JP2011007872A - 観察装置、及び倍率補正方法 - Google Patents

観察装置、及び倍率補正方法 Download PDF

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Abstract

【課題】非テレセントリック光学系を介して標本を撮像することで生成される画像の倍率を、高速に、且つ、安定した精度で補正する技術を提供することを課題とする。
【解決手段】観察装置100は、標本101の画像を取得するCCDカメラ104と、標本101から射出された光をCCDカメラ104に入射させる非テレセントリック光学系である拡大光学系103と、拡大光学系103に対する標本101の位置が異なる状態でCCDカメラ104により取得された複数のzスタック画像の倍率を統一する画像処理部107と、を含んで構成される。さらに、画像処理部107は、拡大光学系103の設計情報と標本101の位置情報とを用いて、zスタック画像の倍率を基準画像の倍率に統一する。
【選択図】図1

Description

本発明は、非テレセントリック光学系を含む観察装置で生成される画像を補正する技術に関し、特に、画像の倍率を補正する技術に関する。
顕微鏡のような高分解能で焦点深度の浅い光学系を有する観察装置では、標本の全体像を1つの画像にて把握することが困難であるため、観察範囲全体に焦点があった2次元の画像(以降、全焦点画像と記す。)を生成する機能が望まれており、近年では、画像処理を利用して標本を撮像した画像を加工することにより、全焦点画像を生成する方法が提案されている。
そのような方法の1つとして、ShapeFromFocus法(以降、SFF法と記す。)と呼ばれる方法が知られている。SFF法では、まず、光学系に対して標本を光学系の光軸方向(以降、z方向と記す。)に移動させながら、複数の位置で画像(以降、zスタック画像と記す。)を取得する。そして、複数のzスタック画像の各画素をz方向に比較して、最も合焦指標が大きいものを合成することにより、全焦点画像を生成する方法である。
しかしながら、SFF法は、各zスタック画像の倍率が等しく、それによって、各zスタック画像が等しい観察範囲を表示していることを前提に構築された方法である。この前提は、テレセントリック光学系を介して標本を撮像する観察装置の場合に成り立つ。図6で例示されるように、テレセントリック光学系200では、テレセントリック光学系200の後側焦点位置FBと射出瞳Pが一致しているため、テレセントリック光学系200の物体側で主光線は光軸に対して平行になる。従って、標本が前側焦点位置FFにあるときの像高Y0と、光軸方向にデフォーカスして標本が前側焦点位置FFからずれた位置にあるときの像高Yzは一致する。このため、像高と物体高の比で表される倍率も一定となる。
一方、非テレセントリック光学系を介して標本を撮像する観察装置の場合には、デフォーカスによりzスタック画像の倍率が変化してしまう。このため、非テレセントリック光学系を含む観察装置では、zスタック画像の倍率を統一するため、各zスタック画像の倍率を補正する前処理が必要となる。そのような前処理として利用できる技術が特許文献1に提案されている。
特許文献1で開示される技術によれば、zスタック画像を比較することにより算出された変換係数を用いて、zスタック画像の倍率を補正することができる。
特開2005−149500号公報
ところで、特許文献1で開示される技術では、情報量の多い画像の比較を必要とすること、及び、画像の比較は2枚ずつすべてのzスタック画像に対して行う必要があることから、変換係数を算出する処理に多くの時間がかかる。
また、特許文献1で開示される技術は、画像自体が比較対象であるため、補正の精度が画像に依存してしまう。このため、画像の良し悪しが算出される変換係数に影響する。例えば、各zスタック画像が不鮮明な場合には、算出された変換係数の精度が劣化してしまう。従って、特許文献1で開示される技術は、安定した性能を発揮することが難しい。
以上のような実情を踏まえ、本発明は、非テレセントリック光学系を介して標本を撮像することで生成される画像の倍率を、高速に、且つ、安定した精度で補正する技術を提供することを課題とする。
本発明の第1の態様は、標本を撮像し、標本の画像を取得する撮像手段と、標本から射出された光を撮像手段に入射させる非テレセントリック光学系と、非テレセントリック光学系に対する標本の位置が異なる状態で撮像手段により取得された複数の第1画像の倍率を統一する倍率補正手段と、を含み、倍率補正手段は、非テレセントリック光学系の設計情報と標本の位置情報とを用いて、第1画像の倍率を第1画像の1つである基準画像の倍率に統一する観察装置を提供する。
本発明の第2の態様は、第1の態様に記載の観察装置において、倍率補正手段は、第1画像毎に、設計情報と、第1画像を取得するときの位置情報とを用いて、基準画像の倍率に対する第1画像の倍率の比を算出する倍率比算出手段と、第1画像毎に、比の逆数である変換係数を用いて、第1画像を拡大または縮小する拡大縮小手段と、を含む観察装置を提供する。
本発明の第3の態様は、第2の態様に記載の観察装置において、設計情報は、非テレセントリック光学系の焦点距離と、非テレセントリック光学系の入射瞳位置までの距離である観察装置を提供する。
本発明の第4の態様は、第3の態様に記載の観察装置において、βを第1画像の比とし、Zを基準画像を取得するときの標本内の基準点から非テレセントリック光学系の入射瞳までの距離とし、Zを入射瞳位置から遠ざかる方向を正とし基準画像を取得するときの基準点から第1画像を取得するときの基準点までの距離とするとき、以下の条件式
β=Z/(Z+Z)
を満たす観察装置を提供する。
本発明の第5の態様は、第4の態様に記載の観察装置において、基準画像は、基準点と非テレセントリック光学系の前側焦点位置が一致するときに取得された第1画像である観察装置を提供する。
本発明の第6の態様は、第5の態様に記載の観察装置において、さらに、拡大縮小手段により倍率が統一された第2画像の画素構成を統一する画素構成統一手段を含む観察装置を提供する。
本発明の第7の態様は、第6の態様に記載の観察装置において、さらに、倍率補正手段及び画素構成統一手段により倍率及び画素構成が統一された第3画像を合成し、全体に焦点があった2次元の画像である全焦点画像を生成する画像合成手段を含む観察装置を提供する。
本発明の第8の態様は、第7の態様に記載の観察装置において、さらに、第1画像中の全焦点画像で表示される範囲を算出する全焦点範囲算出手段と、第1画像を範囲とともに表示する表示手段と、を含む観察装置を提供する。
本発明の第9の態様は、非テレセントリック光学系と標本の距離を変化させながら標本を撮像し、複数の倍率の異なる第1画像を生成する第1のステップと、非テレセントリック光学系の設計情報と、画像を撮像するときの標本の位置情報とを用いて、第1画像の倍率を統一し、第2画像を生成する第2のステップと、を含む倍率補正方法を提供する。
本発明の第10の態様は、第9の態様に記載の倍率補正方法において、さらに、第2画像の画素構成を、第2画像のうち最も小さな画素数の画像の画素構成に統一し、第3画像を生成する第3のステップと、を含む倍率補正方法を提供する。
本発明によれば、非テレセントリック光学系を介して標本を撮像することで生成される画像の倍率を、高速に、且つ、安定した精度で補正する技術を提供することができる。
実施例1に係る観察装置の構成を説明するための図である。 実施例1に係る観察装置の全焦点画像生成処理の制御の一例を示すフローチャートである。 実施例1に係る観察装置の倍率補正前のzスタック画像と標本の表示範囲の関係を例示した図である。 実施例1に係る観察装置の倍率補正後のzスタック画像と標本の表示範囲の関係を例示した図である。 入射瞳が実像となる非テレセントリック光学系について説明するための図である。 入射瞳が虚像となる非テレセントリック光学系について説明するための図である。 実施例2に係る観察装置のナビゲーション機能について説明するための図である。 テレセントリック光学系について説明するための図である。
以下、図面を参照しながら、本発明の各実施例について説明する。
まず、本実施例に係る観察装置の構成について説明する。
図1は、本実施例に係る観察装置の構成を説明するための図である。図1に例示されるように、観察装置100は、標本101を載せる標本台102と、非テレセントリック光学系である拡大光学系103と、標本101を撮像し、標本101の画像を生成する撮像手段であるCCD(charge-coupled device)カメラ104と、標本101の画像等の各種データを保存するメモリユニット105と、標本101の画像を表示する表示部106と、CCDカメラ104で生成された標本101の画像を加工する画像処理部107と、観察装置100の各要素の動作を制御する制御部108と、観察装置への指示を入力するためにユーザに使用される入力部109と、を含んで構成されている。
また、標本101と、拡大光学系103と、CCDカメラ104は、拡大光学系103の光軸上に配置されている。従って、非テレセントリック光学系である拡大光学系103は、標本101から射出された観察光を、撮像手段であるCCDカメラ104へ入射させるように作用する。
メモリユニット105としては、例えば、半導体メモリー素子やハードディスク装置が用いられる。また、表示部106としては、例えば、液晶ディスプレイ装置やCRT(Cathode Ray Tube)ディスプレイ装置が用いられる。また、入力部109としては、マウス装置やキーボード装置が用いられる。また、表示部106がタッチパネル機能を有する場合には、表示部106が入力部109として機能してもよい。
以降、観察装置100の作用について説明する。
図2は、本実施例に係る観察装置の全焦点画像生成処理の制御の一例を示すフローチャートである。まず、図2を参照しながら、観察装置100による全焦点画像生成処理について説明する。
図2に例示される全焦点画像生成処理は、観察装置100の設定が標本の観察を行う通常の設定(以降、観察モードと記す。)から全焦点画像を生成する設定(以降、画像生成モード)に変更されることで開始される。
まず、ステップS1では、表示部106に画像取得範囲選択画面が表示される。ここでは ユーザは、表示部106に表示されている標本101の画像を見ながら、入力部109でzスタック画像(第1画像)を取得する標本101内のz方向の範囲(以降、z範囲と記す。)を入力する。
次に、ステップS2では、制御部108は、入力されたz範囲内で基準となる標本内の点(以降、基準点と記す。)を決定し、メモリユニット105に保存させる。基準点は、例えば、指定されたz範囲の中心である。なお、基準点は、z範囲内からユーザにより決定されても良い。
ステップS3では、制御部108が標本台102及びCCDカメラ104を制御して、z範囲内でzスタック画像を取得する。
具体的には、制御部108は、まず、拡大光学系103の前側焦点位置がz範囲の一端と一致する位置まで、標本台102を移動させる。そして、CCDカメラ104に標本101の撮像を指示する。指示を受けたCCDカメラ104は、拡大光学系103を介して入射する観察光を電気信号に変換することにより、標本101のzスタック画像を生成する。生成されたzスタック画像は、標本101の位置情報とともにメモリユニット105に保存される。以降、制御部108は、標本台102をz方向への所定距離だけ移動させる制御と、CCDカメラ104に対する撮像指示とを、拡大光学系103の前側焦点位置がz範囲の他端を通り越すまで繰り返す。これにより、拡大光学系103に対する標本101の位置(以降、z位置と記す。)が異なる状態で標本101を撮像した複数のzスタック画像(第1画像)と、画像取得時の標本の位置情報を取得することができる。なお、各zスタック画像は、非テレセントリック光学系である拡大光学系103を介しているため、それぞれ倍率が異なる。
ここで、標本台102を移動させる所定距離は、拡大光学系103の焦点深度以下であることが望ましい。これにより、z範囲内に表面を有する標本の領域は、zスタック画像の少なくとも1つで焦点があった状態で撮像される。また、標本台102を移動させる所定距離は、拡大光学系103の焦点深度に近い距離であることが望ましい。これにより、z範囲内で取得されるzスタック画像を少なくすることができる。
以上のステップS1からステップS3までは、制御部108が観察装置100の各構成要素を制御することにより実施される処理である。これに対して、以降のステップS4からステップS8は、制御部108からの依頼を受けた画像処理部107により実施される処理である。
なお、画像処理部107は、例えば、標準的なハードウェア構成からなるコンピュータである。具体的には、画像処理部107は、ステップS4からステップS8の処理を実行させるプログラム等が記憶された補助記憶装置、そのプログラムを実行するMPU(Micro Processing Unit)、プログラム実行中にワークメモリとして使用される主記憶装置などを含んでいる。
ステップS4及びステップS5では、zスタック画像(第1画像)の倍率を統一する処理(以降、倍率統一処理と記す。)が行われる。つまり、画像処理部107は、zスタック画像(第1画像)の倍率を統一する倍率補正手段として機能する。画像処理部107は、制御部108からの依頼を受けると、最初に、メモリユニット105からすべてのzスタック画像と標本の位置情報とを読み込み、画像処理部107の主記憶装置に保存する。そして、主記憶装置に保存されたzスタック画像を一枚ずつ処理する。
ステップS4では、基準点と拡大光学系103の前側焦点位置が一致した状態で取得されたzスタック画像を基準画像とし、その基準画像の倍率に対するzスタック画像の倍率の比(以降、倍率比β(Z)と記す。)を算出する。なお、倍率比β(Z)の算出方法については後述する。
ステップS5では、zスタック画像の倍率を基準画像の倍率に一致させる。ステップS4で得られた倍率比β(Z)の逆数として算出される変換係数を用いて、zスタック画像の倍率を補正する。具体的には、光軸が通る位置(つまり、画像の中心)を基点として、zスタック画像を変換係数1/β(Z)倍に拡大または縮小する。つまり、倍率補正手段として機能する画像処理部107は、変換係数を用いて、zスタック画像(第1画像)を拡大または縮小して、倍率が統一されたzスタック画像(第2画像)を生成する拡大縮小手段として機能する。なお、zスタック画像(第1画像)の拡大及び縮小には、一般的な画像補間法が用いられる。例えば、二アレストネイバー法(nearest neighbor)、バイリニア法(bi-linear interpolation)、バイキュービック法(bi-cubic convolution)などを用いることができる。
ステップS6では、ステップS4及びステップS5の処理が、すべてのzスタック画像に対して行われたかどうかが判定される。すべてのzスタック画像に対して処理が行われていない場合には、制御はステップS4に戻り、他のzスタック画像に対してステップS4及びステップS5の処理が実施される。
このようにして、zスタック画像の数だけステップS4からステップS6の処理が繰り返されることにより、すべてのzスタック画像の倍率が基準画像の倍率に統一される。
次に、ステップS7では、zスタック画像の画素構成を統一する処理(以降、画素構成統一処理と記す。)が行われる。つまり、画像処理部107は、zスタック画像(第2画像)の画素構成を統一する画素構成統一手段としても機能する。画素構成統一処理について、図3A及び図3Bを参照しながら、説明する。なお、ここで、画素構成とは、画像に含まれる画素の構成であり、縦方向の画素数と横方向の画素数によって定まる。
図3Aは、倍率補正前のzスタック画像(第1画像)と標本の表示範囲の関係を例示した図である。zスタック画像110aからzスタック画像110eは、z位置がそれぞれ異なる倍率補正前のzスタック画像110である。また、zスタック画像110cは基準画像であり、zスタック画像110aは最大倍率の画像であり、zスタック画像110eは最小倍率の画像である。
図3Bは、倍率補正後のzスタック画像(第2画像)と標本の表示範囲の関係を例示した図である。zスタック画像120aからzスタック画像120eは、z位置がそれぞれ異なる倍率補正後のzスタック画像120である。また、zスタック画像120a、120b、120c、120d、120eは、それぞれzスタック画像110a、110b、110c、110d、110eの倍率補正後の画像である。
図3A及び図3Bに例示されるように、スタック画像110の画素構成は統一されているのに対して、zスタック画像120の画素構成はzスタック画像120毎に異なっている。
SFF法では、zスタック画像の各画素がz方向に比較されるため、SFF法に使用されるzスタック画像は、倍率が等しく(つまり、1画素が表示する標本の範囲が等しく)、且つ、画素構成も同一(つまり、全画素が表示する標本の範囲が同一)でなければならない。
このため、ステップS7では、zスタック画像120の画素構成を統一する。具体的には、最大の倍率比を用いて補正された、最小の画素数を有するzスタック画像120aの画素構成に統一する。このため、各zスタック画像120から光軸が通る位置を中心として、zスタック画像120aと同じ画素構成を切り出す。なお、切り出し対象となる画素の縦方向の画素数と横方向の画素数は、それぞれ式(1−1)及び式(1−2)で表現できる。
PSxcon=PSx(Z)×β(Z)/βmax ・・・(1−1)
PSycon=PSy(Z)×β(Z)/βmax ・・・(1−2)
ただし、PSxcon、PSyconは、それぞれ切り出し後の横方向、縦方向の画素数であり、全zスタック画像120で一定となる。PSx(Z)、PSy(Z)は、それぞれzスタック画像120の切り出し前の横方向、縦方向の画素数である。β(Z)は、zスタック画像120の倍率補正に用いられた倍率比である。βmaxは、zスタック画像120の倍率補正に用いられた最大倍率比(ここでは、zスタック画像120aの倍率補正に用いられた倍率比)である。
ステップS8では、画像処理部107は、倍率と画素構成が統一されたzスタック画像(第3画像)を用いてSFF法を実施し、全焦点画像を生成する。つまり、画像処理部107は、zスタック画像を合成し、全体に焦点があった2次元の画像である全焦点画像を生成する画像生成手段としても機能する。画像処理部107は、全焦点画像の生成が完了すると、その旨を制御部108に通知し、メモリユニット105に全焦点画像を出力する。通知を受けた画像処理部108は、メモリユニット105から全焦点画像を読み出して、表示部106に表示させる。
次に、ステップS4での画像処理部107による倍率比の算出方法について詳細に説明する。
図4A及び図4Bは、それぞれ、入射瞳P’が実像となる非テレセントリック光学系210と、入射瞳P’が虚像となる非テレセントリック光学系220を例示している。いずれの光学系も後側焦点位置FBと射出瞳Pが一致していないため、光学系の標本側で主光線は光学系の光軸に対して平行ではない。
図4Aを参照しながら、基準画像の倍率に対する、基準点が前側焦点位置FFから光軸方向に距離Zだけ移動したときの画像(第1画像)の倍率である倍率比β(Z)を算出する方法について説明する。
基準点が前側焦点位置FFと一致しているときの画像(第1画像)、つまり、基準画像での標本の像高を像高Y0とする。また、基準点が前側焦点位置FFから光軸方向に距離Zだけ移動したときの画像(第1画像)での標本の像高を像高Yzとする。このとき、主光線は入射瞳P’及び射出瞳Pの中心を通ることと、標本の像は前側焦点位置FFに投影されることを考慮すると、倍率比β(Z)は、以下の式で表される。
β(Z)=Yz/Y0=Z/(Z+Z) ・・・(2)
ただし、Zは、前側焦点位置FFから入射瞳P’までの距離である。また、Zは、像高Yzのときの前側焦点位置FFから標本の基準点までの距離である。なお、Zは、入射瞳P’から離れる方向をプラス方向とし、入射瞳P’に近づく方向をマイナス方向とする。
基準画像では、前側焦点位置FFと基準点は一致しているため、式(2)のZは、基準画像を取得したときの基準点と入射瞳P’の距離(以降、基準距離と記す。)を示している。また、式(2)の(Z+Z)は、倍率比を算出する画像を取得したときの基準点と入射瞳P’との距離を示している。つまり、基準画像に対する各画像の倍率比は、基準距離に対する各画像の基準点と入射瞳P’との距離の比の逆数によって得られることを、式(2)は示している。
また、図4Bに例示されるように、式(2)は、入射瞳P’が虚像となる非テレセントリック光学系220でも同様に成り立つ。このため、式(2)を用いることで、画像生成装置100で取得される各zスタック画像(第1画像)の倍率比を算出することができる。
画像処理部107が式(2)を用いて倍率比を算出する場合、倍率補正手段として機能する画像処理部107は、拡大光学系103の設計情報とzスタック画像(第1画像)取得時の標本101の位置情報のみから、基準画像に対する各zスタック画像(第1画像)の倍率比β(Z)を算出する倍率比算出手段として機能する。具体的には、拡大光学系103の設計情報としては、拡大光学系103の入射瞳位置までの距離と焦点距離が使用される。これらの設計情報から非テレセントリック性の強さに関連する距離Zを算出することができる。設計情報は、拡大光学系103自体により決まる既知のデータであるので、予め画像処理部107の補助記憶装置に保存しておくと良い。また、標本101の位置情報としては、前側焦点位置から標本の基準点までの距離が使用される。このため、撮像時には、上記の距離をzスタック画像とともに位置情報として保存することが望ましい。
このように、画像処理部107は、zスタック画像を比較することなく、式(2)で示される簡単なスカラ演算により各zスタック画像の倍率比β(Z)を算出することができる。このため、zスタック画像の倍率の補正に要する処理時間を短縮することができ、高速に倍率を補正することができる。また、算出される倍率比の値は、zスタック画像の内容に依存しないため、常に安定した結果を得ることができる。このため、補正の精度も安定する。
なお、以上では、基準点は標本のz範囲の中心としたが、特にこれに限られない。基準点は、任意の位置に変更してもよい。ただし、画像を大きな倍率比で補正するほど、画像の補間精度が劣化することを考慮して、基準点を決定することが望ましい。
また、全焦点画像で標本の3次元形状を確認することができるため、基準点が標本の中心から大きくずれていた場合には、改めて基準点を設定し、再度全焦点画像を生成しても良い。この場合、基準点は、z範囲の中心ではなく標本の中心に設定するとよい。標本の中心は、標本の最下面から、標本の最大高さの半分の位置としても良く、または、標本の最下面から、標本の平均高さの半分、つまり、標本を表示する画素の平均高さの半分の位置として算出しても良い。このようにして、基準点を調整することで、画像処理によりzスタック画像の拡大・縮小を最小限に抑えることができる。なお、基準点は、倍率比の算出精度自体には影響しない。このため、倍率比の算出精度は基準点によらず安定している。
以上、本実施形態の観察装置100によれば、zスタック画像を比較することなく、拡大光学系103の設計情報と標本101の位置情報のみからzスタック画像の倍率比を算出することができる。従って、非テレセントリック光学系を介して標本を撮像することで生成される画像の倍率を、高速に、且つ、安定した精度で補正することができる。
以下、実施例2の観察装置について説明する。なお、本実施例の観察装置の構成は、実施例1の観察装置100の構成と同様である。
本実施例の観察装置は、全焦点画像生成前に全焦点画像により表示される標本の範囲(以降、全焦点範囲と記す。)を確認することができる点が、実施例1の観察装置100と異なっている。具体的には、図2に例示される全焦点画像生成処理のステップS6が終了した後、ユーザの指示があるまで、全焦点画像生成処理を待機させる。そして、ユーザは、全焦点画像生成処理の再開を指示するまで、全焦点範囲を確認しながら、標本を観察することができる。なお、以降では、このような全焦点範囲を確認する機能をナビゲーション機能と記す。
図5は、本実施例に係る観察装置のナビゲーション機能について説明するための図である。図5では、z位置を変化させながら標本を観察したときに表示部106に表示される画像が例示されている。図5(a)及び(b)では、それぞれ図3Aに例示されるzスタック画像110c(基準画像)、zスタック画像110dが示されている。
本実施例の観察装置では、図5(a)及び(b)に例示されるように、zスタック画像中に全焦点範囲(つまり、図3Aに例示される最小範囲112)がナビゲーション枠113で示される。なお、図5(a)と図5(b)では、zスタック画像の倍率が異なるため、ナビゲーション枠113が表示される大きさが異なっている。また、ここでは図示していないが、図3Aに例示されるzスタック画像110aの表示中は、ナビゲーション枠113がzスタック画像110aの外枠と一致する。
このようなナビゲーション枠113付きのzスタック画像110は、以下の手順で表示される。まず、制御部108は、全焦点画像生成の待機中に標本のz位置の変更を検知すると、CCDカメラ104に標本101の撮像を指示し、zスタック画像110をメモリユニット105に保存する。その後、画像処理部107に、現在のz位置でのナビゲーション枠113の大きさの算出を依頼する。このとき、zスタック画像110と標本の位置情報を画像処理部107に送信する。
画像処理部107は、制御部108からの依頼を受信すると、式(3−1)及び式(3−2)を実行して、ナビゲーション枠113の大きさを算出する。
PSxnavi(Z)=PSxp×β(Z)/βmax ・・・(3−1)
PSynavi(Z)=PSyp×β(Z)/βmax ・・・(3−2)
ただし、PSxnavi(Z)、PSynavi(Z)は、それぞれナビゲーション枠の横方向、縦方向の画素数であり、zスタック画像110毎に異なる。PSxp、PSypは、それぞれzスタック画像110の横方向、縦方向の画素数であり、全zスタック画像110で一定である。β(Z)は、zスタック画像110の倍率比である。βmaxは、zスタック画像110の最大倍率比(ここでは、zスタック画像110aの倍率比)である。
なお、βmaxは、全焦点画像生成処理中断前にすでに算出されており、既知である。また、β(Z)は、制御部108から送信された位置情報を使用して、式(2)から算出される。
ナビゲーション枠113の大きさを算出すると、画像処理部107は、算出されたナビゲーション枠113の大きさに基づいて、受信したzスタック画像110上にナビゲーション枠113を付加する。これにより、ナビゲーション枠113付きのzスタック画像110が生成される。そして、画像処理部107は、ナビゲーション枠113付きのzスタック画像110をメモリユニット105へ保存し、処理の終了を制御部108に通知する。つまり、画像処理部107は、zスタック画像110(第1画像)中の全焦点画像で表示される範囲を算出する全焦点範囲算出手段としても機能している。
画像処理部107からの通知を受信した制御部108は、メモリユニット105に保存されたナビゲーション枠113付きのzスタック画像110を表示部106に表示させる。以上の手順により、ナビゲーション枠113付きのzスタック画像110が表示部106に表示される。
以上、本実施例の観察装置では、ナビゲーション機能により全焦点範囲を、全焦点画像生成前に確認することができる。また、全焦点画像が所望の標本の範囲を表示しない場合には、全焦点画像生成処理を中止して、全焦点画像生成処理をやり直すことができる。
なお、ここでは、図2に例示される全焦点画像生成処理のステップS6が終了した後で、全焦点画像生成処理を待機させたが、特にこれに限られない。例えば、ステップS2が終了した後で、全焦点画像生成処理を待機させても良い。この場合、式(3−1)及び式(3−2)のβmaxの算出が別途必要となるが、さらに早期に全焦点範囲を確認することができる。
また、ここでは、画像処理部107によりナビゲーション枠113付きのzスタック画像110を生成する例を示したが特にこれに限られない。例えば、画像処理部107は、ナビゲーション枠113の大きさのみを算出し、ナビゲーション枠113付きのzスタック画像110の生成処理は、表示部106に実施させても良い。
100 ・・・観察装置
101 ・・・標本
102 ・・・標本台
103 ・・・拡大光学系
104 ・・・CCDカメラ
105 ・・・メモリユニット
106 ・・・表示部
107 ・・・画像処理部
108 ・・・制御部
109 ・・・入力部
110、110a、110b、110c、110d、110e、120、120a、120b、120c、120d、120e
・・・zスタック画像
111 ・・・基準範囲
112 ・・・最小範囲
113 ・・・ナビゲーション枠
200 ・・・テレセントリック光学系
210、220 ・・・非テレセントリック光学系
P ・・・射出瞳
P’ ・・・入射瞳
FF ・・・前側焦点位置
FB ・・・後側焦点位置

Claims (10)

  1. 標本を撮像し、前記標本の画像を取得する撮像手段と、
    前記標本から射出された光を前記撮像手段に入射させる非テレセントリック光学系と、
    前記非テレセントリック光学系に対する前記標本の位置が異なる状態で前記撮像手段により取得された複数の第1画像の倍率を統一する倍率補正手段と、を含み、
    前記倍率補正手段は、前記非テレセントリック光学系の設計情報と前記標本の位置情報とを用いて、前記第1画像の倍率を前記第1画像の1つである基準画像の倍率に統一することを特徴とする観察装置。
  2. 請求項1に記載の観察装置において、
    前記倍率補正手段は、
    前記第1画像毎に、前記設計情報と、前記第1画像を取得するときの前記位置情報とを用いて、前記基準画像の倍率に対する前記第1画像の倍率の比を算出する倍率比算出手段と、
    前記第1画像毎に、前記比の逆数である変換係数を用いて、前記第1画像を拡大または縮小する拡大縮小手段と、を含むことを特徴とする観察装置。
  3. 請求項2に記載の観察装置において、
    前記設計情報は、前記非テレセントリック光学系の焦点距離と、前記非テレセントリック光学系の入射瞳位置までの距離であることを特徴とする観察装置。
  4. 請求項3に記載の観察装置において、
    βを前記第1画像の前記比とし、Zを前記基準画像を取得するときの前記標本内の基準点から前記非テレセントリック光学系の入射瞳までの距離とし、Zを前記入射瞳位置から遠ざかる方向を正とし前記基準画像を取得するときの前記基準点から前記第1画像を取得するときの前記基準点までの距離とするとき、以下の条件式
    β=Z/(Z+Z)
    を満たすことを特徴とする観察装置。
  5. 請求項4に記載の観察装置において、
    前記基準画像は、前記基準点と前記非テレセントリック光学系の前側焦点位置が一致するときに取得された第1画像であることを特徴とする観察装置。
  6. 請求項5に記載の観察装置において、さらに、
    前記拡大縮小手段により倍率が統一された第2画像の画素構成を統一する画素構成統一手段を含むことを特徴とする観察装置。
  7. 請求項6に記載の観察装置において、さらに、
    前記倍率補正手段及び前記画素構成統一手段により倍率及び画素構成が統一された第3画像を合成し、全体に焦点があった2次元の画像である全焦点画像を生成する画像合成手段を含むことを特徴とする観察装置。
  8. 請求項7に記載の観察装置において、さらに、
    前記第1画像中の前記全焦点画像で表示される範囲を算出する全焦点範囲算出手段と、
    前記第1画像を前記範囲とともに表示する表示手段と、を含むことを特徴とする観察装置。
  9. 非テレセントリック光学系と標本の距離を変化させながら前記標本を撮像し、複数の倍率の異なる第1画像を生成する第1のステップと、
    前記非テレセントリック光学系の設計情報と、前記画像を撮像するときの前記標本の位置情報とを用いて、前記第1画像の倍率を統一し、第2画像を生成する第2のステップと、を含むことを特徴とする倍率補正方法。
  10. 請求項9に記載の倍率補正方法において、
    さらに、前記第2画像の画素構成を、前記第2画像のうち最も小さな画素数の画像の画素構成に統一し、第3画像を生成する第3のステップと、を含むことを特徴とする倍率補正方法。
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Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014021490A (ja) * 2012-07-19 2014-02-03 Sony Corp スタックされた顕微鏡画像をナビゲートするための方法及び装置
JP2015125195A (ja) * 2013-12-25 2015-07-06 アレイ株式会社 撮影装置、並びに、画像処理装置およびその方法
JP6263589B1 (ja) * 2016-09-16 2018-01-17 株式会社Screenホールディングス 画像処理方法、画像処理装置、および撮像装置
WO2018012130A1 (ja) 2016-07-13 2018-01-18 株式会社Screenホールディングス 画像処理方法、画像処理装置、撮像装置および撮像方法
JP2018046535A (ja) * 2016-09-16 2018-03-22 パナソニックIpマネジメント株式会社 撮像装置
JP2018101951A (ja) * 2016-12-21 2018-06-28 キヤノン株式会社 撮像装置、撮像方法およびコンピュータのプログラム
WO2018190132A1 (ja) * 2017-04-13 2018-10-18 横河電機株式会社 顕微鏡システム、顕微鏡、処理装置、及び顕微鏡用カメラ
WO2019170464A1 (de) * 2018-03-08 2019-09-12 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop und verfahren zum mikroskopieren einer probe für die darstellung von bildern mit erweiterter schärfentiefe oder dreidimensionalen bildern
JP2020096317A (ja) * 2018-12-14 2020-06-18 オリンパス株式会社 撮像装置、撮像方法
JP2021073813A (ja) * 2021-02-03 2021-05-13 キヤノン株式会社 撮像装置、撮像装置の制御方法およびコンピュータのプログラム

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01109202A (ja) * 1987-10-22 1989-04-26 Fanuc Ltd 視差補正付視覚センサ
JP2001257932A (ja) * 2000-03-09 2001-09-21 Denso Corp 撮像装置
JP2003148912A (ja) * 2001-11-13 2003-05-21 Hitachi Metals Ltd 光学式寸法測定方法
JP2005149500A (ja) * 2003-11-10 2005-06-09 Leica Microsystems Cambridge Ltd 多焦点画像スタック内の歪みの補正方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01109202A (ja) * 1987-10-22 1989-04-26 Fanuc Ltd 視差補正付視覚センサ
JP2001257932A (ja) * 2000-03-09 2001-09-21 Denso Corp 撮像装置
JP2003148912A (ja) * 2001-11-13 2003-05-21 Hitachi Metals Ltd 光学式寸法測定方法
JP2005149500A (ja) * 2003-11-10 2005-06-09 Leica Microsystems Cambridge Ltd 多焦点画像スタック内の歪みの補正方法

Cited By (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014021490A (ja) * 2012-07-19 2014-02-03 Sony Corp スタックされた顕微鏡画像をナビゲートするための方法及び装置
US9151944B2 (en) 2012-07-19 2015-10-06 Sony Corporation Method and apparatus for navigating stacked microscopy images
JP2015125195A (ja) * 2013-12-25 2015-07-06 アレイ株式会社 撮影装置、並びに、画像処理装置およびその方法
US10789679B2 (en) 2016-07-13 2020-09-29 SCREEN Holdings Co., Ltd. Image processing method, image processor, image capturing device, and image capturing method for generating omnifocal image
WO2018012130A1 (ja) 2016-07-13 2018-01-18 株式会社Screenホールディングス 画像処理方法、画像処理装置、撮像装置および撮像方法
JP6263589B1 (ja) * 2016-09-16 2018-01-17 株式会社Screenホールディングス 画像処理方法、画像処理装置、および撮像装置
JP2018046475A (ja) * 2016-09-16 2018-03-22 株式会社Screenホールディングス 画像処理方法、画像処理装置、および撮像装置
JP2018046535A (ja) * 2016-09-16 2018-03-22 パナソニックIpマネジメント株式会社 撮像装置
US11445118B2 (en) 2016-12-11 2022-09-13 Canon Kabushiki Kaisha Image pickup apparatus, an image processing method and a non-transitory computer-readable medium
JP2018101951A (ja) * 2016-12-21 2018-06-28 キヤノン株式会社 撮像装置、撮像方法およびコンピュータのプログラム
WO2018190132A1 (ja) * 2017-04-13 2018-10-18 横河電機株式会社 顕微鏡システム、顕微鏡、処理装置、及び顕微鏡用カメラ
JP2018180296A (ja) * 2017-04-13 2018-11-15 横河電機株式会社 顕微鏡システム、顕微鏡、処理装置、及び顕微鏡用カメラ
WO2019170464A1 (de) * 2018-03-08 2019-09-12 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop und verfahren zum mikroskopieren einer probe für die darstellung von bildern mit erweiterter schärfentiefe oder dreidimensionalen bildern
JP7110078B2 (ja) 2018-12-14 2022-08-01 オリンパス株式会社 撮像装置、撮像方法
JP2020096317A (ja) * 2018-12-14 2020-06-18 オリンパス株式会社 撮像装置、撮像方法
JP2021073813A (ja) * 2021-02-03 2021-05-13 キヤノン株式会社 撮像装置、撮像装置の制御方法およびコンピュータのプログラム
JP7225281B2 (ja) 2021-02-03 2023-02-20 キヤノン株式会社 撮像装置、撮像装置の制御方法、コンピュータのプログラムおよび記録媒体

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