JP2011047876A - 3次元形状測定方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】定盤10の平坦な定盤面12に多数のマーク14を形成すると共に、多数のマーク14から大きさと間隔との違いにより少なくとも3つのマーク14を特定可能に形成する。また、各マーク14の大きさと間隔とを記憶する。そして、定盤面12に定盤面12より小さな被測定物1を載置して、被測定物1の部分領域を形状測定器2により少なくとも3つのマーク14と共に光学的に3次元測定して測定値を得る。その後、形状測定器2を移動して、少なくとも3つのマーク14と共に被測定物1の他の測定箇所の部分領域を光学的に3次元測定して測定値を得て、記憶したマーク14の大きさ及び間隔と測定したマーク14の大きさ及び間隔とに基づいて、両測定値を同一座標系に変換して合成する(ステップ100〜200)。
【選択図】図3
Description
定盤の平坦な定盤面に多数のマークを形成すると共に、多数の前記マークから大きさと間隔との違いにより少なくとも3つの前記マークを特定可能に形成し、
前記定盤面に前記定盤面より小さな被測定物を載置して、
前記被測定物の部分領域を3次元形状測定手段により少なくとも3つの前記マークと共に光学的に3次元測定して測定値を得て、その後、更に、前記3次元形状測定手段を移動して、少なくとも3つの前記マークと共に前記被測定物の他の部分領域を光学的に3次元測定して測定値を得て、前記マークの大きさ及び間隔に基づいて、前記部分領域が異なる前記両測定値を同一座標系に変換して合成することを特徴とする3次元形状測定方法がそれである。
前記定盤面に前記定盤面より小さな被測定物を載置して、
前記被測定物の部分領域を3次元形状測定手段により少なくとも3つの前記マークと共に光学的に3次元測定して測定値を得て、その後、前記3次元形状測定手段を移動して、少なくとも3つの前記マークと共に前記被測定物の他の測定箇所の部分領域を光学的に3次元測定して測定値を得て、記憶した前記マークの大きさ及び間隔と測定した前記マークの大きさ及び間隔とに基づいて、前記両測定値を同一座標系に変換して合成することを特徴とする3次元形状測定方法がそれである。
前記定盤面に前記定盤面より小さな被測定物を載置して、
前記被測定物の部分領域を3次元形状測定手段により少なくとも3つの前記マークと共に光学的に3次元測定して測定値を得て、その後、更に、前記3次元形状測定手段を移動して、先の前記部分領域の同じ3つの前記マークと共に前記被測定物の他の部分領域を光学的に3次元測定して測定値を得て、先の前記部分領域の前記マークの大きさと間隔及び他の部分領域の前記マークの大きさと間隔に基づいて、前記部分領域が異なる前記両測定値を同一座標系に変換して合成することを特徴とする3次元形状測定方法がそれである。
図1に示すように、1は被測定物であり、例えば、塑性加工されたプレス成形品等の3次元形状の外形を有するものである。この被測定物1の3次元形状を光学的に測定する形状測定器2を備え、この形状測定器2は、CCDカメラ4とフリンジプロジェクター6と制御装置8とを備えている。CCDカメラ4とフリンジプロジェクター6とは、制御装置8に接続されている。
まず、3次元形状の測定の際には、被測定物1を定盤10の定盤面12上に載置する。その際、被測定物1が定盤面12からはみ出ないような大きさの定盤10が用いられ、また、被測定物1を載置しても、定盤面12上の多くのマーク14が視認できるような大きさの定盤10が用いられる。
例えば、マーク14s1-1を基準として、第1部分領域S1のマーク14s1-1に、第2部分領域S2のマーク14s2-1を重ね合わせるために、平行移動する変換成分と、第1部分領域S1のマーク14s1-2,14s1-3及び第2部分領域S2のマーク14s2-2,14s2-3マーカーとが同じ位置座標になるように回転移動して重ね合わせる変換成分とを含む。
第2部分領域S2の部分座標系に変換に変換した第3部分領域S3の測定値Ps3を、ステップ220の処理と同様に、第1部分領域S1の部分座標系に変換する(ステップ240)。そして、測定値Psには、定盤面12やマーク14の測定値も含まれているので、これらの定盤面12やマーク14の測定データを削除し(ステップ250)、一旦本制御処理を終了する。これにより、各測定値Ps1〜Ps3は、第1部分領域S1の座標系に変換され、被測定物1の全体を解像度よく、十分な精度で容易に測定できる。
4…カメラ 6…フリンジプロジェクター
8…制御装置 10…定盤
12…定盤面 14…マーク
S1〜S5…部分領域
Claims (5)
- 定盤の平坦な定盤面に多数のマークを形成すると共に、多数の前記マークから大きさと間隔との違いにより少なくとも3つの前記マークを特定可能に形成し、
前記定盤面に前記定盤面より小さな被測定物を載置して、
前記被測定物の部分領域を3次元形状測定手段により少なくとも3つの前記マークと共に光学的に3次元測定して測定値を得て、その後、更に、前記3次元形状測定手段を移動して、少なくとも3つの前記マークと共に前記被測定物の他の部分領域を光学的に3次元測定して測定値を得て、前記マークの大きさ及び間隔に基づいて、前記部分領域が異なる前記両測定値を同一座標系に変換して合成することを特徴とする3次元形状測定方法。 - 定盤の平坦な定盤面に多数のマークを形成すると共に、多数の前記マークから大きさと間隔との違いにより少なくとも3つの前記マークを特定可能に形成し、かつ、前記各マークの大きさと間隔とを記憶し、
前記定盤面に前記定盤面より小さな被測定物を載置して、
前記被測定物の部分領域を3次元形状測定手段により少なくとも3つの前記マークと共に光学的に3次元測定して測定値を得て、その後、前記3次元形状測定手段を移動して、少なくとも3つの前記マークと共に前記被測定物の他の測定箇所の部分領域を光学的に3次元測定して測定値を得て、記憶した前記マークの大きさ及び間隔と測定した前記マークの大きさ及び間隔とに基づいて、前記両測定値を同一座標系に変換して合成することを特徴とする3次元形状測定方法。 - 定盤の平坦な定盤面に多数のマークを形成すると共に、多数の前記マークから大きさと間隔との違いにより少なくとも3つの前記マークを特定可能に形成し、
前記定盤面に前記定盤面より小さな被測定物を載置して、
前記被測定物の部分領域を3次元形状測定手段により少なくとも3つの前記マークと共に光学的に3次元測定して測定値を得て、その後、更に、前記3次元形状測定手段を移動して、先の前記部分領域の同じ3つの前記マークと共に前記被測定物の他の部分領域を光学的に3次元測定して測定値を得て、先の前記部分領域の前記マークの大きさと間隔及び他の部分領域の前記マークの大きさと間隔に基づいて、前記部分領域が異なる前記両測定値を同一座標系に変換して合成することを特徴とする3次元形状測定方法。 - 前記マークは、円形の有底孔を機械加工して形成、あるいは印刷により形成、あるいは、円形のシールを貼り付けて形成したことを特徴とする請求項1ないし請求項3のいずれかに記載の3次元形状測定方法。
- 前記3次元形状測定手段による少なくとも3つの前記マークの前記測定値に基づいて、前記定盤面を認識し、前記部分領域が異なる前記両測定値の前記定盤面を同一平面上に補正してから、前記マークの大きさ及び間隔とに基づいて、前記両測定値を同一座標系に変換して合成することを特徴とする請求項1ないし請求項4のいずれかに記載の3次元形状測定方法。
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Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1075391A (ja) * | 1996-08-30 | 1998-03-17 | Canon Inc | 被写体形状構成装置及び被写体形状構成方法 |
WO2003012368A1 (fr) * | 2001-07-30 | 2003-02-13 | Topcon Corporation | Appareil de mesure d'une forme superficielle, procede de mesure d'une forme superficielle et appareil graphique destine a l'etat superficiel |
WO2006009192A1 (ja) * | 2004-07-21 | 2006-01-26 | Japan Science And Technology Agency | カメラ校正システム及び三次元計測システム |
JP2006119005A (ja) * | 2004-10-22 | 2006-05-11 | Ryonichi Engineering Co Ltd | 大規模構造物計測装置及び大規模構造物計測方法 |
JP2006284442A (ja) * | 2005-04-01 | 2006-10-19 | Shimadzu Corp | 物体のモニタリング方法およびこれを用いたモーショントラッカ |
JP2007303828A (ja) * | 2006-05-08 | 2007-11-22 | Konica Minolta Sensing Inc | 断面データ取得方法、システム、及び断面検査方法 |
Family Cites Families (10)
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---|---|---|---|---|
JPS61125712A (ja) * | 1984-11-26 | 1986-06-13 | Matsushita Electric Works Ltd | 多層印刷配線板の孔穿設法 |
US5183373A (en) * | 1991-10-18 | 1993-02-02 | The Floyd And Gilbert Company | Circle marking and cutting guide template |
EP0685709B1 (en) * | 1994-05-31 | 2001-12-05 | Japan Em Co., Ltd. | Apparatus for measuring dimension of article and scale to be used in the same |
DE19728513A1 (de) * | 1997-07-04 | 1999-01-07 | Daimler Benz Ag | Meßmarke und Verfahren zur Erkennung von Meßmarken sowie Verfahren zur Objektvermessung |
JP2000238439A (ja) * | 1999-02-19 | 2000-09-05 | Dainippon Printing Co Ltd | 中間転写記録媒体及び画像形成方法 |
JP4010753B2 (ja) * | 2000-08-08 | 2007-11-21 | 株式会社リコー | 形状計測システムと撮像装置と形状計測方法及び記録媒体 |
JP4877891B2 (ja) * | 2001-08-03 | 2012-02-15 | 株式会社トプコン | 校正用被写体 |
JP2003065736A (ja) * | 2001-08-24 | 2003-03-05 | Sanyo Electric Co Ltd | 3次元モデリング装置 |
JP2004220510A (ja) | 2003-01-17 | 2004-08-05 | Minolta Co Ltd | 三次元形状測定装置、三次元形状測定方法及びターゲットマーク |
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Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1075391A (ja) * | 1996-08-30 | 1998-03-17 | Canon Inc | 被写体形状構成装置及び被写体形状構成方法 |
WO2003012368A1 (fr) * | 2001-07-30 | 2003-02-13 | Topcon Corporation | Appareil de mesure d'une forme superficielle, procede de mesure d'une forme superficielle et appareil graphique destine a l'etat superficiel |
WO2006009192A1 (ja) * | 2004-07-21 | 2006-01-26 | Japan Science And Technology Agency | カメラ校正システム及び三次元計測システム |
JP2006119005A (ja) * | 2004-10-22 | 2006-05-11 | Ryonichi Engineering Co Ltd | 大規模構造物計測装置及び大規模構造物計測方法 |
JP2006284442A (ja) * | 2005-04-01 | 2006-10-19 | Shimadzu Corp | 物体のモニタリング方法およびこれを用いたモーショントラッカ |
JP2007303828A (ja) * | 2006-05-08 | 2007-11-22 | Konica Minolta Sensing Inc | 断面データ取得方法、システム、及び断面検査方法 |
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