JP2010527160A - マイクロリソグラフィ用投影対物器械及び投影露光装置 - Google Patents

マイクロリソグラフィ用投影対物器械及び投影露光装置 Download PDF

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Abstract

対物面に配置された物体を像平面の感光ウェーハ上に結像するためのマイクロリソグラフィのための投影対物器械、及びそのような投影対物器械を含むマイクロリソグラフィのための投影露光装置を提供する。マイクロリソグラフィのための投影露光装置の投影対物器械(16)は、対物面(O)に配置された物体(18)を像平面(B)の感光ウェーハ(20)上に結像するように機能する。投影対物器械(16)は、少なくとも1つの反射要素(30b)と少なくとも1つの屈折要素(32)とを有する複数の光学要素(28)を有する。複数の光学要素(28)は、有用光の光伝播方向に反射要素の下流の共通直線光軸(X)上に位置する。少なくとも1つの反射要素(30b)は、光ビーム(26)が通過することができる少なくとも1つの開口部(38b)を有する基板(37b)を有する。少なくとも1つの反射要素(30b)は、反射要素(30b)上に後ろ向きに衝突する迷光(42)を抑制する材料から少なくとも部分的に作られる。
【選択図】図2

Description

本発明は、少なくとも1つの反射要素及び少なくとも1つの屈折要素を有し、共通直線光軸上の少なくとも1つの反射要素の下流に有用光の光伝播方向に位置する複数の光学要素を含み、少なくとも1つの反射要素が、光ビームが通過することができる少なくとも1つの開口部を有する基板を有する、対物面に配置された物体を像平面の感光ウェーハ上に結像するためのマイクロリソグラフィのための投影対物器械に関する。
本発明は、更に、そのような投影対物器械を含むマイクロリソグラフィのための投影露光装置に関する。
この種類の投影対物器械は、US6、600、608B1から公知である。
冒頭で示した種類の投影対物器械は、微細構造化構成要素の加工のための半導体マイクロリソグラフィにおいて、例えば、パターンが設けられた物体(レチクル)をウェーハ上に結像するのに用いられる。この場合、物体及びウェーハは、それぞれ、投影対物器械の対物面及び像平面に配置される。ウェーハには、感光層が設けられ、投影対物器械を通過する光を用いた感光層の露光時に、物体のパターンが、ウェーハの感光層へと転写される。場合によっては複数回の露光及びその後の感光層の現像の後に、望ましい構造がウェーハ上に現れる。
投影対物器械は、それらのデザインによって区別することができる。反射屈折投影対物器械は、例えば、ミラー及びレンズの形態にある反射及び屈折の両方の要素を有する。それとは対照的に、投影対物器械が屈折要素だけ又は反射要素だけしか持たない場合には、それは、それぞれ屈折光学性又は反射光学性と呼ばれる。
冒頭で引用したUS6、600、608B1から公知である反射屈折投影対物器械は、共通の直線光軸上に位置する複数のレンズ及びミラーを有する。これらの光学要素は、投影対物器械の有用光の光伝播方向に見て屈折光学性、反射屈折光学性、及び屈折光学性である3つのサブアセンブリで配置される。反射屈折サブアセンブリのミラーの各々は、ミラー上に入射する光ビームが通過することができる開口部を有する。ミラー表面は、ミラー表面上に入射する光ビームが表面に対するそれらの衝突角に従って反射されるような光反射方式で構成される。
公知の投影対物器械の結像品質は、この投影対物器械が、結像品質を劣化させる結像収差及び外乱効果を可能な限り有してはならないというようなその結像特性によって判断される。
公知の投影対物器械の場合は、結像品質は、迷光、又は偽光又はいわゆる「ゴースト像」の発生によって劣化する場合がある。迷光は、反射屈折投影対物器械の場合に、例えば、光学要素の表面において望ましくない方式で反射された光ビームが、投影対物器械のミラーのうちの1つの上に後ろ向きに衝突し、ミラー基板を通過し、反射ミラー表面において反射されるという事実によって発生する。これらの反射光ビームは、有用光の「正規」の光伝播方向に見て進行する光ビームと混合し合い、感光ウェーハ上へのパターンの結像を劣化させる。
WO2006/128613A1からは、非直線光軸を有する反射屈折投影対物器械の結像品質を高めるために、ミラーを飛ばしての光学要素間の望ましくない光転送によって引き起こされる迷光は、ミラー領域に配置された光吸収遮蔽ダイヤフラム又は遮蔽プレートによって抑制することができることが公知である。これらのシールドは、光吸収材料から作られるか又は光吸収層が設けられ、吸収効果を改善するために光軸に対して位置調節可能及び傾斜可能な方式で実施することができる。更に、シールドの吸収特性は、投影対物器械を通過する光ビームの波長と連係させることができる。
迷光抑制における光吸収シールドの使用の1つの欠点は、投影対物器械が、発生する迷光のそれぞれの要件に適応させるべき配列又は幾何学形状を有する付加的な要素を有する点である。投影対物器械内でのこの追加要素の配列は、多くの場合に利用可能ではない十分な空間を必要とし、その結果、この種の迷光抑制は、限られた範囲でしか用いることができない。
更に別の欠点は、投影対物器械内のシールドの存在が、多くの場合に構造的に複雑な幾何学形状及びシールドの位置決めされに起因して生じる投影対物器械に対する高い生産コストを必要とすることである。多くの場合に、迷光が高い程度で発生する領域は、公知の投影対物器械が作動中になるまでは判明しないので、シールドの実施は、多くの場合にその後にのみ可能であり、これは、更に、公知の投影対物器械の運転休止期間をもたらす可能性がある。
遮蔽ダイヤフラムの更に別の欠点は、投影対物器械を通過する光ビームの最大ビーム断面も、望ましくなく縮小する可能性があり、それによってウェーハが完全には露光されないことである。それによって全てのウェーハ領域の露光を得るために、像平面内のウェーハの位置調節のための構造的に複雑な手段が必要である。
更に別の欠点は、シールドの最適な吸収効果が、多くの場合にシールドの位置調節又は傾斜を用いてのみ達成されるということである。公知の投影対物器械におけるシールド位置のそのような変更は十分な空間を必要とし、同じく達成することが構造的に非常に複雑である。この目的のために、シールドは、例えば、その位置調節又は傾斜を引き起こすアクチュエータを有する必要があり、それによって投影対物器械の生産コストは更に増大する。
US6、600、608B1 WO2006/128613A1
従って、本発明の目的は、結像品質が特に簡単で費用効果的な迷光抑制を用いて改善された冒頭で示した種類の投影対物器械を提供することである。
本発明は、少なくとも1つの反射要素が、この反射要素上に後ろ向きに衝突する迷光を抑制する材料から少なくとも部分的に作られるという事実により、冒頭で示した投影対物器械に関する目的を達成する。
本発明による投影露光装置の本発明による投影対物器械は、反射屈折のものであり、有用光の光伝播方向に少なくとも1つの反射要素の下流の共通直線光軸上に位置する複数の光学要素を有する。本発明による投影対物器械の反射要素は、光ビームが通過することができる少なくとも1つの開口部が設けられた基板を有する。更に、反射要素は、反射要素上に後ろ向きに衝突する迷光を抑制するか又は少なくとも低減する材料から少なくとも部分的に作られる。本発明によると、反射要素上に「後ろ向き」に衝突する迷光は、像平面から対物面への方向に進み、すなわち、有用光の光伝播方向とは反対に伝播し、反射要素上に任意の角度で入射する光ビームを意味すると理解すべきである。迷光に寄与するこれらの光ビームは、例えば、基板の背面上に衝突するか又はそうでなければ例えば基板の開口部を少なくとも部分的に通過し、反射要素基板の中に光軸に対して傾斜して貫通することができる。迷光抑制は、特に、迷光が、反射要素の反射面上に衝突し、像平面へと散乱して戻されることを防止する。従って、有利な態様においては、反射要素に対する材料の選択は、従来技術で公知のこの機能を満たすシールドのような追加要素を投影対物器械内に設ける必要がないので、達成することが特に簡単な迷光低減を可能にする。その結果、この種の迷光抑制は、全ての反射屈折投影対物器械において、その光学要素の間の距離とは関係なく用いることができる。
更に、本発明による投影対物器械の製造コストは、迷光抑制が、付加的な吸収シールドではなく、投影対物器械内に既に収められている反射要素によってもたらされるので、有利な態様においては、大きく低減される。更に、公知の投影対物器械の場合における光軸に対する吸収シールドの位置調節又は傾斜によって生じる追加コストは生じない。
迷光抑制に向けての反射要素の使用が、投影対物器械を通過する光ビームの制限を引き起こさず、それによってウェーハが常に完全に露光されることは更に有利である。
投影対物器械の好ましい改良では、反射要素の基板は、迷光抑制材料から少なくとも部分的に作られる。
この手段は、反射要素の本体、すなわち、基板自体が迷光抑制に向けて利用され、それによって基板に対する材料選択のみを考慮するだけでよく、反射要素上にいかなる付加的な構造手段も実施する必要がないので、有利な態様においては、反射要素の製造が特に簡単であるという効果を有する。反射要素の基板は、完全に又は部分的に、すなわち、部分領域内で迷光抑制材料から作ることができる。
投影対物器械の更に好ましい改良では、反射要素の基板は、迷光抑制材料から作られた層を少なくとも部分的に有する。
有利な態様においては、この手段は、迷光抑制層の領域内での広域迷光抑制を可能にする。層は、例えば、反射要素の基板寸法が大きく増大せず、反射要素が不要に空間を要さないように肉薄に作ることができる。更に、迷光抑制層は、望ましい基板寸法に沿って生産工程中に付加することができるので、反射要素は、特に簡単に費用効果的に生産することができる。
投影対物器械の更に好ましい改良では、層は、基板の反射面の下に配置される。
この手段は、反射要素の基板上に後ろ向きに衝突する迷光が、この層によって既に無効にされているので、基板の光反射面に届かなくなるという効果を有する。有利な態様においては、それによって最適な迷光抑制が生じ、それと同時に、通過する迷光の結果として起こり得る基板に対するビーム損傷が可能な限り回避される。更に、迷光抑制層が、有用光の光伝播方向に見て反射面の下に配置されるので、対物面から像平面への投影対物器械内の光伝播は低下しない。
投影対物器械の更に好ましい改良では、層は、基板の反射面の直下に配置される。
この手段は、反射要素の基板の背面を通じて任意の方向から反射面に至るまで通過する迷光だけでなく、開口部に隣接する反射要素の側壁を通じて反射要素の中に貫通する迷光も抑制されるという効果を有し、有利な態様においては、それによって更に一層有効な迷光抑制が達成される。
投影対物器械の更に好ましい改良では、層は、基板の反射面の範囲全体に沿って配置される。
この手段は、有利な態様においては、迷光抑制層がミラー表面全体に沿って配置され、その結果、後ろ向きに衝突するいかなる迷光も、反射要素の反射面に至るまでには通過することができないので、更に一層有効な迷光抑制を可能にする。更に、迷光抑制層は、被覆すべきでない基板の中間領域を覆う必要なく、生産工程中に基板範囲全体に沿って付加することができるので、反射要素の生産は特に簡単で費用効果的である。
投影対物器械の更に好ましい改良では、層は、基板の開口部に沿って少なくとも部分的に配置される。
この手段は、例えば、開口部を通過し、基板の側壁を通じて光軸に対して傾斜して基板の中に貫通する迷光が吸収されるという効果を有する。有利な態様においては、上述の結果として反射要素の迷光抑制は、更に高まる。層は、開口部の範囲全体に沿った基板の側壁、又は基板側壁の部分領域内だけに配置することができる。
投影対物器械の更に好ましい改良では、反射要素は、基板の背面に少なくとも部分的に配置されたマウントを有し、このマウントは、迷光抑制材料から少なくとも部分的に作られる。
この手段は、反射要素上に後ろ向きに衝突する迷光が、反射要素のマウントにおいて既に実質的に抑制されており、それによって反射要素の基板が、望ましくない放射線吸収からより良好に保護されるという利点を有する。マウントの材料及び幾何学形状は、それぞれの最適な迷光抑制要件に適応させることができる。マウントは、例えば、完全に迷光抑制材料から作ることができ、又は迷光抑制材料から作られた部分領域のみを有することができる。
投影対物器械の更に好ましい改良では、マウントは、迷光抑制材料から作られたコーティングを少なくとも部分的に有する。
この手段は、コーティングを反射要素の標準マウントに付加することができるので、迷光抑制が、特に費用効果的で容易に達成されるという利点を有する。コーティングは、例えば、マウントの基板に対面する正面上、又はマウントの背面上に付加することができる。
投影対物器械の更に好ましい改良では、迷光抑制材料は、光吸収性のものである。
この手段は、有利な態様においては、反射要素の背面上に衝突する迷光が吸収され、いかなる迷光も像平面の方向に反射されないので、迷光抑制において特に有効な可能性をもたらす。迷光抑制材料の吸収効果は、例えば、投影対物器械を通過する光ビームのそれぞれの波長に適応させることができる。
投影対物器械の更に好ましい改良では、光吸収材料は、Zerodurである。
Zerodurは、小さい膨張係数しか持たないので、反射要素の基板における光吸収材料としてのZerodurの使用は、その材料特性に起因して特に有利である。更に、この材料は、特に均質であり、反射要素の生産を特に簡単な方式で達成することができる。
投影対物器械の更に好ましい改良では、迷光抑制材料は、無指向光散乱性のものである。
この手段は、入射光ビームの全方向における無指向性光散乱によって得られ、その結果、有利な態様においては、像平面に対する迷光のいかなる感知可能な後方散乱も発生しないという効果を有する。
投影対物器械の更に好ましい改良では、迷光抑制材料は、金属である。
有利な態様においては、マウントにおけるマウント材料又はコーティング材料としての金属の使用は、迷光軽減のための特に費用効果的な手段である。金属は、有用光の光伝播方向に反射要素の下流から反射要素に反射して戻される光が、この要素の反射面に到達するのを阻止する。
好ましくは、少なくとも1つの反射要素は、ミラーである。
本発明は、非掩蔽結像システムを形成する光学要素を有する投影対物器械の精緻化の場合に特に有利である。好ましくは、そのような投影対物器械は、開口部が設けられた2つのミラーを有し、その反射面は、互いに対面している。そのような場合には、有用光は、ミラーの開口部の片側にあるそれぞれのミラー区画のみを用いる。特に、この投影対物器械は、好ましくは、光軸を含まない軸外物体視野を軸外像視野上に結像する光学要素を有するものである。
反射要素の「開口部」という表現は、特に、軸外物体視野を軸外像視野上に結像する光学要素を有する上述の投影対物器械の場合には、反射要素の有用光が衝突しない区画が単純に省略される場合も含む。
有用光の光伝播の方向に見て、幾何学形状的に最後の反射要素の下流かつ像平面の上流に複数の屈折要素を有し、迷光が、屈折要素の少なくとも1つが有する表面の少なくとも1つ、特に、光伝播方向に見て最後の屈折要素の前面における少なくとも1回の反射によって生成される投影対物器械の場合には、投影対物器械の結像特性における特に有効な改善を有用光の伝播方向に見て最初のミラー、すなわち、幾何学形状的に像平面に最も近いミラーにおける迷光比率の低下による迷光抑制のための手段によって達成することができる。
更に、照明システム及び上述の構成のうちの1つ又はそれよりも多くによる投影対物器械を有する投影露光装置を提供する。
更に別の利点及び特徴は、下記の説明から明らかになるであろう。
上述の特徴及び更に下記に説明することは、指定する組合せに用いることができるのみならず、本発明の範囲から逸脱することなく、他の組合せ又はそれら自体で用いることができることは言うまでもない。
一部の選択した例示的な実施形態に基づいて、添付図面を併用しながら本発明を以下でより詳細に説明かつ解説する。
本発明による投影対物器械を有するマイクロリソグラフィのための投影露光装置の概略図である。 図1の投影対物器械の例示的な実施形態を示す図である。 図2の投影対物器械の反射要素の例示的な実施形態を縦断面で示す図である。 図2の投影対物器械の反射要素の例示的な実施形態を縦断面で示す図である。 図2の投影対物器械の反射要素の例示的な実施形態を縦断面で示す図である。 図2の投影対物器械の反射要素の例示的な実施形態を縦断面で示す図である。 図2の投影対物器械の反射要素の例示的な実施形態を縦断面で示す図である。 投影対物器械を有用光ビーム経路と共に示す、図1による投影露光装置内での使用のための投影対物器械の更に別の例示的な実施形態を示す図である。 投影対物器械を迷光ビームと共に示す、図1による投影露光装置内での使用のための投影対物器械の更に別の例示的な実施形態を示す図である。
図1は、全体的に参照記号10が付与されて、例えば、微細構造構成要素を生産するために半導体マイクロリソグラフィに用いられる投影露光装置を略示している。
投影露光装置10は、光源12及び照明光学ユニット14を含む照明システム11、更に投影対物器械16を有する。投影対物器械16は、対物面Oに配置され、パターンが設けられた物体18を投影対物器械16の像平面Bに配置された感光ウェーハ20上に結像するように機能する。物体18及びウェーハ20は、投影露光装置10の作動中にそれぞれリテーナ22及びホルダ24内に挿入される。光源12によって生成され、照明光学ユニット14を通じて誘導される光ビーム26は、物体18のパターンを通過し、有用光の光伝播方向に見て対物面Oから像平面Bに向って投影対物器械16を通じて進み、それによって物体18のパターンを像平面Bに配置されたウェーハ20に転写する。
図2に例示している例示的な実施形態の投影対物器械16は、複数の光学要素28を有する。投影対物器械16は、反射屈折設計のものであり、すなわち、図2では2つの反射要素30a及び30bである反射要素30、及び屈折要素32を有する。反射要素30a、bは、湾曲ミラー34a、bとして実施され、屈折要素32は、幅広く異なる形状の非球面レンズ36として実施される。光学要素28は、共通直線光軸Xに関して回転対称で配置され、従って、特に、有用光の光伝播方向にミラー34bの下流の共通直線光軸X上に位置する。
投影対物器械16の光学要素28は、3つのサブアセンブリG1、G2、及びG3へと再分割される。光伝播方向に見て第1及び第3のサブアセンブリG1及びG3は、屈折光学性のものであり、レンズ36しか持たない。中間の反射屈折サブアセンブリG2は、2つのミラー34a、b、並びにミラー34aと34bの間に2つのレンズ36a、bを有する。
中間サブアセンブリG2の2つのミラー34a、bの各々は、これらのミラーの基板37a、bのほぼ中心にあり、ほぼ等しくサイズ決めされた開口部38a、bを有し、例えば、その円形形状は、投影対物器械16の光ビーム26の進路に適合する。図示の例示的な実施形態では、開口部38a、bは、光軸Xに関してほぼ回転対称に配置される。投影対物器械16の設計に依存して、ミラー34a、bは、各々の場合に、光ビーム26が通過することができる複数の開口部38a、bを有することができる。開口部38a、bは、光軸Xに関して非回転対称に光軸Xからある一定の距離のところに配置することができる。更に、ミラー34a、bの基板37a、bには、互いに対面する光反射面40a、bが設けられる。反射面40a、bは、反射コーティングとして実施することができる。
光源12によって生成される光ビーム26は、理想的には、投影対物器械16の有用光の光伝播方向に見て第1のサブアセンブリG1を通過し、このサブアセンブリに関連するレンズ36においてそれぞれ偏向される。その後、光ビーム26は、ミラー34aの開口部38aを通じて投影対物器械の第2のサブアセンブリG2内に入射し、第2のサブアセンブリG2のレンズ36a、bにおいて屈折される。図2に例示しているように、光軸Xに対してほぼ平行にミラー34aの開口部38aを通過する光ビーム26は、これらのビームの伝播方向から偏向されず、ミラー34bの開口部38bを通過する。ミラー34aの開口部38aを光軸Xに対して傾斜して通過する光ビーム26は、例えば、ミラー34bの光反射面40bの縁部領域内に入射し、そこでミラー34aへと反射されるようにレンズ36a、bにおいて屈折される。これらの光ビーム26は、反対の順序でレンズ36a、bを再度通過し、ミラー34aの光反射面40a上でその縁部領域内に入射する。ミラー34aのこの表面40aにおける反射の後に、投影対物器械16の像平面Bに配置されたウェーハ20上に衝突するように、光ビーム26は、2つのレンズ36a、bを通過し、ミラー34bの開口部38bを通過し、更に第3のサブアセンブリG3のレンズ36を通過する。
投影対物器械16の結像品質は、その結像特性によって判断され、この結像特性は、特に、迷光42、又は偽光又はいわゆる「ゴースト像」によって劣化する。この迷光42は、ミラー34bの背面に任意の衝突角で衝突する光ビーム43a、bによって引き起こされる可能性があり、又はそうでなければ像平面Bから到来し、ミラー34bの開口部38bを少なくとも部分的に通過し、ミラー34bの基板側の壁を通じて基板37bの中に光軸Xに対して傾斜して貫通する図2で例示的に光ビーム43cによって表している光ビーム43によって引き起こされる可能性がある。ミラー34b上に後ろ向きに衝突する光ビーム43a〜cは、ミラー34bの基板範囲を通過し、その光反射面40bにおいて反射して戻される。これらの光ビーム43a〜cは、有用光の光伝播方向に進む光ビーム26と混じり合い、例えば、物体18のパターンのウェーハ20上への歪曲結像を招く。
図2は、迷光42の様々な原因を例示的に示すものである。光ビーム43aは、第3のサブアセンブリG3のレンズ36の表面において、例えば、透過されるのではなく、第2のサブアセンブリG2へと反射して戻される場合があり、ミラー基板37b上に後ろ向きに衝突する。同様に、迷光42は、光ビーム43bがウェーハ20において投影対物器械16内に反射して戻される結果として発生する場合があり、次に、光ビーム43bは、有用光の光伝播方向とは逆方向に、像平面Bに隣接するサブアセンブリG3の光学要素28を反対の順序で通過し、ミラー34bに後ろ向きに衝突する。更に、迷光は、光ビーム43cが、第3のサブアセンブリG3のレンズ36の表面において反射して戻される結果として引き起こされる場合があり、光ビーム43cは、ミラー34bの開口部38bを部分的に通過し、開口部38bに隣接する基板37bの側壁を通じてミラー34bの基板37bの中に貫通する。ビーム経路に依存して、光ビーム43a〜cは、光学要素28を飛ばして進むことができ、これを光ビーム43bのビーム進路によって一例として示している。
迷光42の実質的な抑制又は少なくとも低減は、反射屈折投影対物器械16のミラー34bに対する材料の選択によって達成される。ミラー34bの材料は、ミラー34b上に後ろ向きに衝突する迷光42が吸収されるように光吸収性のものとすることができる。この場合、材料の吸収特性は、入射光ビーム26の波長、すなわち、光源12の波長と連係される。同様に、ミラー34bの材料は、無指向光散乱性のものとすることができ、それによって全ての空間的方向への散乱迷光伝導は、迷光42に寄与する光ビーム43a〜cの分散をもたらす。この場合、光ビーム43a〜cは、光軸Xから好ましく散乱し、投影対物器械16の像平面Bに到達しない。
図3A〜Eは、基本本体である基板37b及びマウント44を有するミラー34bの様々な実施形態を例示的に示すものである。ミラー34bの基板37b及び/又はマウント44は、迷光抑制材料から少なくとも部分的に作ることができる。この場合、迷光抑制のための基板34b及びマウント44の様々な実施形態は、いずれか望ましい方式で互いに組み合わせることができ、又はそうでなければこれらの実施形態自体で用いることができる。
図3Aに例示しているように、ミラー37bの基板37bは、迷光抑制又は少なくとも迷光低減材料から少なくとも部分的に作られる。この目的のために、ミラー基板37bは、ミラー34bの基板範囲内でほぼ中央に置かれた7つの基板領域46a〜gを有する。基板領域46a〜gは、これらの領域が、光ビーム43a〜cの好ましい衝突領域の範囲、及び衝突する迷光42の強度に最適に適応するように、これらの領域の寸法に関して異なって実施される。
同様に、ミラー34bの基板37bは、迷光抑制層48を有することができる(図3Bを参照されたい)。開口部38bによって互いにから分離された第1及び第2のミラー半体50a、b内に付加された層48a、bは、有用光の光伝播方向に見て基板37bの反射面40bの下に配置される。層48aは、反射面40bに対して反対側に沿って、すなわち、基板の背面52に沿って延び、その直径は、基板縁部53に向って減少する。ミラー半体50b内に設けられた層48bは、開口部38bの直近のミラー基板37b内でほぼ中央に位置し、半径方向に外向きに拡幅する。
図3Cに例示しているように、層48a、bは、有用光の光伝播方向に見て基板37bの反射面40bの直下に配置することができる。更に、層48a、bは、反射面40bの範囲全体に沿って延び、その結果、基板37b上に後ろ向きに衝突する光ビームs43a〜cの最適な迷光抑制が達成される。また、反射面40の直下に配置された層48a、bは、開口部38bを少なくとも部分的に通過し、基板37bの側壁54a、bを通じてミラー基板37bの中に貫通する光ビーム43a〜cも抑制する。この抑制により、特に、上述の光ビーム43a〜cは、ミラー34bの反射面40bへと通過することができないように阻止される。基板37bは、開口部38bの幾何学形状に依存して、1つ又は複数の側壁54を有することができることは言うまでもない。
同様に、迷光抑制層48cは、基板37bの側壁54a、bに配置することができ、この層は、開口部38bを通過する光ビーム43a〜cを無効にする(図3Dを参照されたい)。図示の例示的な実施形態では、層48cは、ミラー34bの基板37bの側壁34a、bの範囲全体に沿って配置される。同様に、迷光抑制層48cは、側壁54a、bに沿う部分領域内にのみ、又は1つの側壁54a、bだけに沿って配置することができる。
また、ミラー基板37b全体を迷光抑制材料から作ることができる(図3Eを参照されたい)。この目的のために、一例として、迷光抑制材料から成る均一に分散された粒子をミラー基板37b内に導入することができる。
迷光抑制材料は、低い膨張係数を有するZerodurから形成することができる。これは、特に、光源12による投影対物器械16の集中照明の場合に有利である。更に、この材料は、ミラー製造中に容易に処理することができるように特に均質である。
ミラー34bのマウント44は、迷光抑制に向けて付加的又は専用的に用いることができる。図3A〜図3B、図3D〜図3Eに示しているミラー34bのマウント44は、基板の背面52に少なくとも部分的に配置される。マウント44は、例えば、基板の背面全体52に沿って延び(図3A、3B、3Dを参照されたい)、又は基板37bのリング形部分領域56内でのみ延びる(図3Eを参照されたい)。更に、マウント44は、半径方向に外側の突起58を有し、この突起58は、基板37bの反射面40bに向き、基板縁部53を受け取るか(図3Aを参照されたい)又は囲い込む(3B、3D、3E参照されたい)。図3Eに示しているマウント44は、迷光42が、ミラー34bのリング形部分領域56内に入射する場合には、特に、図3A、3B、3Dに例示しているマウント44と比較して有利である。更に、マウント44のこの実施形態は、特に空間を節約し、同時に投影対物器械16内のマウント固定具(例示していない)に対して作用する重量が軽減する。
マウント44は、例えば、迷光42がマウント44によって無効にされるように、完全に金属から形成することができ、それによって迷光42は、基板37bの中に貫通せず、更に、いかなる迷光42も、像平面Bに伝導されない(3A、3D、3Eを参照されたい)。
また、マウント44は、迷光抑制材料から作られる部分領域60、すなわち、図3Bに例示している2つの部分領域60a、bを有することができる。この部分領域60a、bは、マウント44の例えばそうでなければ迷光42が好ましく衝突する光透過マウント材料の領域内に封入することができる。図3bでは、部分領域60a、bは、ミラー半体50a内に置かれ、その一方でミラー半体50bは、透過材料のみから形成される。
同様に、マウント44は、金属から成る迷光抑制コーティング62で覆うことができ、コーティング62は、マウント44のミラー基板37bに対面する表面64上に付加される(図3Eを参照されたい)。同様に、コーティング62は、ミラー基板37bから離れる方向に向くマウント44の表面66上に設けることができる。被覆マウント44の場合には、残りのマウント材料は、光透過方式で実施することができる。
一例として、ミラー34bの基板37bが、完全に迷光抑制材料から作られるか、又は層48a、bが、ミラー37の反射面40bの範囲全体に沿って形成される場合には、ミラー37は、マウント44なしに実施することができ、投影対物器械16のホルダ(例示していない)だけに収めることができる(図3Cを参照されたい)。従って、迷光抑制は、基板材料だけによってもたらされる。
図4a)は、更に別の例示的な実施形態の投影対物器械16’を示している。投影対物器械16’は、図1の投影露光装置10において投影対物器械16の代わりに用いることができる。
投影対物器械16’の場合には、図2の投影対物器械16の構成要素と同等又は同一の構成要素には、図2におけるものと同じ参照符号に’を補足して付与している。
投影対物器械16’は、反射屈折投影対物器械であり、その光学要素28’は、ミラー34’a及び34’bの形態の2つの反射要素30’a及び30’b、更に、レンズ36’の形態の16個の屈折要素32’を有する。
光学要素28’は、対物面Oと像平面Bの間に配置される。
図2の投影対物器械16の光学要素28は、掩蔽結像システムを形成するのに対して、図4a)による投影対物器械16’は、非掩蔽結像システムを形成する。
投影対物器械16’の反射要素30’a及び30’bは、投影対物器械16の対応する反射要素30a及び30bと同様に、それぞれ開口部38’a及び38’bを有するが、有用光は、ミラー34a及びミラー34’b上の各場合にそれぞれ開口部38’a及び38’bの片側にあるミラー区画上にのみ衝突し、図4a)にはこの有用光のビーム経路を示している。図2との比較から明らかなように、投影対物器械16の場合は、有用光は、ミラー34a及び34b上に、各場合に開口部38a及び38bの両側で衝突する。図4a)及び図4b)に例示している反射要素30’a及び30’bの有用光が入射しない区画は省くことができる。投影対物器械16’は、対応して、対物面Oの軸外物体視野OF、すなわち、光軸Xを含まない物体視野OFを像平面B、厳密にはその軸外像視野上に結像することができる。
図2の投影対物器械16とは対照的に、ミラー34’及び34’bの間には屈折要素がなく、すなわち、レンズがない。
光伝播方向に見ると、ミラー34’bは、第1のミラーであり、ミラー34’aは、第2のミラーであり、第1のミラー34’bは、像平面Bに対面し、ミラー34’aよりも像平面Bに幾何学形状的に近い。
第1のミラー34’bと像平面Bの間には、合計で11個のレンズ36’が配置され、最後のレンズに、参照符号36’lを付与している。
ここで、迷光の発生、及び投影対物器械16’による結像に対するそのような迷光の有害な効果を図4b)を参照して以下に説明する。図4b)は、投影対物器械16’を示しており、この図では、対物面Oから発する1つの光ビームLのみを示している。像平面Oから発して、光ビームLは、最初に、第1の5つのレンズ36’及び第2の反射要素30’aの開口部38’を通過し、第1のミラー34’b上に衝突する。そこから、光ビームLは、第2のミラー34’aへと反射され、そこから第1の反射要素30’bの開口部38’bを通過し、更に、次の10個のレンズ36’を通過する。
ここで一例として、光伝播方向に見て最後のレンズ36’lの前面における光ビームLの反射R1を以下に考察する。光ビームLの反射R1は、反射光ビームLR1として最後のレンズ36’lから、その上流に配置された10個のレンズ36’を通過して戻り、次に、反射要素30’bの基板37’bの中に、ミラー34’bの反射面に至るまで貫通し、この表面上に衝突する。得られる反射R2は、光ビームLR2として再度像平面Bの方向に反射され、10個のレンズ36及び最後のレンズ36’lを通過する。光ビームLR2は、像平面B内に進入し、ここで、有用光ビーム(図4aを参照されたい)上に重ね合わせされるが、正しい結像には寄与せず、ゴースト像を生成する。
反射光ビームLR2の形態にある迷光の伝播を回避するために、図2及び図3Aから図3Eを参照して説明した迷光抑制のための手段が反射要素30’bに設けられ、反射要素30’bには、図3Aから3Eによるこれらの手段のうちの個々のもの又は複数のものを設けることができる。当然ながら、更に別のそのような手段を反射要素30’aに設けることもできる。
16 投影対物器械
32 屈折要素
B 像平面
O 対物面
X 共通直線光軸

Claims (20)

  1. 光ビーム(26)が通過することができる少なくとも1つの開口部(38b)を有する基板(37b)を有する少なくとも1つの反射要素(30b)と、少なくとも1つの屈折要素(32)とを有し、かつ有用光の光伝播方向に共通直線光軸(X)上で該少なくとも1つの反射要素(30b)の下流に位置する複数の光学要素(28)を含む、対物面(O)に配置された物体(18)を像平面(B)の感光ウェーハ(20)上に結像するためのマイクロリソグラフィのための投影対物器械(16)であって、
    少なくとも1つの反射要素(30b)が、該反射要素(30b)上に後ろ向きに衝突する迷光(42)を抑制する材料から少なくとも部分的に作られる、
    ことを特徴とする投影対物器械。
  2. 前記反射要素(30b)の前記基板(37b)は、前記迷光抑制材料から少なくとも部分的に作られることを特徴とする請求項1に記載の投影対物器械。
  3. 前記反射要素(30b)の前記基板(37b)は、前記迷光抑制材料から作られた層(48a、b)を少なくとも部分的に有することを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の投影対物器械。
  4. 前記層(48a、b)は、前記基板(37b)の反射面(40b)の下に配置されることを特徴とする請求項3に記載の投影対物器械。
  5. 前記層(48a、b)は、前記基板(37b)の前記反射面(40b)の直下に配置されることを特徴とする請求項4に記載の投影対物器械。
  6. 前記層(48a、b)は、前記基板(37b)の前記反射面(40b)の範囲全体に沿って配置されることを特徴とする請求項4又は請求項5に記載の投影対物器械。
  7. 前記層(48c)は、少なくとも部分的に前記基板(37b)の前記開口部(38b)に沿って配置されることを特徴とする請求項3に記載の投影対物器械。
  8. 前記反射要素(30b)は、少なくとも部分的に前記基板の背面(52)に配置されたマウント(44)を有し、
    前記マウント(44)は、前記迷光抑制材料から少なくとも部分的に作られる、
    ことを特徴とする請求項1から請求項7のいずれか1項に記載の投影対物器械。
  9. 前記マウント(44)は、前記迷光抑制材料から作られたコーティング(60)を少なくとも部分的に有することを特徴とする請求項8に記載の投影対物器械。
  10. 前記迷光抑制材料は、光吸収性であることを特徴とする請求項1から請求項9のいずれか1項に記載の投影対物器械。
  11. 前記光吸収材料は、Zerodurであることを特徴とする請求項10に記載の投影対物器械。
  12. 前記迷光抑制材料は、無指向光散乱性であることを特徴とする請求項1から請求項9のいずれか1項に記載の投影対物器械。
  13. 前記迷光抑制材料は、金属であることを特徴とする請求項1から請求項12のいずれか1項に記載の投影対物器械。
  14. 前記少なくとも1つの反射要素(30b)は、ミラー(34b)であることを特徴とする請求項1から請求項13のいずれか1項に記載の投影対物器械。
  15. 前記光学要素(28’)は、非掩蔽結像システムを形成することを特徴とする請求項1から請求項14のいずれか1項に記載の投影対物器械。
  16. 結像される前記物体視野は、前記対物面(O)に軸外方式で配置されて前記光軸を含まず、前記光学要素(28’)は、該軸外物体視野を前記像平面(B)の軸外像視野上に結像することを特徴とする請求項15に記載の投影対物器械。
  17. 屈折要素(32)のみが、前記有用光の前記光伝播方向に見て、前記反射要素(30’b)の下流かつ前記像平面(B)の上流に配置され、
    前記迷光(42’)は、前記屈折要素(32’)の少なくとも1つの少なくとも1つの表面での少なくとも1回の反射(R)によって生成される、
    ことを特徴とする請求項1から請求項16のいずれか1項に記載の投影対物器械。
  18. 前記迷光(42’)は、前記像平面(B)の上流の最後の屈折要素(36’l)の少なくとも1つの表面での少なくとも1回の反射(R1)によって生成されることを特徴とする請求項17に記載の投影対物器械。
  19. 前記迷光(42’)は、前記光伝播方向に見て、最後の反射要素(36’l)の前面での少なくとも1回の反射(R1)によって生成されることを特徴とする請求項18に記載の投影対物器械。
  20. 照明システム(11)と、
    対物面(O)に配置された物体(18)を像平面(B)の感光ウェーハ(20)上に結像するための請求項1から請求項19のいずれか1項に記載の投影対物器械(16)と、
    を含むことを特徴とする、マイクロリソグラフィのための投影露光装置。
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