JP2011039053A - X線分光法用の微量熱量測定 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】改良型の微量熱量計型エネルギー分散型X線分光計は、低電子ビーム・エネルギーで試料の高空間分解能X線マッピングを実用的に実行するのに十分なエネルギー分解能およびスループットを提供する。エッチングによって試料から層を除去する能力を提供するデュアル・ビーム・システムとともに使用すると、本発明のシステムを、3次元X線マッピングに使用することができる。好ましいシステムは、試料を出たX線のうち検出器に衝突するX線の割合を増大させるため、広角の開口を有するX線光学部品を使用し、パルス・パイルアップを回避するため、複数の検出器を使用する。
【選択図】図4
Description
401 真空室
402 試料
403 試料XYZステージ
404 電子ビーム・カラム
405 イオン・ビーム・カラム
406 プラズマ発生器
408 コンピュータ
409 コンピュータ・メモリ
410 X線光学部品
412 コリメーティング・レンズ
414 集束レンズ
420 検出器アセンブリ
502 検出器アレイ
504 個別検出器
506 クライオスタット
507 X線吸収器
508 温度センサ
604 吸収器
608 温度測定デバイス
610 リード線
Claims (51)
- X線マッピング用のシステムであって、
イオン・ビーム集束カラムと、
電子ビームを直径100nm未満に集束させることができる電子集束カラムと、
試料から放出されたX線を受け取るX線光学部品であり、少なくとも10度までの角度で光学部品入口に衝突したX線を受け取り、透過させるX線光学部品と、
前記X線光学部品を出たX線を吸収する吸収器と、前記X線吸収器の温度の変化を電子信号に変換する温度感知デバイスとを、それぞれが含む複数のX線検出器と
を備えるシステム。 - 前記X線光学部品が、少なくとも15度までの角度で光学部品入口に衝突したX線を受け取り、透過させる、請求項1に記載のシステム。
- 前記複数のX線検出器が少なくとも9つのX線検出器を含む、請求項1または2に記載のシステム。
- 前記イオン・ビーム集束カラムが液体金属イオン源またはプラズマ・イオン源を含む、請求項1〜3のいずれかに記載のシステム。
- 前記電子集束カラムが高輝度電子源を含む、請求項1〜4のいずれかに記載のシステム。
- 前記温度感知デバイスが、中性子変換ドープされたゲルマニウム半導体を含む、請求項1〜5のいずれかに記載のシステム。
- 前記X線光学部品を出たX線が前記複数の検出器上に集束する、請求項1〜6のいずれかに記載のシステム。
- 前記X線光学部品を出たX線を前記複数の検出器にわたって広げるため、前記X線の焦点がずらされた、請求項1〜6のいずれかに記載のシステム。
- 前記検出器から信号を受け取り、それらの信号を増幅するJFET増幅器をさらに備える、請求項1〜8のいずれかに記載のシステム。
- 前記システムを制御する1つまたは複数のコンピュータをさらに備え、
前記試料の部分から物質層を除去するために前記イオン・ビーム集束カラムに指示を出し、前記試料の前記部分の少なくとも一部分にわたって前記電子ビームを走査し、前記試料の複数の層上の異なる位置に存在する物質を記録するプログラムを記憶したコンピュータ・メモリを前記コンピュータが含み、
前記X線検出器からの情報によって前記物質が決定される、請求項1〜9のいずれかに記載のシステム。 - 5keV電子によって照射されたバルクAuから放出されるAu M線に対する性能指数が100nC-1超であることを特徴とする、請求項1〜10のいずれかに記載のシステム。
- 5keV電子によって照射されたバルクAuから放出されるAu M線に対する性能指数が1000nC-1超であることを特徴とする、請求項1〜11のいずれかに記載のシステム。
- 5keV電子によって照射された自然酸化物を含むバルクMgのMg K線に対する性能指数が500nC-1超であることを特徴とする、請求項1〜12のいずれかに記載のシステム。
- 5keV電子によって照射された自然酸化物を含むバルクMgのMg K線に対する性能指数が1000nC-1超であることを特徴とする、請求項1〜13のいずれかに記載のシステム。
- 前記電子ビーム・カラムが、15nm離れた物質を分解するのに十分に小さなビーム・スポットを有し、前記複数のX線検出器が、15eVのエネルギー差を分解することができ、前記システムが、20分未満の期間、X線を集める間に、100画素×100画素からなる物質マップを決定することができる、請求項1〜14のいずれかに記載のシステム。
- ビーム電流およびX線収集効率が、それぞれの画素が20ミクロン未満の距離だけ離れた表面上のドウェル点を表す100画素×100画素のX線マップを、1時間以内に生成するのに十分である、請求項1〜15のいずれかに記載のシステム。
- 5keV電子によって照射されたバルクAuから放出されるAu M線に対して信号対雑音比を4未満にすることができる、請求項1〜16のいずれかに記載のシステム。
- 極低温試料ステージをさらに備える、請求項1〜17のいずれかに記載のシステム。
- 高分解能X線マッピング中のリアルタイム・ドリフト補償を可能にするため、前記電子カラムが、高速電子ビーム走査および2次電子撮像を提供する、請求項1〜18のいずれかに記載のシステム。
- 低エネルギー高分解能マッピング中の汚染物質の蓄積を最小化するため、RFプラズマ・クリーニング・システムをさらに備える、請求項1〜19のいずれかに記載のシステム。
- 前記RFプラズマ・クリーニング・システムが空気、H2O、O2およびH2を含む、請求項20に記載のシステム。
- 低エネルギーX線分析中および陽イオンによる試料ミリング中の帯電を最小化するため、電子フラッド・ガンをさらに備える、請求項1〜21のいずれかに記載のシステム。
- 汚染物質の蓄積および帯電を最小化するため、X線マッピング中に試料室内へガスを注入するガス注入システムをさらに備える、請求項1〜22のいずれかに記載のシステム。
- X線マッピング中の汚染物質の蓄積を最小化するため、試料を穏やかに加熱するステージ加熱器をさらに備える、請求項1〜23のいずれかに記載のシステム。
- 試料の高空間分解能、高エネルギー分解能X線マップを形成する方法であって、
a.5,000eV未満のエネルギーを有する電子ビームを真空室内の試料に向かって誘導するステップであり、前記電子ビームが、直径50nm未満のスポットを前記試料上に形成するステップと、
b.前記試料に電子が衝突することによって生み出されたX線を、X線光学部品を通して複数の極低温X線検出器に向かって伝導するステップと、
c.前記検出器に衝突したX線のエネルギーを決定して、前記電子ビームが前記試料に衝突した位置に存在する物質を決定するステップと、
d.前記電子ビームが衝突する点を表面にある異なる点に移動させ、少なくとも5,000個の点のアレイに対して、ステップbおよびcを、1時間未満の時間内に繰り返して、前記電子ビームが走査した領域に存在する物質のマップを生成するステップと
を含む方法。 - 前記電子ビームを誘導した点を含む物質層を除去し、第1の点アレイの下の第2の点アレイに対してステップa〜dを繰り返して、3次元X線マップを生成するステップをさらに含む、請求項25に記載の方法。
- 物質層を除去するステップが、前記試料に向かって集束イオン・ビームを誘導して、前記真空室から前記試料を取り出すことなく前記物質層を除去するステップを含む、請求項26に記載の方法。
- 前記試料に電子が衝突することによって生み出されたX線を、X線光学部品を通して複数の極低温X線検出器に向かって伝導するステップが、受入れ角が10度よりも大きなガラス毛管を使用してX線を伝導するステップを含む、請求項25〜27のいずれかに記載の方法。
- 前記試料に電子が衝突することによって生み出されたX線を、X線光学部品を通して複数の極低温X線検出器に向かって伝導するステップが、受入れ角が15度よりも大きなガラス毛管束を使用してX線を伝導するステップを含む、請求項25〜28のいずれかに記載の方法。
- 前記検出器に衝突したX線のエネルギーを決定するステップが、中性子変換ドーピングされたゲルマニウム結晶を使用して、X線吸収器の温度の上昇を測定するステップを含む、請求項25〜29のいずれかに記載の方法。
- 前記電子ビームの存在下で前記真空室内へガスを注入し、汚染物質を除去するために電子ビーム支援エッチングを実行するステップをさらに含む、請求項25〜30のいずれかに記載の方法。
- 高分解能X線マッピング中のドリフト補償を補正するステップをさらに含む、請求項25〜31のいずれかに記載の方法。
- 汚染を防ぐために前記試料を加熱するステップをさらに含む、請求項25〜32のいずれかに記載の方法。
- 前記試料を冷却するステップをさらに含む、請求項25〜33のいずれかに記載の方法。
- 前記試料上の電荷を中和するために低エネルギー荷電粒子を前記試料に向かって誘導するステップをさらに含む、請求項25〜34のいずれかに記載の方法。
- 前記電子ビームが衝突する点を表面にある異なる点に移動させ、ステップbおよびcを繰り返すステップが、前記電子ビームが衝突する点を、0.5時間未満の時間内に、少なくとも10,000個の点のアレイに移動させて、前記電子ビームが走査した領域に存在する物質のマップを生成するステップを含む、請求項25〜35のいずれかに記載の方法。
- 試料上の異なる位置に存在する物質を示すため、前記試料のX線マッピング用のシステムであって、
電子ビームを直径100nm未満に集束させることができる電子集束カラムと、
前記試料から放出されたX線を受け取るX線光学部品であり、前記X線光学部品の入口が、少なくとも10度の立体角にわたってX線を受け取るX線光学部品と、
前記X線光学部品を出たX線を吸収する吸収器と、前記X線吸収器の温度の変化を電子信号に変換する温度感知デバイスとをそれぞれが含む複数のX線検出器と
を備えるシステム。 - 前記X線光学部品が、少なくとも15度までの角度で前記光学部品の入口に衝突したX線を受け取り、透過させる、請求項37に記載のシステム。
- 前記複数のX線検出器が少なくとも9つのX線検出器を含む、請求項38に記載のシステム。
- イオン・ビーム集束カラムが液体金属イオン源またはプラズマ・イオン源を含む、請求項37〜39のいずれかに記載のシステム。
- 前記電子集束カラムが高輝度電子源を含む、請求項37〜40のいずれかに記載のシステム。
- 前記温度感知デバイスが、中性子変換ドーピングされたゲルマニウム半導体を含む、請求項37〜41のいずれかに記載のシステム。
- 前記X線光学部品を出たX線が前記複数の検出器上に集束する、請求項37〜42のいずれかに記載のシステム。
- 前記X線光学部品を出たX線を前記複数の検出器にわたって広げるため、前記X線の焦点がずらされる、請求項37〜43のいずれかに記載のシステム。
- 前記検出器から信号を受け取り、それらの信号を増幅するJFET増幅器をさらに備える、請求項37〜44のいずれかに記載のシステム。
- 前記システムを制御する1つまたは複数のコンピュータをさらに備え、
前記試料の部分から物質層を除去するために前記イオン・ビーム集束カラムを誘導し、前記試料の前記部分の少なくとも一部分にわたって前記電子ビームを走査し、前記試料の複数の層上の異なる位置に存在する物質を記録するプログラムを記憶したコンピュータ・メモリを前記コンピュータが含み、
前記X線検出器からの情報によって前記物質が決定される、請求項37〜45のいずれかに記載のシステム。 - 5keV電子によって照射されたバルクAuから放出されるAu M線に対する性能指数が1000nC-1超であることを特徴とする、請求項37〜46のいずれかに記載のシステム。
- 500nC-1超である5keV電子によって照射された自然酸化物を含むバルクMgのMg K線に対する性能指数が500nC-1超であることを特徴とする、請求項37〜47のいずれかに記載のシステム。
- 1000nC-1超である5keV電子によって照射された自然酸化物を含むバルクMgのMg K線に対する性能指数が500nC-1超であることを特徴とする、請求項37〜48のいずれかに記載のシステム。
- 前記電子ビーム・カラムが、15nm離れた物質を分解するのに十分に小さなビーム・スポットを有し、前記複数のX線検出器が、15eVのエネルギー差を分解することができ、前記システムが、20分未満の期間、X線を集める間に、100×100画素からなる物質マップを決定することができる、請求項37〜49のいずれかに記載のシステム。
- ビーム電流およびX線収集効率が、それぞれの画素が20ミクロン未満の距離だけ離れた、表面上のドウェル点を表す100画素×100画素のX線マップを、1時間以内に生成するのに十分である、請求項37〜50のいずれかに記載のシステム。
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