JP2011000600A - 集光レンズ及びレーザー加工装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】重量による高速応答性の阻害程度が低減された集光レンズを提供し、高速応答性に優れた集光レンズを備えたレーザー加工装置を提供すること。
【解決手段】この集光レンズ13は、複数のレンズを組み合わせた組レンズで構成され、レーザービームのビーム径を光軸と直交する方向に拡大する第1の組レンズ部13aと、第1の組レンズ部13aでビーム径が拡大されたレーザービームをワークWに向けて集光させる第2の組レンズ部13bとを備える。第1の組レンズ部13aと第2の組レンズ部13bとが、レーザービームが組レンズを構成する複数枚のレンズを透過する過程で平行光線となる箇所にて分割され、第2の組レンズ部13bが第1の組レンズ部13aから独立して光軸方向へ移動して集光点を変位させることを特徴とする。
【選択図】図1

Description

本発明は、半導体ウエーハ等のワークにレーザー加工を施す際にレーザービームをワークに集光するための集光レンズ及びレーザー加工装置に関する。
半導体ウエーハや光デバイスウエーハ等のワークを、ワークに形成したストリートに沿って分割する方法として、ワークに対して透過性を有するパルスレーザービームを用い、分割すべき領域の内部に集光点を合わせてパルスレーザービームを照射するレーザー加工方法が試みられている。このレーザー加工方法を用いた分割方法は、ワークに対して透過性を有する波長のパルスレーザービームをワークの一方の面側からワーク内部に集光レンズの集光点を合わせて照射し、ワークの内部にストリートに沿って変質層を連続的に形成し、この変質層が形成されることによって強度が低下した分割予定ラインに沿って外力を加えることにより、ワークを分割するものである(例えば、特許文献1参照)。
しかるに、ワークにはウネリがあり、その厚さにバラツキがあると、レーザービームを照射する際に屈折率の関係で所定の深さに均一に変質層を形成することができない。ワーク内部の所定深さに均一に変質層を形成するためには、予めレーザービームを照射する領域の凹凸を検出し、その凹凸に集光レンズを追随させて加工する必要がある。
上述した問題を解消するために、本出願人はチャックテーブルに保持されたワークの表面(上面)に所定角度で可視光のレーザービームを照射し、ワークの表面で反射したレーザービームを受光素子で受光し、その受光位置に基づいてワークの表面の高さ位置を検出する高さ位置検出手段を備えたレーザー加工装置を提案した(例えば、特許文献2参照)。特許文献2記載のレーザー加工装置は、高さ位置検出手段でワークの表面を検出し、その検出結果に基づいてレーザービームを集光する集光レンズをワークの表面に進退可動させることで、レーザービームの集光点をワークの表面高さに合わせて移動させている。
特開2002−192370号公報 特開2005−297012号公報
ところで、ワーク加工時間を短縮するために加工送り速度の高速化が望まれるが、加工送り速度が速いと、それに応じて集光レンズも検出結果に対する高速応答性をもって移動させる必要がある。しかし、一般的に集光レンズは球面収差等の各種収差を補正するために複数のレンズが組み合わさって出来ており、その重量が集光レンズの高速応答性を阻害する一因となっていた。
本発明はこれらの事実に鑑みてなされたものであって、その主な技術的課題は重量による高速応答性の阻害程度が低減された集光レンズ及びレーザー加工装置を提供することにある。
本発明の集光レンズは、複数のレンズを組み合わせた組レンズで構成され、被加工物に向けてレーザービームを集光する集光レンズであって、前記レーザービームのビーム径を光軸と直交する方向に拡大する第1の組レンズ部と、前記第1の組レンズ部でビーム径が拡大されたレーザービームを前記被加工物に向けて集光させる第2の組レンズ部とを備え、前記第1の組レンズ部と前記第2の組レンズ部とが、前記レーザービームが前記組レンズを構成する複数枚のレンズを透過する過程で平行光線となる箇所にて分割され、前記第2の組レンズ部が前記第1の組レンズ部から独立して光軸方向へ移動して集光点を変位させることを特徴とする。
このような構成により、複数のレンズを組み合わせた組レンズで構成される集光レンズを、集光レンズを透過するレーザービームが平行光線となる箇所にて、第1の組レンズ部と第2の組レンズ部とに分割したので、収差補正、ビーム径拡大等の光学的作用には影響を及ぼすことなく、第2の組レンズ部だけを第1の組レンズ部から独立して光軸方向へ移動することができる。
したがって、レーザー加工装置において第1の組レンズ部から分離して第2の組レンズ部だけを移動させることにより、被加工物に対する集光点の深さを微調整することができ、集光レンズ全体を移動させる構造に比べて、駆動対象物(第2の組レンズ部)を大幅に小型化、軽量化でき、集光点をワークのウネリに追従させて微調整する際の集光レンズ部の高速応答性を実現できる。
上記集光レンズにおいて、前記第1の組レンズ部は、入射したレーザービームのビーム径を光軸と直交する方向に拡大するビーム径拡大用レンズ群と、前記ビーム径拡大用レンズ群でビーム径が拡大したレーザービームを平行光線に変換して前記第2の組レンズ部へ出射するコリメート用レンズ群とを備え、前記第2の組レンズ部は、前記コリメート用レンズ群から入射したレーザービームを被加工物に照射し集光点を生成する集光用レンズ群を備える。
このように、集光レンズを透過するレーザービームが平行光線となる箇所を、最終的に集光点を生成する集光用レンズ群の直前に形成することで、可動部分となる第2の組レンズ部のレンズ枚数を抑制でき、可動部分の小型化、軽量化が図られる。
また、本発明のレーザー加工装置は、板状の被加工物を保持する被加工物保持面を備えたチャックテーブルと、該チャックテーブルに保持された被加工物の上面側からレーザービームを照射し集光点を生成する上記集光レンズと、前記第2の組レンズ部だけを前記第1の組レンズ部から独立して光軸方向へ移動させる駆動部とを具備したことを特徴とする。
このような構成により、集光レンズが第1の組レンズ部と第2の組レンズ部とに分割され、集光レンズ全体に比べて軽量化されている第2の組レンズ部だけを駆動部が光軸方向へ移動させるので、集光レンズの集光点をワークのウネリに追従させて微調整する際の集光レンズ部の高速応答性を実現できる。
本発明によれば、重量による高速応答性の阻害程度が低減された集光レンズを提供でき、高速応答性に優れた集光レンズを備えたレーザー加工装置を提供できる。
一実施の形態に係る集光レンズを備えたレーザー加工装置の光学系及び集光レンズ駆動制御系の概略図 上記一実施の形態に係る集光レンズの断面構造を示す概略図 上記一実施の形態に係る集光レンズを備えたレーザー加工装置の全体構成図 レーザービームの照射位置の高さを検出する検出原理の説明図
以下、本発明の実施の形態について添付図面を参照して詳細に説明する。
図1は、本発明の一実施の形態に係る集光レンズを備えたレーザー加工装置の光学系及び集光レンズ駆動制御系の概略図である。このレーザー加工装置の光学系は、レーザー光源11から出射されたレーザービームが、ミラー12を介して集光レンズ13の入射口へ導かれ、集光レンズ13に対向配置されチャックテーブル14に保持されたワークWに対してレーザー光が集光している。集光レンズ13の焦点位置(集光点)はワークW内部の所望の深さ位置に調整される。集光レンズ13を挟んで発光部15と受光部16とが配置されている。発光部15がチャックテーブル14に保持されたワークWの表面に対して所定角度で可視光レーザービーム光を照射し、受光部16がワークWの表面で反射したレーザー光を受光してレーザー光照射位置におけるワークW表面の高さ情報を含んだ検出信号を出力する。
また、このレーザー加工装置の集光レンズ駆動制御系は、高さ位置制御部17が受光部16から出力される検出信号を取り込み、検出結果に基づいて高さ位置制御部17が集光レンズ13の焦光点がワークW表面又は内部の所望位置となるように駆動部18を制御する。駆動部18は、後で詳述するように、集光レンズ13の全体を駆動対象物とするのではなく、一部の可動部分(第2の組レンズ部)だけを駆動対象とする。
集光レンズ13は、全体として複数のレンズが組み合わされた組レンズで構成されており、第1の組レンズ部13aと第2の組レンズ部13bとに分割されている。第1の組レンズ部13aと第2の組レンズ部13bの分割位置は、集光レンズ13内をレーザービームが透過する過程で平行光線となる箇所を選択している。
第1の組レンズ部13aは、ミラー12から入射する平行光のレーザービームのビーム径を光軸方向と直交する方向に拡大するビーム径拡大用のレンズ群21と、レンズ群21で拡大したレーザービームを平行光線に変換するコリメート用のレンズ群22とを備える。第2の組レンズ部13bは、第1の組レンズ部13aから出射する平行光線に変換されたレーザービームを集光する集光用のレンズ群23を備える。
ここで、ワークWに集光するレーザービームを照射し、ワークWの内部に変質層を形成し、その後にワークWに引っ張り応力を加え、変質層を起点としてワークWを分割する加工方法(ステルスダイシング)の場合、一般に高NAの集光レンズが用いられる。ところが、高NAの集光レンズは集光点までの距離が短くなるので、加工点(集光点)で発生する加工屑で集光レンズのレンズ面が汚れる可能性が高くなる。
本実施の形態では、第1の組レンズ部13aにレーザービームのビーム径を光軸方向と直交する方向に拡大するビーム径拡大用のレンズ群21を備えることで、高NAを実現しつつ集光点までの距離を長くして加工屑によるレンズの汚れを防止している。しかも、第1の組レンズ部13aでビーム径を拡大していても、レーザービームが平行光線となる箇所で第1の組レンズ部13aと第2の組レンズ部13bを分割しているので、第2の組レンズ部13bが独立して光軸方向へ移動してもNAを維持することができる。
なお、第1及び第2の組レンズ部13a、13bは、実際には不図示の凹レンズ及び凸レンズを含めて収差が補正されるように任意に組み合わされており、図1では一部のレンズ群21〜23を模式的に示している。
図2は、集光レンズ13の断面構造を示す概略図である。
集光レンズ13の鏡筒31は、レーザー加工装置の加工台上に立設された支柱部からチャックテーブル上方に延びたアーム(図3に示す符号67)に固定されている。集光レンズ13の全体をワークWに対して光軸方向へ進退させる場合は、アーム自体が光軸方向へ移動する。
鏡筒31には光軸を中心にして同芯状に円筒空間31aが形成されており、この円筒空間31aに第1の組レンズ部13aを構成するレンズ群(21、22)が固定されている。このように、第1の組レンズ部13aは集光レンズ13の鏡筒31に固定されており、光軸方向への移動は集光レンズ13の全体と一体としてのみ可能に構成されている。
鏡筒31には、円筒空間31aの出射側開口部に連続して当該円筒空間31aよりも大径の円筒空間31bが同心状に形成されている。円筒空間31bには、第2の組レンズ部13bを構成するレンズ群23を含む組レンズの固定された可動鏡筒32が光軸方向へ移動可能に挿入されている。可動鏡筒32の外径は円筒空間31bの直径よりも僅かに小さい寸法に設定されており、可動鏡筒32が円筒空間31bの内壁31cにて光軸方向にのみ摺動できるように位置規制されている。
鏡筒31の円筒空間31bにおける内壁31cにはピエゾ素子で構成された駆動部18が設けられている。駆動部18は内壁31cから摺動面が露出していて、可動鏡筒32の外周面に押圧接触している。駆動部18の摺動面に光軸方向の進行波を励起することにより、進行波と同方向に可動鏡筒32を移動させる力が働くように構成されている。
なお、本実施の形態では駆動部18をピエゾ素子で構成しているが、例えば中心に可動コイルを設置してその周りに磁石を取り付けてなるボイスコイルモータを用いることもできる。その他、可動鏡筒32の移動範囲はワークW表面のうねり等に追従できれば良いので、短ストロークであっても位置精度及び応答性に優れた駆動原理であれば適用可能である。
図4を参照してレーザービームの照射位置の高さを検出する検出原理を説明する。
発光部15では、発光素子15aが、例えば波長が670nmのパルスレーザー光線をワークWに投光レンズ15bを通して所定の入射角αをもって照射する。入射角αは集光レンズ13の光軸となす角度である。この発光部15によるパルスレーザー光線の照射位置は、集光レンズ13からワークWに照射されるレーザービームの照射位置と略一致させて設定されている。なお、入射角αは、集光レンズ13における集光用のレンズ群23のNA値に関連する集光角度βより大きく90度より小さい角度に設定されている。受光部16は、受光レンズ16aと光位置検出素子16bを具備している。受光部16は、上記発光部15から照射されたレーザー光線がワークWで正反射する位置に配設されていて、ワークWで正反射したレーザー光線が光位置検出素子16bの受光面に対して垂直に入射するように配置している。
ワークWの高さ位置が図4に1点鎖線で示す位置である場合には、発光素子15aから投光レンズ15bを通してワークWの表面に照射されたレーザー光線は1点鎖線で示すように反射し、受光レンズ16aを通して光位置検出素子16bのA点で受光される。一方、ワークWの高さ位置が図4に2点鎖線で示す位置である場合には、発光素子15aから投光レンズ15bを通してワークWの表面に照射されたレーザー光線は2点鎖線で示すように反射し、受光レンズ16aを通して光位置検出素子16bのB点で受光される。光位置検出素子16bの受光位置データは、高さ位置制御部17に送られる。高さ位置制御部17は、光位置検出素子16bによって検出されたA点とB点との間隔Hに基づいて、ワークWの高さ位置の変位hを演算する。従って、上記チャックテーブル60に保持された被加工物Wの高さ位置の基準値が図4において1点鎖線で示す位置である場合、ワークWの高さ位置が図4において2点鎖線で示す位置に変位した場合には、高さhだけ下方に変位したことが判る。
次に、上述した集光レンズ13を備えたレーザー加工装置について説明する。
図3は集光レンズ13を備えたレーザー加工装置の構成例である。
半導体ウエーハWは、略円板状に形成されており、表面に格子状に配列された分割予定ラインによって複数の領域に区画され、この区画された領域にIC、LSI等のデバイス72が形成されている。また、半導体ウエーハWは、貼着テープ73を介して環状フレーム71に支持される。
なお、本実施の形態においては、ワークとしてシリコンウエーハ等の半導体ウエーハを例に挙げて説明するが、この構成に限定されるものではなく、半導体ウエーハWに貼着されるDAF(Die Attach Film)等の粘着部材、半導体製品のパッケージ、セラミック、ガラス、サファイヤ(Al2O3)系の無機材料基板、各種電気部品やミクロンオーダーの加工位置精度が要求される各種加工材料をワークとしてもよい。
レーザー加工装置50は、加工台51にY軸方向に形成された一対のY軸ガイドレール52a,52bが配設されている。Y軸テーブル53はY軸ガイドレール52a,52bに沿ってY軸方向に移動自在に載置されている。Y軸テーブル53の背面側には、図示しないナット部が形成され、ナット部にボールネジ54が螺合されている。そして、ボールネジ54の端部には、駆動モータ55が連結され、駆動モータ55によりボールネジ54が回転駆動される。
Y軸テーブル53上にはY軸方向と直交するX軸方向に形成された一対のX軸ガイドレール56a,56bが配設されている。X軸テーブル57はX軸ガイドレール56a,56bに沿ってX軸方向で移動自在に載置されている。X軸テーブル57の背面側には、図示しないナット部が形成され、ナット部にボールネジ58が螺合されている。そして、ボールネジ58の端部には、駆動モータ59が連結され、駆動モータ59によりボールネジ58が回転駆動される。
X軸テーブル57上にチャックテーブル60が設置されている。チャックテーブル60は、テーブル支持部61と、テーブル支持部61の上部に設けられた加工予定ラインであるストリートを持つ半導体ウエーハWを吸着保持するウエーハ保持部62と、環状フレーム71を保持するフレーム保持部63とを備える。ウエーハ保持部62上面の所定領域がワーク保持面となる。テーブル支持部61の内部には、ウエーハ保持部62に半導体ウエーハWを吸着保持させる吸引源が設けられている。
また、加工台51には支柱部64が立設されており、支柱部64の側壁にはX軸方向及びY軸方向と直交するZ軸方向に形成された一対のZ軸ガイドレール65a,65bが配設されている。Z軸テーブル66は、支柱部64に支持されており、不図示の駆動機構によって、Z軸ガイドレール65a,65bに沿ってZ軸方向へ移動する。Z軸テーブル66は、チャックテーブル60の上方に伸びたアーム67を有し、アーム67の先端部にレーザー照射ユニット68が支持されている。レーザー照射ユニット68には、前述した集光レンズ13が収納されている。
アーム67の先端部には、レーザー照射ユニット68を挟むように一対の支持片69a,69bが形成されている。一方の支持片69aには発光部15が設けられ、他方の支持片69bには受光部16が設けられている。
以上のように構成されたレーザー加工装置50において、半導体ウエーハWがチャックテーブル60に載置される。そして、半導体ウエーハ等のワークWは、図示しない吸引源によりウエーハ保持部62に吸着される。
次に、ウエーハ保持部62に吸着されたワークWに向けて集光レンズ13に接近するようにZ軸テーブル66を下降させる。集光レンズ13の集光点がワークWの所定深さに来るようにZ軸テーブル66で高さ調整する。また、集光レンズ13のレーザービーム照射位置(レーザー加工位置)がワークWに形成した分割予定ラインの一端に位置するようにチャックテーブル60を移動する。そして、レーザービーム照射ユニット68を駆動してレーザー加工を開始する。
図1に示すように、レーザー光源11で発振されたレーザービームが所定ビーム径に成形され、ミラー12で進行方向を下方に曲げられて集光レンズ13の第1の組レンズ部13aに入射する。第1の組レンズ部13aでは、ビーム径拡大用のレンズ群21で光軸方向と直交する方向にビーム径が拡大される。ビーム径が拡大されたレーザービームはビーム径を維持したまま、コリメート用のレンズ群22で平行光に変換される。平行光に変換されたレーザービームは、集光レンズ13の第2の組レンズ部13bに入射する。第2の組レンズ部13bでは集光用のレンズ群23にてワークWの所定深さに集光点を形成する。
集光レンズ13のレーザービーム照射位置がワークWの分割予定ラインの他端に達したら、レーザービーム照射ユニット68の駆動を止めてレーザービームの照射を停止すると共にチャックテーブル60の移動を停止する。
本実施の形態のレーザー加工装置では、個々のワークWのウネリに影響されずにワークW内部の所定深さに均一に変質層を形成するため、レーザー加工と並行して、高さ位置制御部17がワークW表面の高さを検出してワークW表面の高さ変化に追従させて集光レンズ13の集光点の形成位置を制御している。
そのため、分割予定ラインをレーザー加工している期間は、発光部15及び受光部16により集光レンズ13から照射されるレーザービームの照射位置の高さ情報(図4における入射点B)が検出され、検出した高さ情報を示す検出信号が高さ位置制御部17へ出力される。高さ位置制御部17は、検出信号からワークW表面の高さ又は高さ変化量を判断し、レーザー加工点でのワークWのウネリに追従して駆動部18を制御する。駆動部18は、ワークWに対する集光点が所定深さを維持するように、第2の組レンズ部13bだけを光軸方向に移動せせる。具体的には、高さ位置制御部17がピエゾ素子で構成された駆動部18に励振信号を与えて、駆動部18に第2の組レンズ部13bの移動方向に対応した進行波を生成する。駆動部18の摺動面が押し付けられた第2の組レンズ部13bの可動鏡筒32が進行波の伝搬方向の力を受けて円筒空間31b内を光軸方向へ移動する。
このとき、集光レンズ13では第2の組レンズ部13bだけが光軸方向へ移動することとなる。上記した通り、第1の組レンズ部13aと第2の組レンズ部13bは集光レンズ13を透過するレーザービームが平行光線となる箇所で分割されているので、第2の組レンズ部13bだけが光軸方向へ移動したとしても、集光レンズ13の複数の組レンズで実現している収差補正、ビーム径拡大などの光学的作用には影響を与えない。したがって、集光レンズ13で複数の組レンズで実現している収差補正、ビーム径の拡大作用には影響を与えることなく、集光点だけを移動させることができる。
このように、本実施の形態によれば、複数枚のレンズを組み合わせて構成される集光レンズを、レーザービームが平行光線となる箇所で、第1の組レンズ部13aと第2の組レンズ部13bに分割し、ワークWのウネリに追従させて集光点を変位させる際には可動部分が第2の組レンズ部13bだけとなるように構成したので、高速応答性が要求される可動部分(第2の組レンズ部13b)を小型・軽量化でき、集光レンズ全体を駆動する場合に比べて、集光点を位置調整するための時間を短縮することができる。
また、本実施の形態によれば、第1の組レンズ部13aのレンズ群21においてビーム径を拡大してから第2の組レンズ部13bで集光しているので、開口数の高い集光レンズ13を用いたとしても、加工点(焦点位置)と集光レンズ13のワーク側端部との間の長い距離を確保でき、加工屑で集光レンズ13のレンズが汚れるのを防止できる。
今回開示された実施の形態は、全ての点で例示であってこの実施の形態に制限されるものではない。本発明の範囲は、上記した実施の形態のみの説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内での全ての変更が含まれることが意図される。
本発明は、半導体ウエーハ等の被加工物をレーザー加工するレーザー加工装置に適用可能である。
11 レーザー光源
12 ミラー
13 集光レンズ
13a 第1の組レンズ部
13b 第2の組レンズ部
14 チャックテーブル
15 発光部
16 受光部
17 高さ位置制御部
18 駆動部
21、22、23 レンズ群
60 チャックテーブル
66 Z軸テーブル
67 アーム
68 レーザー照射ユニット


Claims (3)

  1. 複数のレンズを組み合わせた組レンズで構成され、被加工物に向けてレーザービームを集光する集光レンズであって、
    前記レーザービームのビーム径を光軸と直交する方向に拡大する第1の組レンズ部と、前記第1の組レンズ部でビーム径が拡大されたレーザービームを前記被加工物に向けて集光させる第2の組レンズ部とを備え、
    前記第1の組レンズ部と前記第2の組レンズ部とが、前記レーザービームが前記組レンズを構成する複数枚のレンズを透過する過程で平行光線となる箇所にて分割され、前記第2の組レンズ部が前記第1の組レンズ部から独立して光軸方向へ移動して集光点を変位させることを特徴とする集光レンズ。
  2. 前記第1の組レンズ部は、入射したレーザービームのビーム径を光軸と直交する方向に拡大するビーム径拡大用レンズ群と、前記ビーム径拡大用レンズ群でビーム径が拡大したレーザービームを平行光線に変換して前記第2の組レンズ部へ出射するコリメート用レンズ群とを備え、
    前記第2の組レンズ部は、前記コリメート用レンズ群から入射したレーザービームを被加工物に照射し集光点を生成する集光用レンズ群を備えることを特徴とする請求項1記載の集光レンズ。
  3. 板状の被加工物を保持する被加工物保持面を備えたチャックテーブルと、該チャックテーブルに保持された被加工物の上面側からレーザービームを照射し集光点を生成する請求項1又は請求項2記載の集光レンズと、前記第2の組レンズ部だけを前記第1の組レンズ部から独立して光軸方向へ移動させる駆動部と、を具備したことを特徴とするレーザー加工装置。

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016132554A1 (ja) * 2015-02-20 2016-08-25 技術研究組合次世代3D積層造形技術総合開発機構 光加工ヘッド、光加工装置およびその制御方法ならびに制御プログラム
JP2016197699A (ja) * 2015-04-06 2016-11-24 株式会社ディスコ ウエーハの生成方法
WO2021117753A1 (ja) * 2019-12-12 2021-06-17 東レエンジニアリング株式会社 集光レンズの高さ調整方法およびチップ転写方法ならびに集光レンズの高さ調整装置およびチップ転写装置

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04187393A (ja) * 1990-11-21 1992-07-06 Nec Corp レーザ加工装置
JPH04237587A (ja) * 1991-01-18 1992-08-26 Hitachi Constr Mach Co Ltd レーザ加工装置
JP2001276986A (ja) * 2000-03-29 2001-10-09 Nec Corp レーザ加工装置及び方法
JP2003205382A (ja) * 2002-01-08 2003-07-22 Nissan Motor Co Ltd レーザブレージング加工方法及び加工装置
JPWO2004050291A1 (ja) * 2002-12-05 2006-03-30 浜松ホトニクス株式会社 レーザ加工装置
JP2007181840A (ja) * 2005-12-29 2007-07-19 Daihen Corp レーザ照射アーク溶接ヘッド
JP2008050219A (ja) * 2006-08-25 2008-03-06 Shibaura Mechatronics Corp スクライブ溝形成装置、割断装置およびスクライブ溝形成方法

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04187393A (ja) * 1990-11-21 1992-07-06 Nec Corp レーザ加工装置
JPH04237587A (ja) * 1991-01-18 1992-08-26 Hitachi Constr Mach Co Ltd レーザ加工装置
JP2001276986A (ja) * 2000-03-29 2001-10-09 Nec Corp レーザ加工装置及び方法
JP2003205382A (ja) * 2002-01-08 2003-07-22 Nissan Motor Co Ltd レーザブレージング加工方法及び加工装置
JPWO2004050291A1 (ja) * 2002-12-05 2006-03-30 浜松ホトニクス株式会社 レーザ加工装置
JP2007181840A (ja) * 2005-12-29 2007-07-19 Daihen Corp レーザ照射アーク溶接ヘッド
JP2008050219A (ja) * 2006-08-25 2008-03-06 Shibaura Mechatronics Corp スクライブ溝形成装置、割断装置およびスクライブ溝形成方法

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016132554A1 (ja) * 2015-02-20 2016-08-25 技術研究組合次世代3D積層造形技術総合開発機構 光加工ヘッド、光加工装置およびその制御方法ならびに制御プログラム
JPWO2016132554A1 (ja) * 2015-02-20 2017-04-27 技術研究組合次世代3D積層造形技術総合開発機構 光加工ヘッド、光加工装置およびその制御方法ならびに制御プログラム
US10532427B2 (en) 2015-02-20 2020-01-14 Technology Research Association For Future Additive Manufacturing Optical processing head, optical machining apparatus, and control method and control program of optical processing head
JP2016197699A (ja) * 2015-04-06 2016-11-24 株式会社ディスコ ウエーハの生成方法
WO2021117753A1 (ja) * 2019-12-12 2021-06-17 東レエンジニアリング株式会社 集光レンズの高さ調整方法およびチップ転写方法ならびに集光レンズの高さ調整装置およびチップ転写装置

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