JP2011053178A - 状態検出装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】状態検出装置を、一般形の電磁流量計の検出器の構成を大きく変更することなく提供する。
【解決手段】流体の特性や状態、磁場の状態あるいは測定管内の状態を検出対象のパラメータとする状態検出装置は、測定管1と、電極2a,2bと、磁場を流体に印加する励磁コイル3と、電極平面PLNと平行な磁場の方向に対して傾きを持ち磁場の時間変化によって起電力が生じるように配設された信号線4a,4bと、電極2a,2bおよび信号線4a,4bで検出される、流体の流速とは無関係で磁場の時間変化に起因する∂A/∂t成分の起電力と流体の流速に起因するv×B成分の起電力との合成起電力から、∂A/∂t成分を抽出し、∂A/∂t成分の中からパラメータに依存する変動要素を抽出して、変動要素に基づいてパラメータを定量化する状態定量化部8aとを備える。
【選択図】 図16

Description

本発明は、流体の特性や状態、磁場の状態あるいは測定管内の状態を検出する状態検出装置に関するものである。
一般に、流量計を用いて流量計測を行う場合には、被測定流体の流量と共にその流体の特性や状態あるいは流体が流れる配管内の状態を検出したいという要求がある。例えば、薬液等を混合する製造ラインにおいては、流体の流量と共に、導電率や誘電率などの流体の特性を計測している。また、付着物の多い配管では、そのメンテナンス周期を知るために配管内の付着物の堆積状態を計測している。このように、流体の流量と共に、その流体の特性や状態あるいは流体が流れる配管内の状態を計測したいという要求があり、加えてこれらの計測を流量計と基本的に同一のハードウェア構成で実現したいという要求がある。
つまり、流体の流量を計測したり、流体の状態を計測したり、また流体の流量と状態を同時に計測したりといったように様々な使い方を1台の計測機器で任意に選択できることが望まれている。また、流量と状態の同時計測が可能なことが望ましいことから分かるように、流体の流量によらずに、流体の特性あるいは状態を計測できることが重要になる。
ここで、流量計として電磁流量計を対象としてみると、上記の要求に加えて電磁流量計の自己診断という側面から、配管内の状態の計測が望まれている。例えば、流体と接触している電極から電位を取り出す電極式と呼ばれている方式では、電極に絶縁物等が付着すると、電位が精度よく取り出せず、正確な流量を計測することができなくなる。この場合、流量が変化しているのか付着物によって信号が変化しているのかを、流量信号の計測を中断することなく判断することができれば、流量計測値がおかしいといったトラブルを未然に防ぐことができる。また、一般に電磁流量計は、印加する磁場が変動する場合、流量計測値に誤差が生じる。このとき、流体に印加される磁場の状態が分かれば、このときに生じる出力異常が、流量の変化に起因するのか、流体に印加された磁場が異常なことに起因するのかを判断することができ、流量計として自己診断機能を持つことができる。
以上述べたように、流量計と基本的に同じハードウェア構成で流量以外の様々な計測を行いたいという要求に対する解決策が望まれている。
以上のような要求を実現し得る技術として電磁流量計において流速以外のパラメータを検出する装置が、例えば特許文献1や非特許文献1に開示されている。非特許文献1や特許文献1には、電磁流量計の応用として、水位、導電率などを計測する場合の例が出ている。この電磁流量計では、配管の上下に設けた励磁コイルを同時に駆動したときに電極から得られる信号起電力と配管の上側の励磁コイルを単独で駆動したときの信号起電力との比から水位を求め、また電極に接続されているプリアンプの入力インピーダンスを変化させたときの信号起電力の比から流体の導電率を求めている。これにより、付着検知などが可能と考えられる。
しかしながら、特許文献1や非特許文献1に開示された電磁流量計では、流量信号の比を基に流体の特性あるいは状態を検出しているので、流体の流量が0に近づくにつれて大きな誤差が発生して精度が悪くなり、流量0では流体の特性あるいは状態を検出することができないという問題点があり、また、流量変動によって流量計測値が変動したのか磁場変動によって流量計測値が変動したのか区別できないため、磁場変動を検出することができないという問題点があった。
これに対して、発明者は、図29に示すような状態検出装置を提案した(特許文献2参照)。この状態検出装置は、被測定流体が流れる測定管1と、被測定流体に印加される磁場および測定管1の軸PAXの双方と直交し、かつ被測定流体と接触するように測定管1に対向配置され、前記磁場と被測定流体の流れとによって生じた起電力を検出する一対の電極2a,2bと、測定管軸PAXの方向と直交する、電極2a,2bを含む平面PLNを測定管1の境としたとき、この平面PLNを境とする測定管1の前後で非対称な、時間変化する磁場を被測定流体に印加する励磁コイル3と、電極2a,2bで検出される、流体の流速とは無関係な∂A/∂t成分の起電力と流体の流速に起因するv×B成分の起電力との合成起電力から、∂A/∂t成分を抽出し、∂A/∂t成分の中から、パラメータ(流体の特性や状態あるいは測定管内の状態)に依存する変動要素を抽出して、この変動要素に基づいてパラメータを定量化する状態定量化部8と、励磁コイル3に励磁電流を供給する電源部9とを有している。
状態定量化部8は、電極2a,2bで検出される、∂A/∂t成分の起電力とv×B成分の起電力との合成起電力から、∂A/∂t成分を抽出し、∂A/∂t成分の中からパラメータに依存する変動要素を抽出する信号変換部5と、パラメータに依存する変動要素とパラメータとの関係を予め記憶する状態記憶部6と、状態記憶部6に記憶された関係に基づいて、抽出された変動要素に対応するパラメータを求める状態出力部7とからなる。特許文献2に開示された状態検出装置によれば、流体の流速に関わらず、磁場や流体を含めた測定管内の状態を精度良く検出することができる。
特許第3164684号公報 特開2006−90794号公報
社団法人日本計量機器工業連合会編,「計装エンジニアのための流量計測 AtoZ」,工業技術社,1995年,p.147−148
以上のように、特許文献1や非特許文献1に開示された電磁流量計では、流体の流量が0に近づくにつれて大きな誤差が発生して精度が悪くなり、流量0では流体の特性あるいは状態を検出することができないという問題点があり、また磁場変動を検出することができないという問題点があった。
また、特許文献2に開示された状態検出装置では、流体中に発生する∂A/∂t成分を検出するために、図29の平面PLNを境とする測定管1の前後で非対称な磁場を被測定流体に印加する必要があり、一般形の電磁流量計と違い、電極位置とコイル位置との間にオフセットを設ける必要があった。このため、一般形の電磁流量計の検出器を転用することができず、新たに検出器部分を設計し、作成する必要があるという問題点があった。
本発明は、上記課題を解決するためになされたもので、流体の流速に関わらず、磁場や流体を含めた配管内の状態を精度良く検出することができる状態検出装置を、従来の一般形の電磁流量計の検出器の構成を大きく変更することなく提供することを目的とする。
本発明は、流体の特性や状態、磁場の状態あるいは測定管内の状態を検出対象のパラメータとする状態検出装置であって、流体が流れる測定管と、この測定管に配設され、前記流体に印加される磁場と前記流体の流れとによって生じた起電力を検出する電極と、この電極を含む、前記測定管の軸方向と垂直な電極平面に対して対称かつ時間変化する磁場を前記流体に印加する励磁部と、一端が前記電極と接続されると共に、前記電極平面と平行な磁場の方向に対して傾きを持ち前記磁場の時間変化によって起電力が生じるように配設された信号線と、前記信号線の他端と接続され、前記電極および信号線で検出される、前記流体の流速とは無関係で前記磁場の時間変化に起因する∂A/∂t成分の起電力と前記流体の流速に起因するv×B成分の起電力との合成起電力から、前記∂A/∂t成分を抽出し、この∂A/∂t成分の中から前記パラメータに依存する変動要素を抽出して、この変動要素に基づいて前記パラメータを定量化する状態定量化部とを備えることを特徴とするものである。
また、本発明の状態検出装置の1構成例において、前記状態定量化部は、前記電極および信号線で検出される、前記流体の流速とは無関係で前記磁場の時間変化に起因する∂A/∂t成分の起電力と前記流体の流速に起因するv×B成分の起電力との合成起電力から、前記∂A/∂t成分を抽出し、この∂A/∂t成分の中から前記パラメータに依存する変動要素を抽出する信号変換部と、前記パラメータに依存する変動要素と前記パラメータとの関係を予め記憶する状態記憶部と、この状態記憶部に記憶された関係に基づいて、前記抽出された変動要素に対応する前記パラメータを求める状態出力部とからなることを特徴とするものである。
また、本発明の状態検出装置の1構成例において、前記信号線の配設方向は、前記測定管の軸と同じ方向成分を持つことを特徴とするものである。
また、本発明の状態検出装置の1構成例において、前記励磁部は、コイル軸が前記電極平面に含まれるように配設された励磁コイルと、この励磁コイルに励磁電流を供給する電源とからなり、前記信号変換部は、前記合成起電力と前記励磁電流との位相差あるいは時間差を求めることにより、前記∂A/∂t成分を抽出することを特徴とするものである。
また、本発明の状態検出装置の1構成例(第1の実施の形態)において、前記電源は、第1の周波数の励磁電流を前記励磁コイルに供給し、前記信号変換部は、前記合成起電力のうち前記第1の周波数の成分と前記励磁電流との位相差を求めることにより、前記∂A/∂t成分を抽出し、この∂A/∂t成分の中から前記パラメータに依存する変動要素の大きさまたは位相を抽出し、前記状態記憶部は、前記パラメータに依存する変動要素の大きさまたは位相と前記パラメータとの関係を予め記憶することを特徴とするものである。
また、本発明の状態検出装置の1構成例において、前記励磁部は、コイル軸が前記電極平面に含まれるように配設された励磁コイルと、複数の励磁周波数を同時または交互に与える励磁電流を前記励磁コイルに供給する電源とからなり、前記信号変換部は、前記合成起電力のうち同時または交互に得られる少なくとも2つの異なる周波数成分の振幅と位相を求めることにより、前記∂A/∂t成分を抽出することを特徴とするものである。
また、本発明の状態検出装置の1構成例(第2の実施の形態)において、前記電源は、第1の周波数と第2の周波数の異なる2つの励磁周波数を同時または交互に与える励磁電流を前記励磁コイルに供給し、前記信号変換部は、前記合成起電力のうち前記第1の周波数と前記第2の周波数の2つの周波数成分の振幅と位相を求め、これらの振幅と位相に基づいて前記2つの周波数成分の起電力差を前記∂A/∂t成分として抽出し、この∂A/∂t成分の中から前記パラメータに依存する変動要素の大きさまたは位相を抽出し、前記状態記憶部は、前記パラメータに依存する変動要素の大きさまたは位相と前記パラメータとの関係を予め記憶することを特徴とするものである。
また、本発明の状態検出装置の1構成例(第1、第2の実施の形態)において、前記電極は、前記測定管の軸に直交する軸上に前記測定管の軸を挟んで対向するように1対配設され、前記信号線は、各々の電極に1本ずつ接続された2本の信号線からなり、この2本の信号線のうち少なくとも1本の信号線が前記電極平面と平行な磁場の方向に対して傾きを持ち前記磁場の時間変化によって起電力が生じるように配設されることを特徴とするものである。
また、本発明の状態検出装置の1構成例において、前記励磁部は、コイル軸が前記電極平面に含まれるように配設された励磁コイルと、この励磁コイルに励磁電流を供給する電源とからなり、前記信号線は、互いに異なる経路に配設された複数の信号線からなり、前記信号変換部は、前記複数の信号線から得られる合成起電力の和または差を求めることにより、前記∂A/∂t成分を抽出することを特徴とするものである。
また、本発明の状態検出装置の1構成例(第3の実施の形態)において、前記電極は、前記測定管の軸に直交する軸上に前記測定管の軸を挟んで対向するように1対配設され、前記信号線は、各々の電極に1本ずつ接続された2本の信号線からなり、この2本の信号線が前記電極平面から互いに逆方向に向かうように配設され、前記信号変換部は、前記2本の信号線から得られる合成起電力の和を求めることにより、前記∂A/∂t成分を抽出し、この∂A/∂t成分の中から前記パラメータに依存する変動要素の大きさまたは位相を抽出し、前記状態記憶部は、前記パラメータに依存する変動要素の大きさまたは位相と前記パラメータとの関係を予め記憶することを特徴とするものである。
また、本発明の状態検出装置の1構成例において、前記励磁部は、コイル軸が前記電極平面に含まれるように配設された励磁コイルと、この励磁コイルに励磁電流を供給する電源とからなり、前記信号線は、同じ電極に接続された複数の信号線からなり、前記信号変換部は、前記複数の信号線から得られる合成起電力のうち少なくとも2本の信号線から得られる合成起電力の振幅と位相を求めることにより、前記∂A/∂t成分を抽出することを特徴とするものである。
また、本発明の状態検出装置(第4の実施の形態)の1構成例において、前記信号線は、同じ電極に接続された第1、第2の信号線からなり、この第1、第2の信号線が前記電極平面から互いに逆方向に向かうように配設され、前記信号変換部は、前記第1の信号線から得られる第1の合成起電力と前記第2の信号線から得られる第2の合成起電力の各々について振幅と位相を求め、これらの振幅と位相に基づいて前記第1の合成起電力と前記第2の合成起電力との起電力差を前記∂A/∂t成分として抽出し、この∂A/∂t成分の中から前記パラメータに依存する変動要素の大きさまたは位相を抽出し、前記状態記憶部は、前記パラメータに依存する変動要素の大きさまたは位相と前記パラメータとの関係を予め記憶することを特徴とするものである。
また、本発明の状態検出装置の1構成例において、前記電極は、前記測定管の軸に直交する軸上に前記測定管の軸を挟んで対向するように1対配設され、各々の電極に複数本ずつ接続された信号線のうち、少なくとも一方の電極に接続された信号線が前記電極平面と平行な磁場の方向に対して傾きを持ち前記磁場の時間変化によって起電力が生じるように配設されることを特徴とするものである。
また、本発明の状態検出装置の1構成例(第5の実施の形態)は、前記励磁部の外側を覆うアウターコアを備え、前記信号線は、前記アウターコアの内側に、前記電極平面と平行な磁場の方向に対して傾きを持ち前記磁場の時間変化によって起電力が生じるように配設されることを特徴とするものである。
また、本発明の状態検出装置の1構成例(第5の実施の形態)は、前記励磁コイルの外側を覆うアウターコアを備え、前記信号線は、前記アウターコアの内側に、前記電極平面と平行な磁場の方向に対して傾きを持ち前記磁場の時間変化によって起電力が生じるように配設されることを特徴とするものである。
本発明によれば、流体が流れる測定管と、測定管に配設され、流体に印加される磁場と流体の流れとによって生じた起電力を検出する電極と、電極を含む、測定管の軸方向と垂直な電極平面に対して対称かつ時間変化する磁場を流体に印加する励磁部と、一端が電極と接続されると共に、電極平面と平行な磁場の方向に対して傾きを持ち磁場の時間変化によって起電力が生じるように配設された信号線と、信号線の他端と接続され、電極および信号線で検出される、流体の流速とは無関係で磁場の時間変化に起因する∂A/∂t成分の起電力と流体の流速に起因するv×B成分の起電力との合成起電力から、∂A/∂t成分を抽出し、∂A/∂t成分の中からパラメータに依存する変動要素を抽出して、変動要素に基づいてパラメータを定量化する状態定量化部とを設けることにより、流体の流速に関わらず、流体の特性や状態、磁場の状態あるいは測定管内の状態を精度良く検出することができる。本発明では、従来の一般形の電磁流量計の検出器の構成である測定管と電極と励磁部とを用い、磁場の時間変化によって起電力が生じるように信号線を配設すれば、磁場や流体を含めた測定管内の状態を検出することができるので、非対称励磁形の状態検出装置でしか得ることができなかった効果を、一般形の電磁流量計の検出器の構成を大きく変更することなく実現することができる。
また、本発明では、信号線をアウターコアの内側に配設することにより、∂A/∂t成分を効率よく検出することができる。
従来の一般形の電磁流量計の信号線配置を示す図である。 本発明の状態検出装置の第1の構成の原理を説明するためのブロック図である。 本発明の状態検出装置の第2の構成の原理を説明するためのブロック図である。 本発明の状態検出装置の第3の構成の原理を説明するためのブロック図である。 本発明の状態検出装置の第1の構成における∂A/∂t成分の分布を上から見た図である。 本発明の状態検出装置の第1の構成において被測定流体の流量が0の場合の渦電流および起電力を示す図である。 本発明の状態検出装置の第2の構成における∂A/∂t成分の分布を上から見た図である。 本発明の状態検出装置の第2の構成において被測定流体の流量が0の場合の渦電流および起電力を示す図である。 本発明の状態検出装置の第3の構成における∂A/∂t成分の分布を上から見た図である。 本発明の状態検出装置の第3の構成において被測定流体の流量が0の場合の渦電流および起電力を示す図である。 本発明の状態検出装置の第1の構成において被測定流体の流量が0でない場合の電極間起電力を示す図である。 本発明の状態検出装置の第2の構成において被測定流体の流量が0でない場合の電極間起電力を示す図である。 本発明の状態検出装置の状態検出の基本原理を説明するための図である。 本発明の状態検出装置におけるテーブルの作成方法を説明するための図である。 本発明の状態検出装置におけるテーブルの他の作成方法を説明するための図である。 本発明の第1の実施の形態に係る状態検出装置の構成を示すブロック図である。 本発明の第1の実施の形態における状態定量化部の動作を示すフローチャートである。 本発明の第2の実施の形態における状態定量化部の動作を示すフローチャートである。 本発明の第3の実施の形態に係る状態検出装置の構成を示すブロック図である。 本発明の第3の実施の形態における状態定量化部の動作を示すフローチャートである。 本発明の第4の実施の形態に係る状態検出装置の構成を示すブロック図である。 本発明の第4の実施の形態における状態定量化部の動作を示すフローチャートである。 本発明の第5の実施の形態に係る状態検出装置の構成を示すブロック図である。 本発明の第1の実施の形態〜第5の実施の形態に係る状態検出装置で用いる電極の1例を示す断面図である。 本発明の第1の実施の形態〜第5の実施の形態に係る状態検出装置で用いる電極の他の例を示す断面図である。 本発明の第1の実施の形態〜第5の実施の形態に係る状態検出装置で用いる電極の他の例を示す断面図である。 本発明の第1、第2の実施の形態における信号線配置の他の例を示す図である。 本発明の第4の実施の形態における信号線配置の他の例を示す図である。 従来の状態検出装置の構成を示すブロック図である。
[物理現象と数学的基礎知識]
従来技術と本発明を理解するために必要な両者に共通する理論的前提部分について説明する。
まず、従来技術の説明に必要な物理現象について説明しておく。時間変化する磁場中を物体が移動する場合、電磁誘導によって2種類の電界、(a)磁場の時間変化によって発生する起電力E(i)=−∂A/∂t、(b)磁場中を物体が動くことにより発生する起電力E(v)=v×Bが発生する。v×BはvとBの外積を示し、∂A/∂tはAの時間による偏微分を示す。v、B、Aはそれぞれ下記に対応しており、3次元(x、y、z)に方向をもつベクトルである(v:流速、B:磁束密度、A:ベクトルポテンシャル(磁束密度とはB=rotAの関係がある))。ただし、ここでの3次元ベクトルは以降で説明する複素平面上のベクトルとは意味が異なる。発生する起電力は流体から電極、信号線を通して検出することになる。
ここで、流体の流速に無関係な∂A/∂t成分によって流体内に発生する渦電流についてみると、磁場や流体を含む測定管内の状態、および電位を取り出す際の入力インピーダンスによって、渦電流の流れる経路や電流密度が変化し、この変化を電位として取り出せば、流速以外の特性や状態を計測することができる。
次に、一般に知られている数学的基礎知識について説明する。同一周波数で異なる振幅の余弦波P・cos(ω・t)、正弦波Q・sin(ω・t)は、以下のような余弦波に合成される。P,Qは振幅、ωは角周波数である。
P・cos(ω・t)+Q・sin(ω・t)
=(P2+Q21/2・cos(ω・t−ε)
ただし、ε=tan-1(Q/P) ・・・(1)
式(1)の合成を分析するには、余弦波P・cos(ω・t)の振幅Pを実軸、正弦波Q・sin(ω・t)の振幅Qを虚軸にとるように複素座標平面に写像すると都合がよい。すなわち、複素座標平面上において、原点からの距離(P2+Q21/2が合成波の振幅を与え、実軸との角度ε=tan-1(Q/P)が合成波とω・tとの位相差を与えることになる。
また、複素座標平面上においては、以下の関係式が成り立つ。
L・exp(j・ε)=L・cos(ε)+j・L・sin(ε) ・・・(2)
式(2)は複素ベクトルに関する表記であり、jは虚数単位である。Lは複素ベクトルの長さを与え、εは複素ベクトルの方向を与える。したがって、複素座標平面上の幾何学的関係を分析するには、複素ベクトルへの変換を活用すると都合がよい。
[従来技術の構造上の仕組み]
上記物理現象と従来技術の構造上の仕組みの関係について説明する。特許文献2に開示された非対称励磁を用いる状態検出装置では、コイル平面と電極平面との間にオフセットがあり、一般形の電磁流量計とは検出器が異なる構造になる。また、一般形の電磁流量計に使用される検出器は∂A/∂t成分をできるだけ検出しない構造となっている。すなわち、電極2a,2bを含む、測定管軸の方向と垂直な平面PLNに対して磁場が対称になっているだけでなく、図1に示すように励磁コイル3から発生する磁束と鎖交する面積ができるだけ小さくなるように信号線4a,4bを配置する構造となっている。この構造により、信号線4a,4bに∂A/∂t成分が発生しないようにしている。
[発明の着眼点]
本発明は、励磁コイルと電極とが同一平面上に存在する従来の一般形の検出器において、信号線を磁場と鎖交するように配置することにより、信号線または電極に∂A/∂t成分を発生させることができ、この∂A/∂t成分を利用することにより、磁場や流体を含めた測定管内の状態を得ることが可能になることに着目した。
[発明の基本原理]
流体中には、先に説明した2種類の起電力E(i)=−∂A/∂t、E(v)=v×Bが発生するが、平面PLNに対して磁場が対称である一般形の場合、電極位置において、磁場の時間変化による起電力E(i)=−∂A/∂tは対称性により0になる。それに対して、信号線が磁束と鎖交するように配置されると、電極および信号線においては、磁場の時間変化によって起電力が発生する。最終的に、信号線を通って信号変換部で検出される起電力は、流体中に発生するv×B成分と電極および信号線に発生する∂A/∂t成分とが合成された起電力となる。
以下の説明では、発生する起電力がどのような挙動を示し、本発明はこの挙動をどのように利用しているかを説明するために、上述した複素座標平面への写像と、複素ベクトルによる幾何学的分析を採用する。
[第1の構成]
本発明の状態検出装置の第1の構成について説明する。図2は第1の構成の原理を説明するためのブロック図である。図2の状態検出装置は、被測定流体が流れる測定管1と、被測定流体に印加される磁場および測定管1の軸PAXの双方と直交し、かつ被測定流体と接触するように測定管1に対向配置され、前記磁場と被測定流体の流れとによって生じた起電力を検出する一対の電極2a,2bと、測定管軸PAXの方向と直交する、電極2a,2bを含む平面PLNを測定管1の境としたとき、この平面PLNを境とする測定管1の前後で対称な、時間変化する磁場を被測定流体に印加する励磁コイル3と、励磁コイル3によって発生する磁束と鎖交するように配置され、電極2a,2bと信号変換部(不図示)との間を接続する信号線4a,4bとを有する。第1の構成は、電極2a,2bを含む平面PLNに対して信号線4aと信号線4bとを同じ側に配置したものである。
[第2の構成]
次に、本発明の状態検出装置の第2の構成について説明する。図3は第2の構成の原理を説明するためのブロック図である。第2の構成は、電極2a,2bを含む平面PLNに対して信号線4aと信号線4bとを異なる側に配置し、かつ励磁コイル3の軸を中心軸として信号線4aと信号線4bとを略回転対称に配置したものである。
[第3の構成]
次に、本発明の状態検出装置の第3の構成について説明する。図4は第3の構成の原理を説明するためのブロック図である。第3の構成は、1つの電極2aに第1の信号線4aと第2の信号線4cとを接続し、電極2a,2bを含む平面PLNに対して第1の信号線4aと第2の信号線4cとを異なる側に配置したものである。電極2bについても同様に、第1の信号線4bと第2の信号線4dとを接続し、電極2a,2bを含む平面PLNに対して第1の信号線4bと第2の信号線4dとを異なる側に配置している。電極2a,2bを含む平面PLNに対して第1の信号線4a,4bと第2の信号線4c,4dとは、略対称に配置される。
第1〜第3の構成において、励磁コイル3から発生する磁場のうち、電極2a,2b間を結ぶ電極軸EAX上において電極軸EAXおよび測定管軸PAXの双方と直交する磁場成分(磁束密度)B1は、以下のように与えられるものとする。
B1=b1・cos(ω0・t−θ1) ・・・(3)
式(3)において、b1は磁束密度B1の振幅、ω0は角周波数、θ1は磁束密度B1とω0・tとの位相差(位相遅れ)である。以下、磁束密度B1を磁場B1とする。
[磁場の変化に起因する起電力]
まず、第1〜第3の構成に関して、磁場の変化に起因し、被測定流体の流速とは無関係な起電力について説明する。磁場の変化に起因する起電力は、磁場の時間微分dB/dtによるので、励磁コイル3から発生する磁場B1を次式のように微分する。
dB1/dt=−ω0・b1・sin(ω0・t−θ1) ・・・(4)
被測定流体の流速が0の場合、磁場B1による起電力は、磁場B1の変化に起因する成分のみとなる。この場合、図2に示したような第1の構成の信号線配置では、∂A/∂t成分の分布を状態検出装置の上から見ると図5のようになり、図6に示すような起電力Ea,Ebが発生する。したがって、電極軸EAXと測定管軸PAXとを含む平面内において、磁場B1の変化によって流体中に発生する(流速と無関係な)電極間起電力は0となるが、それぞれの信号線4a,4bには磁場B1の変化によって起電力Ea,Ebが発生することになる。なお、図6におけるIは、磁場B1の変化による渦電流を示している。
このとき、信号線の端部から電極に向かう方向をマイナス方向とすれば、信号線4bに発生する起電力Ebは、次式に示すように向きを考えた磁場の時間微分−dB1/dtに係数kb(電極2bや信号線4bの配置等に関係する複素数)をかけたものとなる。
Eb=kb・ω0・b1・sin(ω0・t−θ1) ・・・(5)
そして、式(5)を変形すると次式となる。
Eb=kb・ω0・b1・{sin(−θ1)}・cos(ω0・t)
+kb・ω0・b1・{cos(−θ1)}・sin(ω0・t)
=kb・ω0・b1・{−sin(θ1)}・cos(ω0・t)
+kb・ω0・b1・{cos(θ1)}・sin(ω0・t) ・・・(6)
ここで、式(6)をω0・tを基準として複素座標平面に写像すると、実軸成分Ebx、虚軸成分Ebyは次式となる。
Ebx=kb・ω0・b1・{−sin(θ1)}
=kb・ω0・b1・{cos(π/2+θ1)} ・・・(7)
Eby=kb・ω0・b1・{cos(θ1)}
=kb・ω0・b1・{sin(π/2+θ1)} ・・・(8)
さらに、式(7)、式(8)に示したEbx,Ebyを次式に示す複素ベクトルEbcに変換する。
Ebc=Ebx+j・Eby
=kb・ω0・b1・{cos(π/2+θ1)}
+j・kb・ω0・b1・{sin(π/2+θ1)}
=kb・ω0・b1・{cos(π/2+θ1)+j・sin(π/2+θ1)}
=kb・ω0・b1・exp{j・(π/2+θ1)} ・・・(9)
また、前述の係数kbを複素ベクトルに変換すると次式となる。
kb=rkb・cos(θb)+j・rkb・sin(θb)
=rkb・exp(j・θb) ・・・(10)
式(10)において、rkbは比例係数、θbは実軸に対するベクトルkbの角度である。
式(10)を式(9)に代入することにより、信号線4bに発生する起電力Ebを複素ベクトルに変換した起電力Ebc(磁場B1の時間変化のみに起因する起電力)が以下のように得られる。
Ebc=rkb・exp(j・θb)・ω0・b1・exp{j・(π/2+θ1)}
=rkb・ω0・b1・exp{j・(π/2+θ1+θb)} ・・(11)
同様に、信号線4aに発生する起電力Eaは、向きを考えた磁場B1の時間微分dB1/dtに係数ka(電極2aや信号線4aの配置等に関係する複素数)をかけたものとなる。係数kaは次式のように複素ベクトルに変換できる。
ka=rka・exp(j・θa) ・・・(12)
式(12)において、rkaは比例係数、θaは実軸に対するベクトルkaの角度である。
式(11)を参考にすると、信号線4aに発生する起電力Eaを複素ベクトルに変換した起電力Eac(磁場B1の時間変化のみに起因する起電力)は式(12)から以下のように得られる。
Eac=−rka・ω0・b1・exp{j・(π/2+θ1+θa)}
・・・(13)
磁場B1の時間変化のみによって発生する、信号線4bの端部と信号線4aの端部との間の起電力の差をEcdとすると、起電力差Ecdは起電力EbcとEacとの差となり、次式で表される。
Ecd=Ebc−Eac
=rkb・ω0・b1・exp{j・(π/2+θ1+θb)}
+rka・ω0・b1・exp{j・(π/2+θ1+θa)}
={rkb・exp(j・θb)+rka・exp(j・θa)}
・ω0・b1・exp{j・(π/2+θ1)} ・・・(14)
また、磁場B1の時間変化のみによって発生する、信号線4bの端部と信号線4aの端部との間の起電力の和をEcsとすると、起電力和Ecsは次式で表される。
Ecs=Ebc+Eac
=rkb・ω0・b1・exp{j・(π/2+θ1+θb)}
−rka・ω0・b1・exp{j・(π/2+θ1+θa)}
={rkb・exp(j・θb)−rka・exp(j・θa)}
・ω0・b1・exp{j・(π/2+θ1)} ・・・(15)
ここで、式を扱いやすくするために、rkb・exp(j・θb)とrka・exp(j・θa)の2つのベクトルの和を式(16)のようにrks・exp(j・θs)に変換し、rkb・exp(j・θb)とrka・exp(j・θa)の2つのベクトルの差を式(17)のようにrkd・exp(j・θd)に変換しておく。
rkb・exp(j・θb)+rka・exp(j・θa)
=rks・exp(j・θs) ・・・(16)
rkb・exp(j・θb)−rka・exp(j・θa)
=rkd・exp(j・θd) ・・・(17)
式(16)を用いて式(14)に示した起電力差Ecdを式(18)のように変換し、式(17)を用いて式(15)に示した起電力和Ecsを式(19)のように変換しておく。
Ecd={rkb・exp(j・θb)+rka・exp(j・θa)}
・ω0・b1・exp{j・(π/2+θ1)}
=rks・ω0・b1・exp{j・(π/2+θ1+θs)} ・・(18)
Ecs={rkb・exp(j・θb)−rka・exp(j・θa)}
・ω0・b1・exp{j・(π/2+θ1)}
=rkd・ω0・b1・exp{j・(π/2+θ1+θd)} ・・(19)
以上で、第1の構成に関して、磁場B1の変化のみに起因する起電力を求めることができた。
次に、第2の構成に関して、磁場B1の変化のみに起因する起電力について説明する。被測定流体の流速が0の場合、図3に示したような第2の構成の信号線配置では、∂A/∂t成分の分布を状態検出装置の上から見ると図7のようになり、信号線4a,4bには図8に示すような起電力Ea,Ebが発生する。
したがって、第2の構成の場合に信号線4aに発生する起電力Eaを複素ベクトルに変換した起電力EacRは、式(13)に示した起電力Eacに対して符号が逆になり、次のように得られる。
EacR=rka・ω0・b1・exp{j・(π/2+θ1+θa)}
・・・(20)
磁場B1の時間変化のみによって発生する、信号線4bの端部と信号線4aの端部との間の起電力の差をEcdRとすると、起電力差EcdRは式(14)を参考にすれば、次式で表される。
EcdR=Ebc−EacR
=rkb・ω0・b1・exp{j・(π/2+θ1+θb)}
−rka・ω0・b1・exp{j・(π/2+θ1+θa)}
={rkb・exp(j・θb)−rka・exp(j・θa)}
・ω0・b1・exp{j・(π/2+θ1)} ・・・(21)
また、磁場B1の時間変化のみによって発生する、信号線4bの端部と信号線4aの端部との間の起電力の和をEcsRとすると、起電力和EcsRは式(15)を参考にすれば、次式で表される。
EcsR=Ebc+EacR
=rkb・ω0・b1・exp{j・(π/2+θ1+θb)}
+rka・ω0・b1・exp{j・(π/2+θ1+θa)}
={rkb・exp(j・θb)+rka・exp(j・θa)}
・ω0・b1・exp{j・(π/2+θ1)} ・・・(22)
ここで、式(14)、式(15)の場合と同様に、式を扱いやすくするために式(17)を用いて式(21)に示した起電力差EcdRを式(23)のように変換し、式(16)を用いて式(22)に示した起電力和EcsRを式(24)のように変換しておく。
EcdR={rkb・exp(j・θb)−rka・exp(j・θa)}
・ω0・b1・exp{j・(π/2+θ1)}
=rkd・ω0・b1・exp{j・(π/2+θ1+θd)}
・・・(23)
EcsR={rkb・exp(j・θb)+rka・exp(j・θa)}
・ω0・b1・exp{j・(π/2+θ1)}
=rks・ω0・b1・exp{j・(π/2+θ1+θs)}
・・・(24)
以上で、第2の構成に関して、磁場B1の変化のみに起因する起電力を求めることができた。
次に、第3の構成に関して、磁場B1の変化のみに起因する起電力について説明する。被測定流体の流速が0の場合、図4に示したような第3の構成の信号線配置では、∂A/∂t成分の分布を状態検出装置の上から見ると図9のようになり、信号線4a,4b,4c,4dには図10に示すような起電力E3a,E3b,E3c,E3dが発生する。
このとき、磁場B1の時間変化のみによって発生する、第1の信号線4bの端部と第1の信号線4aの端部との間の起電力の差をEcd1とすると、起電力差Ecd1は第1の構成と同じ式(18)で表される。さらに、式(18)においてrksをrks1に置き換え、θsをθs1に置き換えると、起電力差Ecd1は次式で表される。
Ecd1=rks1・ω0・b1・exp{j・(π/2+θ1+θs1)}
・・・(25)
磁場B1の時間変化のみによって発生する、第2の信号線4dの端部と第2の信号線4cの端部との間の起電力の差をEcd2とすると、起電力差Ecd2は、式(25)を参考にし、併せてrks1をrks2に置き換え、θs1をθs2に置き換えて、さらに第1の信号線の起電力との向きを考えてマイナスを付けると次式で表される。
Ecd2=−rks2・ω0・b1・exp{j・(π/2+θ1+θs2)}
・・・(26)
以上で、第3の構成に関して、磁場B1の変化のみに起因する起電力を求めることができた。
[流速に起因する起電力]
次に、第1〜第3の構成に関して、被測定流体の流速と磁場B1とに起因する信号線間起電力について説明する。被測定流体の流速の大きさがV(V≠0)の場合、図2に示したような第1の構成においては、流速0のときの起電力に加えて、被測定流体の流速ベクトルvに起因する成分v×B1が発生する。すなわち、被測定流体の流速ベクトルvと磁場B1によって図11に示すような電極間起電力Evが発生する。このEvの方向をプラス方向とする。
このとき、信号線4a,4bの端部で検出される信号線間起電力は、電極2a,2bで検出される電極間起電力Evと同じである。この電極間起電力Evは、次式に示すように、磁場B1に流速の大きさVと係数kv(被測定流体の導電率及び誘電率と電極2a,2bの配置を含む測定管1の構造に関係する複素数)とをかけたものとなる。
Ev=kv・V・{b1・cos(ω0・t−θ1)} ・・・(27)
式(27)を変形すると次式となる。
Ev=kv・V・b1・cos(ω0・t)・cos(−θ1)
−kv・V・b1・sin(ω0・t)・sin(−θ1)
=kv・V・b1・{cos(θ1)}・cos(ω0・t)
+kv・V・b1・{sin(θ1)}・sin(ω0・t) ・・・(28)
ここで、式(28)をω0・tを基準として複素座標平面に写像すると、実軸成分Evx、虚軸成分Evyは次式となる。
Evx=kv・V・b1・cos(θ1) ・・・(29)
Evy=kv・V・b1・sin(θ1) ・・・(30)
さらに、式(29)、式(30)に示したEvx,Evyを次式に示す複素ベクトルEvcに変換する。
Evc=Evx+j・Evy
=kv・V・b1・cos(θ1)+j・kv・V・b1・sin(θ1)
=kv・V・b1・{cos(θ1)+j・sin(θ1)}
=kv・V・b1・exp(j・θ1) ・・・(31)
また、前述の係数kvを複素ベクトルに変換すると次式となる。
kv=rkv・cos(θv)+j・rkv・sin(θv)
=rkv・exp(j・θv) ・・・(32)
式(32)において、rkvは比例係数、θvは実軸に対するベクトルkvの角度である。
式(32)を式(31)に代入することにより、電極間起電力Evを複素ベクトルに変換した電極間起電力Evcが以下のように得られる。
Evc=kv・V・b1・exp(j・θ1)
=rkv・V・b1・exp{j・(θ1+θv)} ・・・(33)
式(33)は、被測定流体の流速Vと磁場B1によって発生する、信号線4bの端部と信号線4aの端部との間の起電力の差を表している。信号線4bの端部と信号線4aの端部との間の起電力の和は、完全に対称であるなどの理想状態では0となる。
磁場B1の時間変化に起因する起電力差Ecdと、被測定流体の流速Vと磁場B1とに起因する起電力差Evcとを合わせた全体の起電力差Edは、式(18)、式(33)により次式のようになる。
Ed=Ecd+Evc
=rks・ω0・b1・exp{j・(π/2+θ1+θs)}
+rkv・V・b1・exp{j・(θ1+θv)} ・・・(34)
また、磁場B1の時間変化に起因する起電力和と、被測定流体の流速Vと磁場B1とに起因する起電力和とを合わせた全体の起電力和は、前述のように被測定流体の流速Vと磁場B1とに起因する起電力和が0となるので、磁場B1の時間変化に起因する起電力和Ecs(式(19))と同じになる。以上で、第1の構成に関して、信号線間起電力を求めることができた。
次に、第2の構成の信号線間起電力について説明する。被測定流体の流速Vと磁場B1とに起因する電極間起電力Evは、図12に示すように、信号線の配置の影響を受けないので、この電極間起電力Evを複素ベクトルに変換した電極間起電力Evcの値は第1の構成の場合と変わらない。
磁場B1の時間変化に起因する起電力差EcdRと、被測定流体の流速Vと磁場B1とに起因する起電力差Evcとを合わせた全体の起電力差EdRは、式(23)、式(33)により次式のようになる。
EdR=EcdR+Evc
=rkd・ω0・b1・exp{j・(π/2+θ1+θd)}
+rkv・V・b1・exp{j・(θ1+θv)} ・・・(35)
また、磁場B1の時間変化に起因する起電力和と、被測定流体の流速Vと磁場B1とに起因する起電力和とを合わせた全体の起電力和は、前述のように被測定流体の流速Vと磁場B1とに起因する起電力和が0となるので、磁場B1の時間変化に起因する起電力和EcsR(式(24))と同じになる。以上で、第2の構成に関して、信号線間起電力を求めることができた。
次に、第3の構成の信号線間起電力について説明する。信号線4a,4bの端部で検出される電極間起電力Evを複素ベクトルに変換した電極間起電力Evcの値は第1の構成の場合と変わらない。磁場B1の時間変化に起因する、信号線4bの端部と信号線4aの端部との間の起電力差Ecd1と、被測定流体の流速Vと磁場B1とに起因する起電力差Evcとを合わせた起電力差、すなわち信号線4bの端部と信号線4aの端部との間の全体の信号線間起電力差E1dは、式(25)、式(33)により次式のようになる。
E1d=Ecd1+Evc
=rks1・ω0・b1・exp{j・(π/2+θ1+θs1)}
+rkv・V・b1・exp{j・(θ1+θv)} ・・・(36)
同様に、磁場B1の時間変化に起因する、信号線4dの端部と信号線4cの端部との間の起電力差Ecd2と、被測定流体の流速Vと磁場B1とに起因する起電力差Evcとを合わせた起電力差、すなわち信号線4dの端部と信号線4cの端部との間の全体の起電力差E2dは、式(26)、式(33)により次式のようになる。
E2d=Ecd2+Evc
=−rks2・ω0・b1・exp{j・(π/2+θ1+θs2)}
+rkv・V・b1・exp{j・(θ1+θv)} ・・・(37)
以上で、第3の構成に関して、信号線間起電力を求めることができた。
[状態検出の基本原理]
以下、測定管内の状態を検出するための基本原理について説明する。以後、対象となる流体の特性や状態、磁場の状態あるいは測定管内の状態のことをパラメータと呼ぶ。特許文献2に記載されているように、流体の特性や状態を表すパラメータとしては、流体インピーダンスや流体の導電率、誘電率、水位、断面積等がある。測定管内の状態を表すパラメータとしては、測定管内の付着物の堆積状態(測定管の内径変化)がある。
[∂A/∂t成分とv×B成分の概念]
図2〜図4に示したように、電極2a,2bを含む平面PLNを境とする測定管1の前後で対称な磁場を被測定流体に印加したとき、この対称励磁により検出される起電力の振幅と位相差に基づき、複素平面に写像されるベクトルは、以下の∂A/∂t成分のベクトルVaとv×B成分のベクトルVbの合成ベクトルVa+Vbに相当する。
Va=rα・exp(j・θα)・C・ω ・・・(38)
Vb=rβ・exp(j・θβ)・C・V ・・・(39)
このベクトルVaとVbを図13に示す。図13において、Reは実軸、Imは虚軸である。∂A/∂t成分のベクトルVaは、磁場の変化により発生する起電力なので、励磁角周波数ωに比例する大きさになる。このとき、ベクトルVaの大きさに対する既知の比例定数部分をrα、ベクトルVaの方向をθαとすると、Cが磁場のシフトなどの変化する要素として与えられる。また、v×B成分のベクトルVbは、測定管中の被測定流体の移動により発生する起電力なので、流速の大きさVに比例する大きさになる。このとき、ベクトルVbの大きさに対する既知の比例定数部分をrβ、ベクトルVbの方向をθβとすると、Cが磁場のシフトなどの変化する要素として与えられる。なお、式(38)の∂A/∂t成分のベクトルVaにおけるCと式(39)のv×B成分のベクトルVbにおけるCとは、同一の要素である。
[∂A/∂t成分のベクトルVaの抽出]
合成ベクトルVa+Vbから、∂A/∂t成分のベクトルVaを抽出する方法としては、以下の3つの方法がある。第1の抽出方法は、検出信号の位相差を基にベクトルVaを抽出する方法である。信号線間起電力から直接求めることができる複素ベクトルはベクトルVa,Vbの合成ベクトルであり、ベクトルVa,Vbが直接的に計測できるわけではない。そこで、印加する磁場を基準としたとき、基準からの∂A/∂t成分の位相差とv×B成分の位相差はほぼ一定値であることに着眼する。具体的には、励磁電流の位相を計測し、この励磁電流の位相を基準としたとき、ベクトルVaは既知の位相差を持つので、合成ベクトルVa+Vbからその位相差を持つ成分を取り出すことにより、ベクトルVaを抽出することができる。
第2の抽出方法は、複数の励磁周波数による磁場を被測定流体に印加し、信号線間起電力に含まれる複数の成分の周波数差を利用してベクトルVaを抽出する方法である。前述のとおり、信号線間起電力から直接求めることができる複素ベクトルはベクトルVa,Vbの合成ベクトルであり、ベクトルVa,Vbが直接的に計測できるわけではない。そこで、∂A/∂t成分のベクトルVaの大きさは励磁角周波数ωに比例し、v×B成分のベクトルVbは励磁角周波数ωに依存しないことに着眼する。具体的には、励磁コイルに大きさが等しく、かつ周波数が異なる2つの成分を含む励磁電流を印加する。2つの周波数成分をもつ電流で励磁したとき、それぞれの周波数成分で分解した合成ベクトルVa+Vbを求める。第1の周波数成分の合成ベクトルVa+Vbと第2の周波数成分の合成ベクトルVa+Vbとの差は、∂A/∂t成分のベクトルVaの大きさの変化分だけを与えるベクトルになるので、これにより∂A/∂t成分のベクトルVaを抽出することができる。
第3の抽出方法は、複数の信号線の起電力の違いを利用してベクトルVaを抽出する方法である。この第3の抽出方法は、異なる経路を通る複数の信号線を持つ場合に有効である。前述のとおり、信号線間起電力から直接求めることができる複素ベクトルはベクトルVa,Vbの合成ベクトルであり、ベクトルVa,Vbが直接的に計測できるわけではない。そこで、信号線の端部で検出されるv×B成分は信号線の配置に関係しないが、∂A/∂t成分は信号線の配置によって向きも大きさも変化することを利用する。
具体的には、1個の電極を用い、この電極に2本の信号線を接続し、電極を含む平面PLNに対して2本の信号線を対称に配置する。この構成は、図4において、電極2aおよび信号線4a,4cのみを用いる場合に相当する。信号線4aと信号線4cとの間の起電力の差をとると、v×B成分がキャンセルされるので、∂A/∂t成分を抽出することができる。
また、2個の電極を用い、各々の電極に信号線を2本ずつ接続し、この電極に接続された2本の信号線を、電極を含む平面PLNに対して対称に配置してもよい。この構成は、図4の構成に相当する。信号線4a,4bの起電力差である第1の信号線間起電力差と、信号線4c,4dの起電力差である第2の信号線間起電力差との差をとれば、v×B成分がキャンセルされるので、∂A/∂t成分を抽出することができる。
また、2個の電極を用い、各々の電極に信号線を1本ずつ接続し、励磁コイルの軸を中心軸として2本の信号線を略回転対称に配置してもよい。この構成は、図3の構成に相当する。図3に示したように信号線4a,4bを配置したとき、信号線4a,4bの起電力和の合成ベクトルを求めれば、v×B成分がキャンセルされるので、それぞれの信号線に発生する∂A/∂t成分のおよそ2倍の成分をベクトルVaとして抽出することができる。
[パラメータの抽出]
次に、抽出した∂A/∂t成分から流量以外のパラメータを抽出する方法について以下説明する。抽出した∂A/∂t成分は被測定流体の流速Vに関係しないので、この∂A/∂t成分を用いて、流速以外の磁場の変動や配管内の状態を計測することが可能になる。
式(38)において、対象となるパラメータにより変化する変動要素はCで表されているので、この変動要素をC=rkc・exp(j・θc)とおく。係数rkc、変動要素C(ベクトル)の実軸からの角度θcをパラメータpの関数としてそれぞれrkc[p]、θc[p]と関数形式で表わし、パラメータがpの時の変動要素CをCpとすると、変動要素Cpは次式で表される。
Cp=rkc[p]・exp(j・θc[p]) ・・・(40)
式(38)より、対象となるパラメータによって変化する変動要素Cpは次式で表される。
Cp=Va/{rα・exp(j・θα)・ω} ・・・(41)
ここで、係数rα、角度θαは校正時に確認できる値なので、Va/{rα・exp(j・θα)・ω}の大きさがrkc[p]、実軸からの角度がθc[p]となるので、パラメータpと係数rkc[p]との関係、またはパラメータpと角度θc[p]との関係を校正時に記憶させておけば、Va/{rα・exp(j・θα)・ω}の大きさまたは位相を計算することにより、パラメータpの値を求めることができる。
なお、複素平面上の2つのベクトルの和について補足説明する。複素平面上の2つのベクトルの和を次式のように表す。
A・exp(j・a)+B・exp(j・b)
=A・cos(a)+j・A・sin(a)+B・cos(b)
+j・B・sin(b)
={A・cos(a)+B・cos(b)}+j・{A・sin(a)
+B・sin(b)} ・・・(42)
式(42)をCs・exp(j・cs)とおく。大きさCsは、次式で表される。
Cs=sqrt[{A・cos(a)+B・cos(b)}2
+{A・sin(a)+B・sin(b)}2
=sqrt[A2・cos2(a)+B2・cos2(b)
+2・A・B・cos(a)・cos(b)+A2・sin2(a)
+B2・sin2(b)+2・A・B・sin(a)・sin(b)]
=sqrt[A2+B2+2・A・B・{cos(a)・cos(b)
+sin(a)・sin(b)}]
=sqrt{A2+B2+A・B・cos(a−b)} ・・・(43)
また、このときの位相csは、次式で表すことができる。
cs=tan-1[{A・sin(a)+B・sin(b)}
/{A・cos(a)+B・cos(b)}] ・・・(44)
複素平面上の2つのベクトルの差について補足説明する。複素平面上の2つのベクトルの差を次式のように表す。
B・exp(j・b)−A・exp(j・a)
=B・cos(b)+j・B・sin(b)−A・cos(a)
−j・A・sin(a)
={B・cos(b)−A・cos(a)}+j・{B・sin(b)
−A・sin(a)} ・・・(45)
式(45)をCd・exp(j・cd)とおく。大きさCdは、次式で表される。
Cd=sqrt[{B・cos(b)−A・cos(A)}2
+{B・sin(b)−A・sin(a)}2
=sqrt[B2・cos2(b)+A2・cos2(a)
−2・B・A・cos(b)・cos(a)+B2・sin2(b)
+A2・sin2(a)−2・B・A・sin(b)・sin(a)]
=sqrt[B2+A2−2・B・A・{cos(b)・cos(a)
+sin(b)・sin(a)}]
=sqrt{B2+A2−B・A・cos(b−a)} ・・・(46)
また、このときの位相csは、次式で表すことができる。
cs=tan-1[{B・sin(b)−A・sin(a)}
/{B・cos(b)−A・cos(a)}] ・・・(47)
[実装における留意点]
次に、実装時の留意点について説明する。計測値から得られる係数rkc[p]などからパラメータの値pを求めるためには、逆変換のためのテーブルを予め作成しておく必要がある。校正時における限られた点での関係から、全てのパラメータの値に対応させるテーブルを作ることになる。係数rkc[p]や角度θc[p]を代表して関数f[p]で表し、逆変換とテーブルについて説明しておく。逆変換のためのテーブルを作成する方法としては、校正時の計測結果から補間してテーブルを作成する方法(以下、第1の作成方法と呼ぶ)と、理論式からテーブルを直接作成する方法(以下、第2の作成方法と呼ぶ)の2つがある。
まず、第1の作成方法について説明する。図14に示すように、校正時にパラメータの値がp1のときf[p1]=y1という計測結果が得られ、またパラメータの値がp2のときf[p2]=y2という計測結果が得られたとすれば、2点間の直線近似により、パラメータpは次式で表される。
p=(p2−p1)/(y2−y1)・(f[p]−y1)+p1 ・・・(48)
式(48)によりテーブルを作成することができ、このテーブルを用いることで、校正後の実際の計測時に得られる関数f[p](係数rkc[p]または角度θc[p])からパラメータpを求めることができる。なお、ここでは直線近似の例を示したが、多項式でも同様に逆変換できる。
次に、第2の作成方法について説明する。パラメータpとy=f[p]との関係が設計時に理論式として求まり、逆関数f-1(y)が存在する場合には、パラメータpは次式で表される。
p=f-1(f[p]) ・・・(49)
式(49)の関係を図15に示す。式(49)をテーブルとして記憶しておけば、校正後の実際の計測時に得られる関数f[p]からパラメータpを算出することができる。
[第1の実施の形態]
以下、本発明の第1の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。本実施の形態は、上記の原理で説明した第1の構成を用い、∂A/∂t成分のベクトルVaを抽出する方法として第1の抽出方法を用いるものである。
図16は本発明の第1の実施の形態に係る状態検出装置の構成を示すブロック図である。本実施の形態の状態検出装置は、被測定流体が流れる測定管1と、被測定流体に印加される磁場および測定管軸PAXの双方と直交し、かつ被測定流体と接触するように測定管1に対向配置され、前記磁場と被測定流体の流れとによって生じた起電力を検出する一対の電極2a,2bと、電極2a,2bを含む平面PLNを測定管1の境としたとき、この平面PLNを境とする測定管1の前後で対称かつ時間変化する磁場を被測定流体に印加する励磁コイル3と、一端が電極2a,2bと接続されると共に、平面PLNと平行な磁場の方向に対して傾きを持ち磁場の時間変化によって起電力が生じるように配設された信号線4a,4bと、状態定量化部8aと、励磁コイル3に励磁電流を供給して磁場を発生させる電源9とを有している。
状態定量化部8aは、信号線4a,4bの他端と接続され、信号線4a,4bから得られる合成起電力のうち周波数ω0の成分と励磁電流との位相差を求めることにより、∂A/∂t成分を抽出し、この∂A/∂t成分の中からパラメータに依存する変動要素の大きさまたは位相を抽出する信号変換部5aと、パラメータに依存する変動要素の大きさまたは位相とパラメータとの関係を予め記憶する状態記憶部6a(前述のテーブルに相当)と、状態記憶部6aに記憶された関係に基づいて、前記抽出された変動要素の大きさまたは位相に対応するパラメータを求める状態出力部7aとから構成される。
図16において、電源9から励磁電流が供給されることにより励磁コイル3から発生する磁場のうち、電極2a,2b間を結ぶ電極軸EAX上において電極軸EAXおよび測定管軸PAXの双方と直交する磁場成分(磁束密度)B1およびそのときの励磁電流I1は、以下のように与えられるものとする。
B1=b1・cos(ω0・t−θ1) ・・・(50)
I1=i1・cos(ω0・t−θi1) ・・・(51)
式(50)において、b1は磁束密度B1の振幅、ω0は角周波数、θ1は磁束密度B1とω0・tとの位相差(位相遅れ)である。以下、磁束密度B1を磁場B1とする。また、式(51)において、i1は励磁電流I1の振幅、θi1は励磁電流I1とω0・tとの位相差である。このとき励磁電流Iと発生する磁場Bとの関係は、次式で表される。
B=ki・I ・・・(52)
式(52)において、kiは磁性体や配管による損失によって決まる複素数であり、kiを複素ベクトルで表すと次式となる。
ki=rki・cos(θi)+j・rki・sin(θi)
=rki・exp(j・θi) ・・・(53)
式(53)において、rkiは比例係数、θiは実軸に対するベクトルkiの角度である。
式(50)に示した磁場B1を式(51)〜式(53)を用いて複素ベクトルに変換すると、次式のB1cで表される。
B1c=rki・i1・exp{j・(θi+θi1)} ・・・(54)
式(50)と式(54)より、次式の関係が成り立っている。
b1=rki・i1 ・・・(55)
θ1=θi+θi1 ・・・(56)
信号線間起電力差は、信号線4bの信号変換部側の端部で検出される起電力と信号線4aの信号変換部側の端部で検出される起電力との差である。磁場B1の時間変化に起因する信号線間起電力差を複素ベクトルに変換した起電力差と、被測定流体の流速Vと磁場B1とに起因する信号線間起電力差を複素ベクトルに変換した起電力差とを合わせた全体の信号線間起電力差のうち、角周波数ω0の成分の信号線間起電力差をEi0とすると、信号線間起電力差Ei0は、式(34)に式(55)、式(56)を代入し、さらにrkv=γv・rksとして代入すると、次式で表される。
Ei0=rks・ω0・rki・i1
・exp{j・(π/2+θi+θi1+θs)}
+γv・rks・V・rki・i1・exp{j・(θi+θi1+θv)}
・・・(57)
式(57)に示した信号線間起電力差Ei0が信号変換器5aにおいて検出される信号となる。θi1は計測可能な励磁電流I1の位相であり、θi,θs,θvは校正時に計測できる定数とすることができる。よって、信号線間起電力差Ei0を(π/2+θi+θi1+θs)方向と(θi+θi1+θv)方向に分解できることになり、∂A/∂t成分であるrks・ω0・rki・i1・exp{j・(π/2+θi+θi1+θs)}を抽出することができる。この∂A/∂t成分である起電力をEiAとすれば、起電力EiAは次式で表される。
EiA=rks・ω0・rki・i1
・exp{j・(π/2+θi+θi1+θs)} ・・・(58)
式(58)は、流速の大きさVに関係しないので、∂A/∂tによって発生する成分のみとなる。起電力EiAを用いれば、流速以外の流体の状態や測定管内の状態を計測することが可能になる。
ここで、パラメータによる変動要素をCp1とし、パラメータの値をp1とすると、式(40)から変動要素Cp1は次式で表される。
Cp1=rkc[p1]・exp(j・θc[p1]) ・・・(59)
式(58)における変動要素Cp1は、次式で表される。
Cp1=rks・rki・i1・exp(j・θi1)
=EiA/[ω0・exp{j・(π/2+θi+θs)}] ・・・(60)
式(60)から変動要素Cp1の大きさrkc[p1]と実軸からの角度θc[p1]は次式で表される。
rkc[p1]=|EiA|/ω0 ・・・(61)
θc[p1]=∠EiA−(π/2+θi+θs) ・・・(62)
校正時の計測等により予め確認されているパラメータp1とrkc[p1]との関係またはパラメータp1と角度θc[p1]との関係から、パラメータp1を求めることができる。
なお、上記の基本原理で用いた定数および変数と、本実施の形態の定数および変数との対応は以下の表1のとおりである。角度θi,θs,θvは校正等により予め求めることができる定数である。本実施の形態は、表1から明らかなように、上記の基本原理を具体的に実現する1つの例である。
Figure 2011053178
次に、本実施の形態の状態検出装置の具体的な動作について説明する。電源9は、角周波数ω0の正弦波成分を持つ励磁電流I1を励磁コイル3に供給する。
図17は状態定量化部8aの動作を示すフローチャートである。まず、信号変換部5aは、励磁電流I1の角周波数ω0の成分の振幅i1を求めると共に、実軸と励磁電流I1の角周波数ω0の成分との位相差θi1を図示しない位相検波器により求める(図17ステップS101)。
また、信号変換部5aは、信号線間起電力差の角周波数ω0の成分である信号線間起電力差Ei0の振幅r0を求めると共に、実軸と信号線間起電力差Ei0との位相差φ0を位相検波器により求める(ステップS102)。
次に、信号変換部5aは、信号線間起電力差Ei0中の∂A/∂t成分である起電力EiAの角度と大きさを求める(ステップS103)。このステップS103の処理は、∂A/∂t成分を求めることに対応する処理であり、式(58)の算出に相当する処理である。信号変換部5aは、実軸に対する起電力EiAの角度∠EiAを次式のように算出する。
∠EiA=π/2+θi+θi1+θs ・・・(63)
また、信号変換部5aは、起電力EiAの大きさ|EiA|を次式のように算出する。
|EiA|=r0・sin(φ0−θi−θi1−θv)
/sin(π/2−θs+θv) ・・・(64)
これで、ステップS103の処理が終了する。
信号変換部5aは、起電力EiAの中から、パラメータp1に依存する変動要素Cp1の大きさと角度を求める(ステップS104)。信号変換部5aは、変動要素Cp1の大きさrkc[p1]を式(61)により算出すると共に、変動要素Cp1の実軸からの角度θc[p1]を式(62)により算出する。
状態記憶部6aには、パラメータp1と変動要素Cp1の大きさrkc[p1]との関係、またはパラメータp1と変動要素Cp1の角度θc[p1]との関係が数式やテーブルの形式で予め登録されている。ステップS105において、状態出力部7aは、信号変換部5aで計算された変動要素Cp1の大きさrkc[p1]または角度θc[p1]に基づき、状態記憶部6aを参照して、rkc[p1]またはθc[p1]に対応するパラメータp1の値を算出する(あるいは状態記憶部6aから取得する)。
状態定量化部8aは、以上のようなステップS101〜S105の処理を例えばオペレータによって計測終了が指示されるまで(ステップS106においてYES)、一定周期毎に行う。
以上のように、本実施の形態では、信号線間起電力差Ei0(合成ベクトルVa+Vb)から起電力EiA(∂A/∂t成分のベクトルVa)を抽出し、この起電力EiAから流体の特性や状態、磁場の状態あるいは測定管内の状態(パラメータp1)に依存する変動要素Cp1の大きさまたは位相(角度)を抽出して、この変動要素Cp1の大きさまたは位相に基づいてパラメータp1を求めるようにしたので、流体の流速に関わらず、流体の特性や状態、磁場の状態あるいは測定管内の状態を精度良く検出することができる。本実施の形態では、従来の一般形の電磁流量計の検出器の構成である測定管1と電極2a,2bと励磁コイル3とを用い、磁場の時間変化によって起電力が生じるように信号線4a,4bを配設すれば、磁場や流体を含めた測定管内の状態を検出することができるので、特許文献2に開示された非対称励磁形の状態検出装置でしか得ることができなかった効果を、一般形の電磁流量計の検出器の構成を大きく変更することなく実現することができる。
なお、本実施の形態では、起電力EiAから変動要素Cp1の大きさrkc[p1]または角度θc[p1]のいずれかを抽出すればよいとしているが、大きさと角度の両方を抽出して、パラメータp1を求めることも可能である。この場合は、大きさrkc[p1]と角度θc[p1]のうち例えば感度の良い方を選択して、選択した大きさまたは角度に基づいてパラメータp1を求めるようにすればよい。これにより、検出感度を向上させることができる。
また、本実施の形態では、Ei0−EiAよりv×B成分を抽出することができる。v×B成分から流体の流量を算出することは、一般の電磁流量計で周知の技術であり、状態定量化部8aを構成するコンピュータで容易に実現できる。したがって、本実施の形態は、流量計としても動作可能である。
[第2の実施の形態]
次に、本発明の第2の実施の形態について説明する。本実施の形態は、上記の原理で説明した第1の構成を用い、∂A/∂t成分のベクトルVaを抽出する方法として第2の抽出方法を用いるものである。本実施の形態においても、状態検出装置の構成は第1の実施の形態と同様であるので、図16の符号を用いて説明する。
図16において、励磁コイル3から発生する磁場のうち、電極2a,2b間を結ぶ電極軸EAX上において電極軸EAXおよび測定管軸PAXの双方と直交する磁場成分(磁束密度)B1は、以下のように与えられるものとする。
B1=b1・cos(ω0・t−θ1)+b1・cos(ω1・t−θ1)
・・・(65)
式(65)において、b1は磁束密度B1の振幅、ω0,ω1は角周波数、θ1は磁束密度B1とω0・t及びω1・tとの位相差(位相遅れ)である。以下、磁束密度B1を磁場B1とする。
第1の実施の形態と同様に、信号線間起電力差は、信号線4bの信号変換部側の端部で検出される起電力と信号線4aの信号変換部側の端部で検出される起電力との差である。磁場B1の時間変化に起因する信号線間起電力差を複素ベクトルに変換した起電力差と、被測定流体の流速Vと磁場B1とに起因する信号線間起電力差を複素ベクトルに変換した起電力差とを合わせた全体の信号線間起電力差のうち、角周波数ω0の成分の信号線間起電力差をEd0とすると、信号線間起電力差Ed0は式(34)に対応して式(66)で表される。
Ed0=rks・ω0・b1・exp{j・(π/2+θ1+θs)}
+rkv・V・b1・exp{j・(θ1+θv)} ・・・(66)
また、磁場B1の時間変化に起因する信号線間起電力差を複素ベクトルに変換した起電力差と、被測定流体の流速Vと磁場B1とに起因する信号線間起電力差を複素ベクトルに変換した起電力差とを合わせた全体の信号線間起電力差のうち、角周波数ω1の成分の信号線間起電力差をEd1とすると、信号線間起電力差Ed1は式(34)に対応して式(67)で表される。
Ed1=rks・ω1・b1・exp{j・(π/2+θ1+θs)}
+rkv・V・b1・exp{j・(θ1+θv)} ・・・(67)
ここで、θv=θs+Δθv、rkv=γv・rksとし、これらを式(66)、式(67)に代入したとき、信号線間起電力差Ed0,Ed1はそれぞれ式(68)、式(69)のようになる。
Ed0=rks・ω0・b1・exp{j・(π/2+θ1+θs)}
+γv・rks・V・b1・exp{j・(θ1+θs+Δθv)}
=rks・b1・exp{j・(θ1+θs)}
・{ω0・exp(j・π/2)+γv・V・exp(j・Δθv)}
・・・(68)
Ed1=rks・ω1・b1・exp{j・(π/2+θ1+θs)}
+γv・rks・V・b1・exp{j・(θ1+θs+Δθv)}
=rks・b1・exp{j・(θ1+θs)}
・{ω1・exp(j・π/2)+γv・V・exp(j・Δθv)}
・・・(69)
信号線間起電力差Ed0とEd1との差をとり、求めた差分をω0/(ω0−ω1)倍した結果をEdAとすれば、次式が成立する。
EdA=(Ed0−Ed1)・ω0/(ω0−ω1)
=rks・b1・exp{j・(θ1+θs)}
・{ω0・exp(j・π/2)+γv・V・exp(j・Δθv)
−ω1・exp(j・π/2)−γv・V・exp(j・Δθv)}
・ω0/(ω0−ω1)
=rks・ω0・b1・exp{j・(π/2+θ1+θs)} ・・(70)
起電力差EdAは、流速の大きさVに関係しないので、∂A/∂tによって発生する成分のみとなる。起電力差EdAを用いれば、流速以外の流体の状態や測定管内の状態を計測することが可能になる。なお、起電力差EdAは、正確には信号線間起電力差Ed0とEd1との起電力差をω0/(ω0−ω1)倍したものであるが、ω0/(ω0−ω1)倍した理由は、式の展開を容易にするためである。
ここで、パラメータによる変動要素をCp2とし、パラメータの値をp2とすると、式(40)から変動要素Cp2は次式で表される。
Cp2=rkc[p2]・exp(j・θc[p2]) ・・・(71)
式(70)における変動要素Cp2は次式で表される。
Cp2=rks・b1・exp{j・(θ1+θs)}
=EdA/{ω0・exp(j・π/2)} ・・・(72)
式(72)から変動要素Cp2の大きさrkc[p2]と実軸からの角度θc[p2]は次式で表される。
rkc[p2]=|EdA|/ω0 ・・・(73)
θc[p2]=∠EdA−(π/2) ・・・(74)
校正時の計測等により予め確認されているパラメータp2とrkc[p2]との関係またはパラメータp2と角度θc[p2]との関係から、パラメータp2を求めることができる。
なお、上記の基本原理で用いた定数および変数と、本実施の形態の定数および変数との対応は以下の表2のとおりである。本実施の形態は、表2から明らかなように、上記の基本原理を具体的に実現する1つの例である。
Figure 2011053178
次に、本実施の形態の状態検出装置の具体的な動作について説明する。電源9は、第1の角周波数ω0の正弦波成分と第2の角周波数ω1の正弦波成分とを含む励磁電流を励磁コイル3に供給する。このとき、励磁電流における角周波数ω0の成分と角周波数ω1の成分の振幅は同一である。
図18は本実施の形態の状態定量化部8aの動作を示すフローチャートである。まず、信号変換部5aは、信号線間起電力差のうち角周波数ω0の成分の起電力差Ed0の振幅r0を求めると共に、実軸と信号線間起電力差Ed0との位相差φ0を位相検波器により求める(図18ステップS201)。また、信号変換部5aは、信号線間起電力差のうち角周波数ω1の成分の起電力差Ed1の振幅r1を求めると共に、実軸と信号線間起電力差Ed1との位相差φ1を位相検波器により求める(ステップS202)。信号線間起電力差Ed0,Ed1は、バンドパスフィルタによっても周波数分離することができるが、実際にはコムフィルタとよばれる櫛形のデジタルフィルタを使用すれば、2つの角周波数ω0,ω1の成分に簡単に分離することができる。
次に、信号変換部5aは、信号線間起電力差Ed0の実軸成分Ed0xと虚軸成分Ed0y、および信号線間起電力差Ed1の実軸成分Ed1xと虚軸成分Ed1yを次式のように算出する(ステップS203)。
Ed0x=r0・cos(φ0) ・・・(75)
Ed0y=r0・sin(φ0) ・・・(76)
Ed1x=r1・cos(φ1) ・・・(77)
Ed1y=r1・sin(φ1) ・・・(78)
式(75)〜式(78)の算出後、信号変換部5aは、信号線間起電力差Ed0とEd1との起電力差EdAの大きさと角度を求める(ステップS204)。このステップS204の処理は、∂A/∂t成分を求めることに対応する処理であり、式(70)の算出に相当する処理である。信号変換部5aは、信号線間起電力差Ed0とEd1との起電力差EdAの大きさ|EdA|を次式のように算出する。
|EdA|={(Ed0x−Ed1x)2+(Ed0y−Ed1y)21/2
・ω0/(ω0−ω1) ・・・(79)
そして、信号変換部5aは、実軸に対する起電力差EdAの角度∠EdAを次式のように算出する。
∠EdA=tan-1{(Ed0y−Ed1y)/(Ed0x−Ed1x)}
・・・(80)
これで、ステップS204の処理が終了する。
信号変換部5aは、起電力差EdAの中から、パラメータp2に依存する変動要素Cp2の大きさと角度を求める(ステップS205)。信号変換部5aは、変動要素Cp2の大きさrkc[p2]を式(73)により算出すると共に、変動要素Cp2の実軸からの角度θc[p2]を式(74)により算出する。
状態記憶部6aには、パラメータp2と変動要素Cp2の大きさrkc[p2]との関係、またはパラメータp2と変動要素Cp2の角度θc[p2]との関係が数式やテーブルの形式で予め登録されている。ステップS206において、状態出力部7aは、信号変換部5aで計算された変動要素Cp2の大きさrkc[p2]または角度θc[p2]に基づき、状態記憶部6aを参照して、rkc[p2]またはθc[p2]に対応するパラメータp2の値を算出する(あるいは状態記憶部6aから取得する)。
状態定量化部8aは、以上のようなステップS201〜S206の処理を例えばオペレータによって計測終了が指示されるまで(ステップS207においてYES)、一定周期毎に行う。
以上のように、本実施の形態では、励磁コイル3から大きさが等しくかつ周波数が異なる2つの成分を含む磁場を被測定流体に印加し、角周波数ω0の成分の信号線間起電力差Ed0と角周波数ω1の成分の信号線間起電力差Ed1とから起電力差EdA(∂A/∂t成分のベクトルVa)を抽出し、この起電力差EdAから流体の特性や状態、磁場の状態あるいは測定管内の状態(パラメータp2)に依存する変動要素Cp2の大きさまたは位相(角度)を抽出して、この変動要素Cp2の大きさまたは位相に基づいてパラメータp2を求めるようにしたので、流体の流速に関わらず、流体の特性や状態、磁場の状態あるいは測定管内の状態を精度良く検出することができる。本実施の形態では、従来の一般形の電磁流量計の検出器の構成である測定管1と電極2a,2bと励磁コイル3とを用い、磁場の時間変化によって起電力が生じるように信号線4a,4bを配設すれば、磁場や流体を含めた測定管内の状態を検出することができるので、特許文献2に開示された非対称励磁形の状態検出装置でしか得ることができなかった効果を、一般形の電磁流量計の検出器の構成を大きく変更することなく実現することができる。
なお、本実施の形態では、角周波数ω0の正弦波成分と角周波数ω1の正弦波成分とを同時に含む励磁電流を励磁コイル3に供給しているが、これに限るものではなく、角周波数ω0の正弦波成分を含む励磁電流と角周波数ω1の正弦波成分を含む励磁電流とを交互に励磁コイル3に供給するようにしてもよい。
また、本実施の形態では、起電力差EdAから変動要素Cp2の大きさrkc[p2]または角度θc[p2]のいずれかを抽出すればよいとしているが、大きさと角度の両方を抽出して、パラメータp2を求めることも可能である。この場合は、大きさrkc[p2]と角度θc[p2]のうち例えば感度の良い方を選択して、選択した大きさまたは角度に基づいてパラメータp2を求めるようにすればよい。これにより、検出感度を向上させることができる。
また、本実施の形態では、Ed0−EdAよりv×B成分を抽出することができる。v×B成分から流体の流量を算出することは、一般の電磁流量計で周知の技術であり、状態定量化部8aを構成するコンピュータで容易に実現できる。したがって、本実施の形態は、流量計としても動作可能である。
[第3の実施の形態]
次に、本発明の第3の実施の形態について説明する。本実施の形態は、上記の原理で説明した第2の構成を用い、∂A/∂t成分のベクトルVaを抽出する方法として第3の抽出方法を用いるものである。
図19は本発明の第3の実施の形態に係る状態検出装置の構成を示すブロック図である。本実施の形態の状態検出装置は、測定管1と、電極2a,2bと、励磁コイル3と、一端が電極2a,2bと接続され、電極2a,2bを含む平面PLNから互いに逆方向に向かうように配設された信号線4a,4bと、状態定量化部8bと、電源9とを有している。
状態定量化部8bは、信号線4a,4bの他端と接続され、信号線4a,4bから得られる合成起電力の和を求めることにより、∂A/∂t成分を抽出し、この∂A/∂t成分の中からパラメータに依存する変動要素の大きさまたは位相を抽出する信号変換部5bと、パラメータに依存する変動要素の大きさまたは位相とパラメータとの関係を予め記憶する状態記憶部6b(前述のテーブルに相当)と、状態記憶部6bに記憶された関係に基づいて、前記抽出された変動要素の大きさまたは位相に対応するパラメータを求める状態出力部7bとから構成される。
図19において、励磁コイル3から発生する磁場のうち、電極2a,2b間を結ぶ電極軸EAX上において電極軸EAXおよび測定管軸PAXの双方と直交する磁場成分(磁束密度)B1は、以下のように与えられるものとする。
B1=b1・cos(ω0・t−θ1) ・・・(81)
式(81)において、b1は磁束密度B1の振幅、ω0は角周波数、θ1は磁束密度B1とω0・tとの位相差(位相遅れ)である。以下、磁束密度B1を磁場B1とする。
第1の実施の形態と同様に、信号線間起電力差は、信号線4bの信号変換部側の端部で検出される起電力と信号線4aの信号変換部側の端部で検出される起電力との差であり、信号線間起電力和は、信号線4bの信号変換部側の端部で検出される起電力と信号線4aの信号変換部側の端部で検出される起電力との和である。
磁場B1の時間変化に起因する信号線間起電力差を複素ベクトルに変換した起電力差と、被測定流体の流速Vと磁場B1とに起因する信号線間起電力差を複素ベクトルに変換した起電力差とを合わせた全体の信号線間起電力差のうち、角周波数ω0の成分の信号線間起電力差をEdR0とすると、信号線間起電力差EdR0は式(35)に対応して式(82)で表される。
EdR0=rkd・ω0・b1・exp{j・(π/2+θ1+θd)}
+rkv・V・b1・exp{j・(θ1+θv)} ・・・(82)
また、磁場B1の時間変化に起因する信号線間起電力和を複素ベクトルに変換した起電力和と、被測定流体の流速Vと磁場B1とに起因する信号線間起電力和を複素ベクトルに変換した起電力和とを合わせた全体の信号線間起電力和のうち、角周波数ω0の成分の信号線間起電力和をEsR0とすると、信号線間起電力和EsR0は式(24)に対応して式(83)で表される。
EsR0=rks・ω0・b1・exp{j・(π/2+θ1+θs)}
・・・(83)
ここで、θv=θs+Δθv、rkv=γv・rksとし、これらを式(82)に代入したとき、信号線間起電力差EdR0は次式で表される。
EdR0=rkd・ω0・b1・exp{j・(π/2+θ1+θd)}
+γv・rks・V・b1・exp{j・(θ1+θs+Δθv)}
・・・(84)
式(83)に示した信号線間起電力和EsR0は流速の大きさVに関係しないので、∂A/∂tによって発生する成分のみとなる。この信号線間起電力和EsR0を用いれば、流速以外の流体の状態や測定管内の状態を計測することが可能になる。
ここで、パラメータによる変動要素をCp3とし、パラメータの値をp3とすると、式(40)から変動要素Cp3は次式で表される。
Cp3=rkc[p3]・exp(j・θc[p3]) ・・・(85)
式(83)における変動要素Cp3は次式で表される。
Cp3=rks・b1・exp{j・(θ1+θs)}
=EsR0/{ω0・exp(j・π/2)} ・・・(86)
式(86)から変動要素Cp3の大きさrkc[p3]と実軸からの角度θc[p3]は次式で表される。
rkc[p3]=|EsR0|/ω0 ・・・(87)
θc[p3]=∠EsR0−(π/2) ・・・(88)
校正時の計測等により予め確認されているパラメータp3とrkc[p3]との関係またはパラメータp3と角度θc[p3]との関係から、パラメータp3を求めることができる。
なお、上記の基本原理で用いた定数および変数と、本実施の形態の定数および変数との対応は以下の表3のとおりである。本実施の形態は、表3から明らかなように、上記の基本原理を具体的に実現する1つの例である。
Figure 2011053178
次に、本実施の形態の状態検出装置の具体的な動作について説明する。第1の実施の形態と同様に、電源9は、角周波数ω0の正弦波成分を持つ励磁電流を励磁コイル3に供給する。
図20は状態定量化部8bの動作を示すフローチャートである。まず、信号変換部5bは、信号線間起電力和の角周波数ω0の成分である信号線間起電力和EsR0の振幅rsを求めると共に、実軸と信号線間起電力和EsR0との位相差φsを位相検波器により求める(図20ステップS301)。
信号変換部5bは、信号線間起電力和EsR0の中から、パラメータp3に依存する変動要素Cp3の大きさと角度を求める(ステップS302)。信号変換部5bは、変動要素Cp3の大きさrkc[p3]を次式のように算出する。
rkc[p3]=rs/ω0 ・・・(89)
また、信号変換部5bは、変動要素Cp3の角度θc[p3]を次式のように算出する。
θc[p3]=φs−(π/2) ・・・(90)
これで、ステップS302の処理が終了する。
状態記憶部6bには、パラメータp3と変動要素Cp3の大きさrkc[p3]との関係、またはパラメータp3と変動要素Cp3の角度θc[p3]との関係が数式やテーブルの形式で予め登録されている。ステップS303において、状態出力部7bは、信号変換部5bで計算された変動要素Cp3の大きさrkc[p3]または角度θc[p3]に基づき、状態記憶部6bを参照して、rkc[p3]またはθc[p3]に対応するパラメータp3の値を算出する(あるいは状態記憶部6bから取得する)。
状態定量化部8bは、以上のようなステップS301〜S303の処理を例えばオペレータによって計測終了が指示されるまで(ステップS304においてYES)、一定周期毎に行う。
以上のように、本実施の形態では、信号線間起電力和EsR0を∂A/∂t成分として抽出し、この信号線間起電力和EsR0から流体の特性や状態、磁場の状態あるいは測定管内の状態(パラメータp3)に依存する変動要素Cp3の大きさまたは位相(角度)を抽出して、この変動要素Cp3の大きさまたは位相に基づいてパラメータp3を求めるようにしたので、流体の流速に関わらず、流体の特性や状態、磁場の状態あるいは測定管内の状態を精度良く検出することができる。本実施の形態では、従来の一般形の電磁流量計の検出器の構成である測定管1と電極2a,2bと励磁コイル3とを用い、電極2a,2bを含む平面PLNから互いに逆方向に向かうように信号線4a,4bを配設すれば、磁場や流体を含めた測定管内の状態を検出することができるので、特許文献2に開示された非対称励磁形の状態検出装置でしか得ることができなかった効果を、一般形の電磁流量計の検出器の構成を大きく変更することなく実現することができる。
なお、本実施の形態では、信号線間起電力和EsR0から変動要素Cp3の大きさrkc[p3]または角度θc[p3]のいずれかを抽出すればよいとしているが、大きさと角度の両方を抽出して、パラメータp3を求めることも可能である。この場合は、大きさrkc[p3]と角度θc[p3]のうち例えば感度の良い方を選択して、選択した大きさまたは角度に基づいてパラメータp3を求めるようにすればよい。これにより、検出感度を向上させることができる。
また、本実施の形態において、信号線間起電力差EdR0はほぼv×B成分となる。v×B成分から流体の流量を算出することは、一般の電磁流量計で周知の技術であり、状態定量化部8bを構成するコンピュータで容易に実現できる。したがって、本実施の形態は、流量計としても動作可能である。
[第4の実施の形態]
次に、本発明の第4の実施の形態について説明する。本実施の形態は、上記の原理で説明した第3の構成を用い、∂A/∂t成分のベクトルVaを抽出する方法として第3の抽出方法を用いるものである。
図21は本発明の第4の実施の形態に係る状態検出装置の構成を示すブロック図である。本実施の形態の状態検出装置は、測定管1と、電極2a,2bと、励磁コイル3と、一端が電極2a,2bと接続された第1の信号線4a,4bと、一端が電極2a,2bと接続され、電極2a,2bを含む平面PLNから第1の信号線4a,4bと逆方向に向かうように配設された第2の信号線4c,4dと、状態定量化部8cと、電源9とを有している。
状態定量化部8cは、信号線4a,4b,4c,4dの他端と接続され、第1の信号線4a,4bから得られる第1の合成起電力と第2の信号線4c,4dから得られる第2の合成起電力の各々について振幅と位相を求め、これらの振幅と位相に基づいて第1の合成起電力と第2の合成起電力との起電力差を∂A/∂t成分として抽出し、この∂A/∂t成分の中からパラメータに依存する変動要素の大きさまたは位相を抽出する信号変換部5cと、パラメータに依存する変動要素の大きさまたは位相とパラメータとの関係を予め記憶する状態記憶部6c(前述のテーブルに相当)と、状態記憶部6cに記憶された関係に基づいて、前記抽出された変動要素の大きさまたは位相に対応するパラメータを求める状態出力部7cとから構成される。
図21において、励磁コイル3から発生する磁場のうち、電極2a,2b間を結ぶ電極軸EAX上において電極軸EAXおよび測定管軸PAXの双方と直交する磁場成分(磁束密度)B1は、以下のように与えられるものとする。
B1=b1・cos(ω0・t−θ1) ・・・(91)
式(91)において、b1は磁束密度B1の振幅、ω0は角周波数、θ1は磁束密度B1とω0・tとの位相差(位相遅れ)である。以下、磁束密度B1を磁場B1とする。
ここで、信号線4a,4bを電極2a,2bに接続された第1の信号線とし、信号線4c,4dを電極2a,2bに接続された第2の信号線とする。第1の信号線4bの信号変換部側の端部で検出される起電力と第1の信号線4aの信号変換部側の端部で検出される起電力との差を第1の信号線間起電力差とし、第2の信号線4dの信号変換部側の端部で検出される起電力と第2の信号線4cの信号変換部側の端部で検出される起電力との差を第2の信号線間起電力差とする。
磁場B1の時間変化に起因する第1の信号線間起電力差を複素ベクトルに変換した起電力差と、被測定流体の流速Vと磁場B1とに起因する第1の信号線間起電力差を複素ベクトルに変換した起電力差とを合わせた全体の第1の信号線間起電力差のうち、角周波数ω0の成分の信号線間起電力差をE1d0とすると、第1の信号線間起電力差E1d0は式(36)に対応して式(92)で表される。
E1d0=rks1・ω0・b1・exp{j・(π/2+θ1+θs1)}
+rkv・V・b1・exp{j・(θ1+θv)} ・・・(92)
磁場B1の時間変化に起因する第2の信号線間起電力差を複素ベクトルに変換した起電力差と、被測定流体の流速Vと磁場B1とに起因する第2の信号線間起電力差を複素ベクトルに変換した起電力差とを合わせた全体の第2の信号線間起電力差のうち、角周波数ω0の成分の信号線間起電力差をE2d0とすると、第2の信号線間起電力差E2d0は式(37)に対応して式(93)で表される。
E2d0=−rks2・ω0・b1・exp{j・(π/2+θ1+θs2)}
+rkv・V・b1・exp{j・(θ1+θv)} ・・・(93)
式(92)、式(93)より、第1の信号線間起電力差E1d0と第2の信号線間起電力差E2d0との和Esdは次式のようになる。
Esd=E1d0+E2d0
=rks1・ω0・b1・exp{j・(π/2+θ1+θs1)}
+rkv・V・b1・exp{j・(θ1+θv)}
−rks2・ω0・b1・exp{j・(π/2+θ1+θs2)}
+rkv・V・b1・exp{j・(θ1+θv)}
={rks1・exp(j・θs1)−rks2・exp(j・θs2)}
・ω0・b1・exp{j・(π/2+θ1)}
+2・rkv・V・b1・exp{j・(θ1+θv)} ・・・(94)
また、式(92)、式(93)より、第1の信号線間起電力差E1d0と第2の信号線間起電力差E2d0との差Eddは次式のようになる。
Edd=E1d0−E2d0
=rks1・ω0・b1・exp{j・(π/2+θ1+θs1)}
+rkv・V・b1・exp{j・(θ1+θv)}
+rks2・ω0・b1・exp{j・(π/2+θ1+θs2)}
−rkv・V・b1・exp{j・(θ1+θv)}
={rks1・exp(j・θs1)+rks2・exp(j・θs2)}
・ω0・b1・exp{j・(π/2+θ1)} ・・・(95)
ここで、式を扱いやすくするために、rks1・exp(j・θs1)とrks2・exp(j・θs2)の2つのベクトルの和を式(96)のようにrkss・exp(j・θss)に変換し、rks1・exp(j・θs1)とrks2・exp(j・θs2)の2つのベクトルの差を式(97)のようにrksd・exp(j・θsd)に変換しておく。
rks1・exp(j・θs1)+rks2・exp(j・θs2)
=rkss・exp(j・θss) ・・・(96)
rks1・exp(j・θs1)−rks2・exp(j・θs2)
=rksd・exp(j・θsd) ・・・(97)
式(97)を用いて式(94)に示した起電力和Esdを式(98)のように変換し、式(96)を用いて式(95)に示した起電力差Eddを式(99)のように変換しておく。
Esd=rksd・exp(j・θsd)・ω0・b1
・exp{j・(π/2+θ1)}
+2・rkv・V・b1・exp{j・(θ1+θv)} ・・・(98)
Edd=rkss・exp(j・θss)・ω0・b1
・exp{j・(π/2+θ1)} ・・・(99)
ここで、θv=θss+Δθv、2・rkv=γv・rkssとし、これらを式(98)に代入したとき、起電力和Esdは次式で表される。
Esd=rksd・exp(j・θsd)・ω0・b1
・exp{j・(π/2+θ1)}
+γv・rkss・V・b1・exp{j・(θ1+θss+Δθv)}
・・・(100)
式(99)に示した起電力差Eddは、流速の大きさVに関係しないので、∂A/∂tによって発生する成分のみとなる。この起電力差Eddを用いれば、流速以外の流体の状態や測定管内の状態を計測することが可能になる。
ここで、パラメータによる変動要素をCp4とし、パラメータの値をp4とすると、式(40)から変動要素Cp4は次式で表される。
Cp4=rkc[p4]・exp(j・θc[p4]) ・・・(101)
式(99)における変動要素Cp4は次式で表される。
Cp4=rkss・b1・exp{j・(θ1+θss)}
=Edd/{ω0・exp(j・π/2)} ・・・(102)
式(102)から変動要素Cp4の大きさrkc[p4]と実軸からの角度θc[p4]は次式で表される。
rkc[p4]=|Edd|/ω0 ・・・(103)
θc[p4]=∠Edd−(π/2) ・・・(104)
校正時の計測等により予め確認されているパラメータp4とrkc[p4]との関係またはパラメータp4と角度θc[p4]との関係から、パラメータp4を求めることができる。
なお、上記の基本原理で用いた定数および変数と、本実施の形態の定数および変数との対応は以下の表4のとおりである。本実施の形態は、表4から明らかなように、上記の基本原理を具体的に実現する1つの例である。
Figure 2011053178
次に、本実施の形態の状態検出装置の具体的な動作について説明する。第1の実施の形態と同様に、電源9は、角周波数ω0の正弦波成分を持つ励磁電流を励磁コイル3に供給する。
図22は状態定量化部8cの動作を示すフローチャートである。まず、信号変換部5cは、第1の信号線間起電力差E1d0と第2の信号線間起電力差E2d0との起電力差Eddの振幅rddを求めると共に、実軸と起電力差Eddとの位相差φddを位相検波器により求める(図22ステップS401)。
信号変換部5cは、起電力差Eddの中から、パラメータp4に依存する変動要素Cp4の大きさと角度を求める(ステップS402)。信号変換部5cは、変動要素Cp4の大きさrkc[p4]を次式のように算出する。
rkc[p4]=rdd/ω0 ・・・(105)
また、信号変換部5cは、変動要素Cp4の角度θc[p4]を次式のように算出する。
θc[p4]=φdd−(π/2) ・・・(106)
これで、ステップS402の処理が終了する。
状態記憶部6cには、パラメータp4と変動要素Cp4の大きさrkc[p4]との関係、またはパラメータp4と変動要素Cp4の角度θc[p4]との関係が数式やテーブルの形式で予め登録されている。ステップS403において、状態出力部7cは、信号変換部5cで計算された変動要素Cp4の大きさrkc[p4]または角度θc[p4]に基づき、状態記憶部6cを参照して、rkc[p4]またはθc[p4]に対応するパラメータp4の値を算出する(あるいは状態記憶部6cから取得する)。
状態定量化部8cは、以上のようなステップS401〜S403の処理を例えばオペレータによって計測終了が指示されるまで(ステップS404においてYES)、一定周期毎に行う。
以上のように、本実施の形態では、第1の信号線間起電力差E1d0と第2の信号線間起電力差E2d0との起電力差Eddを∂A/∂t成分として抽出し、この起電力差Eddから流体の特性や状態、磁場の状態あるいは測定管内の状態(パラメータp4)に依存する変動要素Cp4の大きさまたは位相(角度)を抽出して、この変動要素Cp4の大きさまたは位相に基づいてパラメータp4を求めるようにしたので、流体の流速に関わらず、流体の特性や状態、磁場の状態あるいは測定管内の状態を精度良く検出することができる。本実施の形態では、従来の一般形の電磁流量計の検出器の構成である測定管1と電極2a,2bと励磁コイル3とを用い、第1の信号線4a,4bと、電極2a,2bを含む平面PLNから第1の信号線4a,4bと逆方向に向かう第2の信号線4c,4dとを配設すれば、磁場や流体を含めた測定管内の状態を検出することができるので、特許文献2に開示された非対称励磁形の状態検出装置でしか得ることができなかった効果を、一般形の電磁流量計の検出器の構成を大きく変更することなく実現することができる。
なお、本実施の形態では、起電力差Eddから変動要素Cp4の大きさrkc[p4]または角度θc[p4]のいずれかを抽出すればよいとしているが、大きさと角度の両方を抽出して、パラメータp4を求めることも可能である。この場合は、大きさrkc[p4]と角度θc[p4]のうち例えば感度の良い方を選択して、選択した大きさまたは角度に基づいてパラメータp4を求めるようにすればよい。これにより、検出感度を向上させることができる。
また、本実施の形態において、起電力和Esdはほぼv×B成分となる。v×B成分から流体の流量を算出することは、一般の電磁流量計で周知の技術であり、状態定量化部8cを構成するコンピュータで容易に実現できる。したがって、本実施の形態は、流量計としても動作可能である。
[第5の実施の形態]
次に、本発明の第5の実施の形態について説明する。一般の電磁流量計においては励磁コイルから発生する磁気を効率的に励磁コイルに戻すために、アウターコアと呼ばれる磁性体で電磁流量計を覆うことが多い。第1の実施の形態〜第4の実施の形態において、信号線4a,4b,4c,4dをアウターコアの内側に配置しておくと、∂A/∂t成分を効率よく検出することができる。このような構成は、全ての実施の形態に対して有効であるが、一例として図23に第1、第2の実施の形態に適用した場合の例を示しておく。図23の例では、信号線4a,4bがアウターコア10の内側に配置されている。
なお、第1の実施の形態〜第5の実施の形態では、励磁電流に正弦波を用いる正弦波励磁方式を採用しているが、励磁電流に矩形波を用いる矩形波励磁方式を採用してもよい。ただし、矩形波励磁方式の場合、高周波励磁が難しいので、正弦波励磁方式に比べて流量変化に対する応答性や1/fノイズの点で不利になる。
また、第1の実施の形態〜第5の実施の形態では、励磁コイル3の軸と測定管軸PAXと電極軸EAXとが互いに直交し、かつ1点で交差しているが、これに限るものではない。第1の実施の形態、第2の実施の形態、第4の実施の形態においては、励磁コイル3の軸が電極2a側と電極2b側のどちらかに偏っていてもよい。
また、第1の実施の形態〜第5の実施の形態で使用する電極2a,2bとしては、図24に示すように、測定管1の内壁から露出して被測定流体に接触する形式の電極でもよいし、図25に示すように、被測定流体と接触しない容量結合式の電極でもよい。容量結合式の場合、電極2a,2bは、測定管1の内壁に形成されるセラミックやテフロン(登録商標)等からなるライニング11によって被覆される。
また、第1の実施の形態、第2の実施の形態、第4の実施の形態では、1対の電極2a,2bを使用しているが、これに限るものではなく、電極を1個にしてもよい。ただし、第3の実施の形態では、電極が2個必要である。電極が1個だけの場合には、被測定流体の電位を接地電位にするための接地リングや接地電極が測定管1に設けられており、1個の電極とこの電極に接続された信号線とに生じた起電力(接地電位との電位差)を信号変換部5a,5b,5cで検出すればよい。
第1の実施の形態の場合、1個の電極2aと信号線4aを用いるとすると、信号変換部5aで検出されるEi0は、信号線間起電力差ではなく、電極2aおよび信号線4aに生じる起電力となる。同様に、第2の実施の形態の場合、信号変換部5aで検出されるEd0,Ed1は、信号線間起電力差ではなく、電極2aおよび信号線4aに生じる起電力となる。第4の実施の形態の場合、1個の電極2aと信号線4a,4cを用いるとすると、信号変換部5cで検出されるE1d0は、第1の信号線間起電力差ではなく、電極2aおよび信号線4aに生じる第1の起電力となり、信号変換部5cで検出されるE2d0は、第2の信号線間起電力差ではなく、電極2aおよび信号線4cに生じる第2の起電力となる。
電極軸は、1対の電極を使用する場合はこの1対の電極間を結ぶ直線である。一方、電極が1個だけの場合、この1個の実電極を含む平面PLN上において、測定管軸PAXを挟んで実電極と対向する位置に仮想の電極を配置したと仮定したとき、実電極と仮想の電極とを結ぶ直線が電極軸となる。
また、第1の実施の形態〜第5の実施の形態で使用する電極2a,2bを、図26のように管軸方向の成分を持つような形状にすれば、信号線4a,4b,4c,4dの場合と同様の効果が得られることはいうまでもない。
また、第1、第2の実施の形態において、図27に示すように、電極2a,2bに接続する信号線4a,4bのうち、一方の信号線4aを、平面PLNと平行な磁場の方向に対して傾きを持ち磁場の時間変化によって起電力が生じるように配設し、他方の信号線4bを、一般形の電磁流量計と同様に励磁コイル3から発生する磁束と鎖交する面積ができるだけ小さくなるように配設して、磁場の時間変化によって起電力が生じないようにしてもよい。同様に、第4の実施の形態において、図28に示すように、電極2a,2bに接続する信号線4a,4b,4c,4dのうち、電極2aに接続する信号線4a,4cを、平面PLNと平行な磁場の方向に対して傾きを持ち磁場の時間変化によって起電力が生じるように配設し、電極2bに接続する信号線4b,4dを、励磁コイル3から発生する磁束と鎖交する面積ができるだけ小さくなるように配設して、磁場の時間変化によって起電力が生じないようにしてもよい。なお、図28の例の場合、信号線4b,4dを共通化して1本にしてもよい。
以上の説明では、様々な信号線配置について述べてきたが、上記で説明した信号線配置を電極2a,2bから信号変換部5a,5b,5cまでの全経路に適用する必要はない。すなわち、電極2a,2bから信号変換部5a,5b,5cに向かう途中までの信号線配置について上記のとおりにすれば、以降の信号線配置については磁場の変化の影響が小さくなるようにして信号変換部5a,5b,5cに繋ぐようしてもよい。磁場の変化の影響を受け難い配線方法としては、例えば磁場の変化の影響が少ない場所に信号線を配置したり、信号線をシールドしたりする方法がある。
また、第1の実施の形態〜第5の実施の形態において、状態定量化部8a,8b,8cのうち、起電力の検出部を除く構成は、CPU、記憶装置およびインタフェースを備えたコンピュータとこれらのハードウェア資源を制御するプログラムによって実現することができる。CPUは、記憶装置に格納されたプログラムに従って前述のような処理を実行する。
本発明は、流体の特性や状態、磁場の状態あるいは測定管内の状態を検出する状態検出装置に適用することができる。
1…測定管、2a,2b…電極、3…励磁コイル、4a,4b,4c,4d…信号線、5a,5b,5c…信号変換部、6a,6b,6c…状態記憶部、7a,7b,7c…状態出力部、8a,8b,8c…状態定量化部、9…電源、10…アウターコア、11…ライニング。

Claims (15)

  1. 流体の特性や状態、磁場の状態あるいは測定管内の状態を検出対象のパラメータとする状態検出装置であって、
    流体が流れる測定管と、
    この測定管に配設され、前記流体に印加される磁場と前記流体の流れとによって生じた起電力を検出する電極と、
    この電極を含む、前記測定管の軸方向と垂直な電極平面に対して対称かつ時間変化する磁場を前記流体に印加する励磁部と、
    一端が前記電極と接続されると共に、前記電極平面と平行な磁場の方向に対して傾きを持ち前記磁場の時間変化によって起電力が生じるように配設された信号線と、
    前記信号線の他端と接続され、前記電極および信号線で検出される、前記流体の流速とは無関係で前記磁場の時間変化に起因する∂A/∂t成分の起電力と前記流体の流速に起因するv×B成分の起電力との合成起電力から、前記∂A/∂t成分を抽出し、この∂A/∂t成分の中から前記パラメータに依存する変動要素を抽出して、この変動要素に基づいて前記パラメータを定量化する状態定量化部とを備えることを特徴とする状態検出装置。
  2. 請求項1記載の状態検出装置において、
    前記状態定量化部は、
    前記電極および信号線で検出される、前記流体の流速とは無関係で前記磁場の時間変化に起因する∂A/∂t成分の起電力と前記流体の流速に起因するv×B成分の起電力との合成起電力から、前記∂A/∂t成分を抽出し、この∂A/∂t成分の中から前記パラメータに依存する変動要素を抽出する信号変換部と、
    前記パラメータに依存する変動要素と前記パラメータとの関係を予め記憶する状態記憶部と、
    この状態記憶部に記憶された関係に基づいて、前記抽出された変動要素に対応する前記パラメータを求める状態出力部とからなることを特徴とする状態検出装置。
  3. 請求項2記載の状態検出装置において、
    前記信号線の配設方向は、前記測定管の軸と同じ方向成分を持つことを特徴とする状態検出装置。
  4. 請求項2または3記載の状態検出装置において、
    前記励磁部は、コイル軸が前記電極平面に含まれるように配設された励磁コイルと、この励磁コイルに励磁電流を供給する電源とからなり、
    前記信号変換部は、前記合成起電力と前記励磁電流との位相差あるいは時間差を求めることにより、前記∂A/∂t成分を抽出することを特徴とする状態検出装置。
  5. 請求項4記載の状態検出装置において、
    前記電源は、第1の周波数の励磁電流を前記励磁コイルに供給し、
    前記信号変換部は、前記合成起電力のうち前記第1の周波数の成分と前記励磁電流との位相差を求めることにより、前記∂A/∂t成分を抽出し、この∂A/∂t成分の中から前記パラメータに依存する変動要素の大きさまたは位相を抽出し、
    前記状態記憶部は、前記パラメータに依存する変動要素の大きさまたは位相と前記パラメータとの関係を予め記憶することを特徴とする状態検出装置。
  6. 請求項2または3記載の状態検出装置において、
    前記励磁部は、コイル軸が前記電極平面に含まれるように配設された励磁コイルと、複数の励磁周波数を同時または交互に与える励磁電流を前記励磁コイルに供給する電源とからなり、
    前記信号変換部は、前記合成起電力のうち同時または交互に得られる少なくとも2つの異なる周波数成分の振幅と位相を求めることにより、前記∂A/∂t成分を抽出することを特徴とする状態検出装置。
  7. 請求項6記載の状態検出装置において、
    前記電源は、第1の周波数と第2の周波数の異なる2つの励磁周波数を同時または交互に与える励磁電流を前記励磁コイルに供給し、
    前記信号変換部は、前記合成起電力のうち前記第1の周波数と前記第2の周波数の2つの周波数成分の振幅と位相を求め、これらの振幅と位相に基づいて前記2つの周波数成分の起電力差を前記∂A/∂t成分として抽出し、この∂A/∂t成分の中から前記パラメータに依存する変動要素の大きさまたは位相を抽出し、
    前記状態記憶部は、前記パラメータに依存する変動要素の大きさまたは位相と前記パラメータとの関係を予め記憶することを特徴とする状態検出装置。
  8. 請求項4乃至7のいずれか1項に記載の状態検出装置において、
    前記電極は、前記測定管の軸に直交する軸上に前記測定管の軸を挟んで対向するように1対配設され、
    前記信号線は、各々の電極に1本ずつ接続された2本の信号線からなり、この2本の信号線のうち少なくとも1本の信号線が前記電極平面と平行な磁場の方向に対して傾きを持ち前記磁場の時間変化によって起電力が生じるように配設されることを特徴とする状態検出装置。
  9. 請求項2または3記載の状態検出装置において、
    前記励磁部は、コイル軸が前記電極平面に含まれるように配設された励磁コイルと、この励磁コイルに励磁電流を供給する電源とからなり、
    前記信号線は、互いに異なる経路に配設された複数の信号線からなり、
    前記信号変換部は、前記複数の信号線から得られる合成起電力の和または差を求めることにより、前記∂A/∂t成分を抽出することを特徴とする状態検出装置。
  10. 請求項9記載の状態検出装置において、
    前記電極は、前記測定管の軸に直交する軸上に前記測定管の軸を挟んで対向するように1対配設され、
    前記信号線は、各々の電極に1本ずつ接続された2本の信号線からなり、この2本の信号線が前記電極平面から互いに逆方向に向かうように配設され、
    前記信号変換部は、前記2本の信号線から得られる合成起電力の和を求めることにより、前記∂A/∂t成分を抽出し、この∂A/∂t成分の中から前記パラメータに依存する変動要素の大きさまたは位相を抽出し、
    前記状態記憶部は、前記パラメータに依存する変動要素の大きさまたは位相と前記パラメータとの関係を予め記憶することを特徴とする状態検出装置。
  11. 請求項9記載の状態検出装置において、
    前記信号線は、同じ電極に接続された複数の信号線からなり、
    前記信号変換部は、前記複数の信号線から得られる合成起電力のうち少なくとも2本の信号線から得られる合成起電力の振幅と位相を求めることにより、前記∂A/∂t成分を抽出することを特徴とする状態検出装置。
  12. 請求項11記載の状態検出装置において、
    前記信号線は、同じ電極に接続された第1、第2の信号線からなり、この第1、第2の信号線が前記電極平面から互いに逆方向に向かうように配設され、
    前記信号変換部は、前記第1の信号線から得られる第1の合成起電力と前記第2の信号線から得られる第2の合成起電力の各々について振幅と位相を求め、これらの振幅と位相に基づいて前記第1の合成起電力と前記第2の合成起電力との起電力差を前記∂A/∂t成分として抽出し、この∂A/∂t成分の中から前記パラメータに依存する変動要素の大きさまたは位相を抽出し、
    前記状態記憶部は、前記パラメータに依存する変動要素の大きさまたは位相と前記パラメータとの関係を予め記憶することを特徴とする状態検出装置。
  13. 請求項11または12記載の状態検出装置において、
    前記電極は、前記測定管の軸に直交する軸上に前記測定管の軸を挟んで対向するように1対配設され、
    各々の電極に複数本ずつ接続された信号線のうち、少なくとも一方の電極に接続された信号線が前記電極平面と平行な磁場の方向に対して傾きを持ち前記磁場の時間変化によって起電力が生じるように配設されることを特徴とする状態検出装置。
  14. 請求項1乃至13のいずれか1項に記載の状態検出装置において、
    前記励磁部の外側を覆うアウターコアを備え、
    前記信号線は、前記アウターコアの内側に、前記電極平面と平行な磁場の方向に対して傾きを持ち前記磁場の時間変化によって起電力が生じるように配設されることを特徴とする状態検出装置。
  15. 請求項4乃至13のいずれか1項に記載の状態検出装置において、
    前記励磁コイルの外側を覆うアウターコアを備え、
    前記信号線は、前記アウターコアの内側に、前記電極平面と平行な磁場の方向に対して傾きを持ち前記磁場の時間変化によって起電力が生じるように配設されることを特徴とする状態検出装置。
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