JP2011039010A - 変形計測システムおよび変形計測方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明にかかる変形計測システムの代表的な構成は、盛立構造物102に埋設される移動用三軸センサ110と、盛立構造物の表面近傍に配置される基準用三軸センサ112と、較正用三軸センサ114と、三軸センサから出力された信号を受信する信号受信部116と、導電率を入力する入力部118と、第1の磁場解析を行い磁場強度H1を導出する較正用磁場導出部122と、換算比率を導出する換算比率導出部124と、三軸センサが検出した誘起電圧E2と前記換算比率とから磁場強度H2を求める磁場強度換算部126と、第2の磁場解析を行い前記誘起電圧E2を誘起させる磁場を励磁させた三軸センサの位置を同定する位置同定部128とを備えることを特徴とする。
【選択図】図3
Description
r1={(E0/E1)1/3}・r0 (式1)
ここで、r0:既知の距離
E0:2点間の距離がr0の場合に三軸センサに誘起される電圧
r1:2点間の距離(算出対象)
E1:算出対象時において三軸センサに誘起される電圧
図1は、三軸センサ108a、108bについて説明する図である。特に、図1(a)は発信機である三軸センサ108aについて説明する図、図1(b)は受信機である三軸センサ108bについて説明する図である。以下、三軸センサ108a、108bについて説明するが、その詳細については特許文献1(特開2003−4409号公報)に開示されているため以下簡略化して説明する。
Ex=(Exu+Exv+Exw)1/2 (式2)
Ey=(Eyu+Eyv+Eyw)1/2 (式3)
Ez=(Ezu+Ezv+Ezw)1/2 (式4)
図2は、本実施形態にかかる変形計測システム100の構成を示すブロック図である。図2に示すように、変形計測システム100は、移動用三軸センサ110、基準用三軸センサ112、較正用三軸センサ114、信号受信部116、入力部118、記憶部120、較正用磁場導出部122、換算比率導出部124、磁場強度換算部126、位置同定部128、変形計測部130、報知部132を包含する。移動用三軸センサ110、基準用三軸センサ112、較正用三軸センサ114は、いずれも装置としては図1を用いて説明した三軸センサ108a(発信機)または三軸センサ108b(受信機)であるが、目的が異なるために、説明の便宜上名称を変えて示している。本実施形態では、移動用三軸センサ110を発信機、基準用三軸センサ112および較正用三軸センサ114を受信機とする。以下、各部の構成をその動作と併せて説明する。
σ=i/(2×π×a×v) (式5)
H2=K・E2=(H1/E1)・E2 (式6)
なお、これを、x成分、y成分、z成分別にすると、以下の式(式7〜式9)に表される。
Hx2=Kx・Ex2=(Hx1/Ex1)・Ex2 (式7)
Hy2=Ky・Ey2=(Hy1/Ey1)・Ey2 (式8)
Hz2=Kz・Ez2=(Hz1/Ez1)・Ez2 (式9)
以下、位置同定部128による移動用三軸センサ110の現在位置の同定手法について説明する。ここで、上述したように、磁場強度換算部126が導出した磁場強度H2(Hx2、Hy2、Hz2)および基準用三軸センサ112の基準位置は既知である。
(Hx2−Hx’)2+(Hy2−Hy’)2+(Hz2−Hz’)2=min (式10)
ここで、あらかじめ複数の仮想発信点について磁場強度H’を算出して残差が最小となる仮想発信点を選択してもよいが、残差が少なくなる方向に仮想発信点をずらしながら残差が十分に小さくなるまで計算を繰り返すことが好ましい。
次に、磁場解析方法の詳細について説明する。
磁場解析における電磁気の現象を記述する構成則として、Maxwellの方程式を採用した。この方程式は、次の4式から構成される。
送信アンテナから発せられる交流の周波数は約10kHzであるとすると、電磁波の進行速度は概ね光速(約30万km/s)であることから、伝搬する電磁波の1波長は約30kmとなる。これに対して、計測対象範囲は送受信間距離が高々数十mであることから、電磁波の一波長に比べると非常に短い区間が対象となる。このため、送信アンテナから発せられる磁場の振幅と受信側のアンテナで計測される磁場の振幅の低下(振動としての振幅の減少)を捉えることが容易である。このような視点から見た電磁波は、波動として捉える動的問題から、ポテンシャルが低下する静的問題に置き換えることが可能である。
磁場が時間的に変化すると電磁誘導により電界が生じる。電界の中に導体が置かれていると、その中には渦電流が発生する、と同時に渦電流により磁場が発生する。本解析では、この渦電流の影響を考慮した。
B=▽×A (式17)
数値解析において移動用三軸センサ110の現在位置を同定する際のメッシュの大きさとコイル寸法の関係を把握するため、コイル近傍のコイル理論値と解析結果を比較した。
誤差={解析値−理論値}/理論値 (式22)
メッシュの細分化領域(1〜2m間隔でメッシュを細かく分割する領域)の大きさと解析精度との関係を把握するため、細分化領域の大きさを変化させて解析結果と理論値とを比較した。
Claims (7)
- 軸方向が異なる3つのコイルを備え、前記コイルを励磁することによって磁場を生じ、または前記コイルが磁場を受けて発生した誘起電圧を検出して信号として出力する三軸センサを用いて、2以上の前記三軸センサの相対位置を計測することによって盛立構造物の変形を計測する変形計測システムであって、
盛立構造物に埋設される移動用三軸センサと、
前記盛立構造物の表面近傍に配置される基準用三軸センサと、
前記移動用三軸センサから所定の基準距離に配置される較正用三軸センサと、
前記移動用三軸センサまたは前記基準用三軸センサ、もしくは前記較正用三軸センサから出力された信号を受信する信号受信部と、
前記盛立構造物の導電率を入力する入力部と、
前記移動用三軸センサから出力された磁場について前記基準距離および前記導電率を用いて第1の磁場解析を行い、前記較正用三軸センサの位置における磁場強度H1を導出する較正用磁場導出部と、
前記較正用三軸センサの位置における磁場強度H1と該較正用三軸センサが検出した誘起電圧E1とから、前記盛立構造物において磁場強度と誘起電圧とを換算する換算比率を導出する換算比率導出部と、
前記移動用三軸センサまたは基準用三軸センサの一方が検出した誘起電圧E2と前記換算比率とから、前記誘起電圧E2を検出した三軸センサの位置における磁場強度H2を求める磁場強度換算部と、
前記導電率を反映した第2の磁場解析を行い、前記移動用三軸センサまたは基準用三軸センサのうち、前記誘起電圧E2を検出した一方の三軸センサの位置における磁場強度が前記磁場強度換算部が求めた磁場強度H2となるように、他方の三軸センサの現在位置を同定する位置同定部と、
を備えることを特徴とする変形計測システム。 - 前記導電率は、前記盛立構造物を測定した実測値であることを特徴とする請求項1に記載の変形計測システム。
- 前記移動用三軸センサは発信機、前記基準用三軸センサは受信機であって、
前記位置同定部は、
前記移動用三軸センサが埋設された初期位置の周囲に複数の仮想発信点を設定し、
それぞれの前記仮想発信点に前記移動用三軸センサがあると仮定した場合に、該移動用三軸センサから出力された磁場について前記第2の磁場解析を行うことにより前記磁場強度換算部が求めた磁場強度H2となる複数の仮想受信点を求め、
前記複数の仮想受信点と前記基準用三軸センサの位置関係と、前記複数の仮想発信点の設定位置とから、比例配分により前記移動用三軸センサの現在位置を同定することを特徴とする請求項1に記載の変形計測システム。 - 前記移動用三軸センサは発信機、前記基準用三軸センサは受信機であって、
前記位置同定部は、
前記移動用三軸センサが埋設された初期位置の周囲に複数の仮想発信点を設定し、
それぞれの前記仮想発信点に前記移動用三軸センサがあると仮定した場合に、該移動用三軸センサから出力された磁場について前記第2の磁場解析を行うことにより前記基準用三軸センサの位置における複数の磁場強度を求め、
前記複数の磁場強度および前記磁場強度換算部が求めた磁場強度H2との大小関係と、前記複数の仮想発信点の設定位置とから、比例配分により前記移動用三軸センサの現在位置を同定することを特徴とする請求項1に記載の変形計測システム。 - 前記位置同定部は、空間をメッシュ状に分割する3次元解析によって第2の磁場解析を行い、
前記メッシュの1辺の長さは、前記移動用三軸センサが備えるコイルの直径の1/4以上1/2以下に設定するとともに、前記初期位置から少なくとも20mの範囲内の空間は他の範囲よりも細かく分割することを特徴とする請求項3または請求項4に記載の変形計測システム。 - 前記盛立構造物は、土砂や岩石を盛り立てて構成されるフィルダムの堤体であることを特徴とする請求項1から5のいずれか1項に記載の変形計測システム。
- 軸方向が異なる3つのコイルを備え、前記コイルを励磁することによって磁場を生じ、または前記コイルが磁場を受けて発生した誘起電圧を検出して信号として出力する三軸センサを用いて、2以上の前記三軸センサの相対位置を計測することによって盛立構造物の変形を計測する変形計測方法であって、
盛立構造物の初期位置に移動用三軸センサを埋設し、
前記盛立構造物の導電率を測定し、
前記移動用三軸センサから所定の基準距離の位置に較正用三軸センサを配置し、
前記較正用三軸センサを用いて誘起電圧E1を測定し、
前記移動用三軸センサから出力される磁場について前記基準距離および前記導電率を用いて第1の磁場解析を行い、前記較正用三軸センサの位置における磁場強度H1を導出し、
前記較正用三軸センサの位置における磁場強度H1と該較正用三軸センサが検出した誘起電圧E1とから、前記盛立構造物において磁場強度と誘起電圧とを換算する換算比率を導出し、
前記盛立構造物の表面近傍に基準用三軸センサを配置し、
前記移動用三軸センサまたは基準用三軸センサの一方によって誘起電圧E2を測定し、
前記誘起電圧E2と前記換算比率とから、前記誘起電圧E2を検出した三軸センサの位置における磁場強度H2を導出し、
前記導電率を反映した第2の磁場解析を行い、前記移動用三軸センサまたは基準用三軸センサのうち、前記誘起電圧E2を検出した一方の三軸センサの位置における磁場強度が前記磁場強度換算部が求めた磁場強度H2となるように、他方の三軸センサの位置を同定することを特徴とする変形計測方法。
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