP2006145793A (ja) | 顕微鏡画像撮像システム | |
US20170278259A1 (en) | Microscope system and specimen observation method | |
WO2018197078A1 (de) | Prüfvorrichtung zur optischen prüfung eines objektes, produktionsanlage mit der prüfvorrichtung und verfahren zur optischen prüfung des objektes mit der prüfvorrichtung | |
JP2005216645A (ja) | 透過電子顕微鏡 | |
Bahadur et al. | Robust autofocusing in microscopy using particle swarm optimization | |
US20130016192A1 (en) | Image processing device and image display system | |
CN209803001U (zh) | 一种染色体扫描成像系统 | |
JP2003295066A (ja) | 顕微鏡装置 | |
JP3644318B2 (ja) | 微細物体の操作装置および操作方法 | |
Ayutthaya et al. | Automatic hard disk drive slider bar auditing with spatial light modulator based imaging system |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20120906 |
|
A871 | Explanation of circumstances concerning accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871 Effective date: 20120906 |
|
A975 | Report on accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005 Effective date: 20121101 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20121219 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130125 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130410 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130509 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Ref document number: 5273734 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |