JP2011043394A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2011043394A5
JP2011043394A5 JP2009191474A JP2009191474A JP2011043394A5 JP 2011043394 A5 JP2011043394 A5 JP 2011043394A5 JP 2009191474 A JP2009191474 A JP 2009191474A JP 2009191474 A JP2009191474 A JP 2009191474A JP 2011043394 A5 JP2011043394 A5 JP 2011043394A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical axis
wavefront
optical system
angle
reflecting
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2009191474A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5430290B2 (ja
JP2011043394A (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2009191474A priority Critical patent/JP5430290B2/ja
Priority claimed from JP2009191474A external-priority patent/JP5430290B2/ja
Priority to US12/859,789 priority patent/US8462351B2/en
Publication of JP2011043394A publication Critical patent/JP2011043394A/ja
Publication of JP2011043394A5 publication Critical patent/JP2011043394A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5430290B2 publication Critical patent/JP5430290B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Description

本発明は、このような従来技術の課題に鑑みてなされ、被検光学系の光軸方向が重力方向と異なるような姿勢を被検光学系がとっている場合であっても、被検光学系からの光の波面(波面収差)を高精度に測定する技術を提供することを例示的目的とする。
本発明によれば、例えば、被検光学系の光軸方向が重力方向と異なるような姿勢を被検光学系がとっている場合であっても、被検光学系からの光の波面(波面収差)を高精度に測定する技術を提供することができる。

Claims (12)

  1. 被検光学系からの光を反射する反射面を有する反射部材と、前記反射部材を保持する保持部と、参照面又は波面変換素子を含む測定光学系とを有する測定装置を用いて、前記被検光学系からの光の波面を測定する測定方法であって、
    前記反射面及び前記測定光学系をそれぞれの光軸が重力方向と一致するように前記測定装置の姿勢が制御された第1の状態で、前記被検光学系をその光軸が重力方向と一致するように前記測定装置に配置し、前記被検光学系のその光軸周りの角度、前記反射面のその光軸周りの角度、前記保持部のその光軸周りの角度を第1の角度に設定して、前記被検光学系の波面を含む第1の波面を測定する第1のステップと、
    前記第1の状態で、前記被検光学系をその光軸が重力方向と一致するように前記測定装置に配置し、前記被検光学系のその光軸周りの角度を前記第1の角度と異なる第2の角度に、前記反射面のその光軸周りの角度、及び、前記保持部のその光軸周りの角度を前記第1の角度に設定して、前記被検光学系の波面を含む第2の波面を測定する第2のステップと、
    前記第1の状態で、前記被検光学系をその光軸が重力方向と一致するように前記測定装置に配置し、前記被検光学系のその光軸周りの角度を前記第1の角度に、前記反射面のその光軸周りの角度、及び、前記保持部のその光軸周りの角度を前記第2の角度に設定して、前記被検光学系の波面を含む第3の波面を測定する第3のステップと、
    前記第1の状態で、前記被検光学系をその光軸が重力方向と一致するように前記測定装置に配置し、前記被検光学系のその光軸周りの角度、及び、前記保持部のその光軸周りの角度を前記第1の角度に、前記反射面のその光軸周りの角度を前記第2の角度に設定して、前記被検光学系の波面を含む第4の波面を測定する第4のステップと、
    前記第1の波面、前記第2の波面、前記第3の波面及び前記第4の波面を用いて、前記第1の状態における前記測定光学系に起因する誤差波面、前記反射面の形状に相当する波面及び前記反射面の形状の重力変形に相当する波面を算出する第5のステップと、
    前記反射面及び前記測定光学系をそれぞれの光軸が重力方向と異なるように前記測定装置の姿勢が制御された第2の状態で、前記被検光学系を前記測定装置に配置せず、前記反射面のその光軸周りの角度、及び、前記保持部のその光軸周りの角度を前記第1の角度に設定して、前記反射面の重心を含み前記反射面の光軸に垂直な面内において前記反射部材の周囲に付加する荷重が前記周囲に沿って余弦分布となるように、前記反射面の光軸に垂直な方向から、前記反射面の光軸を基準とした重力方向側の反射部材の周囲に対しては圧縮荷重を、前記反射面の光軸を基準とした重力方向の反対方向側の反射部材の周囲に対して引張荷重を付加しながら、前記被検光学系の波面を含まない第5の波面を測定する第6のステップと、
    前記第2の状態で、前記被検光学系をその光軸が重力方向と異なるように前記測定装置に配置し、前記被検光学系のその光軸周りの角度、前記反射面のその光軸周りの角度、及び、前記保持部のその光軸周りの角度を前記第1の角度に設定して、前記反射面の重心を含み前記反射面の光軸に垂直な面内において前記反射部材の周囲に付加する荷重が前記周囲に沿って余弦分布となるように、前記反射面の光軸に垂直な方向から、前記反射面の光軸を基準とした重力方向側の反射部材の周囲に対しては圧縮荷重を、前記反射面の光軸を基準とした重力方向の反対方向側の反射部材の周囲に対して引張荷重を付加しながら、前記被検光学系の波面を含む第6の波面を測定する第7のステップと、
    前記第5の波面から前記第5のステップで算出された前記反射面の形状に相当する波面及び前記反射面の形状の重力変形に相当する波面を分離して前記第2の状態における前記測定光学系に起因する誤差波面を算出し、前記第6の波面から前記第2の状態における前記測定光学系に起因する誤差波面を分離して前記第2の状態における前記被検光学系からの光の波面を算出する第8のステップと、
    を有することを特徴とする測定方法。
  2. 被検光学系からの光の波面を測定する測定装置であって、
    前記被検光学系からの光を反射する反射面を有する反射部材と、
    前記反射部材を保持する保持部と、
    参照面又は波面変換素子を含む測定光学系と、
    前記反射面からの光を検出する検出面を有する検出部と、
    前記反射部材に荷重を付加する荷重付加部と、
    前記被検光学系からの光の波面を測定するための動作を制御すると共に、前記検出部で検出される前記被検光学系からの光の波面を算出するための処理を行う制御部と、
    を有し、
    前記制御部による前記制御及び前記処理は、
    前記反射面及び前記測定光学系をそれぞれの光軸が重力方向と一致するように前記測定装置の姿勢が制御された第1の状態で、前記被検光学系をその光軸が重力方向と一致するように前記測定装置に配置し、前記被検光学系のその光軸周りの角度、前記反射面のその光軸周りの角度、前記保持部のその光軸周りの角度を第1の角度に設定して、前記被検光学系の波面を含む第1の波面を測定することと、
    前記第1の状態で、前記被検光学系をその光軸が重力方向と一致するように前記測定装置に配置し、前記被検光学系のその光軸周りの角度を前記第1の角度と異なる第2の角度に、前記反射面のその光軸周りの角度、及び、前記保持部のその光軸周りの角度を前記第1の角度に設定して、前記被検光学系の波面を含む第2の波面を測定することと、
    前記第1の状態で、前記被検光学系をその光軸が重力方向と一致するように前記測定装置に配置し、前記被検光学系のその光軸周りの角度を前記第1の角度に、前記反射面のその光軸周りの角度、及び、前記保持部のその光軸周りの角度を前記第2の角度に設定して、前記被検光学系の波面を含む第3の波面を測定することと、
    前記第1の状態で、前記被検光学系をその光軸が重力方向と一致するように前記測定装置に配置し、前記被検光学系のその光軸周りの角度、及び、前記保持部のその光軸周りの角度を前記第1の角度に、前記反射面のその光軸周りの角度を前記第2の角度に設定して、前記被検光学系の波面を含む第4の波面を測定することと、
    前記第1の波面、前記第2の波面、前記第3の波面及び前記第4の波面を用いて、前記第1の状態における前記測定光学系に起因する誤差波面、前記反射面の形状に相当する波面及び前記反射面の形状の重力変形に相当する波面を算出することと、
    前記反射面及び前記測定光学系をそれぞれの光軸が重力方向と異なるように前記測定装置の姿勢が制御された第2の状態で、前記被検光学系を前記測定装置に配置せず、前記反射面のその光軸周りの角度、及び、前記保持部のその光軸周りの角度を前記第1の角度に設定して、前記反射面の重心を含み前記反射面の光軸に垂直な面内において前記反射部材の周囲に付加する荷重が前記周囲に沿って余弦分布となるように、前記荷重付加部によって前記反射面の光軸に垂直な方向から、前記反射面の光軸を基準とした重力方向側の反射部材の周囲に対しては圧縮荷重を、前記反射面の光軸を基準とした重力方向の反対方向側の反射部材の周囲に対して引張荷重を付加しながら、前記被検光学系の波面を含まない第5の波面を測定することと、
    前記第2の状態で、前記被検光学系をその光軸が重力方向と異なるように前記測定装置に配置し、前記被検光学系のその光軸周りの角度、前記反射面のその光軸周りの角度、及び、前記保持部のその光軸周りの角度を前記第1の角度に設定して、前記反射面の重心を含み前記反射面の光軸に垂直な面内において前記反射部材の周囲に付加する荷重が前記周囲に沿って余弦分布となるように、前記荷重付加部によって前記反射面の光軸に垂直な方向から、前記反射面の光軸を基準とした重力方向側の反射部材の周囲に対しては圧縮荷重を、前記反射面の光軸を基準とした重力方向の反対方向側の反射部材の周囲に対して引張荷重を付加しながら、前記被検光学系の波面を含む第6の波面を測定することと、
    前記第5の波面から前記算出された前記反射面の形状に相当する波面及び前記反射面の形状の重力変形に相当する波面を分離して前記第2の状態における前記測定光学系に起因する誤差波面を算出し、前記第6の波面から前記第2の状態における前記測定光学系に起因する誤差波面を分離して前記第2の状態における前記被検光学系からの光の波面を算出することと、
    を含むことを特徴とする測定装置。
  3. 前記反射部材は、前記反射面の裏面に、前記反射面の光軸を中心とした円状に前記反射面の光軸方向に沿って延びた溝を有し、
    前記保持部は、前記反射面の裏面において前記反射部材を保持し、
    前記荷重付加部は、
    前記溝に挿入され、前記保持部が前記反射面の裏面において前記反射部材を保持した状態において、前記溝の前記反射面の光軸方向の面には接触せず前記反射面の光軸に垂直な方向の面に接触する複数の接触部材と、
    前記複数の接触部材のそれぞれに接続され、前記第2の状態において、前記反射面の光軸に垂直な方向から、前記反射面の光軸を基準とした重力方向側の反射部材の周囲に対しては圧縮荷重を、前記反射面の光軸を基準とした重力方向の反対方向側の反射部材の周囲に対しては引張荷重を付加するように構成された複数の弾性部材と、
    を有することを特徴とする請求項2に記載の測定装置。
  4. 前記反射部材は、前記反射面の裏面に、前記反射面の光軸を中心とした円上の複数の領域に前記反射面の光軸方向に沿って延びた溝を有し、
    前記保持部は、前記反射面の裏面において前記反射部材を保持し、
    前記荷重付加部は、
    前記複数の領域の溝のそれぞれに挿入され、前記保持部が前記反射面の裏面において前記反射部材を保持した状態において、前記溝の前記反射面の光軸方向の面には接触せず前記反射面の光軸に垂直な方向の面に接触する複数の接触部材と、
    前記複数の接触部材のそれぞれに接続され、前記第2の状態において、前記反射面の光軸に垂直な方向から、前記反射面の光軸を基準とした重力方向側の反射部材の周囲に対しては圧縮荷重を、前記反射面の光軸を基準とした重力方向の反対方向側の反射部材の周囲に対しては引張荷重を付加するように構成された複数の弾性部材と、
    を有することを特徴とする請求項2に記載の測定装置。
  5. 前記荷重付加部は、
    前記反射部材の周囲に接触する複数の接触部材と、
    前記複数の接触部材のそれぞれに接続され、前記第2の状態において、前記反射面の光軸に垂直な方向から、前記反射面の光軸を基準とした重力方向側の反射部材の周囲に対しては圧縮荷重を、前記反射面の光軸を基準とした重力方向の反対方向側の反射部材の周囲に対しては引張荷重を付加するように構成された複数の弾性部材と、
    を有することを特徴とする請求項2に記載の測定装置。
  6. 前記反射部材は、前記反射面の裏面に、前記反射面の光軸を中心とした円状に前記反射面の光軸方向に沿って延びた溝を有し、
    前記保持部は、前記反射面の裏面において前記反射部材を保持し、
    前記荷重付加部は、前記溝に挿入され、前記保持部が前記反射面の裏面において前記反射部材を保持した状態において、前記溝の前記反射面の光軸方向の面には接触せず前記反射面の光軸に垂直な方向の面に接触し、前記第2の状態において、前記反射面の光軸に垂直な方向から、前記反射面の光軸を基準とした重力方向側の反射部材の周囲に対しては圧縮荷重を、前記反射面の光軸を基準とした重力方向の反対方向側の反射部材の周囲に対しては引張荷重を付加するように構成された複数の板バネを有することを特徴とする請求項2に記載の測定装置。
  7. 前記反射部材は、前記反射面の裏面に、前記反射面の光軸を中心とした円状に前記反射面の光軸方向に沿って延びた溝を有し、
    前記保持部は、前記反射面の裏面において前記反射部材を保持し、
    前記荷重付加部は、
    前記溝に挿入され、前記保持部が前記反射面の裏面において前記反射部材を保持した状態において、前記溝の前記反射面の光軸方向の面には接触せず前記反射面の光軸に垂直な方向の面に接触する複数の接触部材と、
    前記複数の接触部材のそれぞれに接続され、前記第2の状態において、前記反射面の光軸に垂直な方向から、前記反射面の光軸を基準とした重力方向側の反射部材の周囲に対しては圧縮荷重を、前記反射面の光軸を基準とした重力方向の反対方向側の反射部材の周囲に対しては引張荷重を付加するように構成された複数のアクチュエータと、
    を有することを特徴とする請求項2に記載の測定装置。
  8. 前記荷重付加部は、
    前記複数のアクチュエータのそれぞれが前記反射部材の周囲に付加する荷重を検出する荷重検出部と、
    前記荷重検出部の検出結果に基づいて、前記反射面の重心を含み前記反射面の光軸に垂直な面内において前記反射部材の周囲に付加する荷重が前記周囲に沿って余弦分布となるように、前記複数のアクチュエータを制御するアクチュエータ制御部と、
    を有することを特徴とする請求項7に記載の測定装置。
  9. 前記荷重付加部は、前記反射部材の周囲に接触して、圧力によって前記反射部材の周囲に荷重を付加する複数の圧力部を有することを特徴とする請求項2に記載の測定装置。
  10. 前記荷重付加部は、
    前記複数の圧力部のそれぞれが前記反射部材の周囲に付加する荷重を検出する荷重検出部と、
    前記荷重検出部の検出結果に基づいて、前記反射面の重心を含み前記反射面の光軸に垂直な面内において前記反射部材の周囲に付加する荷重が前記周囲に沿って余弦分布となるように、前記複数の圧力部を制御する圧力制御部と、
    を有することを特徴とする請求項9に記載の測定装置。
  11. 被検光学系の波面収差を測定する測定装置であって、
    前記被検光学系からの光を反射する反射部材と、
    参照面又は波面変換素子を含む測定光学系と、
    前記反射部材および前記測定光学系を介して入射する光を検出する検出器と、
    前記反射部材の光軸に直交する面内において前記反射部材に荷重を加える手段と、を有し、
    前記光軸の方向の重力の方向に対する角度は可変であり、
    前記荷重を加える手段は、前記面内において、前記光軸より下方にある部分には圧縮荷重を、前記光軸より上方にある部分には引張荷重を、前記角度に応じた大ききで、前記反射部材に加える、
    ことを特徴とする測定装置。
  12. 被検光学系からの光を反射する反射部材と、参照面又は波面変換素子を含む測定光学系と、前記反射部材および前記測定光学系を介して入射する光を検出する検出器とを用いて前記被検光学系の波面収差を測定する測定方法であって、
    前記反射部材の光軸の方向の重力の方向に対する角度は可変であり、
    前記光軸に直交する面内において、前記光軸より下方にある部分には圧縮荷重を、前記光軸より上方にある部分には引張荷重を、前記角度に応じた大きさで、前記反射部材に加える、ことを特徴とする測定方法。
JP2009191474A 2009-08-20 2009-08-20 測定方法及び測定装置 Expired - Fee Related JP5430290B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009191474A JP5430290B2 (ja) 2009-08-20 2009-08-20 測定方法及び測定装置
US12/859,789 US8462351B2 (en) 2009-08-20 2010-08-20 Measurement method and measurement apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009191474A JP5430290B2 (ja) 2009-08-20 2009-08-20 測定方法及び測定装置

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2011043394A JP2011043394A (ja) 2011-03-03
JP2011043394A5 true JP2011043394A5 (ja) 2012-10-04
JP5430290B2 JP5430290B2 (ja) 2014-02-26

Family

ID=43605128

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009191474A Expired - Fee Related JP5430290B2 (ja) 2009-08-20 2009-08-20 測定方法及び測定装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US8462351B2 (ja)
JP (1) JP5430290B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113049228B (zh) * 2021-03-22 2023-03-24 中国科学院上海光学精密机械研究所 一种物镜波像差检测装置及检测方法

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2629283A (en) * 1951-03-13 1953-02-24 Theodor W Zobel Interference schlieren apparatus of unusually large dimensions, having means for improving the interference quality by selective one point deformation of the reflecting elements of the device
JPH06222284A (ja) * 1993-01-22 1994-08-12 Mitsubishi Electric Corp 板状構造物の形状推定装置及び能動支持装置
JPH06250074A (ja) * 1993-02-26 1994-09-09 Nikon Corp 光学部材保持装置
JPH1123750A (ja) * 1997-07-09 1999-01-29 Mitsubishi Electric Corp 支持装置
JPH11325818A (ja) 1998-05-18 1999-11-26 Nikon Corp 絶対校正装置、及び、絶対校正方法
JP4549468B2 (ja) * 1999-12-28 2010-09-22 株式会社トプコン レンズメータ
JP2002214076A (ja) 2001-01-12 2002-07-31 Nikon Corp 干渉計測システム、透過波面測定方法、及び投影レンズ
JP4709642B2 (ja) * 2005-12-22 2011-06-22 オリンパス株式会社 波面収差測定装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6799535B2 (ja) 接続されるべきマルチコア光ファイバの干渉法整列
CN100561275C (zh) 镜头模组组装测试装置及组装测试方法
KR20170026522A (ko) 다축 포지셔닝 장치
WO2013044455A1 (zh) 高温结构变形放大测量引伸计
CN203744938U (zh) 一种高温压力管道外壁应变在线监测的光纤光栅传感器
EP1610087A1 (fr) Palpeur avec déclencheur
JP2011043394A5 (ja)
CN103439085A (zh) 一种接触式测量曲面棱镜参数的方法及装置
CN104931239A (zh) 一种用于小型离轴光学系统的mtf测试装置及方法
JP6215182B2 (ja) 疲労試験方法、疲労試験片及び疲労試験装置
CN103941415B (zh) 反射式同心光学系统的快速装调方法
CN106596057B (zh) 一种大口径反射镜组件的面形检验方法
US6829944B1 (en) Bolt tension gauging system
CN102944185A (zh) 一种探测多维应力作用下微小形变的装置
CN205482840U (zh) 一种基于Mach-Zehnder的双光束元件表面粗糙度测量装置
TW201416670A (zh) 測試裝置
JP2008309739A5 (ja)
US10718607B2 (en) Determining geometric characteristics of reflective surfaces
KR20160027327A (ko) 카메라모듈의 렌즈 위치 측정장치
CN105547183B (zh) 一种复位被测非球面空间位置的调整方法
TWI548869B (zh) 用於最佳化光學感測器中之信號雜訊比之方法及裝置、以及感測器調整機構
RU2366894C2 (ru) Лазерное устройство для измерения нестабильности пространственного положения объектов и определения отклонения их формы от прямолинейности
Lin et al. The alignment and isostatic mount bonding technique of the aerospace Cassegrain telescope primary mirror
JP2017062192A (ja) 寸法基準器の線膨張係数測定方法および測定装置
JP5430290B2 (ja) 測定方法及び測定装置