JP2010524001A - 診断テストシステムにおけるエラーの検出及び排除 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】このシステムは、メモリを有する診断測定装置と、サンプルを採取する診断テストストリップと、を含んで構成される。テストストリップには、少なくとも第1のデータ及び第2のデータを表すパターンが組込まれている。第1のデータは、サンプルの特性の測定に関連するパラメータ、診断測定装置の較正に使用可能なコード、又は、測定装置とテストストリップとの間の正常な接続を表示するパラメータ、のうちの少なくとも1つを表すデータである。また、第2のデータは、サンプルの特性の正確な測定に影響を及ぼす潜在的エラーの検出及び排除に使用可能である。
【選択図】図2
Description
除外用に選択される群は、利用可能なコードの許容個数を保持しつつ、エラーの検出及び排除の許容レベルに達するように選択される。削減用に選択されるコード群若しくは無効なコード群は、コード中の「1」若しくは「0」の個数に関連するか、又は、ビットが偶数若しくは奇数であることに関連し得る。除外手段は、これらの例に限定されないが、実装がより容易であることは理解されるであろう。
Claims (58)
- サンプルの特性を測定するシステムであって、
組込まれた情報を有し、かつ、前記サンプルを採取する診断テストストリップと、
前記テストストリップを受入れ、前記組込情報を読取り、かつ、前記サンプルを測定する診断測定装置と、
を含んで構成され、
前記診断測定装置は、前記組込情報のエラーを検出するエラー検出ルーチンを更に含んで構成されるシステム。 - 機械可読媒体を更に含んで構成され、
前記エラー検出ルーチンは、前記媒体に保存されるエラー検出アルゴリズムを含んで構成され、該エラー検出アルゴリズムは、前記診断測定装置によって読取られた前記組込情報のエラーを検出する請求項1記載のシステム。 - 前記エラー検出アルゴリズムは、トレンディングアルゴリズムを含んで構成される請求項2記載のシステム。
- 前記トレンディングアルゴリズムは、前記テストストリップの特性と、過去に使用された複数のテストストリップの記録された特性を分析して得られる期待値と、を比較する請求項3記載のシステム。
- 前記テストストリップの特性が前記期待値と異なる場合に、前記エラー検出アルゴリズムは、前記組込情報がエラーを含むことを表示する請求項4記載のシステム。
- 前記記録された特性を分析することは、前記記録された特性に対して自動適応学習アルゴリズムを実行して前記期待値を得ることを含んで構成される請求項4記載のシステム。
- 前記自動適応学習アルゴリズムは、ユーザフィードバックを組込んで前記期待値を得ることを含む請求項6記載のシステム。
- 前記エラー検出アルゴリズムは、チェックサムアルゴリズムを含んで構成される請求項2記載のシステム。
- 前記エラー検出ルーチンによって実行される前記チェックサムアルゴリズムは、前記組込情報を読取ること、及び、前記組込情報に含まれるビットの係数を決定すること、を含んで構成され、前記係数が前記期待値と異なる場合に、前記エラー検出アルゴリズムは、前記組込情報がエラーを含むことを表示する請求項8記載のシステム。
- 前記組込情報は、第1の配列にてエンコードされた第1の情報を含む第1のコードと、第2の配列にてエンコードされた前記第1の情報を含む第2のコードと、を含んで構成され、前記エラー検出アルゴリズムは、冗長コードアルゴリズムを含んで構成される請求項2記載のシステム。
- 前記エラー検出ルーチンによって実行される前記冗長コードアルゴリズムは、前記第1のコードを読取ること、及び、前記第2のコードを読取ること、を含んで構成され、前記第1のコードと前記第2のコードとが一致しない場合に、前記エラー検出アルゴリズムは、前記第1のコードがエラーを含むことを表示する請求項10記載のシステム。
- 前記第1のコードは、第1のエンコード方法を用いてエンコードされる一方、前記第2のコードは、第2のエンコード方法を用いてエンコードされる請求項11記載のシステム。
- 前記第1のエンコード方法及び前記第2のエンコード方法は、各々が、プリントされた絶縁接触パッドを用いてエンコードすること、可変抵抗を有する接触パッドを用いてエンコードすること、光学マーカーを用いてエンコードすること、又は、磁気的にエンコードすること、のうちの1つを含む請求項12記載のシステム。
- 前記組込情報は、コード値と、各々がユニット値を含む複数のユニットと、を有するコードを含んで構成され、前記コード値は、前記ユニット値の組み合わせを含んで構成される請求項2記載のシステム。
- 前記ユニット値は、デジタルビット、アナログ読取値、記号、又はピクトグラムを含む請求項14記載のシステム。
- 前記エラー検出アルゴリズムは、前記コード値と、所定の許容コード値群と、を比較することを含んで構成され、前記コード値が前記所定の許容コード値群に含まれていない場合に、前記エラー検出アルゴリズムは、前記コードがエラーを含むことを表示する請求項14記載のシステム。
- 前記エラー検出アルゴリズムは、前記ユニット値と、所定の許容ユニット値群と、を比較することを含んで構成され、所定番目の前記ユニット値が前記所定の許容ユニット値群に含まれていない場合に、前記エラー検出アルゴリズムは、前記コードがエラーを含むことを表示する請求項14記載のシステム。
- サンプルの特性を測定するシステムであって、
メモリを有する診断測定装置と、
組込まれた導電パターンを有し、かつ、前記サンプルを採取する診断テストストリップと、
を含んで構成され、
前記導電パターンは、少なくとも第1のデータ及び第2のデータを表し、前記第1のデータは、前記サンプルの特性の測定に関連するパラメータ、前記診断測定装置の較正に使用可能なコード、又は、前記診断測定装置と前記テストストリップとの間の正常な接続を表示するパラメータ、のうちの少なくとも1つを表すデータであり、前記第2のデータは、前記サンプルの特性の正確な測定に影響を及ぼす潜在的エラーの検出及び排除に使用可能なデータであるシステム。 - 前記第1のデータは、実行予定の特定のテスト、前記テストストリップとの接続を示すパラメータ、較正係数、温度補正係数、pH値補正係数、ヘマトクリットデータ、及び、前記テストストリップの特定のタイプの認識に用いられるデータ、のうちの少なくとも1つを表すデータを更に含んで構成される請求項18記載のシステム。
- 前記サンプルの特性は、前記サンプルのグルコース濃度であり、該グルコース濃度は、被験者のグルコース濃度を示す請求項18記載のシステム。
- 前記第1のデータは、前記診断測定装置の自動較正の実行に用いられるデータである請求項18記載のシステム。
- トレンディングアルゴリズムは、前記テストストリップの特性と、過去に使用されたテストストリップの記録された特性を分析して得られる期待値と、を比較する請求項18記載のシステム。
- 前記テストストリップの特性が、前記期待値と異なる場合に、前記診断測定装置は、エラーがあることを表示する請求項22記載のシステム。
- 前記記録された特性を分析することは、前記記録された特性に対して自動適応学習アルゴリズムを実行して前記期待値を得ることを含んで構成される請求項22記載のシステム。
- 前記自動適応学習アルゴリズムは、ユーザフィードバックを組込んで前記期待値を得ることを含む請求項24記載のシステム。
- 前記第2のデータは、チェックサムデータを含んで構成される請求項18記載のシステム。
- 前記チェックサムデータは、前記第2のデータのビットの係数を含んで構成される請求項26記載のシステム。
- 前記係数が期待値と異なる場合に、前記診断測定装置は、エラーがあることを表示する請求項27記載のシステム。
- 前記第2のデータは、所定の順に配列された第3及び第4のデータを含んで構成される請求項18記載のシステム。
- 前記第3及び第4のデータは、同一である請求項29記載のシステム。
- 前記第3及び第4のデータは、異なる順に配列される請求項30記載のシステム。
- 前記診断測定装置は、前記第3及び第4のデータを読取り、前記第3及び第4のデータが同一ではないと判定した場合に、エラーを表示する請求項30記載のシステム。
- 前記第3のデータは、第1のエンコード方法を用いてエンコードされる一方、前記第4のデータは、第2のエンコード方法を用いてエンコードされる請求項30記載のシステム。
- 前記第1のエンコード方法及び前記第2のエンコード方法は、各々が、プリントされた絶縁接触パッドを用いてエンコードすること、可変抵抗を有する接触パッドを用いてエンコードすること、光学マーカーを用いてエンコードすること、又は、磁気的にエンコードすること、のうちの1つを含む請求項33記載のシステム。
- 前記第2のデータは、コード値と、各々がユニット値を含む複数のユニットと、を有するコードを含んで構成され、前記コード値は、前記ユニット値の組み合わせを含んで構成される請求項18記載のシステム。
- 前記ユニット値は、デジタルビット、アナログ読取値、記号、又はピクトグラムを含む請求項35記載のシステム。
- 前記潜在的エラーを検出及び排除することは、前記コード値と、所定の許容コード値群と、を比較することを含んで構成され、前記コード値が前記所定の許容コード値群に含まれていない場合に、前記診断測定装置は、エラーを表示する請求項35記載のシステム。
- 前記潜在的エラーを検出及び排除することは、前記ユニット値と、所定の許容ユニット値群と、を比較することを含んで構成され、前記ユニット値が前記所定の許容ユニット値群に含まれていない場合に、前記診断測定装置は、エラーを表示する請求項35記載のシステム。
- 液体中の成分濃度を測定する方法であって、
メモリ及びプロセッサを含んで構成される診断テスト測定器を提供すること、
組込まれた少なくとも1つのコードを含んで構成される診断テストストリップを提供すること、
前記テスト測定器に前記テストストリップを挿入し、前記テスト測定器が前記少なくとも1つのコードを読取ること、
前記少なくとも1つのコードに対してエラー検出及び排除アルゴリズムを実行すること、及び、
前記エラー検出及び排除アルゴリズムがエラーを検出しない場合に、前記液体の成分濃度を測定すること、
を含んで構成される方法。 - 前記エラー検出及び排除アルゴリズムを実行することは、
前記テストストリップの特性と、過去に使用された複数のテストストリップの記録された特性を分析して得られる期待値と、を比較することによって、トレンディングアルゴリズムを実行すること、及び、
前記テストストリップの特性が前記期待値と異なる場合に、前記テストストリップのエラーを決定すること、
を含んで構成される請求項39記載の方法。 - 前記記録された特性に対して自動適応学習アルゴリズムを実行して前記期待値を得ることを更に含んで構成される請求項40記載の方法。
- ユーザフィードバックを組込んで前記期待値を得ることを更に含んで構成される請求項41記載の方法。
- 前記エラー検出及び排除アルゴリズムを実行することは、
少なくとも1つのコードの係数を算出すること、
該係数と期待値とを比較すること、及び、
前記係数が前記期待値と異なる場合に、前記テストストリップがエラーを含むことを表示すること、
を含んで構成される請求項39記載の方法。 - 第1の情報を含む第1のコードと、前記第1の情報を含む第2のコードと、を有するように前記少なくとも1つのコードをエンコードすることを更に含んで構成される請求項39記載の方法。
- 前記エラー検出及び排除アルゴリズムを実行することは、
前記第1のコードを読取ること、
前記第2のコードを読取ること、及び、
前記第1のコードと前記第2のコードとが一致しない場合に、前記第1のコードがエラーを含むことを表示すること、
を含んで構成される請求項44記載の方法。 - 第1の列に前記第1の情報を含むように前記第1のコードをエンコードすること、及び、
第2の列に前記第1の情報を含むように前記第2のコードをエンコードすること、
を更に含んで構成される請求項44記載の方法。 - 第1のエンコード方法を用いて前記第1のコードをエンコードすること、及び、
第2のエンコード方法を用いて前記第2のコードをエンコードすること、
を更に含んで構成される請求項44記載の方法。 - 前記第1のエンコード方法及び前記第2のエンコード方法は、各々が、プリントされた絶縁接触パッドを用いてエンコードすること、可変抵抗を有する接触パッドを用いてエンコードすること、光学マーカーを用いてエンコードすること、又は、磁気的にエンコードすること、のうちの1つを含む請求項47記載の方法。
- 前記少なくとも1つのコードは、コード値と、各々がユニット値を含む複数のユニットと、を有し、前記コード値は、前記ユニット値の組み合わせを含んで構成される請求項39記載の方法。
- 前記ユニット値は、デジタルビット、アナログ読取値、記号、又はピクトグラムを含む請求項49記載の方法。
- 前記エラー検出及び排除アルゴリズムを実行することは、前記コード値と、所定の許容コード値群と、を比較することを含んで構成され、前記コード値が前記所定の許容コード値群に含まれていない場合に、前記エラー検出アルゴリズムは、前記コードがエラーを含むことを表示する請求項49記載の方法。
- 前記エラー検出及び排除アルゴリズムを実行することは、前記ユニット値と、所定の許容ユニット値群と、を比較することを含んで構成され、所定番目の前記ユニット値が前記所定の許容ユニット値群に含まれていない場合に、前記エラー検出アルゴリズムは、前記コードがエラーを含むことを表示する請求項49記載の方法。
- 前記エラー検出及び排除アルゴリズムを実行することは、
前記少なくとも1つのコードに含まれるエラーを検出すること、及び、
該エラーを自動的に訂正すること、
を含んで構成される請求項39記載の方法。 - 前記少なくとも1つのコードは、ハミングコードを含み、前記少なくとも1つのコードを読取ることは、該コードを静的に読取ることを含んで構成される請求項39記載の方法。
- 物理的な配列にて配置された複数のビットを含んで構成される第1のコードを含む診断テストストリップを装置が読取る場合に生じ得る潜在的エラーの影響を最小化する方法であって、
各ビットが読取エラーを引き起こす確率を決定すること、
該確率に基づいて、前記物理的な配列と異なるビットの論理配列を構成すること、
を含んで構成され、
該論理配列は、潜在的な読取エラーの影響が最小化されるように配列されたビットを含んで構成される方法。 - 前記論理配列は、読取エラーを引き起こす確率が最も高いビットを、読取エラーを引き起こす確率が最も低いビットと論理的に置き換え、かつ、読取エラーを引き起こす確率が最も低いビットを、読取エラーを引き起こす確率が最も高いビットと論理的に置き換えて配列されたビットを含んで構成される請求項55記載の方法。
- 前記論理配列は、順に読取られる第2のコードになる請求項56記載の方法。
- 前記論理配列は、順には読取られない第2のコードになる請求項56記載の方法。
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