JP2010524001A5

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Publication number: JP2010524001A5
Application number: JP2010503134A
Authority: JP
Filing date: 2008-04-04
Publication date: 2011-05-19
Anticipated expiration: 2028-04-04

Claims

サンプルの特性を測定するシステムであって、
前記サンプルを採取する診断テストストリップと、
前記テストストリップを受入れ、かつ、前記サンプルを測定する診断測定装置と、
を含んで構成され、
前記テストストリップは１つ以上の接触パッドを含んで構成され、各接触パッドは、それぞれ、予め設定された導電性を有し、前記１つ以上の接触パッドの前記導電性は前記テストストリップ特有の情報を表すコードを形成し、
前記診断測定装置はプロセッサを更に含んで構成され、前記テストストリップ特有の前記コードを読取り、前記プロセッサは、前記コードのエラーを検出するエラー検出ルーチンを実行するように構成されるサンプル特性測定システム。
機械可読媒体を更に含んで構成され、
前記エラー検出ルーチンは、前記媒体に保存されるエラー検出アルゴリズムを含んで構成され、該エラー検出アルゴリズムは、前記診断測定装置によって読取られた前記コードのエラーを検出する請求項１記載のサンプル特性測定システム。
前記エラー検出アルゴリズムは、トレンディングアルゴリズムを含んで構成され、該トレンディングアルゴリズムは、前記診断測定装置によって読取られた前記コードのエラーを判定する根拠として、最近のトレンドと超過時間のトレンドとを用いる請求項２記載のサンプル特性測定システム。
前記トレンディングアルゴリズムは、前記テストストリップの特性と、過去に使用された複数のテストストリップの記録された特性を分析して得られる期待値と、を比較する請求項３記載のサンプル特性測定システム。
前記テストストリップの特性が前記期待値と異なる場合に、前記エラー検出アルゴリズムは、前記コードがエラーを含むことを表示する請求項４記載のサンプル特性測定システム。
前記診断測定装置内のプロセッサによって前記記録された特性を分析することは、前記記録された特性に対して学習アルゴリズムを実行して前記期待値を得ることを含んで構成される請求項４記載のサンプル特性測定システム。
前記学習アルゴリズムは、ユーザフィードバックを組込んで前記期待値を得ることを含む請求項６記載のサンプル特性測定システム。
前記エラー検出アルゴリズムは、チェックサムアルゴリズムを含んで構成され、該チェックサムアルゴリズムは、前記コードを読取るステップ、及び、前記コードに含まれるビットの係数を決定するステップ、を含んで構成され、前記係数が前記期待値と異なる場合に、前記エラー検出アルゴリズムは、前記コードがエラーを含むことを表示する請求項２記載のサンプル特性測定システム。
前記コードは、第１の配列にてエンコードされた第１の情報を含む第１のコードと、第２の配列にてエンコードされた前記第１の情報を含む第２のコードと、を含んで構成され、前記エラー検出アルゴリズムは、冗長コードアルゴリズムを含んで構成される請求項２記載のサンプル特性測定システム。
前記エラー検出ルーチンによって実行される前記冗長コードアルゴリズムは、前記第１のコードを読取ること、及び、前記第２のコードを読取ること、を含んで構成され、前記第１のコードと前記第２のコードとが一致しない場合に、前記エラー検出アルゴリズムは、前記第１のコードがエラーを含むことを表示する請求項９記載のサンプル特性測定システム。
前記第１のコードは第１のエンコード方法を用いてエンコードされる一方、前記第２のコードは第２のエンコード方法を用いてエンコードされ、
前記第１のエンコード方法及び前記第２のエンコード方法は、各々が、プリントされた絶縁接触パッドを用いて前記コードをエンコードすること、可変抵抗を有する接触パッドを用いてエンコードすること、光学マーカーを用いてエンコードすること、又は、磁気的にエンコードすること、のうちの１つを含む請求項１０記載のサンプル特性測定システム。
前記コードは複数のユニットを含んで構成され、各ユニットはそれぞれユニット値を有し、コード値は、前記ユニット値の組み合わせを含んで構成される請求項２記載のサンプル特性測定システム。
前記ユニット値は、デジタルビット、アナログ読取値、記号、又はピクトグラムを含む請求項１２記載のサンプル特性測定システム。
前記エラー検出アルゴリズムは、前記コード値と、所定の許容コード値群と、を比較することを含んで構成され、前記コード値が前記所定の許容コード値群に含まれていない場合に、前記エラー検出アルゴリズムは、前記コードがエラーを含むことを表示する請求項１２記載のサンプル特性測定システム。
前記エラー検出アルゴリズムは、前記ユニット値と、所定の許容ユニット値群と、を比較することを含んで構成され、所定番目の前記ユニット値が前記所定の許容ユニット値群に含まれていない場合に、前記エラー検出アルゴリズムは、前記コードがエラーを含むことを表示する請求項１２記載のサンプル特性測定システム。
サンプルの特性を測定するシステムであって、
メモリを有する診断測定装置と、
組込まれた導電パターンを有し、かつ、前記サンプルを採取する診断テストストリップと、
を含んで構成され、
前記導電パターンは、少なくとも第１のデータ及び第２のデータを表し、前記第１のデータは、前記サンプルの特性の測定に関連するパラメータ、前記診断測定装置の較正に使用可能なコード、又は、前記診断測定装置と前記テストストリップとの間の正常な接続を表示するパラメータ、のうちの少なくとも１つを表すデータであり、前記第２のデータは、前記サンプルの特性の正確な測定に影響を及ぼす潜在的エラーの検出及び排除に使用可能なデータであるサンプル特性測定システム。
前記第１のデータは、実行予定の特定のテスト、前記テストストリップとの接続を示すパラメータ、較正係数、温度補正係数、ｐＨ値補正係数、ヘマトクリットデータ、及び、前記テストストリップの特定のタイプの認識に用いられるデータ、のうちの少なくとも１つを表すデータを更に含んで構成される請求項１６記載のサンプル特性測定システム。
前記サンプルの特性は、前記サンプルのグルコース濃度であり、該グルコース濃度は、被験者のグルコース濃度を示す請求項１６記載のサンプル特性測定システム。
前記第１のデータは、前記診断測定装置の自動較正の実行に用いられるデータである請求項１６記載のサンプル特性測定システム。
トレンディングアルゴリズムは、前記テストストリップの特性と、過去に使用されたテストストリップの記録された特性を分析して得られる期待値と、を比較する請求項１６記載のサンプル特性測定システム。
前記テストストリップの特性が、前記期待値と異なる場合に、前記診断測定装置は、エラーがあることを表示する請求項２０記載のサンプル特性測定システム。
前記記録された特性を分析することは、前記記録された特性に対して自動適応学習アルゴリズムを実行して前記期待値を得ることを含んで構成される請求項２０記載のサンプル特性測定システム。
前記自動適応学習アルゴリズムは、ユーザフィードバックを組込んで前記期待値を得ることを含む請求項２２記載のサンプル特性測定システム。
前記第２のデータは、チェックサムデータを含んで構成される請求項１６記載のサンプル特性測定システム。
前記チェックサムデータは、前記第２のデータのビットの係数を含んで構成される請求項２４記載のサンプル特性測定システム。
前記係数が期待値と異なる場合に、前記診断測定装置は、エラーがあることを表示する請求項２５記載のサンプル特性測定システム。
前記第２のデータは、所定の順に配列された第３及び第４のデータを含んで構成される請求項１６記載のサンプル特性測定システム。
前記第３及び第４のデータは、同一である請求項２７記載のサンプル特性測定システム。
前記第３及び第４のデータは、異なる順に配列される請求項２８記載のサンプル特性測定システム。
前記診断測定装置は、前記第３及び第４のデータを読取り、前記第３及び第４のデータが同一ではないと判定した場合に、エラーを表示する請求項２８記載のサンプル特性測定システム。
前記第３のデータは、第１のエンコード方法を用いてエンコードされる一方、前記第４のデータは、第２のエンコード方法を用いてエンコードされる請求項２８記載のサンプル特性測定システム。
前記第１のエンコード方法及び前記第２のエンコード方法は、各々が、プリントされた絶縁接触パッドを用いてエンコードすること、可変抵抗を有する接触パッドを用いてエンコードすること、光学マーカーを用いてエンコードすること、又は、磁気的にエンコードすること、のうちの１つを含む請求項３１記載のサンプル特性測定システム。
前記第２のデータは、コード値を有するコードを含んで構成され、該コードは複数のユニットを有し、各ユニットはそれぞれユニット値を有し、前記コード値は、前記ユニット値の組み合わせを含んで構成される請求項１６記載のサンプル特性測定システム。
前記ユニット値は、デジタルビット、アナログ読取値、記号、又はピクトグラムを含む請求項３３記載のサンプル特性測定システム。
前記潜在的エラーを検出及び排除することは、前記コード値と、所定の許容コード値群と、を比較することを含んで構成され、前記コード値が前記所定の許容コード値群に含まれていない場合に、前記診断測定装置は、エラーを表示する請求項３３記載のサンプル特性測定システム。
前記潜在的エラーを検出及び排除することは、前記ユニット値と、所定の許容ユニット値群と、を比較することを含んで構成され、前記ユニット値が前記所定の許容ユニット値群に含まれていない場合に、前記診断測定装置は、エラーを表示する請求項３３記載のサンプル特性測定システム。
液体中の成分濃度を測定する方法であって、
メモリ及びプロセッサを含んで構成される診断テスト測定器を提供すること、
診断テストストリップ特有の少なくとも１つのコードを表す１つ以上の接触パッドを含んで構成される前記テストストリップを提供すること、
前記テスト測定器に前記テストストリップを挿入し、前記テスト測定器が前記少なくとも１つのコードを読取ること、
前記少なくとも１つのコードに対してエラー検出及び排除アルゴリズムを実行すること、及び、
前記エラー検出及び排除アルゴリズムがエラーを検出しない場合に、前記液体の成分濃度を測定すること、
を含んで構成される成分濃度測定方法。
前記エラー検出及び排除アルゴリズムを実行することは、
前記テストストリップの特性と、過去に使用された複数のテストストリップの記録された特性を分析して得られる期待値と、を比較することによって、トレンディングアルゴリズムを実行すること、及び、
前記テストストリップの特性が前記期待値と異なる場合に、前記テストストリップのエラーを決定すること、
を含んで構成される請求項３７記載の成分濃度測定方法。
前記記録された特性に対して学習アルゴリズムを実行して前記期待値を得ることを更に含んで構成される請求項３８記載の成分濃度測定方法。
前記エラー検出及び排除アルゴリズムは、
少なくとも１つのコードの係数を算出するステップ、
該係数と予め算出された期待値とを比較するステップ、及び、
前記係数が前記期待値と異なる場合に、前記テストストリップがエラーを含むことを表示するステップ、
を含んで構成される請求項３７記載の成分濃度測定方法。
前記少なくとも１つのコードは、第１の情報を含む第１のコードと、前記第１の情報も含む第２のコードと、を含んで構成される請求項３７記載の成分濃度測定方法。
前記エラー検出及び排除アルゴリズムを実行することは、
前記第１のコードを読取ること、及び、
前記第２のコードを読取ること、
を含んで構成され、
前記第１のコードと前記第２のコードとが一致しない場合には、前記第１のコードのエラーが表示される請求項４１記載の成分濃度測定方法。
第１の列に前記第１の情報を含むように前記第１のコードをエンコードすること、及び、
第２の列に前記第１の情報を含むように前記第２のコードをエンコードすること、
を更に含んで構成される請求項４１記載の成分濃度測定方法。
第１のエンコード方法を用いて前記第１のコードをエンコードすること、及び、
第２のエンコード方法を用いて前記第２のコードをエンコードすること、
を更に含んで構成される請求項４１記載の成分濃度測定方法。
前記第１のエンコード方法及び前記第２のエンコード方法は、各々が、プリントされた絶縁接触パッドを用いてエンコードすること、又は、可変抵抗を有する接触パッドを用いてエンコードすること、のうちの１つを含む請求項４４記載の成分濃度測定方法。
前記少なくとも１つのコードは複数のユニットを含んで構成され、各ユニットはそれぞれユニット値を有し、コード値は、前記ユニット値の組み合わせを含んで構成される請求項３７記載の成分濃度測定方法。
前記ユニット値は、デジタルビット、アナログ読取値、記号、又はピクトグラムを含む請求項４６記載の成分濃度測定方法。
前記エラー検出及び排除アルゴリズムを実行することは、前記コード値と、前記テスト測定器の前記メモリに格納された許容コード値のデータ群と、を比較することを含んで構成され、前記コード値が前記許容コード値のデータ群に含まれていない場合に、前記エラー検出アルゴリズムは、前記コードがエラーを含むことを表示する請求項４６記載の成分濃度測定方法。
前記エラー検出及び排除アルゴリズムを実行することは、前記ユニット値と、許容ユニット値のデータ群と、を比較することを含んで構成され、所定番目の前記ユニット値が前記許容ユニット値のデータ群に含まれていない場合に、前記エラー検出アルゴリズムは、前記コードがエラーを含むことを表示する請求項４６記載の成分濃度測定方法。
前記エラー検出及び排除アルゴリズムを実行することは、
前記少なくとも１つのコードに含まれるエラーを検出すること、及び、
前記テスト測定器にて該エラーを自動的に表示すること、
を含んで構成される請求項３７記載の成分濃度測定方法。
前記少なくとも１つのコードは、ハミングコードを含む請求項３７記載の成分濃度測定方法。
物理的な配列にて配置された複数のビットを含んで構成される第１のコードを含む診断テストストリップを装置が読取る場合に生じ得る潜在的エラーの影響を最小化する方法であって、
各ビットが読取エラーを引き起こす確率を決定すること、
該確率に基づいて、前記物理的な配列と異なるビットの論理配列を構成すること、
を含んで構成され、
該論理配列は、潜在的な読取エラーの影響が最小化されるように配列されたビットを含んで構成されるエラー影響最小化方法。
前記論理配列は、読取エラーを引き起こす確率が最も高いビットを、読取エラーを引き起こす確率が最も低いビットと論理的に置き換え、かつ、読取エラーを引き起こす確率が最も低いビットを、読取エラーを引き起こす確率が最も高いビットと論理的に置き換えて配列されたビットを含んで構成される請求項５２記載のエラー影響最小化方法。
前記論理配列は、順に読取られる第２のコードになる請求項５３記載のエラー影響最小化方法。
前記論理配列は、順には読取られない第２のコードになる請求項５３記載のエラー影響最小化方法。